本实用新型涉及电子测试装置技术领域，具体为一种伺服可调式摆锤冲击测试机。
背景技术：
芯片生产完成后，为了保证芯片和与其它电子部件组装成电子产品后，电子产品产品受到冲击后不易损坏，需要对成品芯片的冲击性能进行测试，目前主要的冲击测试为冷热冲击测试和力度冲击测试，其中冷热冲击测试以及具有为完善的测试设备，力度冲击测试主要测试cg与粘接在cg上传感器之间的粘接强度，但目前力度冲击测试的设备简陋，一方面测试效率低下，无法满足实际测试的需求，一方面测试的效果不理想，造成测试的结果不准确，因为本实用新型提出采用一定的机械构造和科学技术，设计出一种测试效率高、测试结果后准确的芯片力度冲击测试装置。
技术实现要素：
（一）解决的技术问题
针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种伺服可调式摆锤冲击测试机，解决了上述背景技术中提出的问题。
（二）技术方案
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种伺服可调式摆锤冲击测试机，包括：机架组件；所述机架组件包括底板，所述底板的顶部固定安装有机框；送料机构，所述送料机构固定在底板上，其用于带动芯片在机框内进行移动；夹具组件，所述夹具组件固定在送料机构上，其用于将需要测试的芯片进行固定；摆钟机构，所述摆钟机构固定在底板上，其用于对夹具组件上的芯片进行冲击测试；拍摄机构，所述拍摄机构固定在底板，其用于对冲击测试中的芯片进行拍摄记录。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述送料机构包括两个直线滑轨，两个所述直线滑轨均固定在底板的顶部，两个所述直线滑轨上均滑动连接有直线滑块，两个所述直线滑块的顶部固定安装有安装板，所述送料机构还包括用于带动安装板进行往复移动的驱动组件。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述驱动组件包括u型架，所述u型架固定在底板的顶部，所述u型架的内部固定安装有无杆气缸，所述无杆气缸上滑动连接有驱动块，所述驱动块的顶部与安装板的底部固定连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述送料机构还包括限位块和两个限位座，所述限位块固定在安装板的底部，两个所述限位座均固定在底板的顶部，两个所述限位座上均固定安装有缓冲器。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述夹具组件包括夹具座，所述夹具座固定在安装板的顶部，所述夹具座的顶部固定安装有挡板，所述夹具座的顶部固定安装有卡座，所述夹具座的内部固定安装有夹具气缸，所述夹具气缸的活塞杆固定安装有压块，所述夹具座上可拆卸连接有调试组件。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述调试组件包括传感器底座，所述传感器底座螺栓连接在夹具座的顶部，所述传感器底座上固定安装有拉压力传感器，所述拉压力传感器上固定安装有撞击块。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述摆钟机构包括两个摆钟底座，两个所述摆钟底座均固定在底板的顶部，两个所述摆钟底座的顶部固定安装有摆臂底座，所述摆臂底座的顶部固定安装有两个支架，两个所述支架相对的一侧之间固定安装有支板，所述支板的背面固定安装有u型座，所述u型座的背面固定安装有编码器，所述支板正面通过轴承座转动连接有转动轴，所述编码器的输出轴与转动轴的一端固定连接，所述转动轴的另一端固定安装有上摆臂，所述上摆臂远离转动轴的一端设置有螺纹销，所述上摆臂通过螺纹销固定连接有下摆臂，所述下摆臂的远离上摆臂的一端固定安装有摆锤，所述支板的背面固定安装有摆动电机，所述摆动电机的输出轴贯穿支板并固定安装有电机摆臂，所述电机摆臂上固定安装有伸缩气缸，所述伸缩气缸的输出轴固定安装有接触块。
作为本实用新型的一种优选技术方案，两个所述摆钟底座的正面均固定安装有减震垫片。
作为本实用新型的一种优选技术方案，所述拍摄机构包括相机座，所述相机座固定在底板的顶部，所述相机座上固定安装有相机架，所述相机架的顶部固定安装有basler工业相机。
（三）有益效果
与现有技术相比，本实用新型提供了一种伺服可调式摆锤冲击测试机，具备以下有益效果：该伺服可调式摆锤冲击测试机，本实用新型采用夹具组件将需要测试的芯片进行固定后，利用送料机构带动夹具组件在机框内进行移动，方便操作人员进行上下料操作，利用摆钟机构对夹具组件上的芯片进行冲击测试，通过拍摄机构对冲击测试过程中进行拍摄记录，因此采用本实用新型对芯片进行力度冲击测试，具有测试效率高和测试结果准确的优点。
附图说明
图1为本实用新型整体结构立体正视图；
图2为本实用新型整体结构立体后视图；
