本申请涉及测试设备领域，并且尤其涉及一种测试装置、测试针及测试针的安装结构。
背景技术：
射频(radiofrequency，简称：rf)测试针是一种用于将测试仪表与主板上的器件进行电连接的器件，具体的，通过rf测试针将主板上的射频通断开关(radiofrequencyswitch，简称：rfsw)器件和测试仪表连接起来，从而进行rf信号的功率校准和测试，其中，rf测试针对rfsw器件测试时，往往需要将rf测试针固定在测试夹具上。
目前，rf测试针在测试夹具上的固定方式为：采用法兰将rf测试针固定在测试夹具上，具体的，每个rf测试针通过一组法兰固定在测试夹具上。
然而，由于法兰的尺寸较大，使得测试夹具上可安装的rf测试针的数量受限，即rf测试针的安装密度减少，这样当电路板上的rfsw器件较多时，往往需要分工位测试(即需要至少两个工位才能测试完成)，从而造成测试成本增加。
技术实现要素：
本申请提供一种测试装置、测试针及测试针的安装结构，实现了测试针在测试夹具上安装密度增大的目的，减少了测试工位，降低了测试成本，从而解决了现有rf测试针在测试夹具上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。
本申请提供一种测试装置，包括多个测试针和测试夹具，且所述测试夹具上开设多个用于装配所述多个测试针的装配孔，其中，还包括：
固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。
本申请提供的测试装置，通过包括多个测试针和测试夹具，且所述测试夹具上开设多个用于装配所述多个测试针的装配孔，以及还包括固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上，这样多个测试针通过固定板可以同时固定在测试夹具上，相邻测试针之间由于没有法兰，所以相邻测试针之间的间隔可以大大降低，这样使得测试夹具单位面积内可安装的测试针的数量增多，测试针在测试夹具上的安装密度增大，从而避免了采用法兰固定测试针时相邻测试针之间的间隔较大而造成测试针在测试夹具上安装密度较小的问题，当测试针在测试夹具上的安装密度增大时，这样当电路板上的rfsw器件较多时，本申请提供的测试装置可以一次便对电路板上的rfsw器件完成测试，这样避免了分工位测试的问题，从而使得测试成本大大降低，而且多个测试针采用固定板可以同时固定，大大提高了测试针在测试夹具上的安装和拆卸效率，因此，本申请提供的测试装置，提高了测试针在测试夹具上的安装密度，降低了电路板上rfsw器件高密分布时的测试成本，提高了测试针的安装和拆卸效率，从而解决了现有rf测试针在测试夹具上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述测试针上具有限位部，所述限位部用于与所述固定板和/或所述装配孔配合实现对所述测试针的限位。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述限位部包括上限位端面和下限位端面，所述上限位端面用于与所述固定板配合实现限位，所述下限位端面用于与所述装配孔或所述测试夹具配合实现限位。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述测试针包括针身以及分别位于所述针身两端的针头和可穿过所述安装孔的接头，且所述针头与所述针身的一端之间形成所述下限位端面，所述接头与所述针身的另一端之间形成所述上限位端面。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔包括第一装配孔和可供所述针头向外穿出的所述第二装配孔，且所述第一装配孔和所述第二装配孔的连接处形成对所述下限位端面限位的台阶，所述固定板用于对所述上限位端面限位，以使所述多个测试针通过所述固定板固定在所述测试夹具上。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述第一装配孔的长度大于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的底端形成。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述第一装配孔的长度小于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的顶端形成。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔为可供所述针身或者所述针头穿过的直孔。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔为可供所述针头穿过的直孔，且所述下限位端面与所述装配孔的外边缘相抵以实现对所述测试针限位，所述固定板与所述上限位端面配合以将所述多个测试针固定在所述测试夹具上。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔为可供所述针身穿过的直孔，且所述固定板包括上固定板和下固定板，所述上固定板和所述下固定板分别与所述下限位端面和所述上限位端面限位以将所述测试针的两端固定在所述测试夹具上。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述上固定板上开设的所述安装孔的孔径大于等于所述接头的外径，以使所述接头穿过所述上固定上的所述安装孔；
所述下固定板上开设的所述安装孔的孔径大于等于所述针头的宽度。
在第一方面的一种可能的实施方式中，还包括：浮动件，所述浮动件位于所述固定板和所述上限位端面之间，以使所述测试针在所述测试夹具上固定后可向上浮动预设距离。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述浮动件为弹簧、海绵或柔性件。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述固定板通过与所述测试夹具卡合连接或紧固件紧固连接以将所述多个测试针固定在所述测试夹具上。
在第一方面的一种可能的实施方式中，所述紧固件为螺钉。
本申请还提供一种测试针的安装结构，包括测试夹具，测试夹具上开设多个用于装配多个测试针的装配孔，其中还包括：
固定板，且所述固定板上开设可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的多个安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。
本申请提供的测试针的安装结构，通过包括还包括固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上，这样多个测试针通过固定板便可以同时固定在测试夹具上，相邻测试针之间由于没有法兰，所以相邻测试针之间的间隔可以大大降低，这样使得测试夹具单位面积内可安装的测试针的数量增多，测试针在测试夹具上的安装密度增大，从而避免了采用法兰固定测试针时相邻测试针之间的间隔较大而造成测试针在测试夹具上安装密度较小的问题，当测试针在测试夹具上的安装密度增大时，这样当电路板上的rfsw器件较多时，本申请提供的测试装置可以一次便对电路板上的rfsw器件完成测试，这样避免了分工位测试的问题，从而使得测试成本大大降低，而且多个测试针采用固定板固定时，大大提高了测试针在测试夹具上的安装和拆卸效率，因此，本申请提供的测试针的安装结构，提高了测试针在测试夹具上的安装密度，降低了电路板上rfsw器件高密分布时的测试成本，提高了测试针的安装和拆卸效率，从而解决了现有rf测试针在测试夹具上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。
