本发明涉及显示领域，尤其涉及一种oled显示屏及oled显示装置。
背景技术：
为了实现更加极致的全面屏效果，柔性oled显示屏逐步采用cop(chiponpi)封装技术。cop封装技术是通过一定的温度压力，将驱动芯片(ic)直接绑定于显示面板上，随后进行柔性电路板的绑定。产品在后续的电性测试、信赖性测试或生产过程中可能出现失效问题，往往需要拆除柔性电路板后进行celltest来判定，以确定失效原因是驱动芯片异常、柔性电路板异常，还是oled显示屏异常导致。
请结合图1，在进行celltest时，由于驱动芯片3a的控制信号线与像素驱动电路2a电性连接，此时实现驱动芯片3a输出的控制信号线(虚线圈出的部分线路)所连接逻辑电路的mos管(mosfet，金属氧化物半导体场效应晶体管，驱动芯片内部的元件)非高阻态，celltest设备5a的测试信号强灌时容易导致控制信号线损伤烧毁，导致celltest失败。为避免驱动芯片对celltest的影响，摘除驱动芯片是可行的办法，但很难在摘除驱动芯片的同时确保像素驱动电路完好。
技术实现要素：
本发明提供一种提高检测效率的oled显示屏及oled显示装置。
本发明提供一种oled显示屏，所述oled显示屏包括显示面板及用于控制所述显示面板的工作状态的控制电路，所述控制电路包括像素驱动电路、驱动芯片及电连接元件；所述显示面板包括测试衬垫，所述驱动芯片设置于所述显示面板；所述测试衬垫与所述像素驱动电路电性连接，所述驱动芯片通过所述电连接元件与所述像素驱动电路电性连接。
进一步的，所述驱动芯片包括信号输入端和信号输出端，所述显示面板包括与所述信号输出端电性连接的第一信号衬垫，所述电连接元件为柔性电路板且包括导电线路，所述导电线路电性连接所述测试衬垫和所述第一信号衬垫，所述驱动芯片通过所述第一信号衬垫、导电线路及测试衬垫与所述像素驱动电路电性连接。
进一步的，所述导电线路包括第一衬垫、第二衬垫及电性连接所述第一衬垫和第二衬垫的金属引线，所述第一衬垫与所述测试衬垫电性接触，所述第二衬垫与所述第一信号衬垫电性接触。
进一步的，所述信号输入端和所述信号输出端位于所述驱动芯片靠近所述第一信号衬垫的一侧；或所述信号输入端位于所述驱动芯片靠近所述第一信号衬垫的一侧，所述信号输出端位于所述驱动芯片远离所述第一信号衬垫的一侧。
进一步的，所述驱动芯片包括信号输入端和信号输出端，所述显示面板包括与所述驱动芯片的信号输出端电性连接的第一信号衬垫及电性连接于所述像素驱动电路和所述测试衬垫之间的电路的第二信号衬垫，所述电连接元件为柔性电路板且包括导电线路，所述导电线路电性连接所述第一信号衬垫和所述第二信号衬垫。
进一步的，所述导电线路包括第一衬垫、第二衬垫及电性连接所述第一衬垫和第二衬垫的金属引线，所述第一衬垫与所述测试衬垫电性接触，所述第二衬垫与所述第一信号衬垫电性接触。
进一步的，所述显示面板包括两个第一信号衬垫及两个第二信号衬垫，两个第一信号衬垫位于两个第二信号衬垫之间。
进一步的，所述显示面板包括与所述信号输入端电性连接的第三信号衬垫，所述柔性电路板包括第四衬垫，所述第四衬垫与所述第三信号衬垫电性接触。
进一步的，所述显示面板包括两个第一信号衬垫、多个第三信号衬垫及两个测试衬垫，所述第三信号衬垫位于两个第一信号衬垫之间，所述第一信号衬垫位于两个测试衬垫之间。
本发明还提供一种oled显示装置，所述oled显示装置包括如前所述oled显示屏。
本发明中，通过电连接元件实现驱动芯片与像素驱动电路的连接，在进行显示屏电学测试时只需拆除电连接元件，即可使驱动芯片与像素驱动电路的电性连接断开，使得显示屏电学测试时测试信号不会通过驱动芯片，因而无需拆除驱动芯片，从而能够简化测试过程，快速准确地检测出异常部分并分析失效原因，提高检测效率。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
图1是现有技术中进行显示屏电学测试的电路示意图。
图2是本发明oled显示屏的第一实施方式的示意图。
图3是图2所示的oled显示屏的显示面板、像素驱动电路及驱动芯片的示意图。
