本技术涉及芯片测试,具体而言,涉及一种芯片流片测试夹具台。
背景技术:
1、在生产芯片时,为了实现芯片的高效生产,需要将芯片固定在夹具中进行测试,芯片测试用夹具台是一种用于将加工得到的独立芯片进行固定,以便检测装置对其进行测试的设备,其在芯片测试的领域中得到了广泛的使用,但是,现有技术在使用时存在以下不足之处:
2、芯片在进行夹紧的过程中,不能准确对其进行定位,芯片的中心点与放置台的中心点不一致,芯片的容易出现位置偏差,影响后续的测试效果。
3、因此亟需一种芯片流片测试夹具台来解决上述问题。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于:针对目前存在的芯片在进行夹紧的过程中,不能准确对其进行定位,芯片的中心点与放置台的中心点不一致,芯片的容易出现位置偏差,影响后续的测试效果的问题。
2、为了实现上述发明目的,本实用新型提供了以下技术方案:
3、一种芯片流片测试夹具台,以改善上述问题。
4、本申请具体是这样的:
5、一种芯片流片测试夹具台,包括工作台,所述工作台顶部中心处开设有放置槽,所述放置槽内设有数量为四个的l型夹块,所述工作台上开设有x型槽,所述x型槽内滑动连接有数量为四个的滑块,所述工作台底部中心处的正下方设有连接板,所述连接板与滑块之间设有转板,所述连接板下方设有推板,所述推板顶部固定连接有螺杆,所述螺杆顶部通过轴承与连接板转动连接。
6、作为本申请优选的技术方案,所述螺杆外壁螺纹连接有固定环,所述固定环与工作台之间固定连接有对称分布的固定架。
7、作为本申请优选的技术方案,所述滑块底部开设有第一连接槽,所述连接板上开设有圆周等距排列的第二连接槽,所述转板的两端分别转动连接于第一连接槽与第二连接槽内。
8、作为本申请优选的技术方案,所述推板底部固定连接有把手,所述放置槽内的中心处固定安装有放置台。
9、作为本申请优选的技术方案,所述l型夹块上固定安装有橡胶垫,所述工作台的底部四角处固定连接有支撑腿。
10、作为本申请优选的技术方案,所述l型夹块与放置槽的底壁相贴合,所述放置槽与x型槽相连通。
11、与现有技术相比,本实用新型的有益效果:
12、在本申请的方案中:
13、1.通过设置的x型槽、滑块、连接板、转板、推板、螺杆、固定环与把手,通过把手逆时针转动推板、推板带动螺杆逆时针转动,螺杆带动连接板的位置下移,转板转动,通过转板带动滑块,使四个l型夹块之间的距离变小,对放置台上的芯片进行夹持固定,使芯片的中心点与放置台的中心点一致,解决了现有技术中芯片在进行夹紧的过程中,不能准确对其进行定位,芯片的中心点与放置台的中心点不一致,芯片的容易出现位置偏差,影响后续的测试效果的问题。
14、2.通过设置的橡胶垫,能够防止l型夹块对芯片的夹持力过大造成芯片损坏的情况发生。
1.一种芯片流片测试夹具台,包括工作台(1),其特征在于,所述工作台(1)顶部中心处开设有放置槽(2),所述放置槽(2)内设有数量为四个的l型夹块(3),所述工作台(1)上开设有x型槽(4),所述x型槽(4)内滑动连接有数量为四个的滑块(5),所述工作台(1)底部中心处的正下方设有连接板(6),所述连接板(6)与滑块(5)之间设有转板(7),所述连接板(6)下方设有推板(8),所述推板(8)顶部固定连接有螺杆(9),所述螺杆(9)顶部通过轴承与连接板(6)转动连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片流片测试夹具台,其特征在于,所述螺杆(9)外壁螺纹连接有固定环(10),所述固定环(10)与工作台(1)之间固定连接有对称分布的固定架(11)。
3.根据权利要求2所述的一种芯片流片测试夹具台,其特征在于,所述滑块(5)底部开设有第一连接槽(12),所述连接板(6)上开设有圆周等距排列的第二连接槽(13),所述转板(7)的两端分别转动连接于第一连接槽(12)与第二连接槽(13)内。
4.根据权利要求3所述的一种芯片流片测试夹具台,其特征在于,所述推板(8)底部固定连接有把手(14),所述放置槽(2)内的中心处固定安装有放置台(15)。
5.根据权利要求4所述的一种芯片流片测试夹具台,其特征在于,所述l型夹块(3)上固定安装有橡胶垫(16),所述工作台(1)的底部四角处固定连接有支撑腿(17)。
6.根据权利要求5所述的一种芯片流片测试夹具台,其特征在于,所述l型夹块(3)与放置槽(2)的底壁相贴合,所述放置槽(2)与x型槽(4)相连通。