1.本实用新型涉及显示模组检测技术领域。更具体地，涉及一种检测模块及检测治具。
背景技术：2.触控屏等显示模组作为目前大部分电子设备的重要组成部件，在出厂前需要对未切割的显示模组进行电性缺陷测试，以确认显示模组的每一根电极自身是否开路以及相邻电极间是否短路。通过将多数个显示模组排布于基板上，再将基板置于检测装置上后，利用检测装置的压接导通装置实现显示模组与外部检测设备之间的电性导通，从而对显示模组进行检测。现有的检测方式中，大多采用单个针卡组件或者将针卡组件分成多个小组，然后逐个或逐个小组对产品进行压接测试。
3.逐个针卡组件压接测试虽然节约了检查信号机和针卡的数量，成本上会有所降低，但是测试时间会大大提高，生产效率低下。
4.当使用多组针卡组件对多个显示模组分别进行电性缺陷测试时，多组针卡组件由于只具有在竖直方向上的相对于显示模组的运动能力，实际测试过程中无法保证每个针卡组件均能够与所对应的显示模组对位准确，实现稳定的压接导通，由此易出现显示模组漏检情况。
技术实现要素：5.鉴于上述问题，本实用新型的一个目的在于提供一种检测模块，以解决现有检测模块与显示模组对位压接导通，经常出现对位精度不高，测试数据稳定性差等问题。
6.本实用新型的另一个目的在于提供一种包括上述检测模块的检测治具，以解决多组检测模块同时使用以对多个显示模组进行测试时一致性不足等的问题。
7.为达到上述目的，本实用新型采用下述技术方案：
8.根据本实用新型的一个方面，本实用新型提供一种检测模块，所述检测模块包括：
9.安装板；
10.沿z方向滑配合于安装板上的滑块；
11.连接于滑块上的针卡连接板，所述针卡连接板在x、y平面内可相对于滑块转动；以及
12.固定于针卡连接板上的针卡组件，所述针卡组件被配置为用以对显示模组进行电性缺陷测试。
13.此外，优选地方案是，所述检测模块还包括调节机构；调节机构包括轴向方向沿y方向设置的调节螺杆，调节螺杆的数量为两个，两个调节螺杆沿x 方向分列于针卡连接板两端，两个调节螺杆螺接于针卡连接板上；
14.两个调节螺杆被配为用以在x、y平面内调整针卡连接板相对于滑块的转动角度。
15.此外，优选地方案是，所述针卡连接板通过轴向方向沿z方向设置的等高螺丝连接
于所述滑块上；所述滑块上包括有供所述等高螺丝穿过的通孔，所述通孔的孔壁与所述等高螺丝的外壁之间留有调整间隙。
16.此外，优选地方案是，所述等高螺丝的数量为两个，两个等高螺丝沿x方向排列。
17.此外，优选地方案是，所述滑块通过调节螺栓固定于所述安装板；所述调节螺栓被配置为用以调节滑块在z方向上的高度。
18.根据本实用新型的另一个方面，本实用新型还提供一种检测治具，所述检测治具包括治具板，以及若干如上所述的检测模块；
19.若干所述检测模块沿x方向排列且安装于所述治具板上。
20.此外，优选地方案是，在x方向上相邻两检测模块的间距可调。
21.此外，优选地方案是，所述安装板上包括有装配板，所述装配板上包括有沿x方向延伸的条形安装孔，所述治具板上包括有与所述条形安装孔对应的装配孔。
22.此外，优选地方案是，所述治具板上包括信号基板，所述针卡组件的针卡柔性线路由所述针卡连接板底部走线并与所述信号基板形成电信号连接；
23.此外，优选地方案是，所述治具板上包括转接基板，所述转接基板被配置为供针卡组件与信号基板之间形成电信号连接；
24.所述转接基板上包括有：
25.与针卡组件上针卡柔性线路连接的第一连接器，以及
26.用以与信号基板通过转接用柔性线路电连接的第二连接器。
27.本实用新型的有益效果如下：
