本实用新型涉及pcb板测试技术领域，特别涉及一种用于pcb测试装置的pcb板保护结构。
背景技术：
现有技术中，主要采用探针模组对pcb板进行测试，探针模组由探针和模块两部分组成，探针装于模块上，探针包括上针头和下针头，模块带动上针头和下针头分别与pcb板上的待测位两端接触，导通信号，测试产品良率。探针一般采用高强度耐磨金属制成，探针端部对pcb板上测试位的冲击，容易对pcb板的测试位造成针印、压伤的等损坏，影响产品测试良率。
pcb板用于电子产品，随着电子产品的不断换代，pcb板需随之更换，同时也需对探针模组进行更换，每一种pcb板配备一种测试探针，对pcb板的测试成本和测试效率要求较高，因此提出一种通用性更高的pcb测试装置具有重要意义。
技术实现要素：
本实用新型提出一种用于pcb测试装置的pcb板保护结构，旨在优化pcb测试装置结构，防止pcb板在测试过程中被测试探针压伤，提高产品良率。
为实现上述目的，本实用新型提出的用于pcb测试装置的pcb板保护结构，包括对称安装的上模组和下模组，所述上模组活动安装于所述下模组上方，pcb板置于所述上模组和下模组之间，所述上模组和下模组表面分别设有一绝缘保护板，两所述绝缘保护板上还分别设有若干测试孔，若干所述测试孔与所述pcb板待测位一一对应设置，任一所述测试孔内设有导电胶层，若干所述导电胶层第一端均与所述pcb板待测位抵接，所述上模组上设有若干上弹性测试探针，所述下模组上设有若干下弹性测试探针，若干所述导电胶层第二端分别与所述上弹性测试探针和下弹性测试探针抵接，且所述上弹性测试探针和所述下弹性测试探针通过所述导电胶层与所述pcb板待测位导通；所述上模组和下模组上还设有若干弹性定位针，所述绝缘保护板和所述pcb板上同轴设有供所述弹性定位针穿过的通孔。
优选地，所述上模组包括从上向下依次安装的上安装板、上测试板、上模板，若干所述上弹性测试探针安装于所述上测试板上，所述上弹性测试探针穿设于所述上模板上的过孔后与位于所述pcb板上方的所述导电胶层第二端抵接；所述下模组包括从下向上依次安装的下安装板、下测试板、下模板，若干所述下弹性测试探针安装于所述下测试板上，所述下弹性测试探针穿设于所述下模板上的过孔后与位于所述pcb板下方的所述导电胶层第二端抵接。
优选地，所述导电胶层第一端和第二端均设为弧形凸面。
优选地，所述绝缘保护板为白料玻璃纤维板，且所述绝缘保护板厚度为0.5mm。
优选地，所述上弹性测试探针包括同轴安装的上测试针和上测试弹簧，所述上测试针通过所述上测试弹簧与所述导电胶层抵接；所述下弹性测试探针包括同轴安装的下测试针和下测试弹簧，所述下测试针通过所述下测试弹簧与所述导电胶层抵接。
优选地，所述弹性定位针包括同轴安装的活动帽、套筒和固定杆，所述上模组和下模组上还设有安装孔，所述套筒安装于所述安装孔内，所述固定杆安装于所述套筒内，所述活动帽活动套设于所述固定杆端部，所述固定杆外侧面还套设一定位弹簧，所述定位弹簧两端分别与所述活动帽和固定杆连接，且所述活动帽端部容置于所述pcb板上的通孔内。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过在pcb板两侧分别加设一绝缘保护板，两绝缘保护板分别安装于上模组和下模组表面，每一绝缘保护板上还设有与pcb板待测位一一对应的若干测试孔，测试孔内设有导电胶层，上弹性测试探针和下弹性测试探针通过导电胶层与pcb板上的待测位导通，导电胶层具有弹性，可保护pcb板上的待测位免被损伤。还可通过改变绝缘保护板上测试孔的位置，针对不同的pcb板，只需更换与之对应的绝缘保护板即可进行测试，具有更高的通用性，有效提高测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本实用新型用于pcb测试装置的pcb板保护结构剖视图；