在第二方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔内设有用于对所述测试针上设置的限位部进行限位的台阶。
在第二方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔包括第一装配孔和可供所述测试针的一端向外穿出的所述第二装配孔，且所述第一装配孔和所述第二装配孔的连接处形成所述台阶。
在第二方面的一种可能的实施方式中，所述第一装配孔的长度大于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的底端形成。
在第二方面的一种可能的实施方式中，所述第一装配孔的长度小于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的顶端形成。
在第二方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔为可供所述测试针的针头穿过的直孔，且所述测试针上的限位部抵在所述装配孔的顶端外边缘处。
在第二方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔为可供所述测试针的针身穿过的直孔，且所述固定板包括上固定板和下固定板，所述上固定板和所述下固定板分别与所述限位部的两个限位端面配合以将所述测试针的两端固定在所述测试夹具上。
在第二方面的一种可能的实施方式中，所述上固定板上开设的所述安装孔的孔径大于等于所述测试针的接头的外径，以使所述接头穿过所述上固定上的所述安装孔；
所述下固定板上开设的所述安装孔的孔径大于等于所述测试针针头的外径。
在第二方面的一种可能的实施方式中，还包括：浮动件，所述浮动件位于所述固定板和所述测试针的限位部之间，以使所述测试针在所述测试夹具上固定后可向上浮动预设距离。
在第二方面的一种可能的实施方式中，所述浮动件为弹簧、海绵或柔性件。
在第二方面的一种可能的实施方式中，所述固定板通过与所述测试夹具卡合连接或紧固件紧固连接以将所述多个测试针固定在所述测试夹具上。
所述紧固件为螺钉。
本申请还提供一种测试针，用于安装在上述所述的安装结构上以对电路板上的器件进行测试，其中，所述测试针上设有限位部，所述限位部用于与所述安装结构中的固定板和/或所述安装结构中测试夹具上的装配孔配合，以使所述固定板将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。
本申请提供的测试针，通过所述测试针上设有限位部，所述限位部用于与所述安装结构中的固定板和/或所述安装结构中测试夹具上的装配孔配合，以使所述固定板将多个所述测试针固定在所述测试夹具上，这样多个测试针通过固定板便可以同时固定在测试夹具上，相邻测试针之间由于没有法兰，所以相邻测试针之间的间隔可以大大降低，这样使得测试夹具单位面积内可安装的测试针的数量增多，测试针在测试夹具上的安装密度增大，从而避免了采用法兰固定测试针时相邻测试针之间的间隔较大而造成测试针在测试夹具上安装密度较小的问题，当测试针在测试夹具上的安装密度增大时，这样当电路板上的rfsw器件较多时，固定的多个测试针可以一次便对电路板上的rfsw器件完成测试，这样避免了分工位测试的问题，从而使得测试成本大大降低，而且多个测试针采用固定板固定时，大大提高了测试针在测试夹具上的安装和拆卸效率，因此，本申请提供的测试针，实现了在测试夹具上高密度安装的目的，降低了电路板上rfsw器件高密分布时的测试成本，提高了测试针的安装和拆卸效率，从而解决了现有rf测试针在测试夹具上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。
在第三方面的一种可能的实施方式中，所述限位部包括上限位端面和下限位端面，所述上限位端面用于与所述固定板配合实现限位，所述下限位端面用于与所述装配孔中的设置的台阶或所述测试夹具配合实现限位。
在第三方面的一种可能的实施方式中，所述限位部包括上限位端面和下限位端面，所述所述测试针包括针身以及分别位于所述针身两端的针头和接头，且所述针头与所述针身的一端之间形成所述下限位端面，所述接头与所述针身的另一端之间形成所述上限位端面。
结合附图，根据下文描述的实施例，示例性实施例的这些和其它方面、实施形式和优点将变得显而易见。但应了解，说明书和附图仅用于说明并且不作为对本申请的限制的定义，详见随附的权利要求书。本申请的其它方面和优点将在以下描述中阐述，而且部分将从描述中显而易见，或通过本申请的实践得知。此外，本申请的各方面和优点可以通过所附权利要求书中特别指出的手段和组合得以实现和获得。
附图说明
图1a是本申请实施例一提供的测试装置的俯视结构示意图；
图1b是本申请实施例一提供的测试装置的剖面结构示意图；
图1c是本申请实施例一提供的测试装置中测试夹具的剖面结构示意图；
图1d是本申请实施例一提供的测试装置中测试针的结构示意图；
图1e是本申请实施例一提供的测试装置的又一剖面结构示意图；
图1f是本申请实施例一提供的测试装置中固定板的剖面结构示意图；
图2a是本申请实施例二提供的测试装置中测试夹具的剖面结构示意图；
图2b是本申请实施例二提供的测试装置的剖面结构示意图；
图3a是本申请实施例三提供的测试装置中测试针的结构示意图；
图3b是本申请实施例三提供的测试装置中测试夹具的剖面结构示意图；
图3c是本申请实施例三提供的测试装置的剖面结构示意图；
图3d是本申请实施例三提供的测试装置的又一剖面结构示意图；
图4a是本申请实施例四提供的测试装置中测试夹具的剖面结构示意图；
图4b是本申请实施例四提供的测试装置中下固定板安装在测试夹具上的剖面结构示意图；
图4c是本申请实施例四提供的测试装置的剖面结构示意图；
图4d是本申请实施例四提供的测试装置的又一剖面结构示意图。
附图标记说明：
10-测试夹具；11-装配孔；111-第一装配孔；112-第二装配孔；12-台阶；
20-测试针；21-接头；22-针身；23-针头；221-上限位端面；
222-下限位端面；22a-限位部；30-固定板；301-上固定板；302-下固定板；
31-紧固件；32-安装孔；321-下台阶；40-浮动件。
具体实施方式
图1a是本申请实施例一提供的测试装置的俯视结构示意图，图1b是本申请实施例一提供的测试装置的剖面结构示意图，图1c是本申请实施例一提供的测试装置中测试夹具的剖面结构示意图，图1d是本申请实施例一提供的测试装置中测试针的结构示意图，图1e是本申请实施例一提供的测试装置的又一剖面结构示意图，图1f是本申请实施例一提供的测试装置中固定板的剖面结构示意图。