28.本实用新型提供检测模块用于屏幕或集成电路的电性能、光学性能等连接通电测试，可以选择在任意想测试的产品位置安装实现对显示模组的测试。针卡连接板在x、y平面内可相对于滑块转动，由此实现针卡组件与显示模组对位压接位置的微调，提高针卡组件与显示模组之间的对位精度，及压接导通后测试数据的稳定性。
29.当同时对矩阵式排列的产品进行整行或整列同时连接测试时，多组使用的检测模块之间位置可调，且调整针卡连接板在x、y平面的位置能够保证多组检测模块所具有的多个针卡组件在x、y平面内的一致性，借以提高产品检测效率，避免出现漏检的情况。此外本实用新型提供检测治具兼容性强，对于整行或整列的产品，针卡组件可以根据需求自由变换组合数量。
附图说明
30.下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明。
31.图1示出本实用新型一个实施例提供的检测模块的结构示意图之一。
32.图2示出本实用新型一个实施例提供的检测模块的结构示意图之二。
33.图3示出本实用新型一个实施例提供的检测模块的侧视图。
34.图4示出本实用新型一个实施例提供的检测模块的后视图。
35.图5示出本实用新型一个实施例提供的包括如图1至图4所示检测模块的检测治具。
36.图6示出如图1至图4所示检测模块与信号基板以及转接基板的连接示意图。
37.图7示出本实用新型另一个实施例提供的检测模块的结构示意图。
具体实施方式
38.下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。
39.在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
40.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
41.在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。
42.本实施例提供的检测模块主要对触控屏等显示模组进行电性缺陷测试，特别的用于屏幕或集成电路的电性能、光学性能等连接通电测试，利用检测模块与显示模组的压接导通装置实现显示模组与外部检测设备之间的电性导通，以确认显示模组的每一根电极自身是否开路以及相邻电极间是否短路。
43.为了对显示模组进行电性缺陷测试，通常情况下会采用针卡组件以实现与显示模组之间的电导通，显示模组包括有与针卡组件实现电导通的电导通接触端，而针卡组件也包括有用以与显示模组电导通接触端相压接接触的电性接触面，针卡组件电性接触面与显示模组电导通接触端压接接触并向显示模组传递电信号，为了实现二者之间稳定的压接导通测试，根据本实用新型的一个方面，本实用新型首先提供一种检测模块结构，结合图1至图4所示，具体地，所述检测模块10包括：安装板1；沿z方向滑配合于安装板1上的滑块2；连接于滑块2上的针卡连接板3，以及固定于针卡连接板3上的针卡组件4，本技术方案中，所述针卡连接板3在x、y平面内可相对于滑块2转动，所述针卡组件4被配置为用以对显示模组进行电性缺陷测试。所述滑块2配有导轨结构 21，所述导轨结构21沿z方向设置且固定与安装板1上，利用滑块2沿z方向的滑动可带动针卡连接板3以及位于针卡连接板3上的针卡组件4上下运动，以调解针卡组件4与显示模组之间的距离，当具有多组并排设置的检测模块10时，利用针卡组件4的上下可调，可使多组针卡组件4位于同一水平内，为多组显示模组同时进行电性缺陷测试。本实施方式中，针卡连接板3在x、 y平面内可相对于滑块2转动，由此实现针卡组件4与显示模组对位压接位置的微调，提高针卡组件4与显示模组之间的对位精度，及压接导通后测试数据的稳定性。特别是当同时对矩阵式排列的产品进行整行或整列同时连接测试时，多组使用的检测模块之间位置可调，且调整针卡连接板3在x、y平面的位