图2为图1中a处的局部放大图。
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
本实用新型提出一种用于pcb测试装置的pcb板保护结构，包括对称安装的上模组1和下模组2，所述上模组1活动安装于所述下模组2上方，pcb板3置于所述上模组1和下模组2之间，所述上模组1和下模组2表面分别设有一绝缘保护板4，两所述绝缘保护板4上还分别设有若干测试孔41，若干所述测试孔41与所述pcb板3待测位31一一对应设置，任一所述测试孔41内设有导电胶层42，若干所述导电胶层42第一端421均与所述pcb板3待测位31抵接，所述上模组1上设有若干上弹性测试探针11，所述下模组2上设有若干下弹性测试探针21，若干所述导电胶层42第二端422分别与所述上弹性测试探针11和下弹性测试探针21抵接，且所述上弹性测试探针11和所述下弹性测试探针21通过所述导电胶层42与所述pcb板3待测位31导通；所述上模组1和下模组2上还设有若干弹性定位针5，所述绝缘保护板4和所述pcb板3上同轴设有供所述弹性定位针5穿过的通孔。
组装时，使导电胶层42第二端422分别与上弹性测试探针11、下弹性测试探针21准确对位并抵接，采用螺丝将绝缘保护板4分别固定于上模组1和下模组2表面。测试时，先将pcb板3放于下模组2的绝缘保护板4上，使pcb板3下侧面的待测位31与位于下方的导电胶层42第一端421准确对位并抵接，再使上模组1下降，直至pcb板3上侧面的待测位31与位于上方的导电胶层42第一端421准确对位并抵接，pcb板3两侧的待测位31分别与上弹性测试探针11、下弹性测试探针21导通，从而对pcb板3进行双面测试。本实用新型选用体积电阻率≤0.004ω·cm、硬度为70°±5°的导电胶层42，通过导电胶层42与pcb板3上的待测位31抵接，导电胶层42具有弹性，避免上弹性测试探针11、下弹性测试探针21直接与pcb板3待测位31接触造成损伤。pcb板3上的待测位31包括但不限于金手指测试位311、绑定测试位312、过孔测试位313，可适应多种测试场景，实用性强。
进一步地，本实用新型可根据不同种类的pcb板3，在绝缘保护板4上设置与pcb板3待测位31一一对应的测试孔41，针对不同的pcb板3，只需更换与之对应的绝缘保护板4即可进行测试，具有更高的通用性，降低测试成本，提高测试效率。
所述上模组1包括从上向下依次安装的上安装板12、上测试板13、上模板14，若干所述上弹性测试探针11安装于所述上测试板13上，所述上弹性测试探针11穿设于所述上模板14上的过孔后与位于所述pcb板3上方的所述导电胶层42第二端422抵接，使pcb板3与上测试板13电性连通；所述下模组2包括从下向上依次安装的下安装板22、下测试板23、下模板24，若干所述下弹性测试探针21安装于所述下测试板23上，所述下弹性测试探针21穿设于所述下模板24上的过孔后与位于所述pcb板3下方的所述导电胶层42第二端422抵接，使pcb板3与下测试板23电性连通，因此，上模组1与下模组2共同配合对pcb板3多方位测试，有效提高测试效率。
本实用新型先在绝缘保护板4上钻出测试孔41，再在测试孔41内灌注液态导电胶，待导电胶冷凝固化后，将导电胶层42端部打磨成所需的形状。具体地，所述导电胶层42第一端421和第二端422均设为弧形凸面，通过弧形凸面与pcb板3表面的待测位31、上弹性测试探针11或下弹性测试探针21良好抵接。
所述绝缘保护板4为白料玻璃纤维板，且所述绝缘保护板4厚度为0.5mm，防止上模板14和下模板24与pcb板3直接接触。
