用于电缆的连接的测试装置和用于测试电缆的方法与流程

专利2022-06-29  75


本发明涉及一种用于电缆的连接的测试装置和一种用于测试电缆的方法。



背景技术:

用于测试双线电缆的测试装置是公知的。在电缆束及其零件的生产中,即,在单根导线和电缆的生产中,对导线和电缆的测试通常是必要的。因此,一方面可以直接在生产电导线和电缆之后进行检查,并且/或者在对制造完成的电缆束终检时进行必要的检查。

在公知的测试装置的情况下,为了将电缆与电子测试设备电连接,电缆或者电缆端头或者电缆芯线需要通过插接连接与测试装置连接。因此待插入的电缆的端头或者电缆的端头处的插头会受到磨损。这样做的缺点是,电缆的端头的插接循环的次数,即电缆的端头或电缆的芯线的端头被允许插入的次数是非常有限的或者甚至只有一次,即电缆的端头仅允许通过插接连接进行连接并且仅允许被插接一次。因此,将电缆与测试装置通过插接连接进行电连接是有缺点的。



技术实现要素:

本发明的任务是使用在结构上尽可能简单的方式来建立一种用于电缆与测试装置的电连接,而无需在电缆与测试装置之间建立插接连接。

该任务通过独立权利要求的主题来完成。在从属权利要求、说明书和附图中说明了本发明的有利改进。特别地,一种权利要求类型的独立权利要求也可以类似于另一种权利要求类型的从属权利要求而进一步改进。

根据本发明的测试装置是一种用于电缆与用于电缆测试的电子测试设备的连接的测试装置,其中,测试装置包括第一磁性固定件,第一磁性固定件用于通过磁力将电缆的端头固定在其支承面上,并且其中,第一磁性固定件被构造成用于将电缆与用于电缆测试的电子测试设备电连接。

这样做的优点在于,不必为了在电缆与测试装置或者测试装置的电子测试设备之间建立电连接而在测试装置与电缆或者电缆的端头之间建立插接连接。电子测试设备可以是测试装置的一部分,或者可以是电连接于测试装置的外部电子测试设备。因此,电缆的端头或者电缆的端头处的插头不会因为用于将电缆电连接到测试装置或者测试装置的电子测试设备的插接连接而产生磨损。因此,电缆或者电缆的端头或者有少量的允许插接循环次数的带插头的电缆可以借助测试装置进行电气测试。此外,可以在技术上简单且快速地建立电缆和测试装置之间的连接。此外,可以在技术上进行简单且快速地拆卸电缆和测试装置之间的连接。而且,电缆的任何部分都不必须被夹紧或者说都未被夹紧,因此可靠地防止了其磨损和/或损坏。

根据本发明的方法是一种用于测试电缆的方法,其中,测试装置包括第一磁性固定件,第一磁性固定件用于通过磁力将电缆的第一端头固定在其支承面上,其中,方法包括以下步骤:将电缆的第一端头放置在第一磁性固定件的支承面上,从而将电缆的第一端头与用于测试电缆的电子测试设备电连接;并且通过电子测试设备将测试信号发送到电缆中以测试电缆。

这样做的优点在于,不必为了在电缆与测试装置或者测试装置的电子测试设备之间建立电连接而在测试装置与电缆或者电缆的端头之间建立插接连接。电子测试设备可以是测试装置的一部分,或者可以是电连接到测试装置的外部电子测试设备。因此,电缆的端头或者电缆的端头处的插头不会因为用于将电缆电连接到测试装置或者测试装置的电子测试设备的插接连接而产生磨损。因此,电缆或者电缆的端头或者有少量的允许插接循环次数的带插头的电缆可以通过测试装置进行电气测试。由此可以在技术上简单且快速地建立电缆和测试装置之间的连接。另外,可以在技术上简单且快速地再次拆卸电缆和测试装置之间的连接。

