本发明属于电磁脉冲干扰测试技术领域，具体涉及一种电磁脉冲干扰测试方法及系统。
背景技术：
随着脉冲功率放大技术、雷达天线技术以及脉冲武器等技术的发展，电磁环境越来越复杂，数字电路越来越容易受到电磁脉冲的干扰；当电磁脉冲耦合到数字电路中时，会产生瞬时的高幅值的电压和/或电流；当所产生的电压和/或电流超过电路的承受能力时，会对数字电路造成损伤甚至损毁。因此，有必要对数字电路开展电磁脉冲干扰测试，以了解数字电路对电磁脉冲的抗干扰性。在测试时，输入至数字电路中的电磁脉冲的上升沿的上升时间需要足够快。
现有的对数字电路开展的电磁脉冲干扰测试方法中，利用高斯脉冲发生器或双指数脉冲发生器，向数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测数字电路的泄漏电流；当泄漏电流出现电流畸变或数字电路的功能出现异常时，将当前的电磁脉冲的电压作为数字电路的电磁脉冲干扰阈值。其中，泄漏电流是由测试者预先指定的待测端口对应的输出端口在电磁脉冲的的作用下所产生的泄露电流。
然而，当要求电磁脉冲的上升沿的上升时间足够快时，高斯脉冲发生器或双指数脉冲发生器的造价都比较高；并且，在实际开展测试时，还需要在数字电路与高斯脉冲发生器或双指数脉冲发生器之间设置匹配功放以及监测设备等辅助设备，从而使得现有的电磁脉冲干扰测试方法的测试成本较高。
技术实现要素：
为了解决现有技术中存在的上述问题，本发明实施例提供了一种电磁脉冲干扰测试方法及系统。
本发明要解决的技术问题通过以下技术方案实现：
第一方面，本发明实施例提供了一种电磁脉冲干扰测试方法，包括：
利用传输线脉冲测试设备，以第一初始电压和第一电压步进，向第一数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测所输入电磁脉冲的电压以及所述第一数字电路的泄漏电流；
当所述第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或所述第一数字电路的功能出现异常时，记录当前监测的电磁脉冲的电压，作为第一电压；
利用所述传输线脉冲测试设备，以第二初始电压和第二电压步进，向第二数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测所输入电磁脉冲的电压以及所述第二数字电路的泄漏电流；所述第二数字电路为与所述第一数字电路相同的电路；
当所述第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或所述第二数字电路的功能出现异常时，记录当前监测的电磁脉冲的电压，作为第二电压；
当所述第一电压和所述第二电压之差小于预设的阈值时，将所述第一电压作为所述第一数字电路和所述第二数字电路的电磁脉冲干扰阈值；
其中，所述第二初始电压，为根据所述第一电压以及预设的第一电压浮动值所计算电压区间的下限电压；所述第一电压浮动值，数倍于所述第二电压步进；所述第二电压步进小于所述第一电压步进。
在本发明的一个实施例中，所述方法还包括：
当所述第一电压和所述第二电压之差不小于预设的阈值时，利用所述传输线脉冲测试设备，以第三初始电压和第三电压步进，向第三数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测所输入电磁脉冲的电压以及所述第三数字电路的泄漏电流；所述第三数字电路为与所述第一数字电路、所述第二数字电路均相同的电路；
当所述第三数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或所述第三数字电路的功能出现异常时，将当前监测的电磁脉冲的电压，作为所述第一数字电路、所述第二数字电路以及所述第三数字电路的电磁脉冲干扰阈值；
其中，所述第三初始电压，为根据所述第二电压以及预设的第二电压浮动值所计算电压区间的下限电压；所述第二电压浮动值，小于所述第一电压浮动值，且数倍于所述第三电压步进；所述第三电压步进小于或等于所述第二电压步进，且所述第三电压步进不大于5v。
在本发明的一个实施例中，所述方法还包括：
当所述第一电压和所述第二电压之差小于预设的阈值时，判定所述第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变或所述第一数字电路的功能出现异常与累积效应无关；
