本申请涉及通信技术领域，特别是涉及一种线损点检方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术：
随着通信技术的发展，用户对终端性能要求越来越高，终端的射频性能就是其中之一。为了保证终端具有良好的射频性能，在出厂前往往会对终端的射频性能进行测试。
传统的终端的射频性能测试方式是通过检测测试环境中每个频点的线损点结合，再人工将线损集合逐个补进线损文件中，以使用该线损文件对终端的射频性能进行检测。但由于测试环境中存在各种因素的限制，导致检测得到的线损不准确。
技术实现要素：
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高线损点检准确性的线损点检方法、装置、计算机设备和存储介质。
一种线损点检方法，所述方法包括：
控制测试设备按照第一功率发送射频信号；
接收所述测试设备发送的射频信号，并检测接收所述射频信号时的第二功率；
根据所述第一功率和所述第二功率确定当前环境的线损值；
对所述当前环境的线损值进行检验，当所述线损值满足预设条件时，所述当前环境的线损点检成功。
在一个实施例中，在所述控制测试设备按照第一功率发送射频信号之前，所述方法还包括：
获取初始线损值，将所述初始线损值自动写入属性文件；
基于所述属性文件测试测试设备的频点功率，生成所述测试设备的测试日志；
根据所述测试设备的测试日志确定所述测试设备的第一功率。
在一个实施例中，所述根据所述测试设备的测试日志确定所述测试设备的第一功率，包括：
从所述测试设备的测试日志中获取所述测试设备在各频点的发射功率；
将所述测试设备在各频点的发射功率中的最大值作为所述测试设备的第一功率。
在一个实施例中，所述对所述当前环境的线损值进行检验，包括：
将所述当前环境的线损值自动写入所述测试设备的属性文件，所述属性文件中包括所述测试设备的第一功率；
接收所述测试设备基于所述属性文件发送射频信号，并获取接收所述射频信号时的第三功率；
确定所述第一功率与所述第三功率之间的差值；
当所述第一功率与所述第三功率的差值处于预设差值范围内时，所述当前环境的线损值满足预设条件。
在一个实施例中，所述方法还包括：
当点检成功时，基于所述当前环境的线损值检测待测试终端的功率是否满足条件。
在一个实施例中，所述方法还包括：
当所述当前环境的线损值不满足预设条件时，所述当前环境的线损值点检失败。
在一个实施例中，所述方法还包括：
当点检失败时，检测所述当前环境的温度；
当所述当前环境的温度大于温度阈值时，将所述当前环境的温度调整为初始温度；
基于调整温度后的环境重新进行线损点检处理。
一种线损点检装置，所述装置包括：
控制模块，用于控制测试设备按照第一功率发送射频信号；
接收模块，用于接收所述测试设备发送的射频信号，并检测接收所述射频信号时的第二功率；
确定模块，用于根据所述第一功率和所述第二功率确定当前环境的线损值；
检验模块，用于对所述当前环境的线损值进行检验，当所述线损值满足预设条件时，所述当前环境的线损点检成功。
一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
控制测试设备按照第一功率发送射频信号；
接收所述测试设备发送的射频信号，并检测接收所述射频信号时的第二功率；
根据所述第一功率和所述第二功率确定当前环境的线损值；
对所述当前环境的线损值进行检验，当所述线损值满足预设条件时，所述当前环境的线损点检成功。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
控制测试设备按照第一功率发送射频信号；
接收所述测试设备发送的射频信号，并检测接收所述射频信号时的第二功率；
根据所述第一功率和所述第二功率确定当前环境的线损值；
对所述当前环境的线损值进行检验，当所述线损值满足预设条件时，所述当前环境的线损点检成功。
上述线损点检方法、装置、计算机设备和存储介质，通过控制测试设备按照第一功率发送射频信号，接收测试设备发送的射频信号，并检测接收射频信号时的第二功率，根据第一功率和第二功率确定当前环境的线损值，对当前环境的线损值进行检验，当线损值满足预设条件时，当前环境的线损点检成功，通过对当前测试环境产生的线损值进行检验，可保证点检数据的准确性，从而保证测试环境产生的线损值的准确性。
附图说明
图1为一个实施例中线损点检方法的应用环境图；
图2为一个实施例中线损点检方法的流程示意图；
图3为一个实施例中确定测试设备的发射功率的步骤的流程示意图；
