本发明涉及成膜技术领域，特别是涉及一种异常喷嘴的检测方法及装置。
背景技术：
在各种成膜技术中，溶液成膜技术越来越受到人们的关注。所谓溶液成膜，即把所需材料经过处理，例如分散成纳米级微小颗粒，然后溶解在相应的溶剂中，再利用其它设备将该溶液沉积在基板表面，待溶剂蒸发后，即可在基板表面形成所需薄膜。
喷墨打印(ijp)是一种重要的溶液成膜技术，它具有操作简单、成本低廉、工艺简单、适于大规模生产等优点，因此被广泛应用在制备有机发光二极管(oled)、有机薄膜晶体管、金属电极等各个领域，并取得了很好的效果。
然而，在传统技术中，经过喷墨打印工艺生产的显示器件在喷墨打印方向上会呈现“线斑纹”，从而影响显示器件的显示质量。
技术实现要素：
基于此，有必要针对传统技术中经过喷墨打印工艺生产的显示器件在喷墨打印方向上会呈现“线斑纹”导致显示质量降低的技术问题，提供一种异常喷嘴的检测方法及装置。
一种异常喷嘴的检测方法，包括：
获取像素基板的灰阶图像，所述灰阶图像包括多个子灰阶图像，所述子灰阶图像与所述像素基板上的像素或像素单元一一对应；
根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；
根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；
根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。
在其中一个实施例中，所述像素基板上设置标记点；所述灰阶图像包括所述标记点对应的图像；在所述根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置之前，所述方法还包括：
根据所述标记点的位置，确定所述像素基板上每个像素或像素单元的位置；
根据所述标记点对应的图像的位置，确定所述灰阶图像中每个子灰阶图像的位置；
建立所述灰阶图像中每个子灰阶图像与所述像素基板上每个像素或像素单元之间的位置对应关系。
在其中一个实施例中，所述根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置，包括：
根据所述异常子灰阶图像的位置及所述位置对应关系，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。
在其中一个实施例中，在所述获取像素基板的灰阶图像之前，所述方法还包括：
获取所述像素基板上的像素或像素单元的尺寸信息；
根据所述像素或像素单元的尺寸信息，设置光学扫描的扫描范围；
所述获取像素基板的灰阶图像，包括：
根据所述光学扫描的扫描范围，获取所述像素基板上所述像素或像素单元的灰阶图像。
在其中一个实施例中，所述根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置，包括：
将所述灰阶图像的各个所述子灰阶图像进行比较，确定存在缺陷的异常子灰阶图像的位置。
在其中一个实施例中，所述将所述灰阶图像的各个所述子灰阶图像进行比较，确定存在缺陷的异常子灰阶图像的位置，包括：
将各个所述子灰阶图像的灰阶数值进行比较；
根据所述比较的结果，确定灰阶数值异常的子灰阶图像；
通过所述灰阶数值异常的子灰阶图像确定所述异常子灰阶图像的位置。
在其中一个实施例中，所述像素或像素单元的位置与喷嘴之间设有对应关系；所述根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴，包括：
根据所述像素或像素单元的位置与所述喷嘴之间的对应关系，通过所述异常像素或异常像素单元的位置确定所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴；
在所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定所述异常喷嘴。
在其中一个实施例中，所述在所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定所述异常喷嘴，包括：
将所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴与正常像素对应的多个喷嘴进行比较；
通过至少一次的对比迭代，在所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定所述异常喷嘴。
一种异常喷嘴的检测装置，所述装置包括：
获取模块，用于获取像素基板的灰阶图像，所述灰阶图像包括多个子灰阶图像，所述子灰阶图像与所述像素基板上的像素或像素单元一一对应；
图像位置确定模块，用于根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；
像素位置确定模块，用于根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；
异常喷嘴确定模块，用于根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。