置能够保证多组检测模块所具有的多个针卡组件4在x、y平面内的一致性，借以提高产品检测效率，避免出现漏检的情况。
44.参照图1至图4所示，在一个可使针卡连接板3在x、y平面内可相对于滑块转动的技术方案中，所述检测模块10还包括调节机构；调节机构包括轴向方向沿y方向设置的调节螺杆5，调节螺杆5的数量为两个，两个调节螺杆 5沿x方向分列于针卡连接板3两端，两个调节螺杆5螺接于针卡连接板3上；两个调节螺杆5被配为用以在x、y平面内调整针卡连接板3相对于滑块2的转动角度。
45.在一个具体实施方式中，当调节螺杆5的内侧端部被抵接固定后，两个调节螺杆5的相对的反向旋转可在y方向上产生相对位移量，该位移量可使针卡连接板3相对于滑块2在x、y平面内转动一定角度，在针卡连接板3相对于滑块2在x、y平面内转动，受限于两个调节螺杆5的内侧端部被抵接固定，针卡连接板3的转动角度始终受控于两个调节螺杆5在y方向上产生相对位移量，由此实现调整针卡组件4与显示模组的对位位置，以及多组检测模块10 间的位置调整，从而可使得各组检测模块10的位置统一，实现对多组显示模组的同时测试。
46.结合图1所示结构，可选地，所述针卡连接板3的两端包括有延伸出的安装部31，所述调节螺杆5穿过安装部31且与安装部31螺接设置，两个调节螺杆5分别被配置于针卡连接板3两端，以方便人员操作调整针卡连接板3相对于滑块2的转动角度。可以理解的是，为了实现对针卡连接板3的在x、y 平面内的角度调整，调节螺杆5的内侧端部应被抵接固定，包括但不限于所述调节螺杆5的内侧端部与检测治具的外围结构抵接固定。
47.在一个实施例中，所述针卡连接板3通过轴向方向沿z方向设置的等高螺丝6连接于所述滑块2上；所述滑块2上包括有供所述等高螺丝6穿过的通孔，所述通孔的孔壁与所述等高螺丝6的外壁之间留有调整间隙。可选地，所述滑块2包括与导轨结构21连接的固定部22，以及由固定部22延伸出的连接部 23，所述针卡连接板3安装于所述连接部23上。具体地，所述针卡连接板3 通过等高螺丝6安装于所述连接部23的底部，针卡组件4安装于针卡连接板 3的背离连接部23的一侧，从而形成避让结构，以方便针卡组件4与显示模组的压接电导通。
48.本实用新型图示所提供技术方案中，在利用本实用新型提供检测模块10 对显示模组进行电性缺陷测试过程中，在某种情况下仅需保证针卡组件4在x、 y平面内可相对于显示模组电导通接触端角度可进行微调即可，包括但不限于如本实施方式附图所示的等高螺丝6的数量为两个。结合附图所示，在本实施方式中，等高螺丝6的数量可为两个，两个等高螺丝6沿x方向排列，两个等高螺丝6可对针卡连接板3相对于滑块2在x、y平面内转动一定角度，且两个沿x方向排列的等高螺丝还可对针卡连接板3相对于滑块2转动的最大转动角度进行限位，以减少针卡组件3与显示模组电导通接触端之间初始的对位偏差，避免角度调整过量，反复对位调整工序繁琐的情况出现。此外，基于调整间隙的设置，针卡连接板3也可相对于滑块2在外力作用下在x方向上左右位置微调，当然可以理解的是，针卡连接板3无论是在x、y平面内转动角度，还是在x方向上左右位置微调，在调整初期需要旋松等高螺丝，当针卡组件4 与显示模组之间位置调整完成，需要使针卡连接板3与滑块2固定时，通过旋紧等高螺丝6，等高螺丝6螺帽在z方向上压紧滑块2即可达到针卡连接板3 与滑块2之间的固定，从而定位固定所述针卡组件4。
