一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置

专利2026-08-31  1


本发明涉及涂层表面检测领域,尤其涉及一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置。


背景技术:

1、银纳米颗粒材料是一种具有优异性能的纳米材料,在多个领域都有广泛的应用,分别应用在高端银浆、导电涂层、医疗领域、催化材料、新能源、电镀工业以及绿色家电和家居产品等方面,其中银纳米颗粒材料也可以用于导电涂层的制备,将银纳米颗粒粉均匀分散在适当的载体中,制成银纳米颗粒涂层,可以在表面形成导电膜,这种涂层具有较高的导电性能和光反射性能,可应用于透明导电电极、防静电涂层、电磁屏蔽等领域,比如滤波器用高档涂层,低温烧结导电浆,瓷管电容器用银涂层,提供高效的导电和屏蔽性能,涂层可防止短路、漏电和放电等, 关于涂层规定检查项目,为满足规定的涂层标准, 有必要进行相应的检查,但由于眼睛疲劳、注意力不集中、处理量大等问题,这样的检查属于相对困难的工作。

2、此外,随着技术的发展,有时侯会遇到带涂层元件多样化、密集化、小型化,因此,查找涂层不良的工作变得越来越困难,因此,涂层的生产效率和可靠性正在下降,传统的检查技术是,固定摄像头,移动带涂层的元件,但是传统的检测装置超出了相机镜头焦深的允许范围,

3、在一些情况下,存在无法获取清晰影像数据,难以准确检测的问题。

4、此外,有时候待检测的元件尺寸会过大,由于需要包括多个摄像头,成本会增加,成本也会增加。

5、于是,发明创造了一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置来解决现有技术的不足。


技术实现思路

1、本发明的目的是为了解决现有技术的不足,提供了一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置。

2、本发明是通过以下技术方案实现:

3、一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置,包括输送部,所述输送部上设有第一检测装置,所述输送部一侧设有检测台,所述检测台一端设有移动部件,所述移动部件上移动安装有第二检测装置,可将第二检测装置移动到x轴、y轴和z轴中至少一个轴的方向。

4、优选的,所述输送部包括输送部框架和支腿,所述输送部框架内设有若干数量的滚轮,沿一定距离间隔布置,所述滚轮可以选用橡胶或合成树脂。

5、优选的,所述第一检测装置可以选用摄像机或者扫描仪,用于识别涂层元件信息,位于输送部的底部框架或输送部的一侧。

6、优选的,所述移动部件包括第一水平构件、垂直构件和第二水平构件,所述第一水平构件上设有一号滑槽,所述垂直构件上设有二号滑槽和一号突起,所述第二水平构件上设有二号突起,与二号滑槽配合移动,所述一号突起与一号滑槽配合移动,通过第一水平部件和第二水平部件,将第二检测装置作为涂层元件的x轴通过垂直部件,将第二检测装置设置为z轴移动,可以将第二检测装置定位到最佳焦距。

7、优选的,所述第二检测装置包括角度调节部,所述角度调节部包括x轴倾斜部、y轴倾斜部、相机镜头部,所述x轴倾斜部、y轴倾斜部通过轴向旋转,调整为x轴或y轴,调节相机镜头部的拍摄角度。

8、优选的,所述检测台是可以旋转运动的,可以与地面成各种角度旋转运动。

9、优选的,所述第二检测装置为摄像机,至少绕x轴和y轴中的一个轴旋转。

10、优选的,操作流程如下:

11、s1: 传送带涂层的元件p;

12、s2: 在检测台3上安放带涂层的元件p;

13、s3: 第二检测装置5角度的调节;

14、s4: 带涂层的元件p成像;

15、s5:分析带涂层的元件p的图像。

16、本发明的有益效果是:

17、(1)关于带涂层的元件p检测装置及其检测方法,可通过可倾斜的摄像头进行不同位置和角度的检测。

18、(2)通过旋转摄像头,移动带涂层的元件p,检测带涂层的元件p涂层不良,但是,不超出了相机镜头焦距的允许范围,带涂层的元件p在定位的情况下,能够清洗获取清晰影像数据,准确检测。

19、(3)在带涂层的元件p尺寸较大的情况下,只需要一个摄像头,节约成本。

20、(4)结构相对简单,容易操作。



技术特征:

1.一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置,其特征在在于,包括输送部(1),所述输送部(1)上设有第一检测装置(2),所述输送部(1)一侧设有检测台(3),所述检测台(3)一端设有移动部件(4),所述移动部件(4)上移动安装有第二检测装置(5),可将第二检测装置(5)移动到x轴、y轴和z轴中至少一个轴的方向。

2.根据权利要求1所述的一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置,其特征在于:所述输送部(1)包括输送部框架(11)和支腿(12),所述输送部框架(11)内设有若干数量的滚轮(13),沿一定距离间隔布置,所述滚轮(13)可以选用橡胶或合成树脂。

3.根据权利要求1所述的一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置,其特征在于:所述第一检测装置(2)可以选用摄像机或者扫描仪,用于识别涂层元件信息,位于输送部(1)的底部框架或输送部(1)的一侧。

4.根据权利要求1所述的一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置,其特征在于:所述移动部件(4)包括第一水平构件(41)、垂直构件(42)和第二水平构件(43),所述第一水平构件(41)上设有一号滑槽(411),所述垂直构件(42)上设有二号滑槽(421)和一号突起(422),所述第二水平构件(43)上设有二号突起(431),与二号滑槽(421)配合移动,所述一号突起与一号滑槽(411)配合移动,通过第一水平部件(41)和第二水平部件(42),将第二检测装置(5)作为涂层元件的x轴通过垂直部件(42),将第二检测装置(5)设置为z轴移动,可以将第二检测装置(5)定位到最佳焦距。

5.根据权利要求5所述的一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置,其特征在于:所述第二检测装置(5)包括角度调节部,所述角度调节部包括x轴倾斜部(51)、y轴倾斜部(52)、相机镜头部(53),所述x轴倾斜部(51)、y轴倾斜部(52)通过轴向旋转,调整为x轴或y轴,调节相机镜头部(53)的拍摄角度。

6.根据权利要求1所述的,其特征在于:所述检测台(3)上设有与地面支撑的转轴,是可以旋转运动的,可以与地面成各种角度旋转运动。

7.根据权利要求1所述的一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置,其特征在于:所述第二检测装置(5)为摄像机,至少绕x轴和y轴中的一个轴旋转。

8.根据权利要求2所述的一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置,其特征在于:所述输送部框架(11)包括横梁(111),所述横梁(111)的数量为2根,所述支腿(12)数量为4根,分别位于输送部框架的4周。

9.根据权利要求1所述的一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置,其特征在于:操作流程如下:


技术总结
本发明公开了一种抗菌型银纳米颗粒材料涂层表面检测装置,包括输送部,所述输送部上设有第一检测装置,所述输送部一侧设有检测台,所述检测台一端设有移动部件,所述移动部件上移动安装有第二检测装置,可将第二检测装置移动到X轴、Y轴和Z轴中至少一个轴的方向,通过旋转摄像头,移动带涂层的元件P,检测带涂层的元件P涂层不良,在不超出了相机镜头焦距的允许范围的情况下,带涂层的元件P在定位的情况下,能够清晰获取清晰影像数据,准确检测。

技术研发人员:曹雪玲,陆书来,张东杰,何丹凤,郑婷婷,姜丹
受保护的技术使用者:琼台师范学院
技术研发日:
技术公布日:2024/7/25
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