图4为另一个实施例中对当前环境的线损值进行检验的步骤的流程示意图；
图5为另一个实施例中调整当前环境的步骤的流程示意图；
图6为其中一个实施例中线损点检方法的流程示意图；
图7为一个实施例中线损点检装置的结构框图；
图8为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本申请提供的线损点检方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，检验设备102通过网络与测试设备104进行通信。其中，检验设备102和测试设备104可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备。测试设备104的各项射频性能参数是已知的。检验设备102控制测试设备按照第一功率发送射频信号。接着，检验设备102接收所述测试设备发送的射频信号，并检测接收所述射频信号时的第二功率。检验设备102根据所述第一功率和所述第二功率确定当前环境的线损值。接着，检验设备102对所述当前环境的线损值进行检验，当所述线损值满足预设条件时，表示所述当前环境的线损点检成功。接着，检验设备102通过测试设备对待测终端进行测试，以检测待测终端的射频性能是否达到要求。
在一个实施例中，如图2所示，提供了一种线损点检方法，以该方法应用于图1中的终端为例进行说明，包括以下步骤：
步骤202，控制测试设备按照第一功率发送射频信号。
具体地，测试设备的各项射频性能是已知的，例如，测试设备的发送功率为第一功率。检验设备控制测试设备按照第一功率发送射频信号。
步骤204，接收该测试设备发送的射频信号，并检测接收该射频信号时的第二功率。
具体地，检验设备接收该测试设备发送的该射频信号，并检测自身接收该射频信号时的功率，该功率作为第二功率。
在本实施例中，测试设备可多次以第一功率发送射频信号，检验设备多次接收测试设备发送的射频信号，并获取每次接收射频信号时的功率。接着，检验设备计算多次接收射频信号时的功率的均值或最大值，将该均值或最大值作为第二功率。
步骤206，根据该第一功率和该第二功率确定当前环境的线损值。
其中，线损是指以热能形式散发的能量损失，即为电阻电导消耗的有功功率。线损值是指在测试环境中损失的值。
具体地，检验设备可计算第一功率和第二功率之间的差值，将第一功率和第二功率之间的差值作为当前环境的线损值。
步骤208，对该当前环境的线损值进行检验，当该线损值满足预设条件时，该当前环境的线损点检成功。
具体地，检验设备计算出当前环境的线损值之后，需要对该线损值进行检验，以避免线损值未经检验即进行生产测试所导致的质量问题。可控制测试设备按照第一功率发送射频信号，检验设备接收该测试设备发送的该射频信号，基于当前环境的线损值检测自身接收该射频信号时的第三功率。接着，检验设备可确定第三功率和第二功率之间的差值，当该差值属于预设差值范围内时，表示当前环境的线损值满足预设条件，则表示当前环境的线损点检成功。
上述线损点检方法中，通过控制测试设备按照第一功率发送射频信号，接收测试设备发送的射频信号，并检测接收射频信号时的第二功率，根据第一功率和第二功率确定当前环境的线损值，对当前环境的线损值进行检验，当线损值满足预设条件时，当前环境的线损点检成功，通过对当前测试环境产生的线损值进行检验，可保证点检数据的准确性，从而保证测试环境产生的线损值的准确性。
在一个实施例中，如图3所示，在控制测试设备按照第一功率发送射频信号之前，方法还包括：
步骤302，获取初始线损值，将初始线损值自动写入属性文件。
具体地，检验设备获取当前环境的初始线损值，该初始线损值可设置为0。接着，检验设备将该初始线损值写入属性文件中。
步骤304，基于属性文件测试测试设备的频点功率，生成测试设备的测试日志。
其中，测试日志是在测试过程中监控、测试结果和对测试对象的质量评估的基础，也是数据分析和过程改进的依据。该测试日志能够记录测试过程中发生的事情，能够描述测试对象的测试结果。
具体地，检验设备基于该属性文件，对测试设备的频点功率进行测试。并在完成测试时生成测试日志。进一步地，检验设备对测试设备的频点功率进行多次测试，每次测试均生成相应的测试日志。
本实施例中，检验设备对测试设备的频点功率进行多次测试，每次测试可生成对应的测试日志，也可以多次测试生成一个测试日志。
步骤306，根据测试设备的测试日志确定测试设备的第一功率。
