本实用新型涉及检测治具领域，具体涉及一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板。
背景技术：
ic芯片种类非常多，有模拟ic，数字ic等，不同的ic有不同功能和作用，传统的测试的方法非常麻烦，针对不同的ic芯片需要设计不同的测试板或者测试座，但是由于ic的封装尺寸和脚位是相同的，因此可以考虑设计出一款通用测试板能够通用qfn8(2x2)封装的所有ic的测试型号。
技术实现要素：
本实用新型提供一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板，以解决传统技术中针对不同的ic芯片需要设计不同的测试板或者测试座的问题。
本实用新型提供一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板，包括pcb底板以及设置于其上的测试座、接口区，所述pcb底板通过定位孔固定在分选机上，所述测试座用于固定待测ic并通过线缆连接所述接口区上的34pin接口，所述34pin接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。
优选的，所述测试座与所述线缆之间设置有金手指。
本实用新型有益效果：
本实用新型提供的一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板，能够通用qfn8(2x2)封装的所有ic的测试型号，每种ic在测试时，不需要更换测试座及连接接口，提高了测试效率和更换测试产品的时间，同时能够保证测试的准确性和稳定性，便于ic的大规模的测试量产。
附图说明
图1是本实用新型实施例结构示意图。
其中，1-pcb底板，2-测试座，3-接口区，4-线缆，5-定位孔，6-测试座定位孔。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合具体实施例，对本实用新型作进一步地详细说明。
实施例
本实施例提供一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板，包括pcb底板1以及设置于其上的测试座2、接口区3，所述pcb底板1通过定位孔5固定在分选机上，所述测试座2用于固定待测ic并通过线缆4连接所述接口区3上的34pin接口，所述34pin接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。
进一步的，所述测试座2与所述线缆4之间设置有金手指。测试座2通过测试座定位孔6安装在所述pvb底板1上。
测试时由分选机把待测试芯片放到测试座2内，测试座通过金手指和线缆4连接到34pin接口，整个测试板从34pin接口连接到测试机上面的测试头进行测试，并返回测试信号。
综上所述，本实用新型提供的一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板，能够通用qfn8(2x2)封装的所有ic的测试型号，每种ic在测试时，不需要更换测试座及连接接口，提高了测试效率和更换测试产品的时间，同时能够保证测试的准确性和稳定性，便于ic的大规模的测试量产。
以上所述仅为本实用新型的实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的权利要求范围。
1.一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板，包括pcb底板(1)以及设置于其上的测试座(2)、接口区(3)，其特征在于，所述pcb底板(1)通过定位孔(5)固定在分选机上，所述测试座(2)用于固定待测ic并通过线缆(4)连接所述接口区(3)上的34pin接口，所述34pin接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。
2.如权利要求1所述的基于qfn8(2x2)封装的通用测试板，其特征在于，所述测试座(2)与所述线缆(4)之间设置有金手指。
技术总结