当所述第一电压和所述第二电压之差不小于预设的阈值时，判定所述第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变或所述第一数字电路的功能出现异常与累积效应有关。
在本发明的一个实施例中，所述方法还包括：
判断所述第三电压和所述第二电压之差是否小于所述阈值；
当判断结果为是时，判定所述第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变或所述第二数字电路的功能出现异常与累积效应无关；
当判断结果为否时，判定所述第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变或所述第二数字电路的功能出现异常与累积效应有关。
在本发明的一个实施例中，所述待测端口包括下述端口中的一种或多种：、
电源端口、数据输入端口、数据输出端口、接地端口以及控制端口。
在本发明的一个实施例中，所述泄漏电流出现电流畸变为：畸变前后的泄漏电流的量级差不小于103。
在本发明的一个实施例中，所述第一数字电路、所述第二数字电路以及所述第三数字电路，为属于同一生产批次的电路。
在本发明的一个实施例中，所述第一电压浮动值∈[10v,100v]；所述第二电压浮动值∈[5v,10v]。
第二方面，本发明实施例提供了一种电磁脉冲干扰测试系统，包括：传输线脉冲测试设备、待测数字电路以及辅助测试设备；
其中，所述传输线脉冲测试设备，用于向所述待测数字电路输入电磁脉冲，并监测所输入的电磁脉冲的电压以及所述待测数字电路的泄漏电流；
所述辅助测试设备，用于检测所述待测数字电路的功能是否正常。
本发明的有益效果：
本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试方法中，利用传输线脉冲测试设备向待测试的第一数字电路的待测端口和第二数字电路的待测端口输入电磁脉冲；该传输线脉冲测试设备通常为用于模拟静电放电测试的，造价比高斯脉冲发生器和双指数脉冲发生器都要低，所输出的脉冲信号的上升沿的上升时间可以小于1纳秒；因此，利用传输线脉冲测试设备所发出的电磁脉冲信号来进行电磁脉冲干扰测试，能够达到与利用高斯脉冲发生器或双指数脉冲发生器进行电磁脉冲干扰测试相同的测试效果；并且，传输线脉冲测试设备通常都提供有插针盘，利用与插针盘匹配的插针以及简单的导线，便可以将数字电路的待测端口和输出端口与tlp测试系统进行连接，无需额外的匹配设备；另外，传输线脉冲测试设备中通常都集成有多种监测设备，可以对所输入的电磁脉冲的电压以及待测数字电路的泄漏电流进行监测，无需额外的监测设备；综上，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试方法，相较于现有的电磁脉冲干扰测试方法，测试成本较低。
并且，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试方法中，首先对第一数字电路进行测试，得到可能为电磁脉冲干扰阈值的第一电压；然后，在第一电压的基础上，设置电压浮动范围，对电路相同的第二数字电路进行测试，得到可能为电磁脉冲干扰阈值的第一电压；若第一电压和第二电压之差小于预设的阈值时，说明第一电压和第二电压基本相同，证明第一数字电路出现异常与累积效应无关；若第一电压和第二电压之差不小于预设的阈值时，则证明第一数字电路出现异常与累积效应有关；可见，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试方法，可以测试得到与累积效应无关的电磁脉冲干扰阈值，相较于现有的电磁脉冲干扰测试方法的测试结果，具有更高的可信性。
以下将结合附图及实施例对本发明做进一步详细说明。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种电磁脉冲干扰测试方法的流程示意图；
图2是本发明实施例提供的另一种电磁脉冲干扰测试方法的流程示意图；
图3是本发明实施例提供的一种电磁脉冲干扰测试系统的结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明做进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。
为了降低电磁脉冲干扰测试的测试成本，本发明实施例提供了一种电磁脉冲干扰测试方法及系统。如图1所示，该方法可以包括以下步骤：