具体地，检验设备对测试设备每次进行测试时生成的测试日志进行解析，从而确定每次测试中测试设备的发射功率。接着，检验设备根据每次测试中测试设备的发射功率，确定各发射功率的均值或最大值，将该均值或最大值作为第一功率。
本实施例中，通过获取初始线损值，将初始线损值自动写入属性文件，基于属性文件测试测试设备的频点功率，生成测试设备的测试日志，从而能够记录测试过程中发生的事件以及存在的问题。根据测试设备的测试日志确定测试设备的第一功率，能够结合测试日志中分析确定测试设备的发射功率，使得所确定的测试设备的第一功率更准确。
在一个实施例中，根据测试设备的测试日志确定测试设备的第一功率，包括：从测试设备的测试日志中获取测试设备在各频点的发射功率；将测试设备在各频点的发射功率中的最大值作为测试设备的第一功率。
具体地，检验设备确定测试设备可支持的频段，在测试设备能够支持的频段对各频点进行测试，并在测试过程中生成各频点对应的测试日志。进一步地，对该测试设备的各频点的测试可记录在同一个测试日志中。
在本实施例中，检验设备对测试设备能够支持的频段中的各频点均进行测试，并将同一个频段中的各频段的测试记录在同一个测试日志，从而得到测试设备能够支持的每个频段对应的测试日志。
接着，检验设备对该测试设备的测试日志进行解析，并从该测试日志中获取该测试设备在各频点的发射功率。进一步地，检验设备中测试日志中确定该测试设备在同一个频段中的各频点的发射功率，并将各频点的发射功率进行比较，确定出各频点对应的发射功率中的最大值。将该同一个频段中的各频点的发射功率中的最大值作为测试设备在该频段下的第一功率。
类似地，检验设备对测试设备能够支持的各频段对应的测试日志进行解析，可得到测试设备在各个频段下的第一功率
本实施例中，从测试设备的测试日志中获取测试设备在各频点的发射功率，将测试设备在各频点的发射功率中的最大值作为测试设备的第一功率，使得能够基于测试日志分析测试设备在各个频段的测试过程中出现的问题。结合测试日志中分析确定测试设备在各个频段的发射功率，使得所确定的测试设备在各个频段的的第一功率更准确。
在一个实施例中，如图4所示，对当前环境的线损值进行检验，包括：
步骤402，将当前环境的线损值自动写入测试设备的属性文件，属性文件中包括测试设备的第一功率。
具体地，检验设备可基于高通测试平台对该测试设备的射频功率进行测试。检验设备可基于高通测试平台将当前环境的线损值自动写入该测试设备的属性文件中。即该属性文件可以为caldb_net.xml文件。例如，当前线损值为l3，检验设备可基于高通测试平台将l3自动写入高通文件中。该属性文件中还包括测试设备的第一功率。该测试设备的第一功率记录在golden.xml文件中。
步骤404，接收测试设备基于属性文件发送射频信号，并获取接收射频信号时的第三功率。
具体地，检验设备控制测试设备按照第一功率发送射频信号，检验设备接收该测试设备发送的该射频信号，并基于该属性文件检测自身接收该射频信号时的功率。该属性文件中包含了当前环境的线损值，则检测设备接收射频信号时的第三功率中已经包含了当前环境的线损值。
步骤406，确定第一功率与第三功率之间的差值。
具体地，检验设备可获取属性文件中的测试设备的第一功率。即检验设备基于高通平台调用golden.xml文件，得到测试设备的第一功率。接着，检验设备可计算第一功率和第三功率之间的差值。
步骤408，当第一功率与第三功率的差值处于预设差值范围内时，当前环境的线损值满足预设条件。
其中，预设差值范围是指测试设备的发射功率和检验设备接收该测试设备发送信号时所检测到的接收功率。该预设差值范围包括整数和负数。例如，该预设差值范围为[-0.2,0.2]。
具体地，检验设备获取预设差值范围，将第一功率与第三功率的差值和该预设范围比较，确定该差值是否处于该预设差值范围内。当第一功率与第三功率的差值处于预设差值范围内时，判定当前环境的线损值满足预设条件，则可进一步判定当前环境的线损值点检成功。
当第一功率与第三功率的差值不处于预设差值范围内时，判定当前环境的线损值不满足预设条件，则可进一步判定当前环境的线损值点检失败。
例如，第一功率减第三功率的差值为0.15，或者第三功率减第一功率的差值为-0.15，-0.15和0.15均处于预设差值范围[-0.2,0.2]内，则可判定当前环境的线损值满足预设条件，即表示当前环境的线损值点检成功。
