本发明涉及一种无损检测技术，具体说，涉及一种小角度探头折射角(26°～45°)快速测定方法。
背景技术：
在使用小角度探头进行常规接触法超声波无损检测时，需要对小角度探头的折射角进行测定，以便后续检测过程中的准确定位。
如图1所示，是现有技术中csk-ⅰa标准试块的结构示意图。
现有标准没有明确的小角度探头角度测定方法，一般采用csk-ⅰa标准试块的
技术实现要素：
本发明所解决的技术问题是提供一种小角度探头折射角的测定方法，检测时利用csk-ⅰa标准试块中
技术方案如下：
一种用于小角度探头折射角的测定方法，包括：
将被测斜的探头放置于csk-ⅰa试块的顶面上，使折射声束入射到csk-ⅰa试块的r100mm圆弧面上；在折射声束方向与csk-ⅰa试块的侧面保持平行的条件下，前后移动探头，使csk-ⅰa试块的r100mm圆弧面的反射波幅度最高，此时读取与r100mm圆弧面中心记号对应的探头侧面的刻度，作为入射点，用刻度尺测量入射点至探头前沿的距离即为探头的前沿距离l0；
将被测探头置于csk-ⅰa试块的200mm*25mm面上，使折射横波声束入射到横孔，找到反射波幅度最高的位置，横孔的直径为1.5mm；用刻度尺测量探头前沿至csk-ⅰa试块的100mm*25mm面边缘的距离l1；
利用公式
进一步，β的范围是26°～45°。
进一步，csk-ⅰa试块的体积为300mm*25mm*100mm，l2为35mm，l3为85mm。
进一步，读取精确到0.5mm。
本发明技术效果包括：
本发明检测时，利用csk-ⅰa标准试块中
1、利用现有csk-ⅰa试块直接进行小角度探头折射角度的测定，不需要更多的试块；
2、计算方便，可以实现小角度探头折射角度的快速准确测定；
3、可以实现多种角度的小角度探头折射角(26°～45°)的测定，通用性好。
附图说明
图1是现有技术中csk-ⅰa标准试块的结构示意图；
图2是本发明中采用一个试块测定折射角的示意图。
具体实施方式
以下描述充分地示出本发明的具体实施方案，以使本领域的技术人员能够实践和再现。
如图2所示，是本发明中采用一个试块测定折射角的示意图。
用于小角度探头折射角(26°～45°)的测定方法，具体步骤包括：
步骤1：将被测斜的探头2放置于csk-ⅰa试块1(csk-ⅰa试块1的体积为300mm*25mm*100mm)的顶面上，使折射声束入射到csk-ⅰa试块1的r100mm圆弧面3上；在折射声束方向与csk-ⅰa试块1的侧面保持平行的条件下，前后移动探头2，使csk-ⅰa试块1的r100mm圆弧面3的反射波幅度最高，此时读取与r100mm圆弧面3中心记号对应的探头2侧面的刻度，作为入射点，读数精确到0.5mm；用刻度尺测量入射点至探头2前沿的距离即为探头2的前沿距离l0，读数精确到0.5mm；
步骤2：将被测探头2置于csk-ⅰa试块1的200mm*25mm面上，使折射横波声束入射到直径
横孔4的孔心位置距离csk-ⅰa试块1顶部85mm，横孔4位于csk-ⅰa试块1边缘35mm处。
步骤3：利用公式
β的范围是26°～45°。横孔4的圆心到100mm*25mm面的距离l2为35mm，
采用本发明测量方法可以利用现有csk-ⅰa试块直接进行小角度探头折射角度的测定，不需要更多的试块，利用公式计算方便，可以实现小角度探头折射角度的快速准确测定，可以实现多种角度的小角度探头折射角的测定，通用性好。
本发明所用的术语是说明和示例性、而非限制性的术语。由于本发明能够以多种形式具体实施而不脱离发明的精神或实质，所以应当理解，上述实施例不限于任何前述的细节，而应在随附权利要求所限定的精神和范围内广泛地解释，因此落入权利要求或其等效范围内的全部变化和改型都应为随附权利要求所涵盖。
1.一种小角度探头折射角的测定方法，包括：
将被测斜的探头放置于csk-ⅰa试块的顶面上，使折射声束入射到csk-ⅰa试块的r100mm圆弧面上；在折射声束方向与csk-ⅰa试块的侧面保持平行的条件下，前后移动探头，使csk-ⅰa试块的r100mm圆弧面的反射波幅度最高，r100mm圆弧面中心记号作为入射点，用测量入射点至探头前沿的距离即为探头的前沿距离l0；
将被测探头置于csk-ⅰa试块的200mm*25mm面上，使折射横波声束入射到横孔，找到反射波幅度最高的位置，横孔的直径为1.5mm；用刻度尺测量探头前沿至csk-ⅰa试块的100mm*25mm面边缘的距离l1；
利用公式
2.如权利要求1所述小角度探头折射角的测定方法，其特征在于，β的范围是26°～45°。
3.如权利要求1所述小角度探头折射角的测定方法，其特征在于，csk-ⅰa试块的体积为300mm*25mm*100mm，l2为35mm，l3为85mm。
4.如权利要求1所述小角度探头折射角的测定方法，其特征在于，读取精确到0.5mm。
技术总结