图4是图2所示的oled显示屏的电连接元件的示意图。
图5是图2所示的oled显示屏进行显示屏电学测试的电路示意图。
图6是本发明oled显示屏的第二实施方式的示意图。
图7是图6所示的oled显示屏的显示面板、像素驱动电路及驱动芯片的示意图。
图8是图6所示的oled显示屏的电连接元件的示意图。
图9是本发明oled显示屏的控制电路的第三实施方式的示意图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施方式进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施方式中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置的例子。
在本发明使用的术语是仅仅出于描述特定实施方式的目的，而非旨在限制本发明。除非另作定义，本发明使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明说明书以及权利要求书中使用的“第一”“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“多个”或者“若干”表示两个及两个以上。除非另行指出，“前部”、“后部”、“下部”和/或“上部”等类似词语只是为了便于说明，而并非限于一个位置或者一种空间定向。“包括”或者“包含”等类似词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而且可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
本发明提供一种oled显示屏，所述oled显示屏包括显示面板及用于控制所述显示面板的工作状态的控制电路，所述控制电路包括像素驱动电路、驱动芯片及电连接元件；所述显示面板包括测试衬垫，所述驱动芯片设置于所述显示面板；所述测试衬垫与所述像素驱动电路电性连接，所述驱动芯片通过所述电连接元件与所述像素驱动电路电性连接。通过电连接元件实现驱动芯片与像素驱动电路的连接，在进行显示屏电学测试时只需拆除电连接元件，即可使驱动芯片与像素驱动电路的电性连接断开，测试信号不会通过驱动芯片，因而无需拆除驱动芯片，从而能够简化测试过程，快速准确地检测出异常部分并分析失效原因，提高检测效率。
请结合图2至图4，本实施方式中，oled显示屏包括显示面板1(图2显示的为绑定区，显示区则未显示)、像素驱动电路2、驱动芯片3及电连接元件4，所述像素驱动电路2及驱动芯片3设置于所述显示面板1，所述电连接元件4连接至所述显示面板1，例如通过焊接方式实现机械连接和电性连接。所述像素驱动电路2用于与oled显示屏内部像素的电极(例如阴极和阳极)进行电性连接。
本实施方式中，所述显示面板1包括测试衬垫10、第一信号衬垫11、第二信号衬垫12及第三信号衬垫13。所述测试衬垫10、第一信号衬垫11、第二信号衬垫12的数量为两个，所述第三信号衬垫13的数量为多个。所述测试衬垫10分别与像素驱动电路2电性连接，所述第一信号衬垫11、第三信号衬垫13分别与所述驱动芯片3电性连接，所述第二信号衬垫12电性连接于像素驱动电路2和测试衬垫10之间的电路。
所述驱动芯片3包括多个信号输入端及两个信号输出端，所述信号输入端和所述信号输出端位于所述驱动芯片3靠近所述第一信号衬垫11的一侧，从而有利于简化显示面板1上的走线。所述第一信号衬垫11与所述信号输出端电性连接，所述第三信号衬垫13与所述信号输入端电性连接。
所述测试衬垫10、第一信号衬垫11、第二信号衬垫12及第三信号衬垫13排成一列，所述第三信号衬垫13位于两个第一信号衬垫11之间，两个第一信号衬垫11位于两个第二信号衬垫12之间，两个第二信号衬垫12位于两个测试衬垫10之间。可选的，测试衬垫10与相邻的第二信号衬垫12之间的距离大于第一信号衬垫11与相邻的第二信号衬垫12之间的距离，且大于第一信号衬垫11与相邻的第三信号衬垫13之间的距离，同时也大于相邻的两个第三信号衬垫13之间的距离。两个测试衬垫10位于最外侧，便于显示屏电学测试时进行接线，避免测试探头与其他衬垫短接，影响测试的准确度；测试衬垫10与相邻的第二信号衬垫12之间的距离较大，可进一步降低短接的可能性。