本实施例中，将当前环境的线损值自动写入测试设备的属性文件，属性文件中包括测试设备的第一功率，接收测试设备基于属性文件发送射频信号，并获取接收射频信号时的第三功率，能够基于当前环境的线损值对已知射频功率的测试设备的射频功率进行检测。确定第一功率与第三功率之间的差值，根据检测到的功率和测试设备已知的功率之间的差值是否满足预设差值范围来判断当前环境的线损值满足预设条件，从而对当前环境的线损值进行检验，避免了点检数据未经检验直接用于生产测试，导致对待测终端射频性能检测不准确的问题。
在一个实施例中，方法还包括：当点检成功时，基于当前环境的线损值检测待测试终端的功率是否满足条件。
具体地，当第一功率与第三功率的差值处于预设差值范围内时，判定当前环境的线损值满足预设条件，则可进一步判定当前环境的线损值点检成功。点检成功后，检验设备可基于当前环境的线损值对待测试终端的射频性能进行测试，以检测待测试终端的射频性能达到出厂规格。
在本实施例中，基于当前环境的线损值检测待测试终端的功率是否满足条件，包括：
将当前环境的线损值写入属性文件，基于属性文件对待测试终端进行测试，生成待测试终端的测试日志；根据待测试终端的测试日志确定待测试终端的功率；确定待测试终端的功率与第一功率之间的差异；当待测试终端的功率与第一功率的差异处于预设差异范围内时，待测试终端满足预设条件。
具体地，检验设备当前环境的线损值写入待测试终端的属性文件中。检验设备控制待测试终端按照第一功率发送射频信号，检验设备接收该待测试终端发送的该射频信号，并基于该属性文件检测自身接收该射频信号时的功率。
接着，检验设备可获取属性文件中的第一功率。检验设备可计算第一功率和待测试终端的功率之间的差值。接着，检验设备获取预设差值范围，将第一功率与待测试终端的功率的差值和该预设范围比较，确定该差值是否处于该预设差值范围内。当第一功率与待测试终端的功率的差值处于预设差值范围内时，判定该待测试终端的功率满足条件，则表示该待测试终端的射频性能达到要求。
当第一功率与待测试终端的功率的差值不处于预设差值范围内时，判定该待测试终端的功率不满足预设条件，则表示该待测试终端的射频性未达到要求。
本实施例中，当点检成功时，基于当前环境的线损值检测待测试终端的功率是否满足条件，从而在对当前环境的线损值进行检验后，基于准确的当前环境的线损值对待测试终端的射频性能进行检测，检测的结果更准确。
在一个实施例中，方法还包括：当当前环境的线损值不满足预设条件时，当前环境的线损值点检失败。
具体地，当第一功率与第三功率的差值不处于预设差值范围内时，判定当前环境的线损值不满足预设条件，则可进一步判定当前环境的线损值点检失败。例如，该预设差值范围为[-0.2,0.2]。第一功率减第三功率的差值为0.3，或者第三功率减第一功率的差值为-0.3，-0.3和0.3均不处于预设差值范围[-0.2,0.2]内，则可判定当前环境的线损值不满足预设条件，即表示当前环境的线损值点检失败。
接着，点检失败后，检验设备可基于测试日志对测试过程进行再次分析，以确定测试过程中是否出现异常。当点检失败时，可调整当前测试环境，并重新进行点检。进一步地，检验设备可对当前环境的温度进行检验，避免当前环境温度过高导致线损增加。并根据检测出的问题调整当前测试环境，并重新测试当前环境的线损值，并对检测的线损值进行检验，以保证线损点检的准确性。
在一个实施例中，如图5所示，方法还包括：
步骤502，当点检失败时，检测当前环境的温度。
具体地，当点检失败时，表示当前环境的线损值异常，以及当前的测试环境可能存在问题。当前环境的温度过高会导致线损值不断增加，则一开始检测出来的线损值不准确。则当点检失败时，检验设备可检测当前环境的温度，以判断当前环境的温度是否能够用于进行测试操作。
步骤504，当当前环境的温度大于温度阈值时，将当前环境的温度调整为初始温度。
具体地，检验设备获取温度阈值，该温度阈值为判断当前环境的温度是否适合进行测试的临界值。检验设备将检测出的当前环境的温度和温度阈值进行比较。当当前环境的温度大于温度阈值时，表示当前环境的温度过高，不适合用于进行测试，则检验设备可将通过降温等方式将当前环境的温度调整为初始温度。该初始温度为预先设置的适合用于进行测试的温度。
步骤506，基于调整温度后的环境重新进行线损点检处理。
具体地，检验设备调整当前环境的温度后，基于调整温度后的环境重新进行线损点检处理，以及对检测出的线损值进行检验。基于调整温度后的环境重新进行线损点检处理的原理与步骤202至步骤208的处理原理相同，对检测出的线损值进行检验的原理与步骤402至步骤408的处理原理相同，在此不再赘述。