根据测试装置的一个实施例,测试装置还包括第二磁性固定件,其中,第二磁性固定件被构造成用于通过磁力将电缆的端头固定在其支承面上,其中,磁性固定件被构造成用于固定双线电缆的两条芯线端头。这样的优点是也可以在技术上简单地测试双线电缆。此外,电缆的两个相对端头可以在技术上简单地电连接到测试装置,并且可以测试电缆的通路。因此,在电缆的测试可能性的种类方面,测试装置具有非常高的多样性。

根据测试装置的一个实施例,测试装置具有第一挡板,其中,相对于第一磁性固定件,第一挡板被布置成使得电缆的端头可以布置在第一磁性固定件的支承面上并与第一挡板接触,使得预定长度的电缆端头位于第一磁性固定件的支承面上。由此可以确保相同长度的电缆(电缆的端头)始终位于相应的磁体或者磁性固定件的支承面上。此外,可以在技术上简单地比较不同电缆的多种测试或测量。此外,测试装置的阻抗可以在技术上特别容易地协调于电缆的阻抗。

根据测试装置的一个实施例,第一磁性固定件和/或第二磁性固定件布置在金属板上,其中,第一磁性固定件特别地与第二磁性固定件电绝缘。这样做的优点是,可以增强电磁力,通过该电磁力能将电缆的一个或多个端头固定于一个或多个磁性固定件的支承面上。

根据测试装置的一个实施例,测试装置具有中间隔板,其中,中间隔板布置成使得两个分别布置在磁性固定件的支承面上的电缆的端头通过中间隔板而彼此分隔。这样做的优点是,在技术上简单地实现了电缆的端头之间或者在磁性固定件的支承面之间的物理分隔或机械分隔。

根据测试装置的一个实施例,测试装置被构造成可以使中间隔板被另一中间隔板替换,使得中间隔板的材料可以匹配于电缆的阻抗。这样做的优点是,测试装置的阻抗可以在技术上特别容易地匹配于电缆的阻抗。因此,电缆或者电缆的性能能够被特别精确地测试或测量。

根据测试装置的一个实施例,测试装置具有电子测试设备。总的来说这是有利的,因为不需要另外的元件和另外的电连接。这通常会减少布线成本。

根据该方法的一个实施例,测试装置还包括第二磁性固定件,第二磁性固定件用于通过磁力将电缆的第二端头固定在其支承面上,其中,方法还包括以下步骤:将电缆的第二端头放置在测试装置的第二磁性固定件的支承面上,从而将电缆的第二端头与电子测试设备电连接。这样做的优点是,还在技术上简单地测试双线电缆。此外,通过这种方法可以在技术上简单地将电缆的两个相对端头电连接到测试装置,并且可以在技术上简单地测试电缆的通路。

根据该方法的一个实施例,第一端头和第二端头是双线电缆的两根芯线的端头。这样做的优点是,可以在技术上特别简单地测试双线电缆。

根据该方法的一个实施例,测试信号包括高频信号。因此可以特别地针对信号传输在技术上简单地对电缆进行测试。

根据该方法的一个实施例,测试信号可以被用于确定电缆的散射参数。这样做的优点是,可以特别全面地精确地测试或测量电缆。

根据该方法的一个实施例,测试信号包含用于时域反射仪的信号。这样做的优点是,只需将电缆的一个端头连接到测试装置,而不必将电缆的两个端头都连接到测试装置。

根据该方法的一个实施例,测试装置的中间隔板被构造成可替换的,其中,方法还包括以下步骤:移除测试装置的中间隔板;并且将一个中间隔板插入测试装置中,其中,所插入的中间隔板的材料匹配于电缆的阻抗。这样做的优点是,测试装置的阻抗可以在技术上特别简单地匹配于电缆的阻抗。因此,电缆或者电缆的性能可以被特别精确地测试或测量。

附图说明

在下文中使用参考附图来说明本发明的有利实施例。各图为:

图1示出根据本发明的测试装置的一个实施例的立体图;并且

图2示出图1中的测试装置的俯视图。

附图仅是示意性的视图并仅用于说明本发明。相同或效果相同的元件通常设置有相同的附图标记。

具体实施方式

图1示出了根据本发明的测试装置10的一个实施例的立体图。图2示出了图1中的测试装置10的俯视图。

测试装置10被构造成用于测试电缆40。为此,测试装置10具有电子测试设备。测试装置10也可以不具有电子测试设备,而是电连接于外部电子测试设备。在这种情况下,测试装置10是一种用于电缆40与外部电子测试设备或外部测量设备之间的电连接的测试适配器。

测试装置10具有第一磁性固定件20和第二磁性固定件21。每个磁性固定件20、21均具有一个磁体。优选地,磁体是永磁体,以便没有电流干扰电缆40的测试或测量。

然而,也可以设想,测试装置10仅具有单个磁性固定件20、21。

磁性固定件20、21通过中间隔板30彼此分隔。两个磁性固定件20、21被布置在相同的水平面或者相同的高度上。测试装置10具有分别在中间隔板30附近相对于中间隔板30平行地延伸的两个凹部。在图2中,在每个凹部的端头处可以看到磁体或者磁性固定件20、21的一部分。各个磁性固定件20、21的略超过1/4是未被覆盖的。各个磁性固定件20、21的其余部分被测试装置10的壳体覆盖。各个磁性固定件20、21的这种裸露部分用作支承面。在各个磁性固定件20、21的支承面上放置有待测试的电缆40的端头55、56。

电缆40的端头55、56分别具有插接触点。然而,这些插接触点没有与测试装置10机械连接,而是使电缆40的相应的端头55、56的插接触点被磁性地固定在磁性固定件20、21的支承面上。

磁性固定件20、21或者磁性固定件20、21的外边缘可以布置成使支承面直接连接中间隔板30。在中间隔板30和支承面之间也可以存在间隔。例如,间隔可以为大约0.5cm至大约1.0cm,特别是大约0.75cm。

电缆40的端头55、56具有触点,例如mqs-触点(在机动车中用于插接连接的微型四锁系统)。电缆40的端头55、56具有可以以磁性方式吸引的材料。因此,电缆40的端头55、56被磁性地固定在相应的磁性固定件20、21的相应的支承面上,而不必在触点和测试装置10之间建立插接连接。特别地,由于不需要插接连接,因此可靠地防止了接触部件在与弹簧销钉接触时被损坏。

在图2中的凹部的上端或者支承面的上端分别构造有测试装置10的挡板35、36。挡板35、36分别基本上与支承面垂直地延伸。挡板35、36通常竖直地延伸。挡板35、36用于使电缆40或者电缆40的端头55、56沿着其主伸展方向对准。在图2中,相应的挡板35、36用于使电缆40的端头55、56上下对准。磁性固定件20、21均被制造成大致圆形,其中,仅相应的磁性固定件20、21的略大于约1/4未被测试装置10的壳体覆盖,并构成磁性固定件20、21相应的支承面。

磁性固定件20、21分别至少在支承面的区域中具有导电表面。第一磁体或第二磁体的导电表面与相应的电缆40的(非绝缘的)端头55、56接触,并且通过这种方式在电缆40的相应的端头55、56和测试装置10的电子测试器件之间建立电连接。

图1示出了双线电缆40的两个端头55、56如何布置在测试装置10的磁性固定件20、21上。在每个磁性固定件20、21上布置有端头55、56,确切地说是相应的芯线50、51的端头55、56处的触点。两个端头55、56是电缆40的两条芯线50、51的两端55、56。

通过将电缆40的端头55、56放置在支承面上,电缆40的端头55、56或者芯线50、51的端头55、56的插接触点或者电缆40的端头55、56的插接触点不会受到磨损。特别地,在测试装置10的电子测试设备和电缆40之间建立电连接不需要插接过程。