49.参照图1、图2所示出的，所述检测模块10结构中，所述滑块2通过调节螺栓11固定于所述安装板1；所述调节螺栓11被配置为用以调节滑块2在 z方向上的高度。本实施例中，所述调节螺栓11的轴向方向沿z方向设置，调节螺栓11穿过所述安装板1其底端部与滑块2固定，通过所述调节螺栓11 可调整滑块2相对于安装板1在z方向上的位置。当多组并排设置的检测模块对多组显示模组进行电性缺陷测试时，利用调节螺栓11可使多组检测模块的针卡组件4的电性接触面调整至同一平面，以使针卡组件4与显示模组之间的压接电导通更加可靠、稳定。可选地，所述滑块2与安装板1之间包括有导向柱13，为所述滑块2在z方向上的运动提供导向作用。
50.在一个实施例中，所述滑块2上包括有顶丝24，所述顶丝24被配置为旋紧后顶丝24端部可顶紧所述调节螺栓11，从而在z方向上将滑块2、装配于滑块2上的针卡连接板3以及针卡组件4相对于安装板1的位置固定。
51.根据本实用新型的另一个方面，本实用新型还提供一种检测治具，可结合并参照图1至图5所示，具体地，所述检测治具包括治具板7，以及若干如上所述的检测模块10；若干所述检测模块10沿x方向排列且安装于所述治具板 7上。通过该检测治具同时对矩阵式排列的产品进行整行或整列同时连接测试，由此提高检测效率，对于整行或整列的产品，针卡组件4可以根据需求自由变换组合数量。在x方向上相邻两检测模块的间距可调，以兼容不同规格尺寸的产品，操作方便，兼容性强。
52.在另一个具体实施方式中，参照图7所示，所述安装板1上包括有装配板 12，所述装配板12上包括有沿x方向延伸的条形安装孔121，所述治具板上7 包括有与所述条形安装孔121对应的装配孔。
53.可选地，装配板与安装板为一体结构，装配板由所述安装板延伸形成，也可如本实用新型附图所示，所述安装板1与装配板12为两单独结构，检测模块通过安装板1固定于装配板12上，并由所述装配板12安装于治具板7上。两种结构形式各有优势，具体地，当安装板与装配板为两单独结构时，其所具有的优势在于，相对于治具板在不影响若干检测模块间距可调的情况下可根据实际测试需要，在治具板上配合安装不同结构类型或者型号的检测模块，方便不同功能的检测模块的混合使用，不同功能检测模块之间的安装位置的调节不受限制，减少单一检测模块的制作成本。当装配板与所述安装板为一体结构时，其所具有的优势在于，可简化检测模块的安装工序，根据实际需要选择需要数量的检测模块直接安装于治具板上即可使用。对此本实用新型不做限制。
54.本实施方式中，所述装配板12上包括有两个条形安装孔121，在y方向上两个条形安装孔121分列于所述滑块2两侧，用以保证检测模块安装的稳定性以及在x、y平面内的水平度。
55.本实施方式中，结合图1至图5并参照图6所示，所述治具板7上包括信号基板8，所述针卡组件4的针卡柔性线路由所述针卡连接板3底部走线并与所述信号基板8形成电信号连接；一块信号基板至少对应一个检测模块10。换句话说，一块信号基板对应一个检测模块，或者也可一块信号基板对应多个检测模块，对此不做限制。
56.由于针卡组件4的针卡柔性线路由所述针卡连接板3底部走线，为了便于使其与信号基板8形成电信号连接，参照图6所示，在一个实施例中，所述治具板7上包括转接基板9，所述转接基板9上包括有与针卡组件4上针卡柔性线路连接的第一连接器，以及用以与信号
基板8通过转接用柔性线路电连接的第二连接器。所述转接基板9被配置为供针卡组件4与信号基板8之间形成电信号连接。如此设计能够缩短针卡柔性线路的走线长度，避免其与产品之间出现干涉影响，一块信号基板对应多个检测模块，减少信号基板的使用量，可有效控制成本。
57.通常信号基板8包括有用以与转接基板9连接的信号基板连接器，以及用以与检测设备上的母头对接的基板连接器公头。在一个实施方式中，信号基板 8外形尺寸可预先固定设计，信号基板8的内部走线，以及信号基板8上的用以与转接基板9连接的信号基板连接器的位置可以根据检测设备单独设计。信号基板预留安装孔，可预留数量22组，根据需要测试的产品的位置选择孔位安装，安装后信号基板上所包括有的基板连接器公头和检测设备上的母头可以准确对正，不需要调整。