本实施例中，当点检失败时，检测当前环境的温度，当当前环境的温度大于温度阈值时，将当前环境的温度调整为初始温度，基于调整温度后的环境重新进行线损点检处理，能够保证当前环境在测试过程中的正常温度，从而保证点检数据的准确性。
如图6所示，为一个实施例中在高通测试平台上实现线损点检方法的流程图。检验设备在高通测试平台界面配置已确认的环境线损值l1。接着，检验设备运行高通测试平台中的射频测试qspr金机制作工具。该金机即为测试设备，金机的数据作为测试的参照数据。检验设备点击开始执行金机的制作过程，高通测试平台自动写入caldb_net.xml属性文件，初始线损值为l1。在测试平台对金机的频点功率进行测试的过程中，测试平台自动生成高通html测试日志。检验设备解析该测试日志，得到金机频点功率测试结果p1，并将该p1保存在功率文件golden.xml中，从而完成金机的制作。
接着，检验设备基于制作好的金机对当前环境进行线损点检。检验设备运行高通测试平台中的射频qspr金机点检工具，开始点检过程。高通测试平台自动写入caldb_net.xml属性文件，初始线损值为l2＝0。在测试平台对金机的频点功率进行测试的过程中，测试平台生成高通html测试日志。检验设备解析该测试日志，得到金机环境测试功率p2。接着，高通测试平台调用功率文件golden.xml，得到p1，从而得到当前环境的线损值l3＝p1-p2，从而完成线损点检过程。
接着，检验设备基于高通测试平台对该线损值进行检验。检验设备运行高通测试平台中的射频qspr金机检验工具，开始检验过程。高通测试平台自动写入caldb_net.xml属性文件，初始线损值为l3。在测试平台对金机的频点功率进行测试的过程中，测试平台生成高通html测试日志。检验设备解析该测试日志，得到金机环境测试功率p3。接着，高通测试平台调用功率文件golden.xml，得到p1，计算功率校验差值p＝p3-p1。差值p在预设差值范围内，则点检成功，表示l3为正确的线损值，可在线损值为l3的当前环境中对待测试终端的射频性能进行测试。差值p不在预设差值范围内，则点检失败，需要对当前环境和数据进行检查，调整当前环境，重新进行点检。
在一个实施例中，提供了一种线损点检方法，方法包括：
检验设备获取初始线损值，将初始线损值自动写入属性文件。
接着，检验设备基于属性文件测试测试设备的频点功率，生成测试设备的测试日志。
接着，检验设备从测试设备的测试日志中获取测试设备在各频点的发射功率。
进一步地，检验设备将测试设备在各频点的发射功率中的最大值作为测试设备的第一功率。
接着，检验设备控制测试设备按照第一功率发送射频信号。
接着，检验设备接收测试设备发送的射频信号，并检测接收射频信号时的第二功率。
进一步地，检验设备根据第一功率和第二功率确定当前环境的线损值。
接着，检验设备将当前环境的线损值自动写入测试设备的属性文件，属性文件中包括测试设备的第一功率。
接着，检验设备接收测试设备基于属性文件发送射频信号，并获取接收射频信号时的第三功率；
进一步地，检验设备确定第一功率与第三功率之间的差值。
可选地，当第一功率与第三功率的差值处于预设差值范围内时，当前环境的线损值满足预设条件；当线损值满足预设条件时，当前环境的线损点检成功。
接着，当点检成功时，检验设备将当前环境的线损值写入属性文件，基于属性文件对待测试终端进行测试，生成待测试终端的测试日志；根据待测试终端的测试日志确定待测试终端的功率；确定待测试终端的功率与第一功率之间的差异；当待测试终端的功率与第一功率的差异处于预设差异范围内时，判定待测试终端满足预设条件。
可选地，当当前环境的线损值不满足预设条件时，当前环境的线损值点检失败；当点检失败时，检测当前环境的温度。
接着，当当前环境的温度大于温度阈值时，检验设备将当前环境的温度调整为初始温度。
进一步地，检验设备基于调整温度后的环境重新进行线损点检处理。
本实施例中，通过检测测试设备的发射功率，确定测试过程中的标准功率，即第一功率。并通过该测试设备按照标准功率发送射频信号，检测接收到该射频信号时的第二功率，根据两个功率直接的差值确定当前环境中的线损值。并基于该线损值控制该测试测试再次按照发生标准功率发送射频信号，检测接收到该射频信号时的第三功率，若检测到的第三功率和标准功率的差异在预设差值范围内，则表明当前环境的线损点检成功，保证了当前环境中的线损值的准确性。并基于准确的线损值对待测试终端进行测试，可对待测试终端的射频性能是否满足要求做出准确判断。当当前环境的线损点检失败时，调整当前环境中的温度，避免因温度高导致线损增大的问题，保证当前环境适合终端的射频性能测试，提高测试结果的可靠性。