一种异常喷嘴的检测装置，所述装置包括：
光学检查系统，用于获取像素基板的灰阶图像，所述灰阶图像包括多个子灰阶图像，所述子灰阶图像与所述像素基板上的像素或像素单元一一对应；
与所述光学检查系统连接的控制器，用于根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像；根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。
上述异常喷嘴的检测方法及装置，通过获取像素基板的灰阶图像，根据灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；进一步地，根据异常子灰阶图像的位置，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；最后，根据异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴，从而在喷墨打印过程中，可以提前预防像素内成膜不均匀导致的“线斑纹”现象，进一步地提升显示器件的显示质量。
附图说明
图1a至图1c为采用喷墨打印工艺制备oled器件的示意图；
图1d为传统技术中oled器件呈现“线斑纹”的示意图；
图2a为喷墨打印设备的核心结构的示意图；
图2b为一个实施例中异常喷嘴的检测方法的流程示意图；
图2c为一个实施例中喷墨打印过程示意图；
图3a为一个实施例中s230步骤之前的流程示意图；
图3b为一个实施例中像素基板的示意图；
图4为一个实施例中s210步骤之前的的流程示意图；
图5a为一个实施例中s220步骤的流程示意图；
图5b为一个实施例中子灰阶图像的示意图；
图6为一个实施例中s230步骤的流程示意图；
图7为一个实施例中s620步骤的流程示意图；
图8为一个实施例中异常喷嘴的检测装置的结构框图；
图9为一个实施例中异常喷嘴的检测装置的结构框图；
图10为一个实施例中异常喷嘴的检测装置的结构框图；
图11为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
在oled器件的生产过程中，某些功能层材料可以采用喷墨打印工艺，例如空穴注入层(hil)，空穴传输层(htl)，发光层(eml-rgb)都已经可以采用喷墨打印工艺。请参见图1a，通过喷墨打印喷头110将功能层材料墨水120滴入到像素开口130内。请参见图1b，喷墨打印喷头110设置有多个喷嘴140，喷嘴140与第一列像素对应。像素开口130中需要填充若干滴墨水材料。在进行完喷墨打印工艺后，请参见图1c，在一个喷墨打印行程后，喷嘴140在第一列所有的像素开口内填充若干滴墨水材料。需要说明的是，图1b和图1c，仅是以喷嘴140与第一列像素举例说明墨水填充后的效果，并不是表明在一个喷墨打印工艺行程，只有第一列像素开口填充墨水。
正如背景技术所述，请参见图1d,经过喷墨打印工艺生产的显示器件在喷墨打印方向上会呈现“线斑纹”，从而影响显示器件的显示质量。发明人发现，如果按照传统技术中的像素矩阵与喷嘴之间的匹配关系进行喷墨打印工艺，显示器件具有很大的几率呈现“线斑纹”，该“线斑纹”会让显示器件呈现出线状的明暗不均的现象。经过研究，发明人发现这种问题的根本原因在于，按照传统技术中的滴墨方法，当其中一个喷嘴，在某个像素开口内滴入了与目标体积相差较大的墨滴时，该像素开口内的墨水总体积与其他像素开口内的墨水总体积差异较大，最终墨水材料成膜厚度存在差异，造成显示器件在显示时出现了“线斑纹”现象。如果可以检测各个喷嘴的情况，比如波形参数异常的喷嘴或存在堵塞等异常的喷嘴，进一步地，可以根据检测到的喷嘴情况，从源头上改善“线斑纹”现象。
基于此，本发明提供了一种异常喷嘴的检测方法，通过获取像素基板的灰阶图像，根据灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；进一步地，根据异常子灰阶图像的位置，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；最后，根据异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴，从而在喷墨打印过程中，可以提前预防像素内成膜不均匀导致的“线斑纹”现象，进一步地提升显示器件的显示质量。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
下面结合图2a对喷墨打印设备的核心结构进行说明，墨盒210(inkstick)为填充墨水材料的元件，在墨盒210底部有喷墨打印头201(printhead)，墨水材料通过喷墨打印头201上的喷嘴(nozzle)喷出，滴入至基板230上阵列排布的像素开口内。承接墨盒210的装置为墨笼220(inkstickcage)，其固定在一个花岗岩横梁上。其中，在喷墨打印设备的核心结构内可以建立x,y,z三个方向的坐标，墨笼220(含墨盒210)的运动轨迹在x，z方向上，玻璃基板沿y方向运动。