s10：利用传输线脉冲测试设备，以第一初始电压和第一电压步进，向第一数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测所输入电磁脉冲的电压以及第一数字电路的泄漏电流。
其中，第一数字电路可以为数字芯片，也可以为利用多个数字芯片所搭建的数字电路；传输线脉冲测试设备通常也称为tlp(transmissionlinepulse，传输线脉冲)测试系统；该tlp测试系统中，集成有传输线脉冲发生器，还集成有smu(sourcemeasureunit，源测试单元)以及示波器等多种监测设备；这样，利用tlp测试系统中集成的监测设备，可以对输入至待测端口的电磁脉冲的电压进行监测，也可以对第一数字电路的泄漏电流进行监测；并且，该tlp测试系统提供有插针盘；这样，利用与插针盘匹配的插针以及导线，便可以将该第一数字电路的待测端口和输出端口与tlp测试系统进行连接，无需考虑额外的匹配。
另外，第一数字电路的待测端口存在多种。示例性的，第一数字电路的待测端口可以包括下述端口中的一种或多种：
电源端口、数据输入端口、数据输出端口、接地端口以及控制端口。
并且，数字电路的输出端口可以由测试者根据待测端口的类型而预先指定。
该步骤中，第一初始电压和第一电压步进可以由测试者根据测试经验预先确定。
另外，在实际应用中，为了使所监测的电磁脉冲的电压与第一数字电路的泄漏电流在时间上形成对应关系，可以根据所监测的电磁脉冲的电压与第一数字电路的泄漏电流，生成i-v曲线数据。
s20：当第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或第一数字电路的功能出现异常时，记录当前监测的电磁脉冲的电压，作为第一电压。
其中，泄漏电流出现电流畸变可以是畸变前后的电流的量级差不小于103。例如，畸变前的泄漏电流为0.1ma，畸变后的泄漏电流为1a。
该步骤中，第一数字电路的功能是否出现异常，可以根据辅助测试设备对第一数字电路的测试结果确定。可以理解的是，在辅助测试设备对第一数字电路的功能是否正常进行测试的过程中，传输线脉冲测试设备可以暂停向第一数字电路的待测端口输入电磁脉冲。在实际应用中，可以选取能够表征第一数字电路的功能是否正常的一个或多个观测端口，在所选取端口上加载相应的辅助测试设备。在实际应用中，辅助测试设备可以包括示波器、smu和/或万用表等测试仪表。
可以理解的是，控制传输线脉冲测试设备和辅助测试设备分时工作的任务，可以由人工实现，也可以由预先编写的自动化测试脚本来实现。
s30：利用传输线脉冲测试设备，以第二初始电压和第二电压步进，向第二数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测所输入电磁脉冲的电压以及第二数字电路的泄漏电流；其中，第二初始电压，为根据第一电压以及预设的第一电压浮动值所计算电压区间的下限电压；第一电压浮动值，数倍于第二电压步进；第二电压步进小于第一电压步进。
这里，第二数字电路为与第一数字电路相同的电路。
举例而言，假设第一电压是100v，第一电压步进为5v，第一电压浮动值是50v；那么，根据第一电压以及预设的第一电压浮动值所计算电压区间为[50v,150v]，第二初始电压便为50v；此外，第一电压步进为5v，那么第二电压步进至少是小于5v的。
可以理解的是，第二数字电路的待测端口，与第一数字电路的待测端口相同。
s40：当第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或第二数字电路的功能出现异常时，记录当前监测的电磁脉冲的电压，作为第二电压。
该步骤中，第二数字电路的泄漏电流是否出现电流畸变的检测方式，以及第二数字电路的功能是否出现异常检测方式，与第一数字电路相同，此处不再赘述。
s50：当第一电压和第二电压之差小于预设的阈值时，将第一电压作为第一数字电路和第二数字电路的电磁脉冲干扰阈值。
这里，预设的阈值可以理解为判定第一电压和第二电压是否接近的依据；这样，当第一电压和第二电压之差小于预设的阈值时，可以理解为第二电压接近于第一电压；当第一电压和第二电压之差不小于预设的阈值时，可以理解为第二电压与第一电压并不接近。