正如背景技术所述，现有的测试装置中存在测试针在测试夹具上的安装密度较小的问题，发明人研究发现，产生该问题的原因在于：现有的测试针在测试夹具上固定时，测试针采用法兰固定在测试夹具上，这样每个测试针采用一个法兰来固定，而法兰的尺寸较大，导致相邻两个测试针之间的间隔较大，这样造成测试夹具上可安装的测试针数量减少，测试针在测试夹具上的安装密度较小，这样测试过程中，当电路板上的rfsw器件较多时(例如5g到来，电路板上的rfsw器件需高密布局)，由于测试针数量有限，所以往往先对部分rfsw器件测试，测试完后换到另一工位上再次对剩余的rfsw器件测试，即需要分工位测试，这样增加了测试成本。
为此，为了解决上述问题，本实施例中，参考图1a-1f所示，本实施例提供的测试装置包括：多个测试针20和测试夹具10，其中，测试针20具体可以为rf测试针20，测试夹具10用于在测试过程中将测试针20进行固定，以便测试针20对电路板上的器件进行测试，其中，为了将测试针20装配在测试夹具10上，具体的，测试夹具10上开设多个用于装配多个测试针20的装配孔11，其中，每个装配孔11对应装配一个测试针20，而且，本实施例中，为了增大测试针20在测试夹具10上的安装密度，具体的，还包括：固定板30，固定板30上开设多个可供测试针20的一端穿过且与装配孔11对应的安装孔32，即本实施例中，如图1f所示，固定板30上开设了多个安装孔32，安装孔32与装配孔11对应，且测试针20的一端可从安装孔32穿过，安装时，首先将多个测试针20分别装配到各个装配孔11中，然后将固定板30上的各个安装孔32与多个测试针20的一端对准并套入，最后将固定板30与测试夹具10进行固定，固定板30与测试夹具10固定后，使得多个测试针20固定在测试夹具10上。
所以，本实施例中，通过固定板30，且固定板30上开设与测试针20对应的安装孔32，实现了将多个测试针20同时固定的目的，与现有技术中的每个测试针20采用一个法兰固定相比，本实施例中，通过固定板30便可以同时将多个测试针20进行固定，这样相邻测试针20之间由于没有法兰，所以测试针20之间的间隔可以大大减少，从而使得测试夹具10单位面积内可安装的测试针20的数量增多，测试针20在测试夹具10上的安装密度增大，这样当5g到来后，电路板上的rfsw器件高密布局时，本实施例提供的测试装置可以一次便对电路板上的rfsw器件完成测试，这样避免了分工位测试的问题，从而使得测试成本大大降低，所以本实施例提供的测试装置提高了测试针20在测试夹具10上的安装密度，从而可以满足电路板上的rfsw器件高密度布局的测试要求。
同时，本实施例中，通过固定板30可以一次将多个测试针20固定在测试夹具10上，而现有技术中，每个测试针20需要一个法兰进行固定，这样测试夹具10上安装多个测试针20时，所需的安装时间较长，相应的，拆下时，需将每个测试针20的法兰进行拆卸，拆卸时间较长，而本实施例中，通过固定板30可以同时将多个测试针20进行固定，拆卸时，只需将固定件拆开即实现了对多个测试针20的拆卸，安装和拆卸的效率大大提升。
其中，本实施例中，如图1b所示，固定板30具体位于测试夹具10朝上的一面上，固定板30与测试夹具10之间固定时，固定板30具体通过压住测试针20以将测试针20固定在测试夹具10上，同时，本实施例中，如1a所示，固定板30将四个测试针20固定在测试夹具10上，这样当电路板上设置四个rfsw器件时，可以一次完成对四个rfsw器件的测试，避免了现有技术中分工位测试两次的现象，需要说明的是，固定板30将多个测试针20固定在测试夹具10上时，测试针20的数量包括但不限于图1a中所示的四个，还可以为四个以上。
其中，本实施例中，测试针20固定在测试夹具10上时，测试针20的一端需从测试夹具10的装配孔11中穿出以对电路板上的器件进行测试，测试针20的另一端需从固定板30的安装孔32中穿出通过rf线与射频测试仪电连接，这样测试时，测试针20对电路板上的器件测试得到的结构传输至射频测试仪，通过射频测试仪获得器件的测试结果。
因此，本实施例提供的测试装置，通过包括多个测试针20和测试夹具10，且测试夹具10上开设多个用于装配多个测试针20的装配孔11，以及还包括固定板30，且固定板30上开设多个可供测试针20的一端穿过且与装配孔11对应的安装孔32，固定板30用于将多个测试针20固定在测试夹具10上，这样多个测试针20通过固定板30便可以同时固定在测试夹具10上，相邻测试针20之间由于没有法兰，所以相邻测试针20之间的间隔可以大大降低，这样使得测试夹具10单位面积内可安装的测试针20的数量增多，测试针20在测试夹具10上的安装密度增大，从而避免了采用法兰固定测试针20时相邻测试针20之间的间隔较大而造成测试针20在测试夹具10上安装密度较小的问题，当测试针20在测试夹具10上的安装密度增大时，这样当电路板上的rfsw器件较多时，本申请提供的测试装置可以一次便对电路板上的rfsw器件完成测试，这样避免了分工位测试的问题，从而使得测试成本大大降低，而且多个测试针20采用固定板30固定时，大大提高了测试针20在测试夹具10上的安装和拆卸效率，因此，本申请提供的测试装置，提高了测试针20在测试夹具10上的安装密度，降低了电路板上rfsw器件高密分布时的测试成本，提高了测试针20的安装和拆卸效率，从而解决了现有rf测试针20在测试夹具10上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。
其中，本实施例中，测试针20的一端为接头21，另一端为针头23，固定板30将多个测试针20固定在测试夹具10上时，具体为，测试针20上具有限位部22a，限位部22a具体位于测试针20接头21和针头23之间，限位部22a用于与固定板30和/或装配孔11配合实现对测试针20的限位。
本实施例中，如图1d所示，限位部22a包括上限位端面221和下限位端面222，上限位端面221用于与固定板30配合实现限位，下限位端面222用于至少与装配孔11或测试夹具10配合实现限位。
本实施例中，限位部22a与装配孔11之间限位时，具体为，如图1c所示，装配孔11包括第一装配孔111和可供针头23向外穿出的第二装配孔112，且第一装配孔111和第二装配孔112的连接处形成对下限位端面222限位的台阶12，即装配孔11的内壁上形成台阶12，该台阶12用于对测试针20上的下限位端面222进行限位，固定板30用于对上限位端面221限位，以使多个测试针20通过固定板30固定在测试夹具10上，安装时，具体如图1b所示，测试针20的针头23从第二装配孔112向外穿过，下限位端面222抵在台阶12上使得测试针20无法继续向下移动，然后将固定板30压在测试夹具10的顶面上，由于安装孔32的宽度小于限位部22a的宽度，所以固定板30上的安装孔32边缘对上限位端面221进行限位，防止测试针20向上移动，最后固定板30与测试夹具10固定后，多个测试针20固定在测试夹具10上。
本实施例中，如图1c所示，第一装配孔111的长度l1小于第二装配孔112的长度l2，这样第一装配孔111和第二装配孔112之间形成的台阶12靠近装配孔11的顶端，本实施例中，由于台阶12靠近装配孔11的顶端处，这样在制作过程中，可以首先制得第二装配孔112，然后将第二装配孔112的顶端处的开口增大即可在装配孔11内壁上形成该台阶12，这样方便在装配孔11的内壁上形成该台阶12。
