一种用于对芯片失效分析的新型夹具的制作方法

专利2026-07-03  12


本技术涉及芯片,尤其涉及一种用于对芯片失效分析的新型夹具。


背景技术:

1、芯片,又称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成电路(英语:integrated circuit,ic)。是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分,芯片的失效会导致电子设备的瘫痪,而致使芯片失效有多种可能,因此需要对失效的芯片进行失效分析,查出具体失效原因以便对芯片进行修复,对芯片失效分析有专门的芯片检测仪,芯片检测仪中配备有专门的芯片夹具。

2、传统的芯片检测仪中的芯片夹具对芯片的夹持点只有一处,且处于芯片边缘处,夹具的稳定性不高,且对芯片表面进行接触检测时,容易因接触力过大而损伤芯片被夹持边缘。


技术实现思路

1、为解决上述传统夹具的稳定性不高,且对芯片表面进行接触检测时,容易因接触力过大而损伤芯片被夹持边缘技术问题,本实用新型提供一种用于对芯片失效分析的新型夹具。

2、本实用新型提供的用于对芯片失效分析的新型夹具包括:夹持结构,夹持结构包括夹持底座,夹持底座表面开设有嵌入槽,嵌入槽内壁对称两侧面嵌入设置有夹持活动件,夹持结构侧面设有稳定结构,稳定结构与夹持结构相嵌连接,所述稳定结构包括支撑柱,支撑柱嵌入夹持底座内部与其连接,支撑柱内部嵌入设置有稳定杆,支撑柱内部、稳定杆一侧设有调节齿轮,调节齿轮转动可带动稳定杆升降。

3、优选的,所述夹持底座呈漏斗结构,嵌入槽开设于夹持底座水平表面,嵌入槽一端、夹持底座弧面开设有安装槽。

4、优选的,所述嵌入槽对称两侧面分别开设有活动槽,夹持活动件嵌入活动槽中与夹持底座活动连接。

5、优选的,所述夹持活动件包括楔形结构的夹持块,夹持块对称两侧面分别固定连接有轴桩,夹持块通过轴桩与活动槽内壁转动连接。

6、优选的,所述夹持活动件还包括夹持弹簧,夹持弹簧设于夹持块与活动槽内壁之间,夹持弹簧一端与活动槽内壁固定连接,夹持弹簧另一端与夹持块相抵。

7、优选的,所述支撑柱包括柱体,柱体呈l型结构,柱体嵌入安装槽中与夹持底座连接,柱体竖直杆内部开设有调节槽。

8、优选的,所述稳定杆竖直杆嵌入调节槽中,且稳定杆竖直杆侧面均匀开设有若干组齿槽,调节齿轮设于调节槽内与其内壁转动连接,调节齿轮与稳定杆啮合连接。

9、优选的,所述支撑柱侧面设有调节旋钮,调节旋钮通过轴杆贯穿支撑柱与调节齿轮固定连接。

10、与相关技术相比较,本实用新型提供的用于对芯片失效分析的新型夹具具有如下有益效果:

11、本实用新型,通过夹持结构中的夹持活动件能够对所夹持的芯片进行轴向限定,且夹持位置在芯片底边,不影响检测仪对芯片正反面的检测,同时增设的稳定结构绕过芯片侧边位于芯片上方,对芯片进行纵向限定,与芯片顶边接触,也不影响对芯片正反面的检测,通过对芯片减少一个自由度的限定,有效增加了新型夹具的稳定性。



技术特征:

1.一种用于对芯片失效分析的新型夹具,包括:夹持结构(1),夹持结构(1)包括夹持底座(11),夹持底座(11)表面开设有嵌入槽(12),嵌入槽(12)内壁对称两侧面嵌入设置有夹持活动件(13),夹持结构(1)侧面设有稳定结构(2),稳定结构(2)与夹持结构(1)相嵌连接,其特征在于,所述稳定结构(2)包括支撑柱(21),支撑柱(21)嵌入夹持底座(11)内部与其连接,支撑柱(21)内部嵌入设置有稳定杆(22),支撑柱(21)内部、稳定杆(22)一侧设有调节齿轮(25),调节齿轮(25)转动可带动稳定杆(22)升降。

2.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具,其特征在于,所述夹持底座(11)呈漏斗结构,嵌入槽(12)开设于夹持底座(11)水平表面,嵌入槽(12)一端、夹持底座(11)弧面开设有安装槽(15)。

3.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具,其特征在于,所述嵌入槽(12)对称两侧面分别开设有活动槽(14),夹持活动件(13)嵌入活动槽(14)中与夹持底座(11)活动连接。

4.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具,其特征在于,所述夹持活动件(13)包括楔形结构的夹持块(131),夹持块(131)对称两侧面分别固定连接有轴桩(132),夹持块(131)通过轴桩(132)与活动槽(14)内壁转动连接。

5.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具,其特征在于,所述夹持活动件(13)还包括夹持弹簧(133),夹持弹簧(133)设于夹持块(131)与活动槽(14)内壁之间,夹持弹簧(133)一端与活动槽(14)内壁固定连接,夹持弹簧(133)另一端与夹持块(131)相抵。

6.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具,其特征在于,所述支撑柱(21)包括柱体(211),柱体(211)呈l型结构,柱体(211)嵌入安装槽(15)中与夹持底座(11)连接,柱体(211)竖直杆内部开设有调节槽(212)。

7.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具,其特征在于,所述稳定杆(22)竖直杆嵌入调节槽(212)中,且稳定杆(22)竖直杆侧面均匀开设有若干组齿槽,调节齿轮(25)设于调节槽(212)内与其内壁转动连接,调节齿轮(25)与稳定杆(22)啮合连接,稳定杆(22)的水平面下表面固定连接有缓冲垫(24)。

8.根据权利要求1所述的用于对芯片失效分析的新型夹具,其特征在于,所述支撑柱(21)侧面设有调节旋钮(23),调节旋钮(23)通过轴杆贯穿支撑柱(21)与调节齿轮(25)固定连接。


技术总结
本技术提供一种用于对芯片失效分析的新型夹具,具体涉及芯片技术领域。所述用于对芯片失效分析的新型夹具包括夹持结构,夹持结构包括夹持底座,夹持底座表面开设有嵌入槽,嵌入槽内壁对称两侧面嵌入设置有夹持活动件,夹持结构侧面设有稳定结构,稳定结构与夹持结构相嵌连接,所述稳定结构包括支撑柱,支撑柱嵌入夹持底座内部与其连接,支撑柱内部嵌入设置有稳定杆,支撑柱内部、稳定杆一侧设有调节齿轮,调节齿轮转动可带动稳定杆升降。本技术,通过稳定结构绕过芯片侧边位于芯片上方,对芯片进行纵向限定,与芯片顶边接触,有效增加了新型夹具的稳定性。

技术研发人员:饶纲发,饶莲花
受保护的技术使用者:杭州盘古开物新能源科技有限责任公司
技术研发日:20230919
技术公布日:2024/7/25
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