相应的，当第一电压和第二电压之差小于预设的阈值时，即当第二电压接近于第一电压时，可以判定第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第一数字电路出现的异常与累积效应无关；反之，则判定第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第一数字电路出现的异常与累积效应有关。这里，所谓的累积效应是指第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第一数字电路出现异常是由于多次向第一数字电路输入电磁脉冲的累积效果，而非单次向第一数字电路输入电磁脉冲所产生的效果。
可以理解的是，与累积效应无关的电磁脉冲干扰阈值，对于后续指导相同或相似电路的研发、测试以及生产等环节具有重要的参考意义。而与累积效应有关的电磁脉冲干扰阈值，由于产生累积效果的过程的多变性，对于后续指导相同或相似电路的研发、测试以及生产等环节的参考意义并不很大。
本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试方法中，利用传输线脉冲测试设备向待测试的第一数字电路的待测端口和第二数字电路的待测端口输入电磁脉冲；该传输线脉冲测试设备通常为用于模拟静电放电测试的，造价比高斯脉冲发生器和双指数脉冲发生器都要低，所输出的脉冲信号的上升沿的上升时间可以小于1纳秒；因此，利用传输线脉冲测试设备所发出的电磁脉冲信号来进行电磁脉冲干扰测试，能够达到与利用高斯脉冲发生器或双指数脉冲发生器进行电磁脉冲干扰测试相同的测试效果；并且，传输线脉冲测试设备通常都提供有插针盘，利用与插针盘匹配的插针以及简单的导线，便可以将数字电路的待测端口和输出端口与tlp测试系统进行连接，无需额外的匹配设备；另外，传输线脉冲测试设备中通常都集成有多种监测设备，可以对所输入的电磁脉冲的电压以及待测数字电路的泄漏电流进行监测，无需额外的监测设备；综上，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试方法，相较于现有的电磁脉冲干扰测试方法，测试成本较低。
并且，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试方法中，首先对第一数字电路进行测试，得到可能为电磁脉冲干扰阈值的第一电压；然后，在第一电压的基础上，设置电压浮动范围，对电路相同的第二数字电路进行测试，得到可能为电磁脉冲干扰阈值的第一电压；若第一电压和第二电压之差小于预设的阈值时，说明第一电压和第二电压基本相同，证明第一数字电路出现异常与累积效应无关；若第一电压和第二电压之差不小于预设的阈值时，则证明第一数字电路出现异常与累积效应有关；可见，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试方法，可以测试得到与累积效应无关的电磁脉冲干扰阈值，相较于现有的电磁脉冲干扰测试方法的测试结果，具有更高的可信性。
另外，如图2所示，本发明实施例提供的电磁脉冲干扰测试方法，还可以包括以下步骤：
s60：当第一电压和第二电压之差不小于预设的阈值时，利用传输线脉冲测试设备，以第三初始电压和第三电压步进，向第三数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测所输入电磁脉冲的电压以及第三数字电路的泄漏电流。
其中，第三数字电路为与第一数字电路、第二数字电路均相同的电路；第三数字电路的待测端口，与第一数字电路以及第三数字电路的待测端口均相同。
此外，第三初始电压，为根据第二电压以及预设的第二电压浮动值所计算电压区间的下限电压；第二电压浮动值，小于第一电压浮动值，且数倍于第三电压步进；第三电压步进小于或等于第二电压步进，且第三电压步进不大于5v。
举例而言，假设第二电压是120v，第二电压步进为1v，第二电压浮动值是5v；那么，根据第二电压以及第二电压浮动值所计算电压区间为[115v,125v]，第二初始电压便为115v；此外，第二电压步进为1v，那么第三电压步进可以等于1v，也可以是大于1v且小于5v中的任一电压值。
s70：当第三数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或第三数字电路的功能出现异常时，将当前监测的电磁脉冲的电压，作为第一数字电路、第二数字电路以及第三数字电路的电磁脉冲干扰阈值。
该步骤中，第三数字电路的泄漏电流是否出现电流畸变的检测方式，以及第三数字电路的功能是否出现异常检测方式，与第一数字电路、第二数字电路均相同，此处不再赘述。