图3为本实用新型部分结构立体正视图；
图4为本实用新型部分结构立体后视图；
图5为本实用新型送料机构立体正视图；
图6为本实用新型送料机构立体仰视图；
图7为本实用新型夹具组件立体后视图；
图8为本实用新型夹具组件立体正视图；
图9为本实用新型摆钟机构立体正视图。
图中：1、机架组件；101、底板；102、机框；2、送料机构；201、直线滑轨；202、直线滑块；203、安装板；204、u型架；205、无杆气缸；206、驱动块；207、限位块；208、限位座；209、缓冲器；3、夹具组件；301、夹具座；302、挡板；303、卡座；304、夹具气缸；305、调试组件；305a、传感器底座；305b、拉压力传感器；305c、撞击块；4、摆钟机构；401、摆钟底座；402、摆臂底座；403、支架；404、支板；405、u型座；406、编码器；407、转动轴；408、上摆臂；409、螺纹销；410、下摆臂；411、摆锤；412、摆动电机；413、电机摆臂；414、伸缩气缸；415、接触块；416、减震垫片；5、拍摄机构；501、相机座；502、相机架；503、basler工业相机。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例
请参阅图1-9，本实用新型提供以下技术方案：一种伺服可调式摆锤冲击测试机，包括：机架组件1；机架组件1包括底板101，底板101的顶部固定安装有机框102；送料机构2，送料机构2固定在底板101上，其用于带动芯片在机框102内进行移动；夹具组件3，夹具组件3固定在送料机构2上，其用于将需要测试的芯片进行固定；摆钟机构4，摆钟机构4固定在底板101上，其用于对夹具组件3上的芯片进行冲击测试；拍摄机构5，拍摄机构5固定在底板101，其用于对冲击测试中的芯片进行拍摄记录。
本实施方案中，本实用新型采用夹具组件3将需要测试的芯片进行固定后，利用送料机构2带动夹具组件3在机框102内进行移动，方便操作人员进行上下料操作，利用摆钟机构4对夹具组件3上的芯片进行冲击测试，在对芯片冲击，同时拍摄机构5对冲击测试过程进行拍摄记录，因此采用本实用新型对芯片进行力度冲击测试，具有测试效率高和测试结果准确的优点。
具体的，送料机构2包括两个直线滑轨201，两个直线滑轨201均固定在底板101的顶部，两个直线滑轨201上均滑动连接有直线滑块202，两个直线滑块202的顶部固定安装有安装板203，送料机构2还包括用于带动安装板203进行往复移动的驱动组件。
本实施例中，夹具组件3固定在安装板203上，通过驱动组件带动安装板203进行移动，安装板203通过两个直线滑块202在两个直线滑轨201上滑行，需要进行上料时，驱动组件带动安装板203移动到底板101的一端，既机框102的外侧，将需要测试的芯片固定在夹具组件3上后，驱动组件带动安装板203移动到机框102的内部后，通过摆钟机构4和拍摄机构5的配合，可以对芯片进行力度冲击测试，采用直线滑轨201、直线滑块202和驱动组件的配合，可以保证了上料和下料速度，只需要将芯片固定好后，然后采用机械化结构自动操作即可，自动化程度高。
具体的，驱动组件包括u型架204，u型架204固定在底板101的顶部，u型架204的内部固定安装有无杆气缸205，无杆气缸205上滑动连接有驱动块206，驱动块206的顶部与安装板203的底部固定连接。
本实施例中，本实用新型的驱动组件采用无杆气缸205，具有方便安装、清洁度高和便于维修等优点，可以满足带动夹具组件3移动的动力需求，因此适合作为本实用新型的驱动组件，使用时直接通过无杆气缸205带动驱动块206进行移动，依靠驱动块206带动安装板203移动即可。
具体的，送料机构2还包括限位块207和两个限位座208，限位块207固定在安装板203的底部，两个限位座208均固定在底板101的顶部，两个限位座208上均固定安装有缓冲器209。
本实施例中，在对芯片测试过程中，需要保证夹具组件3的停留位置准确，因此通过设计两个限位座208，可以保证无杆气缸205带动安装板203移动过程中，可以将夹具组件3停留在准确的位置，在通过设计限位块207和缓冲器209，可以避免安装板203与限位座208发生硬性碰撞造成磨损和产生剧烈振动，可以延长本实用新型零件的使用寿命，可以降低振动。
具体的，夹具组件3包括夹具座301，夹具座301固定在安装板203的顶部，夹具座301的顶部固定安装有挡板302，夹具座301的顶部固定安装有卡座303，夹具座301的内部固定安装有夹具气缸304，夹具气缸304的活塞杆固定安装有压块，夹具座301上可拆卸连接有调试组件305。