58.在一个优选地实施方式中，所述治具板7上包括有刻度尺，刻度尺沿x方向设置，所述检测模块的安装板1包括有与刻度尺对应的刻线，治具板7上的刻度尺用于更换检测模块型号时，对检测模块位于治具板上的位置先进行初步的调节到位，之后可通过包括但不限于手动的方式对检测模块的位置进行所需要的微调。
59.显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本实用新型的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之列。
技术特征：1.一种检测模块，其特征在于，所述检测模块包括：安装板；沿z方向滑配合于安装板上的滑块；连接于滑块上的针卡连接板，所述针卡连接板在x、y平面内可相对于滑块转动；以及固定于针卡连接板上的针卡组件，所述针卡组件被配置为用以对显示模组进行电性缺陷测试。2.根据权利要求1所述的检测模块，其特征在于，所述检测模块还包括调节机构；调节机构包括轴向方向沿y方向设置的调节螺杆，调节螺杆的数量为两个，两个调节螺杆沿x方向分列于针卡连接板两端，两个调节螺杆螺接于针卡连接板上；两个调节螺杆被配为用以在x、y平面内调整针卡连接板相对于滑块的转动角度。3.根据权利要求1所述的检测模块，其特征在于，所述针卡连接板通过轴向方向沿z方向设置的等高螺丝连接于所述滑块上；所述滑块上包括有供所述等高螺丝穿过的通孔，所述通孔的孔壁与所述等高螺丝的外壁之间留有调整间隙。4.根据权利要求3所述的检测模块，其特征在于，所述等高螺丝的数量为两个，两个等高螺丝沿x方向排列。5.根据权利要求1所述的检测模块，其特征在于，所述滑块通过调节螺栓固定于所述安装板；所述调节螺栓被配置为用以调节滑块在z方向上的高度。6.一种检测治具，其特征在于，所述检测治具包括治具板，以及若干如权利要求1至5任意一项权利要求所述的检测模块；若干所述检测模块沿x方向排列且安装于所述治具板上。7.根据权利要求6所述的检测治具，其特征在于，在x方向上相邻两检测模块的间距可调。8.根据权利要求6所述的检测治具，其特征在于，所述安装板上包括有装配板，所述装配板上包括有沿x方向延伸的条形安装孔，所述治具板上包括有与所述条形安装孔对应的装配孔。9.根据权利要求6所述的检测治具，其特征在于，所述治具板上包括信号基板，所述针卡组件的针卡柔性线路由所述针卡连接板底部走线并与所述信号基板形成电信号连接；一块信号基板至少对应一个检测模块。10.根据权利要求9所述的检测治具，其特征在于，所述治具板上包括转接基板，所述转接基板被配置为供针卡组件与信号基板之间形成电信号连接；所述转接基板上包括有：与针卡组件上针卡柔性线路连接的第一连接器，以及用以与信号基板通过转接用柔性线路电连接的第二连接器。
技术总结本实用新型实施例提供一种检测模块及检测治具，所述检测模块包括：安装板；沿Z方向滑配合于安装板上的滑块；连接于滑块上的针卡连接板，所述针卡连接板在X、Y平面内可相对于滑块转动；以及固定于针卡连接板上的针卡组件，所述针卡组件被配置为用以对显示模组进行电性缺陷测试。本实用新型提供检测模块用于屏幕或集成电路的电性能、光学性能等连接通电测试，针卡连接板在X、Y平面内可相对于滑块转动，由此实现针卡组件与显示模组对位压接位置的微调，提高针卡组件与显示模组之间的对位精度，及压接导通后测试数据的稳定性。及压接导通后测试数据的稳定性。及压接导通后测试数据的稳定性。
技术研发人员：刘文波
受保护的技术使用者：苏州华兴源创科技股份有限公司
技术研发日：2022.05.25
技术公布日：2022/12/16