其中，本实施例中，为了实现在测试过程中测试针20能适配测试器件对位公差的目的，所以，本实施例中，将测试针20固定在测试夹具10上后，测试针20在测试过程中具有一定的浮动量，具体的，如图1e，还包括：浮动件40，浮动件40位于固定板30和上限位端面221之间，这样通过浮动件40使得测试针20在测试夹具10上固定后可向上浮动预设距离，这样测试过程中，测试针20受到向上的作用力时，测试针20向上浮动一定的距离，使得测试针20能适配测试器件的对位公差，本实施例中，如图1e所示，浮动件40安装时，具体在第一装配孔111中预留可供浮动件40安装的空间，即当测试针20的限位部22a安装在第一装配孔111中后，上限位端面221与测试夹具10的顶面之间具有一定的空间，浮动件40安装在该空间中，所以，本实施例中，限位件的厚度小于第一装配孔111的长度，这样使得浮动件40和限位件可以都位于第一装配孔111中。
其中，本实施例中，浮动件40具体可以套设在接头21上，当固定板30固定时，浮动件40被限定在固定板30与上限位端面221之间，测试针20受到向上的作用力时，测试针20向上移动，浮动件40被压缩，当外力去除时，浮动件40自身的弹力作用下驱动测试针20向下移动，或者本实施例中，浮动件40的一端可以与上限位端面221相连，在固定板30固定时，浮动件40的另一端抵在固定板30的背面上，需要说明的是，固定板30与测试夹具10固定后，需确保浮动件40具有一定的伸缩性，即浮动件40还可以被压缩，这样确保了测试针20后续可以向上浮动一定的间隔。
其中，本实施例中，浮动件40具体可以为弹簧、海绵或柔性件，例如浮动件40具体为弹簧，或者浮动件40具体为海绵，或者浮动件40可发生伸缩的柔性件，例如浮动件40可以为硅胶快。
其中，本实施例中，固定板30将多个测试针20固定在测试夹具10上时，固定板30需与测试夹具10之间进行固定，本实施例中，固定板30与测试夹具10之间可以通过卡合连接或紧固件31紧固连接进行固定，如图1e所示，固定板30与测试夹具10之间通过紧固件31进行固定，紧固件31具体可以为螺钉，螺钉将固定板30与测试夹具10固定在一起，其中固定板30固定过程中实现了将多个测试针20固定在测试夹具10上的目的，或者本实施例中，固定板30上可以设有卡合件，测试夹具10上设置与卡合件卡合的扣位，这样固定时，直接将固定板30与测试夹具10卡合即可，拆卸时，将固定板30上的卡合件从测试夹具10中拔出，这样测试针20便可以从装配孔11中取出，需要说明的是，本实施例中，固定板30与测试夹具10之间包括但不限于上述两种固定方式，固定板30与测试夹具10之间还可以通过其他可拆洗的方法固定在起，例如固定板30与测试夹具10之间可以通过锁紧件锁在一起，拆卸时将锁紧件解锁完成拆卸。
实施例二
图2a是本申请实施例二提供的测试装置中测试夹具的剖面结构示意图，图2b是本申请实施例二提供的测试装置的剖面结构示意图。
本实施例与上述实施例的区别为：本实施例中，如图2a-2b所示，装配孔11为可供针头23穿过的直孔，即本实施例中，装配孔11的内壁上没有台阶12，装配孔11的内壁为直筒状内壁，其中，装配孔11的尺寸与针头23的尺寸相匹配，限位部22a的尺寸大于装配孔11的尺寸，限位部22a与装配孔11之间的限位方式具体如图2b所示，安装时，针头23穿过装配孔11向外伸出，限位部22a的下限位端面222抵在装配孔11的顶端外边缘处，装配孔11的外边缘对限位部22a的下限位端面222起到阻挡作用，使得测试针20无法向下移动，接头21穿过固定板30上的安装孔32，固定板30压在上限位端面221上，固定板30对限位部22a的上限位端面221进行限位，当固定板30与测试夹具10固定后，固定板30对上限位端面221施加向下作用力使得测试针20固定而无法上下移动，最终多个测试针20在固定板30的固定作用下固定在测试夹具10上，所以，本实施例中，限位部22a的上限位端面221和下限位端面222分布与测试夹具10和固定板30配合实现测试针20的限位。
因此，本实施例通过固定板30和测试夹具10与测试针20上的限位部22a配合，实现了固定板30将多个测试针20固定在测试夹具10上的目的，提高了测试针20在测试夹具10上的安装密度，从而方便对电路板上测试器件高密布局时的测试，避免了分工位测试的问题，从而降低了测试成本。
其中，本实施例中，为了实现在测试过程中测试针20能适配测试器件的对位公差，本实施例中，当测试针20固定在测试夹具10上后，测试针20在测试过程中具有一定的浮动量，具体的，如图2b，还包括：浮动件40，浮动件40位于固定板30和上限位端面221之间，以使测试针20在测试夹具10上固定后可向上浮动预设距离，这样测试过程中，测试针20受到向上的作用力时，测试针20向上浮动一定的距离，使得测试针20能适配测试器件的对位公差，本实施例中，如图2b所示，由于限位部22a位于装配孔11的外部，所以浮动件40也位于装配孔11且位于固定板30与上限位端面221之间。
其中，本实施例中，浮动件40具体可以套设在接头21上，当固定板30固定时，浮动件40被限定在固定板30与上限位端面221之间，测试针20受到向上的作用力时，测试针20向上移动，浮动件40被压缩，当外力去除时，浮动件40自身的弹力作用下驱动测试针20向下移动，或者本实施例中，浮动件40的一端可以与上限位端面221相连，在固定板30固定时，浮动件40的另一端抵在固定板30的背面上，需要说明的是，固定板30与测试夹具10固定后，需确保浮动件40具有一定的伸缩性，即浮动件40还可以被压缩，这样确保了测试针20后续可以向上浮动一定的间隔。
其中，本实施例中，浮动件40具体可以为弹簧、海绵或柔性件，例如浮动件40具体为弹簧，或者浮动件40具体为海绵，或者浮动件40可发生伸缩的柔性件，例如浮动件40可以为硅胶快。
实施例三
图3a是本申请实施例三提供的测试装置中测试针的结构示意图，图3b是本申请实施例三提供的测试装置中测试夹具的剖面结构示意图，图3c是本申请实施例三提供的测试装置的剖面结构示意图，图3d是本申请实施例三提供的测试装置的又一剖面结构示意图。
本实施例与上述实施例的区别为：本实施例中，如图3a-3d所示，测试针20包括针身22以及分别位于针身22两端的针头23和可穿过安装孔32的接头21，即本实施例中，接头21可从固定板30的安装孔32中穿过，且针头23与针身22的一端之间形成下限位端面222，接头21与针身22的另一端之间形成上限位端面221，即本实施例中，针身22可以作为限位部22a，所以针身22的宽度大于接头21和针头23，形成两端小和中间粗的测试针20，其中，上限位端面221用于跟固定板30限位，下限位端面222用于与装配孔11中的台阶12限位，具体的，如图3d所示，装配孔11内的第一装配孔111和第二装配孔112之间形成台阶12，安装时，如图3c所示，测试针20首先装配到装配孔11中，其中，针头23从第二装配孔112向外穿出，下限位端面222抵在台阶12处，无法向下移动，整个针身22位于第一装配孔111中，上限位端面221不低于测试夹具10的顶面，固定板30对上限位端面221进行限位，固定板30固定后将多个测试针20固定在测试夹具10上。
