本实用新型属于芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试装置。
背景技术：
随着vlsi电路的持续发展，芯片上集成了越来越多的半导体器件。这些器件不仅可以包括处理器，还可以包括存储器、输入/输出电路、各种转换电路等。随着芯片上器件集成度的提高，芯片输出管脚数目增多并且依据芯片用途不同而管脚定义、分布不同，为提高测试效率带来挑战。现有的芯片测试夹具通常是对整条内存条上的多个芯片同时进行测试，虽然整体测试效率高，但是无法针对单个的芯片进行测试。所以需要设计一款能够对单独的芯片进行测试且操作简单方便的芯片测试装置。
技术实现要素：
针对上述问题，本实用新型的目的在于提供一种能够针对单个芯片进行测试的芯片测试装置。
为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：
一种芯片测试装置，包括基板、测试主板、芯片夹具、电源和显示屏，测试主板固定在所述基板上，所述测试主板分别与所述电源及显示屏通信连接。所述的芯片夹具包括夹具本体，所述的夹具本体水平设置，所述夹具本体上开设有若干个用于放置待测芯片的芯片槽，所述芯片槽的底部设有芯片测试板，所述芯片测试板与所述测试主板通信连接。每个芯片槽的顶部各设有一个用于固定待测芯片的芯片夹板，所述芯片夹板的一端与所述夹具本体铰接，另一端通过卡扣与所述夹具本体相卡接。
进一步地，所述的卡扣包括一体成型的按压部、连接部和卡钩，所述连接部的底部通过转轴与所述芯片夹板铰接，所述夹具本体在远离测试主板的一侧设有用于与所述卡钩相卡接的销轴，所述销轴转动安装在所述夹具本体上。
进一步地，所述的基板竖直设置，所述基板固定在水平桌面上，所述的电源固定在所述基板上并位于所述水平桌面的下方，所述的显示屏固定在水平桌面上并位于所述基板的正后方。
进一步地，所述芯片夹板的底面固设有用于压紧/脱离待测芯片的缓冲块。
进一步地，还包括绝缘座，所述的夹具本体通过绝缘座固定在所述测试主板上。
进一步地，所述基板在所述测试主板的相对侧设有键盘，所述键盘与所述显示屏通信连接。
本实用新型具有如下有益效果：提供一种芯片测试装置，该装置既可以对单个芯片进行测试，也可以同时对多个芯片进行测试，芯片夹具空间设计合理，容易进行相关组件的更换，芯片放入和取出方便，操作简单，稳固性强，制作成本低，测试效率高。
附图说明
图1为本实用新型的俯视结构示意图。
图2为本实用新型的正视结构示意图。
图3为芯片夹具各部件之间的连接示意图。
主要组件符号说明：1、基板；10、水平桌面；2、测试主板；3、芯片夹具；30、卡扣；301、按压部；302、连接部；303、卡钩；31、夹具本体；310、销轴；32、芯片槽；33、芯片测试板；34、芯片夹板；340、缓冲块；4、电源；5、显示屏；6、键盘；7、绝缘座。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式，对本实用新型做进一步说明。
如图1-3所示，一种芯片测试装置，包括基板1、测试主板2、芯片夹具3、电源4和显示屏5。基板1竖直固定在水平桌面10上，测试主板2固定在基板1上并位于水平桌面10上方，基板1在测试主板2的相对侧设有键盘6，键盘6与显示屏5通信连接，测试主板2分别与电源4及显示屏5通信连接，电源4固定在基板1上并位于水平桌面10的下方，显示屏5固定在水平桌面10上并位于基板1的正后方。
芯片夹具3包括夹具本体31，夹具本体31水平设置，夹具本体31通过绝缘座7固定在测试主板2上。夹具本体31上开设有若干个用于放置待测芯片的芯片槽32，芯片槽32的底部设有芯片测试板33，芯片测试板33与测试主板2通信连接。每个芯片槽32的顶部各设有一个用于固定待测芯片的芯片夹板34，芯片夹板34的底面固设有用于压紧/脱离待测芯片的缓冲块340。芯片夹板34的一端与夹具本体31铰接，另一端通过卡扣30与夹具本体31相卡接。卡扣30包括一体成型的按压部301、连接部302和卡钩303，连接部302的底部通过转轴305与芯片夹板34铰接，夹具本体31在远离测试主板2的一侧设有用于与卡钩303相卡接的销轴310，销轴310转动安装在夹具本体31上。
本实用新型的工作原理为：打开芯片夹板34，将待测芯片放入夹具本体31上的芯片槽32内，扣上芯片夹板34并通过卡钩303与销轴310的相互扣合将芯片夹板34扣紧，使得待测芯片上的管脚与芯片测试板上的触点对应接通。启动电源4对测试主板2和芯片测试板33进行供电，对待测的芯片进行测试，测试完成后，通过施力于按压部301，使得卡钩304与销轴310脱离，打开芯片夹板34，取出芯片，完成测试。本实用新型既可以对单个芯片进行测试，也可以同时对多个芯片进行测试，芯片夹具3空间设计合理，容易进行相关组件的更换，芯片放入和取出方便，操作简单，稳固性强，制作成本低，测试效率高。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
1.一种芯片测试装置，其特征在于：包括基板、测试主板、芯片夹具、电源和显示屏，测试主板固定在所述基板上，所述测试主板分别与所述电源及显示屏通信连接，所述的芯片夹具包括夹具本体，所述的夹具本体水平设置，所述夹具本体上开设有若干个用于放置待测芯片的芯片槽，所述芯片槽的底部设有芯片测试板，所述芯片测试板与所述测试主板通信连接，每个芯片槽的顶部各设有一个用于固定待测芯片的芯片夹板，所述芯片夹板的一端与所述夹具本体铰接，另一端通过卡扣与所述夹具本体相卡接。
2.如权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述的卡扣包括一体成型的按压部、连接部和卡钩，所述连接部的底部通过转轴与所述芯片夹板铰接，所述夹具本体在远离测试主板的一侧设有用于与所述卡钩相卡接的销轴，所述销轴转动安装在所述夹具本体上。
3.如权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述的基板竖直设置，所述基板固定在水平桌面上，所述的电源固定在所述基板上并位于所述水平桌面的下方，所述的显示屏固定在水平桌面上并位于所述基板的正后方。
4.如权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述芯片夹板的底面固设有用于压紧/脱离待测芯片的缓冲块。
5.如权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：还包括绝缘座，所述的夹具本体通过绝缘座固定在所述测试主板上。
6.如权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述基板在所述测试主板的相对侧设有键盘，所述键盘与所述显示屏通信连接。
技术总结