在一个实施例中，请参见图2b，本申请提供一种异常喷嘴的检测方法，该方法包括以下步骤：
s210、获取像素基板的灰阶图像。
其中，喷墨打印技术用于在像素界定层内滴入一定体积的功能材料液体，这些液体干燥后形成像素。喷墨打印工艺可以将在一皮升到几十皮升之间的溶液，以每秒数百次以上的频率喷在特定对象上，然后将溶剂去除形成薄膜。例如，液滴的直径可以为15μm至150μm。
如图2c所示，基板230上设置有像素限定层280，像素限定层280具有像素开口260。喷墨打印装置的喷嘴270所输出的液体为用于形成有机发光二极管的有机功能层的材料墨水。将喷墨打印装置各个喷嘴270输出的墨水250滴在基板230上的各个像素开口260内，之后进行干燥以形成像素基板，即本实施例中的像素基板指的是完成喷墨打印后的基板。灰阶图像通常显示为从最暗黑色到最亮的白色的灰度，灰阶代表了由最暗到最亮之间不同亮度的层次级别。由于像素基板上设有阵列排布的像素单元，像素单元包括用于发光的像素及用于限定该像素的像素界定层。像素基板的灰阶图像通过光学扫描对像素基板进行图像采集而得到的，灰阶图像包括多个子灰阶图像，且每个子灰阶图像与像素基板上的每个像素单元或像素一一对应。具体地，可以通过光学检测系统对像素基板上的像素单元或像素进行图像采集，获取到像素基板的灰阶图像。灰阶图像包括多个子灰阶图像。可以理解的是，灰阶图像中的每个子灰阶图像可以是仅包括像素的图像，灰阶图像中的每个子灰阶图像也可以是包括像素与像素界定层组成的像素单元的图像。
s220、根据灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置。
滴墨后的像素开口260内具有一定体积的墨水，滴入墨水的体积体现在像素基板的灰阶图像中。理想情况下，每个像素开口260内的墨水体积应该是一致的，但是由于喷嘴中存在一些喷嘴自身的堵塞或者波形参数的异常等情况，会存在一些像素开口内的墨水体积不同于其他的像素开口内的墨水体积。如果某个像素开口内滴入的墨水体积与其他的像素开口内的墨水体积不同，该像素开口对应的子灰阶图像与其他的像素开口对应的子灰阶图像相比较显得异常，则异常子灰阶图像指的是墨水体积异常的像素或像素单元对应的子灰阶图像。具体地，像素基板的灰阶图像包括多个子灰阶图像，通过像素基板的灰阶图像可以确定异常子灰阶图像。且每个子灰阶图像在灰阶图像中具有相对位置，进一步可以确定异常子灰阶图像的位置。
s230、根据异常子灰阶图像的位置，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。
因为像素基板的灰阶图像包括多个子灰阶图像，子灰阶图像与像素基板上的像素或像素单元一一对应，像素或像素单元在像素基板上具有相对的位置。具体地，通过像素基板的灰阶图像确定异常子灰阶图像的位置，然后，可以根据异常子灰阶图像的位置，查找异常子灰阶图像对应的像素或像素单元，该像素是异常像素或该像素单元是异常像素单元，从而确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。
s240、根据异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。
根据异常子灰阶图像的位置，查找异常子灰阶图像对应的像素或像素单元，从而确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。由于在设置喷墨打印任务时，像素与喷嘴之间存在对应关系，且像素在像素基板上具有相对的位置，又因为每个像素与每个像素单元一一对应，则像素单元与喷嘴之间也存在对应关系，且像素单元在像素基板上具有相对的位置，则可以根据像素基板上异常像素或异常像素单元的位置，确定异常像素或异常像素单元对应的喷嘴，进而根据异常像素或异常像素单元对应的喷嘴确定异常喷嘴。
本实施例中，通过获取像素基板的灰阶图像，根据灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；进一步地，根据异常子灰阶图像的位置，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；最后，根据异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴，从而在喷墨打印过程中，可以提前预防像素内成膜不均匀导致的“线斑纹”现象，进一步地提升显示器件的显示质量。
在一个实施例中，像素基板上设置有标记点；灰阶图像包括标记点对应的图像。请参见图3a，在根据异常子灰阶图像的位置，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置之前，该方法包括以下步骤：
s310、根据标记点的位置，确定像素基板上每个像素或像素单元的位置。
s320、根据标记点对应的图像的位置，确定灰阶图像中每个子灰阶图像的位置。
s330、建立灰阶图像中每个子灰阶图像与像素基板上每个像素或像素单元之间的位置对应关系。