应该理解的是，虽然图2-图6流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2-图6中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图7所示，提供了一种线损点检装置，包括：控制模块702、接收模块704、确定模块706和检验模块708，其中：
控制模块702，用于控制测试设备按照第一功率发送射频信号。
接收模块704，用于接收该测试设备发送的射频信号，并检测接收该射频信号时的第二功率。
确定模块706，用于根据该第一功率和该第二功率确定当前环境的线损值。
检验模块708，用于对该当前环境的线损值进行检验，当该线损值满足预设条件时，该当前环境的线损点检成功。
上述线损点检装置中，通过控制测试设备按照第一功率发送射频信号，接收测试设备发送的射频信号，并检测接收射频信号时的第二功率，根据第一功率和第二功率确定当前环境的线损值，对当前环境的线损值进行检验，当线损值满足预设条件时，当前环境的线损点检成功，通过对当前测试环境产生的线损值进行检验，可保证点检数据的准确性，从而保证测试环境产生的线损值的准确性。
在一个实施例中，该装置还包括：第一功率确定模块。该第一功率确定模块用于：获取初始线损值，将该初始线损值自动写入属性文件；基于该属性文件测试测试设备的频点功率，生成该测试设备的测试日志；根据该测试设备的测试日志确定该测试设备的第一功率。
本实施例中，通过获取初始线损值，将初始线损值自动写入属性文件，基于属性文件测试测试设备的频点功率，生成测试设备的测试日志，从而能够记录测试过程中发生的事件以及存在的问题。根据测试设备的测试日志确定测试设备的第一功率，能够结合测试日志中分析确定测试设备的发射功率，使得所确定的测试设备的第一功率更准确。
在一个实施例中，第一功率确定模块还用于：从该测试设备的测试日志中获取该测试设备在各频点的发射功率；将该测试设备在各频点的发射功率中的最大值作为该测试设备的第一功率。
本实施例中，从测试设备的测试日志中获取测试设备在各频点的发射功率，将测试设备在各频点的发射功率中的最大值作为测试设备的第一功率，使得能够基于测试日志分析测试设备在各个频段的测试过程中出现的问题。结合测试日志中分析确定测试设备在各个频段的发射功率，使得所确定的测试设备在各个频段的的第一功率更准确。
在一个实施例中，检验模块708还用于：将该当前环境的线损值自动写入该测试设备的属性文件，该属性文件中包括该测试设备的第一功率；接收该测试设备基于该属性文件发送射频信号，并获取接收该射频信号时的第三功率；确定该第一功率与该第三功率之间的差值；当该第一功率与该第三功率的差值处于预设差值范围内时，该当前环境的线损值满足预设条件。
本实施例中，将当前环境的线损值自动写入测试设备的属性文件，属性文件中包括测试设备的第一功率，接收测试设备基于属性文件发送射频信号，并获取接收射频信号时的第三功率，能够基于当前环境的线损值对已知射频功率的测试设备的射频功率进行检测。确定第一功率与第三功率之间的差值，根据检测到的功率和测试设备已知的功率之间的差值是否满足预设差值范围来判断当前环境的线损值满足预设条件，从而对当前环境的线损值进行检验，避免了点检数据未经检验直接用于生产测试，导致对待测终端射频性能检测不准确的问题。
在一个实施例中，该装置还包括：判断模块。该判断模块用于：当点检成功时，基于该当前环境的线损值检测待测试终端的功率是否满足条件。
本实施例中，当点检成功时，基于当前环境的线损值检测待测试终端的功率是否满足条件，从而在对当前环境的线损值进行检验后，基于准确的当前环境的线损值对待测试终端的射频性能进行检测，检测的结果更准确。
在一个实施例中，该判断模块还用于：当该当前环境的线损值不满足预设条件时，该当前环境的线损值点检失败。
在一个实施例中，该装置还包括：调整模块。该调整模块还用于：当点检失败时，检测该当前环境的温度；当该当前环境的温度大于温度阈值时，将该当前环境的温度调整为初始温度；基于调整温度后的环境重新进行线损点检处理。
本实施例中，当点检失败时，检测当前环境的温度，当当前环境的温度大于温度阈值时，将当前环境的温度调整为初始温度，基于调整温度后的环境重新进行线损点检处理，能够保证当前环境在测试过程中的正常温度，从而保证点检数据的准确性。
