本发明涉及光电元器件测试，具体是一种光电一体式测试系统。
背景技术：
1、光电子器件的设计原理是依据外场对导波光传播方式的改变，它也有别于早期人们袭用的光电器件，光电子器件是光电子技术的关键和核心部件，是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域，是信息技术的重要组成部分。
2、光电元器件在进行测试抽检时需要再严格避光的空间内进行，现有的测试设备在进行测试时无法形成流水化测试，每测试一次都需要重新搭建避光环境，测试效率较低。
技术实现思路
1、本发明的目的在于提供一种光电一体式测试系统，以解决上述背景技术中提出的问题。
2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
3、一种光电一体式测试系统，包括底座，底座上横向布置有水平导轨，水平导轨的两端之间固定安装有顶架，水平导轨上连续布置有两组平移机构，其中一组平移机构上设置有检测架，该平移机构与检测架之间设置有剪叉支架，检测架上设置有卡接组件以及托举组件，另外一组平移机构上设置有送料机构，顶架上悬挂设置有暗箱，暗箱的底部开口设置，检测架在剪叉支架的带动下升起与暗箱底部配合后形成完整的封闭检测空间，暗箱内设置有驱动组件以及光电检测组件、接触供电组件，驱动组件带动卡接组件进行旋转，驱动组件包括设置暗箱顶部的电机三，电机三连接有抓取头。
4、检测架包括底板，底板与暗箱底部开口的尺寸相互匹配，底板上设置有放置板，放置板上放置有检测盘，卡接组件与检测盘的中心区域相连，检测盘的边缘均匀组装有光电元器件，放置板上设置有十字槽，十字槽内设置有托举组件，托举组件与卡接组件对检测盘进行装夹。
5、作为本发明再进一步的方案：平移机构包括设置在水平导轨边缘的水平齿条，水平齿条与水平导轨之间平行设置，水平导轨上滑动安装有卡接架，卡接架的边缘设置有电机一，电机一连接有配合齿轮一，配合齿轮一与水平齿条之间相互啮合。
6、作为本发明再进一步的方案：检测盘的中心区域设置有抓取凸缘以及中心孔，卡接组件包括中心盘，中心盘的边缘均匀设置有安装框，安装框内滑动安装有张开架，张开架位于安装框上侧的端部设置有接触凸缘，张开架位于安装框下侧的端部设置有卡接凸缘，张开架上设置有配合滑块，配合滑块与安装框之间滑动安装，配合滑块与安装块之间设置有连接弹簧一，中心盘的边缘设置有固定杆，固定杆的端部固定设置有安装板，安装板上设置有导向杆以及双向丝杆，导向杆以及双向丝杆贯穿中心盘且平行设置，安装板上设置有电机二，电机二与双向丝杆相连，双向丝杆以及导向杆的两端设置有移动板，移动板与双向丝杠之间螺纹连接，移动板上设置有推动架，推动架与接触凸缘接触安装。
7、作为本发明再进一步的方案：安装框设置有四组，相邻两组安装框之间的卡接凸缘与推动架接触安装，推动架的两个推动接触面之间呈九十度设置。
8、作为本发明再进一步的方案：托举组件包括配合杆，配合杆与中心孔相互配合，配合杆的底部设置有托盘，托盘的边缘均匀设置有延伸块，延伸块与十字槽相互配合，配合杆的顶部设置有锁定头，锁定头与驱动组件之间相互配合。
9、作为本发明再进一步的方案：送料机构包括收纳架，收纳架的中心设置有中心槽，中心槽指向检测架的中心轴线，中心槽内均匀放置有光电元器件，中心槽内滑动安装有推板，中心槽的底部设置有推动气缸一，推动气缸一与推板相连，中心槽的末端设置有限位架一，限位架一内设置有下放槽，收纳架的两侧固定安装有推动气缸二，推动气缸二连接有送料板，收纳架内均匀设置有针脚槽，针脚槽与中心槽之间垂直设置，针脚槽内滑动安装有光电元器件。
10、作为本发明再进一步的方案：限位架一的正面设置有定位球，检测盘上安装有光电元器件的部位设置有定位板，定位板上设置有定位孔，定位球与定位孔相互配合时下放槽正对检测盘上的插槽。
11、作为本发明再进一步的方案：光电检测组件以及接触供电组件分别通过升降调节机构安装在暗箱的两侧，升降调节机构包括竖直架，竖直架内设置有竖直槽以及竖直齿条，竖直槽内设置有滑动安装有升降架，升降架上设置有延伸架，升降架上转动安装有配合齿轮二，配合齿轮二与竖直齿条相互啮合，升降架上设置有升降电机，升降电机与配合齿轮相连，光电检测组件包括摆动架一，摆动架一与延伸架之间通过摆动电机转动安装，摆动架一内安装有电动滑块，电动滑块上设置有检测透镜。
12、作为本发明再进一步的方案：接触供电组件包括摆动架二，摆动架二的端部连接有直角架，直角架上设置有连接架，连接架通过对称设置的插接杆与摆动架二之间插接，插接杆上设置有连接弹簧四，直角架的两个直角面上分别活动安装有插接柱，插接柱上设置有连接弹簧三，插接柱的端部分别连接有配合球一以及配合球二，检测盘的边缘设置有侧边环形槽以及上环形槽，配合球一与侧边环形槽电性连接，配合球二与上环形槽之间电性连接，检测盘的插槽与侧边环形槽以及上环形槽之间电性连接。