其中，请参见图3b,像素基板上设置标记点310,标记点310的位置可以根据实际情况而设定。比如，为了简化计算，可以在喷墨打印的起始位置处设置标记点310。对像素基板进行图像采集得到的灰阶图像包括标记点对应的图像。以像素基板上的标记点310为参考点，则像素基板上的每个像素或像素单元与像素基板上的标记点310之间具有相对距离或者相对方位，则可以根据像素基板上的标记点310的位置及两者之间的相对距离或者相对方位，确定像素基板上每个像素或像素单元的位置。
灰阶图像包括标记点310对应的图像，以标记点310对应的图像为参考点，则在灰阶图像中，每个子灰阶图像与标记点310对应的图像之间具有相对距离或者相对方位，则可以根据标记点310对应的图像的位置及两者之间的相对距离或者相对方位，确定灰阶图像中每个子灰阶图像的位置。
通过标记点310的位置可以确定像素基板上每个像素或像素单元的位置，通过标记点对应的图像的位置可以确定灰阶图像中每个子灰阶图像的位置，且标记点310与标记点310对应的图像之间具有对应关系，则可以建立灰阶图像中每个子灰阶图像与像素基板上每个像素或像素单元之间的位置对应关系。
本实施例中，通过像素基板上设置的标记点310及标记点对应的图像建立每个子灰阶图像与每个像素或像素单元之间的联系，从而建立了每个子灰阶图像与每个像素或像素单元之间的位置对应关系。
在一个实施例中，根据异常子灰阶图像的位置，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置，包括：根据异常子灰阶图像的位置及位置对应关系，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。
通过在像素基板上设置标记点，像素基板的灰阶图像包括标记点对应的图像。通过标记点310的位置可以确定像素基板上每个像素的位置，通过标记点对应的图像的位置可以确定灰阶图像中每个子灰阶图像的位置，且标记点310与标记点310对应的图像之间具有对应关系，则可以建立灰阶图像中每个子灰阶图像与像素基板上每个像素之间的位置对应关系。那么，在通过像素基板的灰阶图像确定异常子灰阶图像的位置之后，可以根据异常子灰阶图像的位置，在每个子灰阶图像与每个像素之间的位置对应关系中查找并确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。
在一个实施例中，在获取像素基板的灰阶图像之前，该方法还包括以下步骤：
s410、获取像素基板上的像素或像素单元的尺寸信息。
s420、根据像素或像素单元的尺寸信息，设置光学扫描的扫描范围。
获取像素基板的灰阶图像，包括：
s430、根据光学扫描的扫描范围，获取像素基板上像素或像素单元的灰阶图像。
其中，在基板上形成像素限定层，通过像素限定层形成用于容纳功能层材料的像素开口。通过喷墨打印工艺在像素开口滴入对应的材料墨水。可以通过光学检查系统对像素基板进行光学扫描以获取像素基板的灰阶图像。首先，获取像素基板上的像素或像素单元的尺寸信息，其次，根据像素或像素单元的尺寸信息，设置光学扫描的扫描范围，对像素基板上像素或像素单元的位置进行扫描，获取像素基板上像素或像素单元的灰阶图像。
作为一个优选实施例，为了避免像素基板上其他异常(如像素界定层)的干扰，可以对光学扫描的扫描范围进行设置。喷墨打印任务信息中包括像素基板上的像素的尺寸信息，可以根据像素的尺寸信息设定光学扫描的扫描范围，则光学检查系统只对像素基板上像素的位置进行扫描，则获取到的灰阶图像只包括像素的灰阶图像，不再包括像素基板上其他位置比如像素界定层的灰阶图像，从而仅对像素的子灰阶图像进行处理，避免了其他异常对检测结果的影响，提高了检测异常像素的准确性。
在一个实施例中，根据灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置，包括：将灰阶图像的各个子灰阶图像进行比较，确定存在缺陷的异常子灰阶图像的位置。
像素基板的灰阶图像包括多个子灰阶图像，将各个子灰阶图像进行比较，查找与其他子灰阶图像不同的子灰阶图像，不同于其他子灰阶图像的子灰阶图像是存在缺陷的，确定为异常子灰阶图像。且每个子灰阶图像在灰阶图像中具有相对位置。通过像素基板的灰阶图像可以确定异常子灰阶图像后，进一步可以确定异常子灰阶图像的位置。
在一个实施例中，请参见图5a，将灰阶图像的各个子灰阶图像进行比较，确定存在缺陷的异常子灰阶图像的位置，包括：
s510、将各个子灰阶图像的灰阶数值进行比较。
s520、根据比较的结果，确定灰阶数值异常的子灰阶图像。
s530、通过灰阶数值异常的子灰阶图像确定异常子灰阶图像的位置。
像素基板的灰阶图像包括多个子灰阶图像，每个子灰阶图像分别具有灰阶数值。在理想情况下，每个子灰阶图像的灰阶数值应是相同的，但是由于实际生产过程中，由于波形参数异常或者喷嘴自身的堵塞，个别喷嘴输出的墨水体积与目标体积存在差异，所以灰阶图像中存在个别子灰阶图像的灰阶数值不同于其他的子灰阶图像。请参见图5b，每个子灰阶图像呈现不同的灰阶颜色。具体地，将灰阶图像中的各个子灰阶图像的灰阶数值进行比较，根据比较结果，可以确定灰阶数值偏离目标值的子灰阶图像。从而可以确定灰阶数值异常的子灰阶图像，由于灰阶数值异常的子灰阶图像在灰阶图像中具有相对位置，可以通过灰阶数值异常的子灰阶图像确定异常子灰阶图像的位置。