本实施例中，夹具组件3在送料机构2的驱动下，可以在底板101上进行往复移动，通过无杆气缸205带动夹具座301移动到机框102的外侧后，将需要测试芯片放置在卡座303上，夹具气缸304带动压块（图中遮挡未示出）将芯片进行夹持固定在卡座303上，然后在通过送料机构2带动夹具座301移动到机框102的内部，并且将夹具座301停留在准确的位置处，夹具座301的停留位置是限位块207与其中一个缓冲器209相接触的位置，通过摆钟机构4对芯片进行冲击，芯片在侧面受到冲击，由于此时芯片在夹具气缸304带动压块的情况下进行固定，由于芯片为cg和固定在cg上的传感器组成，摆钟机构4主要对传感器进行冲击，来测试传感器与cg之间的粘接强度，同时拍摄机构5对整个测试过程中拍摄记录；调试组件305是在本实用新型测试前，进行调试工作而使用，当本实用新型正式对芯片进行测试时，需要将调试组件305拆卸下。
具体的，所述调试组件（305）包括传感器底座（305a），所述传感器底座（305a）螺栓连接在夹具座（301）的顶部，所述传感器底座（305a）上固定安装有拉压力传感器（305b），所述拉压力传感器（305b）上固定安装有撞击块（305c）。
本实施例中，不需要使用调试组件305时，直接通过螺栓将传感器底座305a取下即可，调试过程中，摆钟机构4直接对撞击块305c进行撞击调试，通过拉压力传感器305b对数据进行采集记录，从而对本实用新型进行调试检测，确保正式测试工作的准确性，当调试工作完成后，将调试组件305取下即可。
具体的，摆钟机构4包括两个摆钟底座401，两个摆钟底座401均固定在底板101的顶部，两个摆钟底座401的顶部固定安装有摆臂底座402，摆臂底座402的顶部固定安装有两个支架403，两个支架403相对的一侧之间固定安装有支板404，支板404的背面固定安装有u型座405，u型座405的背面固定安装有编码器406，支板404正面通过轴承座转动连接有转动轴407，编码器406的输出轴与转动轴407的一端固定连接，转动轴407的另一端固定安装有上摆臂408，上摆臂408远离转动轴407的一端设置有螺纹销409，上摆臂408通过螺纹销409固定连接有下摆臂410，下摆臂410的远离上摆臂408的一端固定安装有摆锤411，支板404的背面固定安装有摆动电机412，摆动电机412的输出轴贯穿支板404并固定安装有电机摆臂413，电机摆臂413上固定安装有伸缩气缸414，伸缩气缸414的输出轴固定安装有接触块415。
本实施例中，其中接触块415为一个轴承，采用轴承当做接触块415可以降低摩擦，减小阻力，可以更加方便带动下摆臂410进行摆动；其中螺纹销409还可以调节下摆臂410和上摆臂408的长度，既下摆臂410和上摆臂408共同构成一个摆臂的长度，当下摆臂410和上摆臂408之间的长度调整好后，然后将螺纹销409拧紧即可，主要适用不同的测试位置；当送料机构2带动固定好芯片的夹具组件3移动到机框102内准确位置后，此时摆锤411为自然状态，既上摆臂408、下摆臂410和摆锤411均位于同一直线且垂直与底板101，并且在运动状态下，上摆臂408、下摆臂410和摆锤411同样位于同一直线上，摆钟机构4工作时，首先伸缩气缸414带动接触块415延伸，利用伸缩气缸414的活塞杆带动接触块415靠近下摆臂410的位置处，但此时接触块415并不会与下摆臂410相接触，启动摆动电机412带动电机摆臂413旋转，既带动伸缩气缸414和接触块415旋转，此时接触块415随着旋转开始与下摆臂410接触，既带动下摆臂410转动，由于上摆臂408、下摆臂410和摆锤411相互固定为一个整体且上摆臂408通过转动轴407可以转动，从而可以带动摆锤411转动，转动轴407转动的同时，通过编码器406对转动轴407的转速进行测量，接触块415在摆动电机412的带动下将摆锤411带动到一定高度后，通过伸缩气缸414带动接触块415复位，此时摆锤411少了接触块415的支撑开始回转，从而摆锤411击打在芯片的侧面，既击打到cg上传感器的侧面，同时拍摄机构5对击打过程的进行拍摄记录，从而完成了测试工作。
具体的，两个摆钟底座401的正面均固定安装有减震垫片416。
本实施例中，无杆气缸205带动安装板203移动过程中，当安装板203每次靠近两个摆钟底座401时，通过减震垫片416的作用可以降低安装板203对两个摆钟底座401的冲击，起到了缓冲作用，提高了本实用新型结构的稳定性，同时具有提高本实用新型零件的使用寿命的作用。
具体的，拍摄机构5包括相机座501，相机座501固定在底板101的顶部，相机座501上固定安装有相机架502，相机架502的顶部固定安装有basler工业相机503。
本实施例中，每次通过摆钟机构4的摆锤411对芯片进行冲击测试的同时，利用basler工业相机503对芯片受到冲击的瞬间进行拍摄，记录相关参数，然后跟编码器406记录的数据进行分析，从而可以得出芯片的冲击参数。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
1.一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：包括：