因此，本实施例中，通过固定板30和测试夹具10上装配孔11内的台阶12与测试针20的上下限位端面222配合，实现了固定板30件多个测试针20固定在测试夹具10上的目的，提高了测试针20在测试夹具10上的安装密度，从而方便对电路板上测试器件高密布局时的测试，避免了分工位测试的问题，从而降低了测试成本。
其中，本实施例中，如图3b所示，第一装配孔111的长度大于第二装配孔112的长度，这样形成的台阶12靠近装配孔11的底端，这样可以使得针身22的长度设置的较长，而针身22的宽度大于接头21和针头23，这样构成的测试针20的整个结构的强度较大，不易在外力较大时发成弯折。
其中，本实施例中，如图3d所示，还包括：浮动件40，浮动件40位于固定板30和上限位端面221之间，这样通过浮动件40使得测试针20在测试夹具10上固定后可向上浮动预设距离，这样测试过程中，测试针20受到向上的作用力时，测试针20向上浮动一定的距离，使得测试针20能适配测试器件的对位公差，本实施例中，如图3d所示，浮动件40安装时，具体在第一装配孔111中预留可供浮动件40安装的空间，即当测试针20的限位部22a安装在第一装配孔111中后，上限位端面221与测试夹具10的顶面之间具有一定的空间，浮动件40安装在该空间中，所以，本实施例中，针身22的长度小于第一装配孔111的长度，这样使得浮动件40和针身22可以都位于第一装配孔111中。
其中，本实施例中，浮动件40具体可以套设在接头21上，当固定板30固定时，浮动件40被限定在固定板30与上限位端面221之间，测试针20受到向上的作用力时，测试针20向上移动，浮动件40被压缩，当外力去除时，浮动件40自身的弹力作用下驱动测试针20向下移动，或者本实施例中，浮动件40的一端可以与上限位端面221相连，在固定板30固定时，浮动件40的另一端抵在固定板30的背面上，需要说明的是，固定板30与测试夹具10固定后，需确保浮动件40具有一定的伸缩性，即浮动件40还可以被压缩，这样确保了测试针20后续可以向上浮动一定的间隔。
其中，本实施例中，浮动件40具体可以为弹簧、海绵或柔性件，例如浮动件40具体为弹簧，或者浮动件40具体为海绵，或者浮动件40可发生伸缩的柔性件，例如浮动件40可以为硅胶快。
实施例四
图4b是本申请实施例四提供的测试装置中下固定板安装在测试夹具上的剖面结构示意图，图4c是本申请实施例四提供的测试装置的剖面结构示意图，图4d是本申请实施例四提供的测试装置的又一剖面结构示意图。
本实施例与上述实施例的区别为：本实施例中，如图4a所示，装配孔11为可供针身22穿过的直孔，即本实施例中，装配孔11内未形成台阶12，装配孔11需可供针身22穿过，为了将测试针20固定在测试夹具10上，具体的，如图4c所示，固定板30包括上固定板301和下固定板302，其中，上固定板301和下固定板302分别位于测试夹具10的顶面和底面，上固定板301和下固定板302分别与上限位端面221和下限位端面222和限位以将测试针20的两端固定在测试夹具10上，其中，本实施例中，上固定板301和下固定板302上均开设安装孔32，其中，上固定板301上的安装孔32可供接头21穿过，即上固定板301上的安装孔32的孔径大于等于接头21的外径，下固定板302上的安装孔32可供针头23穿过，即下固定板302上的安装孔32的孔径大于等于针头23的外径，其中，为了对上限位端面221和下限位端面222限位，本实施例中，上固定板301和下固定板302上的安装孔32均小于装配孔11的，这样安装时，如图4b所示，首先将下固定板302固定在测试夹具10的底面上，由于下固定板302上的安装孔32小于装配孔11，所以下固定板302的安装孔32与装配孔11的底端之间形成对下限位端面222限位的下台阶12321，接着将测试针20装配到装配中，其中，针身22位于装配孔11中，下限位端面222抵在下台阶321处无法向下移动，然后将上固定板301固定在测试夹具10的顶面上，如图4c所示，上固定板301对上限位端面221进行限位，上固定板301与测试夹具10固定后，多个测试针20固定在测试夹具10上。
因此，本实施例中，通过两个固定板30将多个测试针20的两端分别进行固定，使得多个测试针20固定在测试夹具10上，这样避免了在测试夹具10的装配孔11内形成台阶12，使得测试夹具10上装配孔11的设置更加方便。
其中，本实施例中，如图4d所示，还包括：浮动件40，浮动件40位于上固定板301和上限位端面221之间，这样通过浮动件40使得测试针20在测试夹具10上固定后可向上浮动预设距离，这样测试过程中，测试针20受到向上的作用力时，测试针20向上浮动一定的距离，使得测试针20能适配测试器件的对位公差，本实施例中，如图4d所示，浮动件40安装时，具体在第一装配孔111中预留可供浮动件40安装的空间，即当测试针20的限位部22a安装在第一装配孔111中后，上限位端面221与测试夹具10的顶面之间具有一定的空间，浮动件40安装在该空间中，所以，本实施例中，针身22的长度小于第一装配孔111的长度，这样使得浮动件40和针身22可以都位于第一装配孔111中，需要说明的是，本实施例中，还可以将浮动件40位于第一装配孔111外，即当针身22的长度与装配孔11的长度相同时，此时第一装配孔111内无法安装浮动件40，浮动件40可以位于第一装配孔111外且位于上固定板301与上限位端面221之间的间隙中。
其中，本实施例中，浮动件40的安装方式以及材料具体可以参考上述实施例中，本实施例中不再赘述。
实施例五
本实施例提供一种测试针的安装结构，测试时，测试针安装在安装结构上进行测试，具体的，图1a和1b分别为测试针安装在安装结构上的示意图，安装结构具体包括测试夹具10，测试夹具10上开设多个用于装配多个测试针20的装配孔11，其中，每个装配孔11对应装配一个测试针20，而且，本实施例中，为了增大测试针20在测试夹具10上的安装密度，具体的，安装结构还包括：固定板30，固定板30上开设多个可供测试针20的一端穿过且与装配孔11对应的安装孔32，即本实施例中，如图1f所示，固定板30上开设了多个安装孔32，安装孔32与装配孔11对应，且测试针20的一端可从安装孔32穿过，安装时，首先将多个测试针20分别装配到各个装配孔11中，然后将固定板30上的各个安装孔32与多个测试针20的一端对准并套入，最后将固定板30与测试夹具10进行固定，固定板30与测试夹具10固定后，使得多个测试针20固定在测试夹具10上。
本实施例中，通过固定板30，且固定板30上开设与测试针20对应的安装孔32，实现了将多个测试针20同时固定的目的，与现有技术中的每个测试针20采用一个法兰固定相比，本实施例中，通过固定板30便可以将多个测试针20同时进行固定，这样相邻测试针20之间由于没有法兰，所以测试针20之间的间隔可以大大减少，从而使得测试夹具10单位面积内可安装的测试针20的数量增多，测试针20在测试夹具10上的安装密度增大，这样当5g到来后，电路板上的rfsw器件高密布局时，本实施例提供的测试装置可以一次便对电路板上的rfsw器件完成测试，这样避免了分工位测试的问题，从而使得测试成本大大降低，所以本实施例提供的测试装置提高了测试针20在测试夹具10上的安装密度，从而可以满足电路板上的rfsw器件高密度布局的测试要求。