可以理解的是，相比于第一电压和第二电压，给第三数字电路输入的电磁脉冲的电压已经很接近真实的、与累积效应无关的电磁脉冲干扰阈值；并且，由于第三电压步进较小，因此，当第三数字电路的泄漏电流出现电流畸变，且第三数字电路的功能出现异常时，可以直接将当前输入至第三数字电路中的电磁脉冲的电压，作为最终的电磁脉冲干扰阈值。这样，即使测试得到的电磁脉冲干扰阈值与真实的电磁脉冲干扰阈值存在一点差距，也并不会影响后续指导相同或相似电路的研发、测试以及生产等环节时的指导效果。
另外，本发明实施例中，通过判断第三电压和第二电压之差是否小于预设的阈值，可以获知第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第二数字电路的功能出现异常与累积效应是否相关；具体的，当判断结果为是时，判定第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第二数字电路的功能出现异常与累积效应无关；当判断结果为否时，判定第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变或第二数字电路的功能出现异常与累积效应有关。
可选地，为了减小测试误差，上述的第一数字电路、第二数字电路以及第三数字电路，可以为属于同一生产批次的电路。
可以理解的是，属于同一生产批次的电路，电路中的器件通常也属于同一加工批次。
另外，作为示例，上述的第一电压浮动值可以从[10v,100v]的区间中选取；第二电压浮动值可以从[5v,10v]的区间中选取。
进一步的，作为优选的示例，本发明实施例提供了一组优选的测试参数。该组测试参数中，第一初始电压可以为0v，第一电压步进可以为5v；第一电压浮动值可以为50v，第二电压步进可以为1v；第二电压浮动值可以为5v，第三电压步进可以为1v。另外，在实际应用中，利用传输线脉冲测试设备向各数字电路输入电磁脉冲时，电磁脉冲的上限电压可以由测试者根据经验确定。
可以理解的是，当测试得到电磁脉冲抗干扰阈值后，可以进一步的对数字电路中的芯片进行剖片，了解芯片的损伤样貌和损伤位置，从而获知出该数字电路的易损伤点。这样，若数字电路的电磁脉冲抗干扰阈值较低，可以通过在易损伤点处增加保护电路，提高数字电路对于电磁脉冲的抗干扰性。
相应于上述的电磁脉冲干扰测试方法，本发明实施例还提供了一种电磁脉冲干扰测试系统，如图3所示，该系统可以包括：传输线脉冲测试设备301、待测数字电路302以及辅助测试设备303；
其中，该传输线脉冲测试设备301，具体为tlp测试系统，用于向待测数字电路302输入电磁脉冲，并监测所输入的电磁脉冲的电压以及待测数字电路302的泄漏电流；
该辅助设备303，用于检测待测数字电路302的功能是否正常。具体的，当待测数字电路的泄漏电流出现电流畸变，传输线脉冲测试设备301暂停向待测电路输入电磁脉冲，此时，辅助设备303检测待测数字电路302的功能是否正常。也就是说，该系统中，传输线脉冲测试设备301和辅助测试设备303是分时工作的。在实际应用中，辅助设备303可以包括示波器、smu和/或万用表等仪表。
另外，待测数字电路302，可以包括多个相同的数字电路。
需要说明的是，对于系统实施例而言，由于其每个组成部分的具体功能在方法实施例中已经进行过详细描述，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
需要说明的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行接合和组合。
尽管在此结合各实施例对本申请进行了描述，然而，在实施所要求保护的本申请过程中，本领域技术人员通过查看所述附图、公开内容、以及所附权利要求书，可理解并实现所述公开实施例的其他变化。在权利要求中，“包括”(comprising)一词不排除其他组成部分或步骤，“一”或“一个”不排除多个的情况。单个处理器或其他单元可以实现权利要求中列举的若干项功能。相互不同的从属权利要求中记载了某些措施，但这并不表示这些措施不能组合起来产生良好的效果。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
1.一种电磁脉冲干扰测试方法，其特征在于，包括：
利用传输线脉冲测试设备，以第一初始电压和第一电压步进，向第一数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测所输入电磁脉冲的电压以及所述第一数字电路的泄漏电流；