机架组件（1）；所述机架组件（1）包括底板（101），所述底板（101）的顶部固定安装有机框（102）；
送料机构（2），所述送料机构（2）固定在底板（101）上，其用于带动芯片在机框（102）内进行移动；
夹具组件（3），所述夹具组件（3）固定在送料机构（2）上，其用于将需要测试的芯片进行固定；
摆钟机构（4），所述摆钟机构（4）固定在底板（101）上，其用于对夹具组件（3）上的芯片进行冲击测试；
拍摄机构（5），所述拍摄机构（5）固定在底板（101），其用于对冲击测试中的芯片进行拍摄记录。
2.根据权利要求1所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述送料机构（2）包括两个直线滑轨（201），两个所述直线滑轨（201）均固定在底板（101）的顶部，两个所述直线滑轨（201）上均滑动连接有直线滑块（202），两个所述直线滑块（202）的顶部固定安装有安装板（203），所述送料机构（2）还包括用于带动安装板（203）进行往复移动的驱动组件。
3.根据权利要求2所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述驱动组件包括u型架（204），所述u型架（204）固定在底板（101）的顶部，所述u型架（204）的内部固定安装有无杆气缸（205），所述无杆气缸（205）上滑动连接有驱动块（206），所述驱动块（206）的顶部与安装板（203）的底部固定连接。
4.根据权利要求3所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述送料机构（2）还包括限位块（207）和两个限位座（208），所述限位块（207）固定在安装板（203）的底部，两个所述限位座（208）均固定在底板（101）的顶部，两个所述限位座（208）上均固定安装有缓冲器（209）。
5.根据权利要求4所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述夹具组件（3）包括夹具座（301），所述夹具座（301）固定在安装板（203）的顶部，所述夹具座（301）的顶部固定安装有挡板（302），所述夹具座（301）的顶部固定安装有卡座（303），所述夹具座（301）的内部固定安装有夹具气缸（304），所述夹具气缸（304）的活塞杆固定安装有压块，所述夹具座（301）上可拆卸连接有调试组件（305）。
6.根据权利要求5所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述调试组件（305）包括传感器底座（305a），所述传感器底座（305a）螺栓连接在夹具座（301）的顶部，所述传感器底座（305a）上固定安装有拉压力传感器（305b），所述拉压力传感器（305b）上固定安装有撞击块（305c）。
7.根据权利要求1所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述摆钟机构（4）包括两个摆钟底座（401），两个所述摆钟底座（401）均固定在底板（101）的顶部，两个所述摆钟底座（401）的顶部固定安装有摆臂底座（402），所述摆臂底座（402）的顶部固定安装有两个支架（403），两个所述支架（403）相对的一侧之间固定安装有支板（404），所述支板（404）的背面固定安装有u型座（405），所述u型座（405）的背面固定安装有编码器（406），所述支板（404）正面通过轴承座转动连接有转动轴（407），所述编码器（406）的输出轴与转动轴（407）的一端固定连接，所述转动轴（407）的另一端固定安装有上摆臂（408），所述上摆臂（408）远离转动轴（407）的一端设置有螺纹销（409），所述上摆臂（408）通过螺纹销（409），固定连接有下摆臂（410），所述下摆臂（410）的远离上摆臂（408）的一端固定安装有摆锤（411），所述支板（404）的背面固定安装有摆动电机（412），所述摆动电机（412）的输出轴贯穿支板（404）并固定安装有电机摆臂（413），所述电机摆臂（413）上固定安装有伸缩气缸（414），所述伸缩气缸（414）的输出轴固定安装有接触块（415）。
8.根据权利要求7所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：两个所述摆钟底座（401）的正面均固定安装有减震垫片（416）。
9.根据权利要求1所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述拍摄机构（5）包括相机座（501），所述相机座（501）固定在底板（101）的顶部，所述相机座（501）上固定安装有相机架（502），所述相机架（502）的顶部固定安装有basler工业相机（503）。
技术总结