同时，本实施例中，通过固定板30可以一次将多个测试针20固定在测试夹具10上，而现有技术中，每个测试针20需要一个法兰进行固定，这样测试夹具10上安装多个测试针20时，所需的安装时间较长，相应的，拆下时，需将每个测试针20的法兰进行拆卸，拆卸时间较长，而本实施例中，通过固定板30可以同时将多个测试针20进行固定，拆卸时，只需将固定件拆开即实现了对多个测试针20的拆卸，安装和拆卸的效率大大提升。
其中，本实施例中，如图1b所示，固定板30具体位于测试夹具10朝上的一面上，固定板30与测试夹具10之间固定时，固定板30具体通过压住测试针20以将测试针20固定在测试夹具10上，同时，本实施例中，如1a所示，固定板30将四个测试针20固定在测试夹具10上，这样当电路板上设置四个rfsw器件时，可以一次完成对四个rfsw器件的测试，避免了现有技术中分工位测试两次的现象，需要说明的是，固定板30将多个测试针20固定在测试夹具10上时，测试针20的数量包括但不限于图1a中所示的四个，还可以为四个以上。
其中，本实施例中，测试针20固定在测试夹具10上时，测试针20的一端需从测试夹具10的装配孔11中穿出以对电路板上的器件进行测试，测试针20的另一端需从固定板30的安装孔32中穿出通过rf线与射频测试仪电连接，这样测试时，测试针20对电路板上的器件测试得到的结构传输至射频测试仪，通过射频测试仪获得器件的测试结果。
因此，本实施例提供的测试针的安装结构，通过还包括固定板30，且固定板30上开设多个可供测试针20的一端穿过且与装配孔11对应的安装孔32，固定板30用于将多个测试针20固定在测试夹具10上，这样多个测试针20通过固定板30可以同时固定在测试夹具10上，相邻测试针20之间由于没有法兰，所以相邻测试针20之间的间隔可以大大降低，这样使得测试夹具10单位面积内可安装的测试针20的数量增多，测试针20在测试夹具10上的安装密度增大，从而避免了采用法兰固定测试针20时相邻测试针20之间的间隔较大而造成测试针20在测试夹具10上安装密度较小的问题，当测试针20在测试夹具10上的安装密度增大时，这样当电路板上的rfsw器件较多时，本申请提供的测试装置可以一次便对电路板上的rfsw器件完成测试，这样避免了分工位测试的问题，从而使得测试成本大大降低，而且多个测试针20采用固定板30固定时，大大提高了测试针20在测试夹具10上的安装和拆卸效率，因此，本申请提供的测试针的安装结构，提高了测试针20在测试夹具10上的安装密度，降低了电路板上rfsw器件高密分布时的测试成本，提高了测试针20的安装和拆卸效率，从而解决了现有rf测试针20在测试夹具10上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。
其中，本实施例中，测试针20的一端为接头21，另一端为针头23，固定板30将多个测试针20固定在测试夹具10上时，具体为，测试针20上具有限位部22a，限位部22a具体位于测试针20接头21和针头23之间，为了与限位部22a配合实现对测试针的20的限位，本实施例中，装配孔11内设有与所述限位部22a配合的台阶12，其中，本实施例中，台阶12具体可以为设在装配孔11内壁上的凸起，或者本实施例中，如图1c所示，装配孔11包括第一装配孔111和可供针头23向外穿出的第二装配孔112，且第一装配孔111和第二装配孔112的连接处形成台阶12，该台阶12用于对测试针20上的下限位端面222进行限位，固定板30用于对上限位端面221限位，以使多个测试针20通过固定板30固定在测试夹具10上，安装时，具体如图1b所示，测试针20的针头23从第二装配孔112向外穿过，下限位端面222抵在台阶12上使得测试针20无法继续向下移动，然后将固定板30压在测试夹具10的顶面上，由于安装孔32的宽度小于限位部22a的宽度，所以固定板30上的安装孔32边缘对上限位端面221进行限位，防止测试针20向上移动，最后固定板30与测试夹具10固定后，多个测试针20固定在测试夹具10上。
本实施例中，如图1c所示，第一装配孔111的长度l1小于第二装配孔112的长度l2，这样第一装配孔111和第二装配孔112之间形成的台阶12靠近装配孔11的顶端，本实施例中，由于台阶12靠近装配孔11的顶端处，这样在制作过程中，可以首先制得第二装配孔112，然后将第二装配孔112的顶端处的开口增大即可在装配孔11内壁上形成该台阶12，这样方便在装配孔11的内壁上形成该台阶12。
其中，本实施例中，如图3b所示，第一装配孔111的长度大于第二装配孔112的长度，这样形成的台阶12靠近装配孔11的底端，这样可以使得针身22的长度设置的较长，而针身22的宽度大于接头21和针头23，这样构成的测试针20的整个结构的强度较大，不易在外力较大时发成弯折。
其中，本实施例中，为了实现在测试过程中测试针20能适配测试器件对位公差的目的，所以，本实施例中，将测试针20固定在测试夹具10上后，测试针20在测试过程中具有一定的浮动量，具体的，如图1e，还包括：浮动件40，浮动件40位于固定板30和上限位端面221之间，这样通过浮动件40使得测试针20在测试夹具10上固定后可向上浮动预设距离，这样测试过程中，测试针20受到向上的作用力时，测试针20向上浮动一定的距离，使得测试针20能适配测试器件的对位公差，本实施例中，如图1e所示，浮动件40安装时，具体在第一装配孔111中预留可供浮动件40安装的空间，即当测试针20的限位部22a安装在第一装配孔111中后，上限位端面221与测试夹具10的顶面之间具有一定的空间，浮动件40安装在该空间中，所以，本实施例中，限位件的厚度小于第一装配孔111的长度，这样使得浮动件40和限位件可以都位于第一装配孔111中。
其中，本实施例中，浮动件40具体可以套设在接头21上，当固定板30固定时，浮动件40被限定在固定板30与上限位端面221之间，测试针20受到向上的作用力时，测试针20向上移动，浮动件40被压缩，当外力去除时，浮动件40自身的弹力作用下驱动测试针20向下移动，或者本实施例中，浮动件40的一端可以与上限位端面221相连，在固定板30固定时，浮动件40的另一端抵在固定板30的背面上，需要说明的是，固定板30与测试夹具10固定后，需确保浮动件40具有一定的伸缩性，即浮动件40还可以被压缩，这样确保了测试针20后续可以向上浮动一定的间隔。
其中，本实施例中，浮动件40具体可以为弹簧、海绵或柔性件，例如浮动件40具体为弹簧，或者浮动件40具体为海绵，或者浮动件40可发生伸缩的柔性件，例如浮动件40可以为硅胶快。
其中，本实施例中，固定板30将多个测试针20固定在测试夹具10上时，固定板30需与测试夹具10之间进行固定，本实施例中，固定板30与测试夹具10之间可以通过卡合连接或紧固件31紧固连接进行固定，如图1e所示，固定板30与测试夹具10之间通过紧固件31进行固定，紧固件31具体可以为螺钉，螺钉将固定板30与测试夹具10固定在一起，其中固定板30固定过程中实现了将多个测试针20固定在测试夹具10上的目的，或者本实施例中，固定板30上可以设有卡合件，测试夹具10上设置与卡合件卡合的扣位，这样固定时，直接将固定板30与测试夹具10卡合即可，拆卸时，将固定板30上的卡合件从测试夹具10中拔出，这样测试针20便可以从装配孔11中取出，需要说明的是，本实施例中，固定板30与测试夹具10之间包括但不限于上述两种固定方式，固定板30与测试夹具10之间还可以通过其他可拆洗的方法固定在起，例如固定板30与测试夹具10之间可以通过锁紧件锁在一起，拆卸时将锁紧件解锁完成拆卸。