关于线损点检装置的具体限定可以参见上文中对于线损点检方法的限定，在此不再赘述。上述线损点检装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图8所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过wifi、运营商网络、nfc(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种线损点检方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图8中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述各线损点检方法实施例中的步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述各线损点检方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(read-onlymemory，rom)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(randomaccessmemory，ram)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(staticrandomaccessmemory，sram)或动态随机存取存储器(dynamicrandomaccessmemory，dram)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
1.一种线损点检方法，所述方法包括：
控制测试设备按照第一功率发送射频信号；
接收所述测试设备发送的射频信号，并检测接收所述射频信号时的第二功率；
根据所述第一功率和所述第二功率确定当前环境的线损值；
对所述当前环境的线损值进行检验，当所述线损值满足预设条件时，所述当前环境的线损点检成功。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述控制测试设备按照第一功率发送射频信号之前，所述方法还包括：
获取初始线损值，将所述初始线损值自动写入属性文件；
基于所述属性文件测试测试设备的频点功率，生成所述测试设备的测试日志；
根据所述测试设备的测试日志确定所述测试设备的第一功率。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试设备的测试日志确定所述测试设备的第一功率，包括：
从所述测试设备的测试日志中获取所述测试设备在各频点的发射功率；
将所述测试设备在各频点的发射功率中的最大值作为所述测试设备的第一功率。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述当前环境的线损值进行检验，包括：
将所述当前环境的线损值自动写入所述测试设备的属性文件，所述属性文件中包括所述测试设备的第一功率；
接收所述测试设备基于所述属性文件发送射频信号，并获取接收所述射频信号时的第三功率；
确定所述第一功率与所述第三功率之间的差值；
当所述第一功率与所述第三功率的差值处于预设差值范围内时，所述当前环境的线损值满足预设条件。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当点检成功时，基于所述当前环境的线损值检测待测试终端的功率是否满足条件。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当所述当前环境的线损值不满足预设条件时，所述当前环境的线损值点检失败。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当点检失败时，检测所述当前环境的温度；
当所述当前环境的温度大于温度阈值时，将所述当前环境的温度调整为初始温度；
基于调整温度后的环境重新进行线损点检处理。
8.一种线损点检装置，其特征在于，所述装置包括：
控制模块，用于控制测试设备按照第一功率发送射频信号；
接收模块，用于接收所述测试设备发送的射频信号，并检测接收所述射频信号时的第二功率；
确定模块，用于根据所述第一功率和所述第二功率确定当前环境的线损值；
检验模块，用于对所述当前环境的线损值进行检验，当所述线损值满足预设条件时，所述当前环境的线损点检成功。
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
技术总结