磁性固定件20、21被一起布置在金属板上,其中两个磁性固定件20、21彼此电绝缘。因而磁体或者说磁性固定件20、21的磁吸引力增加。

在两个支承面之间布置有中间隔板30。中间隔板30从支承面的高度向上延伸,使得当电缆40的端头55、56被布置在磁性固定件20、21的支承面上时,中间隔板30位于电缆40的两个端头55、56之间。可以说中间隔板30位于磁性固定件20、21的两个支承面之间。特别地,磁性固定件20、21能够被布置并构造成相对于中间隔板30对称。

中间隔板30的材料影响测试装置10的阻抗。中间隔板30的材料可以匹配于电缆40的阻抗。也就是说,可以选择这样一种用于中间隔板30的材料,使得测试装置10的阻抗尽可能精确地与电缆40的阻抗相协调。

中间隔板30可以是可替换的或可移除的。这意味着,可以将所安装的测试装置10的第一中间隔板30移除,并且可以将与第一中间隔板30不同的第二中间隔板30安装在两个支承面之间。例如,这可以通过插接连接来完成。磁性紧固也是可设想的。

测试装置10的电子测试设备被构造成用于将一个或多个测试信号发送到电导线中。测试信号可以包括低频信号、中频信号和/或高频信号。特别地,在高频信号的情况下,测试装置10的阻抗与电缆40的阻抗的调谐是重要的。这意味着,测试装置10或者说电子测试设备与电缆40之间的导线阻抗应尽可能恒定。

磁性固定件20、21上的芯线50、51的两个端头55、56之间的距离也可以匹配于电缆40的阻抗。磁性固定件20、21的材料也可以匹配于电缆40的阻抗。同样的情况也适用于磁性固定件20、21的磁体的直径。此外,电缆40的两条芯线50、51的距离可以影响阻抗。通过无遮蔽双绞线的解绞可以使磁性固定件20、21的阻抗差特别地小于待测试的电缆40在开始时的阻抗差。在时域测量的情况下,磁性固定件20、21在测量结果或测试结果中仅作为附加的电长度而可见。

在相应的磁性固定件20、21的中间可以分别布置有螺钉,在磁性固定件的背离支承面的端头分别附接有与电缆40相适应或者相匹配的阻抗。

测试信号可以包括用于时域反射仪(timedomainreflectometry,tdr)信号。测试信号可以包括用于确定散射参数(s参数,例如幅度和相位)的信号。特别地,在这种情况下可以考虑衰减。

双线电缆40可以是例如无遮蔽双绞线电缆(utp电缆)。也可以设想,电缆40的固定在磁性固定件20、21上并且电连接到电子测试设备的两个端头55、56是单个电缆40的两个相对端头。特别地,在这种情况下也可以执行电缆40的通路检验。

由于上面详细描述的设备和方法是实施例,因此本领域技术人员通常可以对其进行广泛修改而不脱离本发明的范围。特别地,仅示例性地选择了单个元件的机械布置和尺寸比例。

附图标记列表

10测试装置

20、21磁性固定件

30中间隔板

35、36挡板

40电缆

50、51电缆芯线

55、56电缆芯线的端头


技术特征:

1.一种用于电缆(40)与用于测试所述电缆(40)的电子测试设备的连接的测试装置(10),

所述测试装置(10)包括第一磁性固定件(20),所述第一磁性固定件(20)用于通过磁力将所述电缆(40)的端头(55、56)固定在所述第一磁性固定件(20)的支承面上,并且

其中,所述第一磁性固定件(20)被构造成用于电连接所述电缆(40)和用于测试所述电缆(40)的所述电子测试设备。

2.根据权利要求1所述的测试装置(10),其中,

所述测试装置(10)还包括第二磁性固定件(21),其中,所述第二磁性固定件(21)被构造成用于通过磁力将所述电缆(40)的端头(55、56)固定在所述第二磁性固定件(21)的支承面上,