如图2a-2b所示，装配孔11为可供针头23穿过的直孔，即本实施例中，装配孔11的内壁上没有台阶12，装配孔11的内壁为直筒状内壁，其中，装配孔11的尺寸与针头23的尺寸相匹配，限位部22a的尺寸大于装配孔11的尺寸，限位部22a与装配孔11之间的限位方式具体如图2b所示，安装时，针头23穿过装配孔11向外伸出，限位部22a的下限位端面222卡抵在装配孔11的顶端外边缘处，装配孔11的外边缘对限位部22a的下限位端面222起到阻挡作用，使得测试针20无法向下移动，接头21穿过固定板30上的安装孔32，固定板30压在上限位端面221上，固定板30对限位部22a的上限位端面221进行限位，当固定板30与测试夹具10固定后，固定板30对上限位端面221施加向下作用力使得测试针20固定而无法上下移动，最终多个测试针20在固定板30的固定作用下固定在测试夹具10上，所以，本实施例中，限位部22a的上限位端面221和下限位端面222分布与测试夹具10和固定板30配合实现测试针20的限位。
本实施例中，如图4a所示，装配孔11为可供针身22穿过的直孔，即本实施例中，装配孔11内未形成台阶12，装配孔11需可供针身22穿过，为了将测试针20固定在测试夹具10上，具体的，如图4c所示，固定板30包括上固定板301和下固定板302，其中，上固定板301和下固定板302分别位于测试夹具10的顶面和底面，上固定板301和下固定板302分别与下限位端面222和上限位端面221限位以将测试针20的两端固定在测试夹具10上，其中，本实施例中，上固定板301和下固定板302上均开设安装孔32，其中，上固定板301上的安装孔32可供接头21穿过，即上固定板301上的安装孔32的孔径大于等于接头21的外径，下固定板302上的安装孔32可供针头23穿过，即下固定板302上的安装孔32的孔径大于等于针头23的外径，其中，为了对上限位端面221和下限位端面222限位，本实施例中，上固定板301和下固定板302上的安装孔32尺寸均小于装配孔11的尺寸，例如安装孔32的孔径小于装配孔11的孔径，这样安装时，如图4b所示，首先将下固定板302固定在测试夹具10的底面上，由于下固定板302上的安装孔32小于装配孔11，所以下固定板302的安装孔32与装配孔11的底端之间形成对下限位端面222限位的下台阶12321，接着将测试针20装配到装配中，其中，针身22位于装配孔11中，下限位端面222抵在下台阶321处无法向下移动，然后将上固定板301固定在测试夹具10的顶面上，如图4c所示，上固定板301对上限位端面221进行限位，上固定板301与测试夹具10固定后，多个测试针20固定在测试夹具10上。
因此，本实施例中，通过两个固定板30将多个测试针20的两端分别进行固定，使得多个测试针20固定在测试夹具10上，这样避免了在测试夹具10的装配孔11内形成台阶12，使得测试夹具10上装配孔11的设置更加方便。
实施例六
本实施例提供一种测试针，测试针的结构可以参见图1d所示，测试时，测试针安装在上述安装结构，其中，为了实现测试针在安装结构上高密度安装的目的，本实施例中，测试针20上设有限位部22a，限位部22a用于与安装结构中的固定板30和/或安装结构中测试夹具10上的装配孔11配合，以使固定板30将多个测试针20固定在测试夹具10上，即本实施例提供的测试针，通过安装结构中的固定板使得测试针20在测试夹具10上的安装密度增大。
本申请提供的测试针，通过所述测试针20上设有限位部22a，限位部用于与安装结构中的固定板30和/或安装结构中测试夹具10上的装配孔配合，以使固定板30将多个测试针固定在测试夹具10上，这样多个测试针通过固定板30便可以固定在测试夹具10上，相邻测试针之间由于没有法兰，所以相邻测试针之间的间隔可以大大降低，这样使得测试夹具10单位面积内可安装的测试针的数量增多，测试针在测试夹具10上的安装密度增大，从而避免了采用法兰固定测试针时相邻测试针之间的间隔较大而造成测试针在测试夹具10上安装密度较小的问题，当测试针在测试夹具10上的安装密度增大时，这样当电路板上的rfsw器件较多时，固定的多个测试针可以一次便对电路板上的rfsw器件完成测试，这样避免了分工位测试的问题，从而使得测试成本大大降低，而且多个测试针采用固定板30固定时，大大提高了测试针在测试夹具10上的安装和拆卸效率，因此，本申请提供的测试针，实现了在测试夹具10上高密度安装的目的，降低了电路板上rfsw器件高密分布时的测试成本，提高了测试针的安装和拆卸效率，从而解决了现有rf测试针在测试夹具10上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。
本实施例中，如图1d所示，限位部22a包括上限位端面221和下限位端面222，上限位端面221用于与固定板30配合实现限位，下限位端面222用于与测试夹具10上装配孔11内的台阶或测试夹具10配合实现限位。
如图3a所示，测试针20包括针身22以及分别位于针身22两端的针头23和可穿过安装孔32的接头21，即本实施例中，接头21可从固定板30的安装孔32中穿过，且针头23与针身22的一端之间形成下限位端面222，接头21与针身22的另一端之间形成上限位端面221，即本实施例中，针身22可以作为限位部22a，所以针身22的宽度大于接头21和针头23，形成两端小和中间粗的测试针20，其中，上限位端面221用于跟固定板30限位，下限位端面222用于与装配孔11中的台阶12限位，具体的，如图3d所示，装配孔11内的第一装配孔111和第二装配孔112之间形成台阶12，安装时，如图3c所示，测试针20首先装配到装配孔11中，其中，针头23从第二装配孔112向外穿出，下限位端面222抵在台阶12处，无法向下移动，整个针身22位于第一装配孔111中，上限位端面221不低于测试夹具10的顶面，固定板30对上限位端面221进行限位，固定板30固定后将多个测试针20固定在测试夹具10上。
或者本实施例中，如图2b所示，下限位端面222抵在装配孔11的顶端外边缘处，即下限位端面222与测试夹具10的顶端配合实现限位，装配孔11的顶端外边缘对限位部22a的下限位端面222起到阻挡作用，使得测试针20无法向下移动，接头21穿过固定板30上的安装孔32，固定板30压在上限位端面221上，固定板30对限位部22a的上限位端面221进行限位，当固定板30与测试夹具10固定后，固定板30对上限位端面221施加向下作用力使得测试针20固定而无法上下移动，最终多个测试针20在固定板30的固定作用下固定在测试夹具10上，所以，本实施例中，限位部22a的上限位端面221和下限位端面222分布与测试夹具10和固定板30配合实现测试针20的限位。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应作广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或者两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或者暗示所指的装置或者元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非是另有精确具体地规定。