当所述第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或所述第一数字电路的功能出现异常时，记录当前监测的电磁脉冲的电压，作为第一电压；
利用所述传输线脉冲测试设备，以第二初始电压和第二电压步进，向第二数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测所输入电磁脉冲的电压以及所述第二数字电路的泄漏电流；所述第二数字电路为与所述第一数字电路相同的电路；
当所述第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或所述第二数字电路的功能出现异常时，记录当前监测的电磁脉冲的电压，作为第二电压；
当所述第一电压和所述第二电压之差小于预设的阈值时，将所述第一电压作为所述第一数字电路和所述第二数字电路的电磁脉冲干扰阈值；
其中，所述第二初始电压，为根据所述第一电压以及预设的第一电压浮动值所计算电压区间的下限电压；所述第一电压浮动值，数倍于所述第二电压步进；所述第二电压步进小于所述第一电压步进。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当所述第一电压和所述第二电压之差不小于预设的阈值时，利用所述传输线脉冲测试设备，以第三初始电压和第三电压步进，向第三数字电路的待测端口输入电磁脉冲，并监测所输入电磁脉冲的电压以及所述第三数字电路的泄漏电流；所述第三数字电路为与所述第一数字电路、所述第二数字电路均相同的电路；
当所述第三数字电路的泄漏电流出现电流畸变，或所述第三数字电路的功能出现异常时，将当前监测的电磁脉冲的电压，作为所述第一数字电路、所述第二数字电路以及所述第三数字电路的电磁脉冲干扰阈值；
其中，所述第三初始电压，为根据所述第二电压以及预设的第二电压浮动值所计算电压区间的下限电压；所述第二电压浮动值，小于所述第一电压浮动值，且数倍于所述第三电压步进；所述第三电压步进小于或等于所述第二电压步进，且所述第三电压步进不大于5v。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当所述第一电压和所述第二电压之差小于预设的阈值时，判定所述第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变或所述第一数字电路的功能出现异常与累积效应无关；
当所述第一电压和所述第二电压之差不小于预设的阈值时，判定所述第一数字电路的泄漏电流出现电流畸变或所述第一数字电路的功能出现异常与累积效应有关。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
判断所述第三电压和所述第二电压之差是否小于所述阈值；
当判断结果为是时，判定所述第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变或所述第二数字电路的功能出现异常与累积效应无关；
当判断结果为否时，判定所述第二数字电路的泄漏电流出现电流畸变或所述第二数字电路的功能出现异常与累积效应有关。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测端口包括下述端口中的一种或多种：、
电源端口、数据输入端口、数据输出端口、接地端口以及控制端口。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述泄漏电流出现电流畸变为：畸变前后的泄漏电流的量级差不小于103。
7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一数字电路、所述第二数字电路以及所述第三数字电路，为属于同一生产批次的电路。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一电压浮动值∈[10v,100v]；所述第二电压浮动值∈[5v,10v]。
9.一种电磁脉冲干扰测试系统，其特征在于，包括：传输线脉冲测试设备、待测数字电路以及辅助测试设备；
其中，所述传输线脉冲测试设备，用于向所述待测数字电路输入电磁脉冲，并监测所输入的电磁脉冲的电压以及所述待测数字电路的泄漏电流；
所述辅助测试设备，用于检测所述待测数字电路的功能是否正常。
技术总结