在一个实施例中，请参见图6，像素或像素单元的位置与喷嘴之间设有对应关系。根据异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴，包括：
s610、根据像素或像素单元的位置与喷嘴之间的对应关系，通过异常像素或异常像素单元的位置确定异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴。
s620、在异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定异常喷嘴。
在设备进行喷墨打印任务前，计算机系统可以依据当前的打印任务信息(像素数量、像素尺寸等信息)，将多个喷嘴、喷嘴对应的波形参数结合到不同的喷墨打印行程中，通过一系列的计算，可以生成像素或像素单元与喷嘴之间的对应关系。每个像素或像素单元可以分配多个喷嘴，比如一个像素或像素单元可以分配3个喷嘴，在此没有对每个像素或像素单元分配的喷嘴数量进行限定，而是根据打印任务的实际需要进行分配。
具体地，根据异常子灰阶图像的位置，查找异常子灰阶图像对应的像素或像素单元，从而确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。由于像素或像素单元的位置与喷嘴之间存在对应关系，则通过异常像素或异常像素单元的位置确定异常像素或异常像素单元对应的喷嘴。由于每个像素或像素单元可以分配多个喷嘴，则确定异常像素或异常像素单元对应的喷嘴。由于异常像素或异常像素单元的墨滴体积与正常像素的墨滴体积不同，在异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中必定存在异常喷嘴，所以，可以在异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中查找到异常喷嘴。可以理解的是，异常喷嘴包括波形参数异常的喷嘴和/或喷嘴异常的喷嘴，喷嘴异常包括喷嘴全堵塞或半堵塞等异常。
在一个实施例中，请参见图7，在异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定异常喷嘴，包括：
s710、将异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴与正常像素或正常像素单元对应的多个喷嘴进行比较。
s720、通过至少一次的对比迭代，在异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定异常喷嘴。
每个像素可以分配多个喷嘴。示例性地，每个像素开口分配三个喷嘴，则可以根据像素或像素单元的位置与喷嘴之间的对应关系，通过异常像素或异常像素单元的位置确定异常像素对应的喷嘴。在异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，必定存在异常喷嘴，所以，将异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴与正常像素或正常像素单元对应的多个喷嘴进行比较。在正常像素或正常像素单元对应的多个喷嘴中，查找与异常像素或异常像素单元对应的喷嘴相同的喷嘴，如果正常像素或正常像素单元对应的多个喷嘴与异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴均包括一个或几个喷嘴，则该一个或几个喷嘴为正常喷嘴；如果异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中某一个喷嘴不包括在该正常像素或正常像素单元对应的多个喷嘴中，则将该某一个喷嘴与其他正常像素对应的多个喷嘴继续进行比较，直至确定该某一个喷嘴以异常喷嘴或者正常喷嘴为止。
本实施例中，以每个像素可以分配三个喷嘴、及喷嘴对应的波形参数为例进行示例性地说明。像素编号与像素的位置之间具有对应关系，可以通过对像素请参见下表，下表为计算机系统根据打印任务对像素编号、喷嘴与波形参数进行分配而得到的。
第一个像素的分配信息：喷嘴1、喷嘴5、喷嘴7，对应的波形参数为波形参数1(喷嘴1)、波形参数7(喷嘴5)、波形参数8(喷嘴7)；第二个像素的分配信息：喷嘴1、喷嘴3、喷嘴7，对应的波形参数为波形参数1(喷嘴1)、波形参数5(喷嘴3)、波形参数8(喷嘴7)；第三个像素被分配的喷嘴分别为喷嘴1、喷嘴5、喷嘴7，对应的波形参数为波形参数1(喷嘴1)、波形参数7(喷嘴5)、波形参数8(喷嘴7)。若根据滴墨后的灰阶图像确定第二个像素为异常像素，相对地，第一个像素为正常像素，第三个像素为正常像素。通过控制变量的方式，将第二个像素对应的分配信息与第一个像素对应的分配信息、第三个像素对应的分配信息进行比较。具体地，第一个像素与第三个像素是正常像素，则说明第一个像素及第三个像素分配的喷嘴1、喷嘴5及喷嘴7输出的墨水体积是符合要求的，将第一个像素分配的喷嘴1、喷嘴5及喷嘴7与第二个像素分配的喷嘴1、喷嘴3及喷嘴7进行比较，从而确定喷嘴3为异常喷嘴。虽然喷嘴3与波形参数5对应，但是由于存在喷嘴3自身堵塞的可能性，所以并不能完全确定波形参数5是异常。但是，如果在喷墨打印任务开始前，已经确认喷嘴3是畅通无堵塞的话，则可以确定波形参数5是异常的。
