本发明涉及电路数据分析领域，更具体的，涉及一种基于数据分析的高速电路质量评估方法、系统及介质。
背景技术：
1、随着电路技术的飞速发展，高速电路已成为现代电子设备的重要组成部分。然而，高速电路的质量评估一直是业界的难题。传统的电路质量评估方法往往依赖于实验测试和人工分析，这种方式效率低下，且难以应对复杂的电路环境与多变的工作条件。且现有技术缺少对电路模块分布合理性分析与质量评估相结合的技术方案，因此，开发一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，对于提高电路质量评估的准确性和效率具有重要意义。
技术实现思路
1、本发明克服了现有技术的缺陷，提出了一种基于数据分析的高速电路质量评估方法、系统及介质。
2、本发明第一方面提供了一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，包括：
3、通过红外摄像设备，对目标高速电路板进行图像区域标记，并在预设测试时间获取红外图像集；
4、基于红外图像集进行红外特征提取，通过对特征进行温度变化分析，温度变化分析基于线性回归模型，通过变化分析结合基础运行计划对目标高速电路图进行模块划分，形成基于红外温控分析的模块划分信息，并通过线性回归模型得到各模块的温度变化曲线图；
5、获取目标高速电路板的电路设计分布信息，将电路设计分布信息与模块划分信息进行模块位置分布特征差异分析，分布特征差异分析过程为通过预设聚类模型对分布的模块轮廓特征进行聚类分析，基于聚类结果进行差异分析，通过差异计算进行电路模块质量评估，形成质量评估数据；
6、在预设测试时间内，对目标高速电路板各个数据传输模块进行信号测试，得到信号完整度评估数据。
7、本方案中，所述通过红外摄像设备，对目标高速电路板进行图像区域标记，并在预设测试时间获取红外图像集，具体为：
8、通过红外摄像装置，对目标高速电路板进行画面定位；
9、在红外摄像画面中，基于预设目标轮廓，进行目标电路板的区域定位，得到红外目标区域；
10、在预设测试时间内，通过基础运行计划对目标电路板进行电路测试，并获取相应红外成像视频数据；
11、将所述红外成像视频数据进行关键帧提取，形成红外图像集。
12、本方案中，所述基于红外图像集进行红外特征提取，通过对特征进行温度变化分析，温度变化分析基于线性回归模型，通过变化分析结合基础运行计划对目标高速电路图进行模块划分，形成基于红外温控分析的模块划分信息，并通过线性回归模型得到各模块的温度变化曲线图，具体为：
13、基于基础运行计划，划分出多个模块时间段，每个模块时间段对应一个电路模块的测试时间；
14、在一个模块时间段内，从红外图像集提取相应的图像子集图，基于图像子集图进行色彩特征、物体红外轮廓特征提取，得到红外特征数据；
15、将红外特征数据基于进行色彩值变化分析，分析过程基于线性回归模型，并得目标电路温度变化特征数据，通过温度变化特征数据结合红外特征数据进行温度变化区域标记，将温度变化区域中大于预设温度变化预设的区域进行标记，得到温控区域；
16、将温控区域进行区域合并得到所述一个模块时间段内的模块区域；
17、基于多个模块时间段得到多个模块区域，基于所述模块区域的边界形成模块划分信息，通过线性回归模型与目标电路温度变化特征数据，对多个模块区域进行温度变化数值统计，形成各模块的温度变化曲线图。
18、本方案中，所述获取目标高速电路板的电路设计分布信息，将电路设计分布信息与模块划分信息进行模块位置分布特征差异分析，分布特征差异分析过程为通过预设聚类模型对分布的模块轮廓特征进行聚类分析，基于聚类结果进行差异分析，通过差异计算进行电路模块质量评估，形成质量评估数据，具体为：
19、获取目标高速电路板的电路设计分布信息，基于分布信息获取目标电路板的模块划分图；
20、通过模块划分图对不同模块区域进行轮廓特征提取与模块位置信息提取，得到各模块的第一轮廓特征数据与第一模块位置数据；
21、将所述第一轮廓特征数据与第一模块位置数据作为聚类样品数据，基于dbscan聚类算法进行聚类分析，并得到第一聚类结果，所述第一聚类结果包括聚类组数与聚类组数据；
22、通过基于红外特征的模块划分信息，对不同模块区域进行轮廓特征提取与模块位置信息提取，将得到各模块的轮廓特征数据与模块位置数据作为聚类样品数据，通过基于dbscan聚类算法进行聚类分析，得到第二聚类结果，所述第二聚类结果包括聚类组数与聚类组数据；
23、将第一聚类结果与第二聚类结果进行结果差异性分析，分析过程为通过计算聚类组数的差异、聚类组数据之间的差异进行综合性分析，并生成差异结果值；
24、所述聚类组数据之间的差异的分析过程具体为将第一聚类结果中的各个聚类组数据与第二聚类结果中的各个聚类组数据进行基于标准欧氏距离的数据差异计算，将差异值作为分析值；
25、通过差异结果值与温控变化曲线对目标电路板进行质量评估，形成质量评估数据。
26、本方案中，所述在预设测试时间内，对目标高速电路板各个数据传输模块进行信号测试，得到信号完整度评估数据，具体为：
27、在预设测试时间内，通过预设测试方法，对目标高速电路板各模块进行信号完整度测试，并得到信号完整度评估数据。
