本实用新型涉及微波暗室测量技术领域，尤其涉及一种测试系统。
背景技术：
目前，在对被测件(dut)的辐射性能进行测试时，通常是将被测件设置于转台，被测件随转台的转动而转动，进而完成对被测件的各个方位的发射性能和接收性能进行测试，获得辐射性能。
但是，对于结构比较精密的被测件，尤其是小型被测件，微小的转动或振动会对被测件本身造成损坏或者影响测试精度。例如，在测试用于5g通信的手机天线辐射性能时，天线是雕刻在ic芯片上并与ic芯片集成的。芯片很小，精密易损，在遭遇微小的振动或者转动，很容易遭到破坏，导致较大的经济损失。
有鉴于此，对于本领域的技术人员而言，寻找一种测试系统，能够安全可靠地对诸如ic芯片等精密且易被损坏的被测件进行辐射性能的测量。
技术实现要素：
为至少在一定程度上克服现有技术中的上述问题，本实用新型提供一种测试系统。
本实用新型提供了一种测试系统，用于被测件辐射性能的测量，包括：
第一转台组件；
第二转台组件；
支撑杆，用于连接与支撑所述被测件；
所述第一转台组件包括第一转台，所述第一转台设置有孔，所述支撑杆穿过所述孔并固定于地面；所述第一转台绕垂直于地面的轴线在水平面内转动；
所述第二转台组件包括连接部、扫描架和第二转台；所述连接部与所述第一转台固定连接；所述第二转台与所述连接部固定连接，所述扫描架设置于所述第二转台上，所述第二转台绕平行于所述地面的轴线在竖直面内转动；并且，所述扫描架上设置有探头。
本实用新型的实施例中，被测件可以为集成在诸如精密且易损的芯片上的天线，为了避免因为被测件的位置的改变所带来的测量不准确或者损坏等问题，在采用本实用新型的测试系统进行天线性能测试时，设定被测件不动，通过对转动平台结构的设计，使连接在转动平台上的探头的位置发生变化，因而使被测件与探头之间的相对位置发生变化，满足被测件辐射性能测试的要求，具体来说，本实用新型通过两个转台组件来实现上述目的。转台组件包括第一转台和第二转台，第一转台在水平面内做圆周运动，第二转台在竖直面内做圆周运动，又因为第二转台是固定在第一转台上的，探头设置在第二转台，因此探头的运动为第一转台和第二转台的合运动，通过这个合运动，改变探头与被测件的相对位置，进而能够安全可靠地对诸如ic芯片等精密且易被损坏的被测件进行辐射性能的测量
进一步地，上述测试系统中，所述第一转台组件还包括固定部，所述固定部用于将所述支撑杆与地面固定连接。在本实用新型的实施例中，支撑杆连接在与地面固定连接的固定部上，第一转台相对于固定部转动。
进一步地，上述测试系统中，所述第一转台表面设置有吸波结构。本实施例通过在第一转台表面设置吸波结构，提高测试准确性。
进一步地，上述测试系统中，所述连接部为l型架体；所述连接部包括水平架和垂直于所述水平架的立柱；所述水平架与所述第一转台固定连接。
进一步地，上述测试系统中，所述扫描架为与立柱垂直的水平架；所述探头设置于所述水平架的端部。
进一步地，上述测试系统中，所述探头为喇叭天线。
进一步地，上述测试系统中，所述支撑杆为抱杆。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本实用新型。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本实用新型的实施例，并与说明书一起用于解释本实用新型的原理。
图1为本实用新型测试系统实施例在扫描架处于第一为位置的结构示意图；
图2为直角坐标系示意图，借助该直角坐标系说明第一转台和第二转台的转动方向。
其中：
1第一转台
2连接部
3第二转台
4扫描架
5探头
6被测件
7抱杆
8吸波结构
9固定部
21水平架
22立柱
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
本实用新型实施例尤其适用于小型被测件，其结构精密、易损。
图1示出了本实用新型测试系统的扫描架在不同位置时的状态示意图。
参照图1，本实用新型测试系统实施例在扫描架处于第一为位置的结构示意图。此时，探头5处于被测件6的正上方。本实施例测试系统用于被测件6辐射性能的测量，包括：第一转台组件、第二转台组件和作为支撑杆的抱杆7。其中，抱杆7用于连接与支撑被测件。当然，支撑杆也可以为除了抱杆7以为其他形式的支撑杆，只要能够起到支撑并固定连接被测件6即可，本实用新型对支撑杆的具体形态不做限定。