示例性，若异常像素使用的喷嘴编号为(x1,y1,z1),第一正常像素使用的喷嘴编号为(x1,y2,z2)，则可以确定喷嘴x1、喷嘴y2、喷嘴z2正常，需用进一步地对喷嘴y1、喷嘴z1判断，喷嘴y1、喷嘴z1与其他正常像素进行比对。比如，第二正常像素使用的喷嘴编号为(x3,y1,z3)，则可以确定喷嘴x3、喷嘴y1、喷嘴z3正常，从而确定喷嘴z1为异常喷嘴。以此类推，喷嘴数量大于3个以上的情况可以通过更多次的迭代过程以锁定异常喷嘴。
示例性地，第一异常像素使用的喷嘴编号为(x1,y1,z1)，第二异常像素使用的喷嘴编号为(x2,y2,z1)，由于第一异常像素与第二异常像素均使用了喷嘴z1，需要进一步地将第一异常像素与其他正常像素进行比较以确定喷嘴z1是否为异常喷嘴。以此类推，喷嘴数量大于3个以上的情况可以通过更多次的迭代过程以锁定异常喷嘴。
应该理解的是，虽然图2b、3a、4、5a、6、7的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2b、3a、4、5a、6、7中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图8所示，本申请提供了一种异常喷嘴的检测装置。该检测装置包括获取模块810、图像位置确定模块820、像素位置确定模块830、异常喷嘴确定模块840，其中：
获取模块810，用于获取像素基板的灰阶图像，灰阶图像包括多个子灰阶图像，子灰阶图像与像素基板上的像素或像素单元一一对应。
图像位置确定模块820，用于根据灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置。
像素位置确定模块830，用于根据异常子灰阶图像的位置，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。
异常喷嘴确定模块840，用于根据异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。
在一个实施例中，像素基板上设置标记点，灰阶图像包括标记点对应的图像，如图9所示，该检测装置还包括对应关系建立模块910，对应关系建立模块910，用于根据标记点的位置，确定像素基板上每个像素或像素单元的位置；根据标记点对应的图像的位置，确定灰阶图像中每个子灰阶图像的位置；建立灰阶图像中每个子灰阶图像与像素基板上每个像素或像素单元之间的位置对应关系。
进一步地，像素位置确定模块830，还用于根据异常子灰阶图像的位置及位置对应关系，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。
关于异常喷嘴的检测装置的具体限定可以参见上文中对于异常喷嘴的检测方法的限定，在此不再赘述。上述异常喷嘴的检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，如图10所示，本申请提供了一种异常喷嘴的检测装置。该检测装置包括：
光学检查系统1010，用于获取像素基板的灰阶图像，灰阶图像包括多个子灰阶图像，子灰阶图像与像素基板上的像素或像素单元一一对应。
与光学检查系统连接的控制器1020，用于根据灰阶图像，确定异常子灰阶图像；根据异常子灰阶图像的位置，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；根据异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。
在一个实施例中，控制器1020，还用于根据标记点的位置，确定像素基板上每个像素或像素单元的位置；根据标记点对应的图像的位置，确定灰阶图像中每个子灰阶图像的位置；建立灰阶图像中每个子灰阶图像与像素基板上每个像素或像素单元之间的位置对应关系。
进一步地，控制器1020，还用于根据异常子灰阶图像的位置及位置对应关系，确定像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图11所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种喷墨打印装置的控制方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图11中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述实施例中的方法步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述实施例中的方法步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