13、作为本发明再进一步的方案：升降架与竖直槽之间还设置有锁定组件，锁定组件包括与升降架之间转动安装的菱形块，菱形块连接有驱动部件，升降架在菱形块的两侧设置有限位架二，限位架二上插接有插接板，插接板的一端设置有贴合块，贴合块与菱形块接触安装，插接板的另一端设置有张紧块，张紧块与竖直槽两侧接触安装，限位架二与贴合块之间设置有连接弹簧二。
14、与现有技术相比，本发明的有益效果是：
15、（1）光电元器件均匀摆放在检测架内的检测盘上，通过托举组件以及检查支架将检测盘送入暗箱内，底板与暗箱配合形成完整的密闭空间，从而构建光电检测的全黑空间，避免外接光线对检测结果造成影响。其中检测盘在与驱动部件组合后并进行旋转，可以在暗箱内实现一次性检测多个光电元器件，提升了检测效率。检测盘在送料机构的配合下完成光电元器件的组装后，通过剪叉支架将检测架送入暗箱。结合电机二控制双向丝杆进行转动，控制中心盘两侧的移动板移动，使得推动架带动张开架上的接触凸缘向中心盘的中心靠拢，张开架底部的卡接凸缘与检测盘中心的抓取凸缘的边缘卡紧，配合底部的托举组件完成对检测盘的托举以及卡紧，在剪叉支架的配合下锁定头与抓取头配合后，电机三即可带动检测盘在暗箱内进行旋转，实现对检测盘上的光电元器件进行依次检测。
16、（2）设置收纳架集中收纳光电元器件，利用收纳架内的中心槽以及推动气缸一、推板带动光电元器件移动，中心槽末端的光电元器件通过限位架一内的下放槽落到检测盘上。为了保证光电元器件的针脚准确落入检测盘上的插槽内，在检测盘上安装光电元器件的部位对应设置定位板，同时在定位板上设置定位槽，限位架一上对应设置定位球，当定位球与定位槽之间相互配合时光电元器件下落时针脚正好与插槽相互对应，实现对检测盘上光电元器件自动化组装。收纳槽在中心槽的两侧均匀设置针脚槽，通过针脚槽均匀放置光电元器件，当中心槽内的光电元器件输送完时，通过推动气缸二以及送料板将中心槽两侧的光电元器件送入中心槽内，提升收纳架的收纳能力。
17、（3）通过摆动架二安装直角架，结合直角架设置配合球一与配合球二，当检测盘在驱动部件的带动下进行转动时，配合球一与配合球二始终与检测盘边缘的侧边环形槽以及上环形槽相互接触，从而保持电性连接，保持供电的同时不影响检测盘的转动检测操作。
1.一种光电一体式测试系统，包括底座（1），所述底座（1）上横向布置有水平导轨（10），所述水平导轨（10）的两端之间固定安装有顶架（12），其特征在于，所述水平导轨（10）上连续布置有两组平移机构（2），其中一组平移机构（2）上设置有检测架（3），该平移机构（2）与检测架（3）之间设置有剪叉支架（21），所述检测架（3）上设置有卡接组件（35）以及托举组件（36），另外一组所述平移机构（2）上设置有送料机构（4），所述顶架（12）上悬挂设置有暗箱（5），所述暗箱（5）的底部开口设置，所述检测架（3）在剪叉支架（21）的带动下升起与暗箱（5）底部配合后形成完整的封闭检测空间，所述暗箱（5）内设置有驱动组件（9）以及光电检测组件（7）、接触供电组件（8），所述驱动组件（9）带动卡接组件（35）进行旋转，所述驱动组件（9）包括设置暗箱（5）顶部的电机三（90），所述电机三（90）连接有抓取头（91）；
2.根据权利要求1所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述平移机构（2）包括设置在水平导轨（10）边缘的水平齿条（11），所述水平齿条（11）与水平导轨（10）之间平行设置，所述水平导轨（10）上滑动安装有卡接架（20），所述卡接架（20）的边缘设置有电机一（22），所述电机一（22）连接有配合齿轮一（23），所述配合齿轮一（23）与水平齿条（11）之间相互啮合。
3.根据权利要求1所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述检测盘（32）的中心区域设置有抓取凸缘（320）以及中心孔（321），所述卡接组件（35）包括中心盘（350），所述中心盘（350）的边缘均匀设置有安装框（351），所述安装框（351）内滑动安装有张开架（352），所述张开架（352）位于安装框（351）上侧的端部设置有接触凸缘（3520），所述张开架（352）位于安装框（351）下侧的端部设置有卡接凸缘（3522），所述张开架（352）上设置有配合滑块（3521），所述配合滑块（3521）与安装框（351）之间滑动安装，所述配合滑块（3521）与安装块之间设置有连接弹簧一（3523），所述中心盘（350）的边缘设置有固定杆（354），所述固定杆（354）的端部固定设置有安装板（359），所述安装板（359）上设置有导向杆（356）以及双向丝杆（355），所述导向杆（356）以及双向丝杆（355）贯穿中心盘（350）且平行设置，所述安装板（359）上设置有电机二（3510），所述电机二（3510）与双向丝杆（355）相连，所述双向丝杆（355）以及导向杆（356）的两端设置有移动板（357），所述移动板（357）与双向丝杠之间螺纹连接，所述移动板（357）上设置有推动架（353），所述推动架（353）与接触凸缘（3520）接触安装。