第一转台组件包括第一转台1，第一转台1设置有孔，抱杆7穿过该孔并与地面固定连接；第一转台1绕垂直于地面的轴线在水平面内转动。第一转台1的孔径大于抱杆7的外径。
在另一个实施例中，第一转台组件还包括固定部9，固定部9与地面固定连接；抱杆7穿过孔与固定部9连接。也就是说，本实施中，抱杆7连接在与地面固定连接的固定部9上，第一转台1相对于固定部9转动。
第二转台组件包括连接部2、扫描架4和第二转台3。所述连接部2为l型架体；所述连接部2包括水平架21和垂直于所述水平架21的立柱22；所述水平架21与所述第一转台1固定连接。第二转台3与连接部2的立柱22固定连接，扫描架4设置于第二转台3上，第二转台3绕平行于地面的轴线在竖直面内转动；并且，扫描架4上设置有探头5。
参照图2，图2为直角坐标系示意图，借助该直角坐标系说明第一转台和第二转台的转动方向。第一转台1绕z轴在xoy的水平面内转动；第二转台绕x轴在yoz的竖直面内转动。
本实用新型的实施例中，被测件6可以为集成在诸如精密且易损的芯片上的天线，为了避免因为被测件6的位置的改变所带来的测量不准确或者损坏等问题，在采用本实用新型的测试系统进行被测件性能测试时，设定被测件6不动，通过对转台结构的设计，使连接在转台上的探头的位置发生变化，因而使被测件与探头之间的相对位置发生变化，满足被测件辐射性能测试的要求，具体来说，本实用新型通过两个转台组件来实现上述目的。转台组件包括第一转台和第二转台，第一转台1在水平面内做圆周运动，第二转台3在竖直面内做圆周运动，又因为第二转台3是固定在第一转台1上的，探头5设置在与第二转台3，因此探头5的运动为第一转台1和第二转台3的合运动，通过这个合运动，改变探头5与被测件的相对位置，进而获得测量数据，实现对被测件发射性能和接收性能的测量。
在上述实施例中，第一转台1表面设置有吸波结构8。本实施例通过在第一转台1表面设置吸波结构，减少测试干扰，提高测试准确性。类似地，第二转台3表面也设置有吸波结构8，同样起到减少测试干扰，提高测试准确性的目的。
优选地，上述测试系统实施例中，连接部2为垂直于第一转台1的立柱。扫描架4为与立柱垂直的水平架；探头5设置于水平架的端部。探头可以为喇叭天线。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
1.一种测试系统，用于被测件辐射性能的测量，其特征在于，包括：
第一转台组件；
第二转台组件；
支撑杆，用于连接与支撑所述被测件；
所述第一转台组件包括第一转台，所述第一转台设置有孔，所述支撑杆穿过所述孔并固定于地面；所述第一转台绕垂直于地面的轴线在水平面内转动；
所述第二转台组件包括连接部、扫描架和第二转台；所述连接部与所述第一转台固定连接；所述第二转台与所述连接部固定连接，所述扫描架设置于所述第二转台上，所述第二转台绕平行于所述地面的轴线在竖直面内转动；并且，所述扫描架上设置有探头。
2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，
所述第一转台组件还包括固定部，
所述固定部用于将所述支撑杆与地面固定连接。
3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，
所述第一转台表面设置有吸波结构。
4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，
所述连接部为l型架体；
所述连接部包括水平架和垂直于所述水平架的立柱；
所述水平架与所述第一转台固定连接。
5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，
所述扫描架为与立柱垂直的水平架；
所述探头设置于所述水平架的端部。
6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，
所述探头为喇叭天线。
7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，
所述支撑杆为抱杆。
技术总结