所述上弹性测试探针11包括同轴安装的上测试针111和上测试弹簧112，所述上测试针111通过所述上测试弹簧112与所述导电胶层42抵接；所述下弹性测试探针21包括同轴安装的下测试针211和下测试弹簧212，所述下测试针211通过所述下测试弹簧212与所述导电胶层42抵接。将上弹性测试探针11和下弹性测试探针21设为可伸缩的结构，可缓冲测试过程中绝缘保护板4或pcb板3微量形变的冲击力，进一步保护pcb板3免被上测试针111或下测试针211压伤。
所述弹性定位针5包括同轴安装的活动帽51、套筒52和固定杆53，所述上模组1和下模组2上还设有安装孔10，所述套筒52安装于所述安装孔10内，所述固定杆53安装于所述套筒52内，所述活动帽51活动套设于所述固定杆53端部，所述固定杆53外侧面还套设一定位弹簧54，所述定位弹簧54两端分别与所述活动帽51和固定杆53连接，且所述活动帽51端部容置于所述pcb板3上的通孔内。组装绝缘保护板4和pcb板3时，使绝缘保护板4和pcb板3上的通孔与弹性定位针5一一对位，上模组1和下模组2上的弹性定位针5从两端伸入pcb板3上的通孔内，共同固定pcb板3，即可使pcb板3上的待测位31与绝缘保护板4上的导电胶层42准确对位，操作方便。可伸缩的弹性定位针5，还可更好地适应不同厚度的pcb板3。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的发明构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。
1.一种用于pcb测试装置的pcb板保护结构，包括对称安装的上模组和下模组，所述上模组活动安装于所述下模组上方，pcb板置于所述上模组和下模组之间，其特征在于，所述上模组和下模组表面分别设有一绝缘保护板，两所述绝缘保护板上还分别设有若干测试孔，若干所述测试孔与所述pcb板待测位一一对应设置，任一所述测试孔内设有导电胶层，若干所述导电胶层第一端均与所述pcb板待测位抵接，所述上模组上设有若干上弹性测试探针，所述下模组上设有若干下弹性测试探针，若干所述导电胶层第二端分别与所述上弹性测试探针和下弹性测试探针抵接，且所述上弹性测试探针和所述下弹性测试探针通过所述导电胶层与所述pcb板待测位导通；所述上模组和下模组上还设有若干弹性定位针，所述绝缘保护板和所述pcb板上同轴设有供所述弹性定位针穿过的通孔。
2.如权利要求1所述的用于pcb测试装置的pcb板保护结构，其特征在于，所述上模组包括从上向下依次安装的上安装板、上测试板、上模板，若干所述上弹性测试探针安装于所述上测试板上，所述上弹性测试探针穿设于所述上模板上的过孔后与位于所述pcb板上方的所述导电胶层第二端抵接；
所述下模组包括从下向上依次安装的下安装板、下测试板、下模板，若干所述下弹性测试探针安装于所述下测试板上，所述下弹性测试探针穿设于所述下模板上的过孔后与位于所述pcb板下方的所述导电胶层第二端抵接。
3.如权利要求1所述的用于pcb测试装置的pcb板保护结构，其特征在于，所述导电胶层第一端和第二端均设为弧形凸面。
4.如权利要求1所述的用于pcb测试装置的pcb板保护结构，其特征在于，所述绝缘保护板为白料玻璃纤维板，且所述绝缘保护板厚度为0.5mm。
5.如权利要求1所述的用于pcb测试装置的pcb板保护结构，其特征在于，所述上弹性测试探针包括同轴安装的上测试针和上测试弹簧，所述上测试针通过所述上测试弹簧与所述导电胶层抵接；所述下弹性测试探针包括同轴安装的下测试针和下测试弹簧，所述下测试针通过所述下测试弹簧与所述导电胶层抵接。
6.如权利要求1所述的用于pcb测试装置的pcb板保护结构，其特征在于，所述弹性定位针包括同轴安装的活动帽、套筒和固定杆，所述上模组和下模组上还设有安装孔，所述套筒安装于所述安装孔内，所述固定杆安装于所述套筒内，所述活动帽活动套设于所述固定杆端部，所述固定杆外侧面还套设一定位弹簧，所述定位弹簧两端分别与所述活动帽和固定杆连接，且所述活动帽端部容置于所述pcb板上的通孔内。
技术总结