4.根据权利要求3所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述安装框（351）设置有四组，相邻两组所述安装框（351）之间的卡接凸缘（3522）与推动架（353）接触安装，所述推动架（353）的两个推动接触面之间呈九十度设置。
5.根据权利要求3所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述托举组件（36）包括配合杆（360），所述配合杆（360）与中心孔（321）相互配合，所述配合杆（360）的底部设置有托盘（362），所述托盘（362）的边缘均匀设置有延伸块（363），所述延伸块（363）与十字槽（310）相互配合，所述配合杆（360）的顶部设置有锁定头（361），所述锁定头（361）与驱动组件（9）之间相互配合。
6.根据权利要求1所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述送料机构（4）包括收纳架（40），所述收纳架（40）的中心设置有中心槽（41），所述中心槽（41）指向检测架（3）的中心轴线，所述中心槽（41）内均匀放置有光电元器件，所述中心槽（41）内滑动安装有推板（42），所述中心槽（41）的底部设置有推动气缸一（43），所述推动气缸一（43）与推板（42）相连，所述中心槽（41）的末端设置有限位架一（44），所述限位架一（44）内设置有下放槽（46），所述收纳架（40）的两侧固定安装有推动气缸二（48），所述推动气缸二（48）连接有送料板（47），所述收纳架（40）内均匀设置有针脚槽（49），所述针脚槽（49）与中心槽（41）之间垂直设置，所述针脚槽（49）内滑动安装有光电元器件。
7.根据权利要求6所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述限位架一（44）的正面设置有定位球（45），所述检测盘（32）上安装有光电元器件的部位设置有定位板（33），所述定位板（33）上设置有定位孔（34），所述定位球（45）与定位孔（34）相互配合时所述下放槽（46）正对检测盘（32）上的插槽（324）。
8.根据权利要求1所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述光电检测组件（7）以及接触供电组件（8）分别通过升降调节机构（6）安装在暗箱（5）的两侧，所述升降调节机构（6）包括竖直架（60），所述竖直架（60）内设置有竖直槽（61）以及竖直齿条（62），所述竖直槽（61）内设置有滑动安装有升降架（64），所述升降架（64）上设置有延伸架（66），所述升降架（64）上转动安装有配合齿轮二（63），所述配合齿轮二（63）与竖直齿条（62）相互啮合，所述升降架（64）上设置有升降电机（65），所述升降电机（65）与配合齿轮相连，所述光电检测组件（7）包括摆动架一（70），所述摆动架一（70）与延伸架（66）之间通过摆动电机（610）转动安装，所述摆动架一（70）内安装有电动滑块（71），所述电动滑块（71）上设置有检测透镜（72）。
9.根据权利要求8所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述接触供电组件（8）包括摆动架二（80），所述摆动架二（80）的端部连接有直角架（83），所述直角架（83）上设置有连接架（86），所述连接架（86）通过对称设置的插接杆（87）与摆动架二（80）之间插接，所述插接杆（87）上设置有连接弹簧四（88），所述直角架（83）的两个直角面上分别活动安装有插接柱（82），所述插接柱（82）上设置有连接弹簧三（81），所述插接柱（82）的端部分别连接有配合球一（84）以及配合球二（85），所述检测盘（32）的边缘设置有侧边环形槽（322）以及上环形槽（323），所述配合球一（84）与侧边环形槽（322）电性连接，所述配合球二（85）与上环形槽（323）之间电性连接，所述检测盘（32）的插槽（324）与侧边环形槽（322）以及上环形槽（323）之间电性连接。
10.根据权利要求8所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述升降架（64）与竖直槽（61）之间还设置有锁定组件（611），所述锁定组件（611）包括与升降架（64）之间转动安装的菱形块（6110），所述菱形块（6110）连接有驱动部件，所述升降架（64）在菱形块（6110）的两侧设置有限位架二（6111），所述限位架二（6111）上插接有插接板（6113），所述插接板（6113）的一端设置有贴合块（6112），所述贴合块（6112）与菱形块（6110）接触安装，所述插接板（6113）的另一端设置有张紧块（6114），所述张紧块（6114）与竖直槽（61）两侧接触安装，所述限位架二（6111）与贴合块（6112）之间设置有连接弹簧二（6115）。