其中,所述磁性固定件(21)被构造成用于固定双线电缆(40)的两根芯线(50、51)的端头(55、56)。

3.根据权利要求1或2所述的测试装置(10),其中,

所述测试装置(10)具有第一挡板(35),其中,相对于所述第一磁性固定件(20),所述第一挡板(35)被布置成使得所述电缆(40)的所述端头(55、56)能够被布置在所述第一磁性固定件(20)的所述支承面上并能够被布置成与所述第一挡板(35、36)接触,使得所述电缆(40)的预定长度的所述端头(55、56)位于所述第一磁性固定件(20)的所述支承面上。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的测试装置(10),其中,

所述第一磁性固定件(20)和/或所述第二磁性固定件(21)布置在金属板上,其中,特别地,所述第一磁性固定件(20)与所述第二磁性固定件(21)电绝缘。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的测试装置(10),其中,

所述测试装置(10)具有中间隔板(30),其中,所述中间隔板(30)被布置成使得两个分别布置在所述磁性固定件(20、21)的所述支承面上的所述电缆(40)的端头(55、56)通过所述中间隔板(30)而彼此分隔。

6.根据权利要求5所述的测试装置(10),其中,所述测试装置(10)被构造成使得所述中间隔板(30)能够被另一中间隔板(30)替换,从而使所述中间隔板(30)的材料能够匹配于所述电缆(40)的阻抗。

7.根据前述权利要求中任一项所述的测试装置(10),其中,

所述测试装置(10)包括所述电子测试设备。

8.一种用于测试电缆(40)的方法,

其中,测试装置(10)包括第一磁性固定件(20),所述第一磁性固定件(20)用于通过磁力将所述电缆(40)的第一端头(55、56)固定在其支承面上,

其中,所述方法包括以下步骤:

将所述电缆(40)的所述第一端头(55、56)放置在所述测试装置(10)的所述第一磁性固定件(20)的所述支承面上,从而将所述电缆(40)的第一端头(55、56)与用于测试所述电缆(40)的电子测试设备电连接;并且

通过用于测试所述电缆(40)的所述电子测试设备将测试信号发送到所述电缆(40)中。

9.根据权利要求8所述的方法,其中,

所述测试装置(10)还包括第二磁性固定件(21),所述第二磁性固定件(21)用于通过磁力将所述电缆(40)的第二端头(55、56)固定在其支承面上,该方法还包括以下步骤:

将所述电缆(40)的所述第二端头(55、56)放置在所述测试装置(10)的所述第二磁性固定件(21)的所述支承面上,从而将所述电缆(40)的所述第二端头(55、56)与所述电子测试设备电连接。

10.根据权利要求8或9所述的方法,其中,

所述第一端头(55、56)和所述第二端头(55、56)是双线电缆(40)的两根芯线(50、51)的端头。

11.根据权利要求8至10中任一项所述的方法,其中,

所述测试信号包括高频信号。

12.根据权利要求8至11中任一项所述的方法,其中,所述测试信号具有用于确定所述电缆(40)的散射参数的信号。

13.根据权利要求8至12中任一项所述的方法,其中,

所述测试信号包括用于时域反射仪的信号。

14.根据权利要求8至13中任一项所述的方法,其中,

所述测试装置(10)的所述中间隔板(30)被构造成可替换的,其中,所述方法还包括以下步骤:

移除所述测试装置(10)的所述中间隔板(30);

将一个中间隔板(30)插入测试装置(10)中,其中,插入的所述中间隔板(30)的材料匹配于所述电缆(40)的阻抗。

技术总结
本发明涉及一种用于电缆(40)与用于测试电缆(40)的电子测试设备的连接的测试装置(10),其中,测试装置(10)包括用于通过磁力将电缆(40)的端头(55、56)固定在其支承面上的第一磁性固定件(20),并且其中,第一磁性固定件被构造成用于电连接电缆(40)和用于测试电缆(40)的电子测试设备。

技术研发人员:米夏埃尔·弗兰克
受保护的技术使用者:利萨·德雷克塞迈尔有限责任公司
技术研发日:2019.12.02
技术公布日:2020.06.09

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