28、本方案中，所述基于质量评估数据与信号完整度评估数据，对目标电路板进行综合性分析，形成质量评估报告，将质量评估报告发送至预设终端，具体为：
29、基于质量评估数据与信号完整度评估数据，对目标电路板进行综合性分析，综合性分析包括设计缺陷、电路模块分布合理性、电路信号质量、电路温度变化四个维度，并生成质量评估报告，将质量评估报告发送至预设终端。
30、本发明第二方面还提供了一种基于数据分析的高速电路质量评估系统，该系统包括：存储器、处理器，所述存储器中包括基于数据分析的高速电路质量评估程序，所述基于数据分析的高速电路质量评估程序被所述处理器执行时实现如下步骤：
31、通过红外摄像设备，对目标高速电路板进行图像区域标记，并在预设测试时间获取红外图像集；
32、基于红外图像集进行红外特征提取，通过对特征进行温度变化分析，温度变化分析基于线性回归模型，通过变化分析结合基础运行计划对目标高速电路图进行模块划分，形成基于红外温控分析的模块划分信息，并通过线性回归模型得到各模块的温度变化曲线图；
33、获取目标高速电路板的电路设计分布信息，将电路设计分布信息与模块划分信息进行模块位置分布特征差异分析，分布特征差异分析过程为通过预设聚类模型对分布的模块轮廓特征进行聚类分析，基于聚类结果进行差异分析，通过差异计算进行电路模块质量评估，形成质量评估数据；
34、在预设测试时间内，对目标高速电路板各个数据传输模块进行信号测试，得到信号完整度评估数据。
35、本发明第三方面还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中包括基于数据分析的高速电路质量评估程序，所述基于数据分析的高速电路质量评估程序被处理器执行时，实现如上述任一项所述的基于数据分析的高速电路质量评估方法的步骤。
36、本发明公开了一种基于数据分析的高速电路质量评估方法、系统及介质，在预设测试时间获取目标电路红外图像集，通过温度变化分析结合基础运行计划对目标高速电路图进行模块划分，形成基于红外温控分析的模块划分信息；获取目标高速电路板的电路设计分布信息，将电路设计分布信息与模块划分信息进行模块位置分布特征差异分析，分析过程为通过聚类模型对分布的模块轮廓特征进行聚类分析，基于聚类结果进行差异分析，通过差异计算进行电路模块质量评估；在预设测试时间内，对目标高速电路板各个数据传输模块进行信号测试，得到信号完整度评估数据，从而有效实现高速电路的质量评估，该方法有效挖掘电路中存在的设计缺陷，实现精准高效的质量评估。
1.一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，所述通过红外摄像设备，对目标高速电路板进行图像区域标记，并在预设测试时间获取红外图像集，具体为：
3.根据权利要求2所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，所述基于红外图像集进行红外特征提取，通过对特征进行温度变化分析，温度变化分析基于线性回归模型，通过变化分析结合基础运行计划对目标高速电路图进行模块划分，形成基于红外温控分析的模块划分信息，并通过线性回归模型得到各模块的温度变化曲线图，具体为：
4.根据权利要求3所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，所述所述获取目标高速电路板的电路设计分布信息，将电路设计分布信息与模块划分信息进行模块位置分布特征差异分析，分布特征差异分析过程为通过预设聚类模型对分布的模块轮廓特征进行聚类分析，基于聚类结果进行差异分析，通过差异计算进行电路模块质量评估，形成质量评估数据，具体为：
5.根据权利要求4所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，所述在预设测试时间内，对目标高速电路板各个数据传输模块进行信号测试，得到信号完整度评估数据，具体为：
6.根据权利要求5所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估方法，其特征在于，所述基于质量评估数据与信号完整度评估数据，对目标电路板进行综合性分析，形成质量评估报告，将质量评估报告发送至预设终端，具体为：
7.一种基于数据分析的高速电路质量评估系统，其特征在于，该系统包括：存储器、处理器，所述存储器中包括基于数据分析的高速电路质量评估程序，所述基于数据分析的高速电路质量评估程序被所述处理器执行时实现如下步骤：
8.根据权利要求7所述的一种基于数据分析的高速电路质量评估系统，其特征在于，所述通过红外摄像设备，对目标高速电路板进行图像区域标记，并在预设测试时间获取红外图像集，具体为：
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中包括基于数据分析的高速电路质量评估程序，所述基于数据分析的高速电路质量评估程序被处理器执行时，实现如权利要求1至6中任一项所述的基于数据分析的高速电路质量评估方法的步骤。