本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。
1.一种测试装置，包括多个测试针和测试夹具，且所述测试夹具上开设多个用于装配所述多个测试针的装配孔，其特征在于，还包括：
固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试针上具有限位部，所述限位部用于与所述固定板和/或所述装配孔配合实现对所述测试针的限位。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述限位部包括上限位端面和下限位端面，所述上限位端面用于与所述固定板配合实现限位，所述下限位端面用于与所述装配孔或所述测试夹具配合实现限位。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测试针包括针身以及分别位于所述针身两端的针头和可穿过所述安装孔的接头，且所述针头与所述针身的一端之间形成所述下限位端面，所述接头与所述针身的另一端之间形成所述上限位端面。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述装配孔包括第一装配孔和可供所述针头向外穿出的第二装配孔，且所述第一装配孔和所述第二装配孔的连接处形成对所述下限位端面限位的台阶，所述固定板用于对所述上限位端面限位，以使所述多个测试针通过所述固定板固定在所述测试夹具上。
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第一装配孔的长度大于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的底端形成。
7.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第一装配孔的长度小于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的顶端形成。
8.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述装配孔为可供所述针身或者所述针头穿过的直孔。
9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述装配孔为可供所述针头穿过的直孔，且所述下限位端面与所述装配孔的外边缘相抵以实现对所述测试针限位，所述固定板与所述上限位端面配合以将所述多个测试针固定在所述测试夹具上。
10.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述装配孔为可供所述针身穿过的直孔，且所述固定板包括上固定板和下固定板，所述上固定板和所述下固定板分别与所述下限位端面和所述上限位端面限位以将所述测试针的两端固定在所述测试夹具上。
11.根据权利要求10所述的测试装置，其特征在于，所述上固定板上开设的所述安装孔的孔径大于等于所述接头的外径，以使所述接头穿过所述上固定上的所述安装孔；
所述下固定板上开设的所述安装孔的孔径大于等于所述针头的宽度。
12.根据权利要求3-11任一所述的测试装置，其特征在于，还包括：浮动件，所述浮动件位于所述固定板和所述上限位端面之间，以使所述测试针在所述测试夹具上固定后可向上浮动预设距离。
13.根据权利要求12所述的测试装置，其特征在于，所述浮动件为弹簧、海绵或柔性件。
14.根据权利要求1-11、13任一所述的测试装置，其特征在于，所述固定板通过与所述测试夹具卡合连接或紧固件紧固连接以将所述多个测试针固定在所述测试夹具上。
15.根据权利要求14所述的测试装置，其特征在于，所述紧固件为螺钉。
16.一种测试针的安装结构，包括测试夹具，测试夹具上开设多个用于装配多个测试针的装配孔，其特征在于，还包括：
固定板，且所述固定板上开设可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的多个安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。
17.根据权利要求16所述的安装结构，其特征在于，所述装配孔内设有用于对所述测试针上设置的限位部进行限位的台阶。
18.根据权利要求17所述的安装结构，其特征在于，所述装配孔包括第一装配孔和可供所述测试针的一端向外穿出的第二装配孔，且所述第一装配孔和所述第二装配孔的连接处形成所述台阶。
19.根据权利要求18所述的安装结构，其特征在于，所述第一装配孔的长度大于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的底端形成。
20.根据权利要求18所述的安装结构，其特征在于，所述第一装配孔的长度小于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的顶端形成。
21.根据权利要求16所述的安装结构，其特征在于，所述装配孔为可供所述测试针的针头穿过的直孔，且所述测试针上的限位部抵在所述装配孔的顶端外边缘处。
22.根据权利要求21所述的安装结构，其特征在于，所述装配孔为可供所述测试针的针身穿过的直孔，且所述固定板包括上固定板和下固定板，所述上固定板和所述下固定板分别与所述限位部的两个限位端面配合以将所述测试针的两端固定在所述测试夹具上。
23.根据权利要求22所述的安装结构，其特征在于，所述上固定板上开设的所述安装孔的孔径大于等于所述测试针的接头的外径，以使所述接头穿过所述上固定上的所述安装孔；
所述下固定板上开设的所述安装孔的孔径大于等于所述测试针针头的外径。
24.根据权利要求16-23任一所述的安装结构，其特征在于，还包括：浮动件，所述浮动件位于所述固定板和所述测试针的限位部之间，以使所述测试针在所述测试夹具上固定后可向上浮动预设距离。
25.根据权利要求24所述的安装结构，其特征在于，所述浮动件为弹簧、海绵或柔性件。
26.根据权利要求16-23、25任一所述的安装结构，其特征在于，所述固定板通过与所述测试夹具卡合连接或紧固件紧固连接以将所述多个测试针固定在所述测试夹具上。
27.根据权利要求26所述的安装结构，其特征在于，所述紧固件为螺钉。
28.一种测试针，用于安装在上述权利要求16-27任一所述的安装结构上以对电路板上的器件进行测试，其特征在于，所述测试针上设有限位部，所述限位部用于与所述安装结构中的固定板和/或所述安装结构中测试夹具上的装配孔配合，以使所述固定板将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。
29.根据权利要求28所述的测试针，其特征在于，所述限位部包括上限位端面和下限位端面，所述上限位端面用于与所述固定板配合实现限位，所述下限位端面用于与所述装配孔中设置的台阶或所述测试夹具配合实现限位。
30.根据权利要求29所述的测试针，其特征在于，所述测试针包括针身以及分别位于所述针身两端的针头和接头，且所述针头与所述针身的一端之间形成所述下限位端面，所述接头与所述针身的另一端之间形成所述上限位端面。
技术总结