1.一种异常喷嘴的检测方法，其特征在于，包括：
获取像素基板的灰阶图像，所述灰阶图像包括多个子灰阶图像，所述子灰阶图像与所述像素基板上的像素或像素单元一一对应；
根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；
根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；
根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述像素基板上设置有标记点；所述灰阶图像包括所述标记点对应的图像；
在所述根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置之前，所述方法还包括：
根据所述标记点的位置，确定所述像素基板上每个像素或像素单元的位置；
根据所述标记点对应的图像的位置，确定所述灰阶图像中每个子灰阶图像的位置；
建立所述灰阶图像中每个子灰阶图像与所述像素基板上每个像素或像素单元之间的位置对应关系。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置，包括：
根据所述异常子灰阶图像的位置及所述位置对应关系，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取像素基板的灰阶图像之前，所述方法还包括：
获取所述像素基板上的像素或像素单元的尺寸信息；
根据所述像素或像素单元的尺寸信息，设置光学扫描的扫描范围；
所述获取像素基板的灰阶图像，包括：
根据所述光学扫描的扫描范围，获取所述像素基板上所述像素或像素单元的灰阶图像。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置，包括：
将所述灰阶图像的各个所述子灰阶图像进行比较，确定存在缺陷的异常子灰阶图像的位置。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将所述灰阶图像的各个所述子灰阶图像进行比较，确定存在缺陷的异常子灰阶图像的位置，包括：
将各个所述子灰阶图像的灰阶数值进行比较；
根据所述比较的结果，确定灰阶数值异常的子灰阶图像；
通过所述灰阶数值异常的子灰阶图像确定所述异常子灰阶图像的位置。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述像素或像素单元的位置与喷嘴之间设有对应关系；
所述根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴，包括：
根据所述像素或像素单元的位置与所述喷嘴之间的对应关系，通过所述异常像素或异常像素单元的位置确定所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴；
在所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定所述异常喷嘴。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述在所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定所述异常喷嘴，包括：
将所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴与正常像素或正常像素单元对应的多个喷嘴进行比较；
通过至少一次的对比迭代，在所述异常像素或异常像素单元对应的多个喷嘴中，确定所述异常喷嘴。
9.一种异常喷嘴的检测装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取像素基板的灰阶图像，所述灰阶图像包括多个子灰阶图像，所述子灰阶图像与所述像素基板上的像素或像素单元一一对应；
图像位置确定模块，用于根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像的位置；
像素位置确定模块，用于根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；
异常喷嘴确定模块，用于根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。
10.一种异常喷嘴的检测装置，其特征在于，所述装置包括：
光学检查系统，用于获取像素基板的灰阶图像，所述灰阶图像包括多个子灰阶图像，所述子灰阶图像与所述像素基板上的像素或像素单元一一对应；
与所述光学检查系统连接的控制器，用于根据所述灰阶图像，确定异常子灰阶图像；根据所述异常子灰阶图像的位置，确定所述像素基板上异常像素或异常像素单元的位置；根据所述异常像素或异常像素单元的位置，确定异常喷嘴。
技术总结