所述第一信号衬垫11通过电连接元件4与所述第二信号衬垫12电性连接，从而实现驱动芯片3的信号输出端与像素驱动电路2的电性连接。本实施方式中，所述电连接元件4为柔性电路板，所述柔性电路板包括导电线路40及第四衬垫41，所述导电线路40电性连接所述第一信号衬垫11和所述第二信号衬垫12。所述导电线路40包括第一衬垫401、第二衬垫402、第三衬垫403及电性连接所述第二衬垫402和第三衬垫403的金属引线404，所述第一衬垫401与所述测试衬垫10电性接触，所述第二衬垫402与所述第一信号衬垫11电性接触，所述第三衬垫403与所述第二信号衬垫12电性接触，所述第四衬垫41与所述第三信号衬垫13电性接触。可选的，电性接触通过焊接方式实现。本实施方式中，所述第一衬垫401、第二衬垫402、第三衬垫403及第四衬垫41均为铜箔，所述金属引线404为铜走线。当然，本实施方式中也可以不设置第一衬垫401。在其他实施方式中，电连接元件也可以是柔性线缆等能够实现电性连接的元件代替。
第一信号衬垫11和第二信号衬垫12通过第二衬垫402、第三衬垫403及金属引线404实现电性连接，而测试衬垫10通过第一信号衬垫11和第二信号衬垫12与驱动芯片3电性连接，因此在进行显示屏电学测试时，只需拆除电连接元件4，即可使驱动芯片3与像素驱动电路2的电性连接断开，测试信号不会通过驱动芯片3，因而无需拆除驱动芯片3。请结合图5，在拆除电连接元件4后，通过celltest设备5对像素进行测试，由于无需拆除驱动芯片3，有利于简化测试过程，快速准确地检测出异常部分并分析失效原因，提高检测效率。
请结合图6至图8，在第二实施方式中，显示面板1包括测试衬垫10、第一信号衬垫11及第三信号衬垫13，而未设置第二信号衬垫。测试衬垫10及第一信号衬垫11的数量均为两个，第三信号衬垫13的数量为多个，所述第三信号衬垫13位于两个第一信号衬垫11之间，所述第一信号衬垫11位于两个测试衬垫10之间。
所述驱动芯片3包括多个信号输入端及两个信号输出端，所述信号输入端位于所述驱动芯片3靠近所述第一信号衬垫11的一侧，所述信号输出端位于所述驱动芯片3远离所述第一信号衬垫11的一侧。所述第一信号衬垫11电性连接所述信号输出端和所述测试衬垫10，所述第三信号衬垫13与所述信号输入端电性连接。所述驱动芯片3通过所述第一信号衬垫11、导电线路40及测试衬垫10与所述像素驱动电路2电性连接。
所述第一信号衬垫11通过导电线路40与测试衬垫10电性连接。本实施方式中，导电线路40包括第一衬垫401、第二衬垫402及电性连接第一衬垫401和第二衬垫402的金属引线404。第一衬垫401与所述测试衬垫10电性接触，第二衬垫402与第一信号衬垫11电性接触，从而实现第一信号衬垫11与测试衬垫10的电性连接。第四衬垫41与第三信号衬垫13电性接触，从而实现对驱动芯片的信号输入。
第一信号衬垫11和测试衬垫10通过第一衬垫401、第二衬垫402及金属引线404实现电性连接，从而将与第一信号衬垫11电性连接的驱动芯片3电性连接至像素驱动电路2，因此在进行显示屏电学测试时，只需拆除电连接元件4，即可使驱动芯片与像素驱动电路的电性连接断开，测试信号不会通过驱动芯片3，因而无需拆除驱动芯片3，有利于简化测试过程，快速准确地检测出异常部分并分析失效原因，提高检测效率。
请结合图9，在第三实施方式中，控制电路的结构大致与图6所示的控制电路类似，区别主要在于，驱动芯片3的信号输入端及信号输出端均位于驱动芯片3靠近第一信号衬垫11的一侧，从而有利于走线。本实施方式的oled显示屏与图6所示的oled显示屏的相同的结构不再重复描述
此外，本发明还提供一种oled显示装置，其包括前述任一实施方式所述的oled显示屏。所述oled显示装置例如为手机、平板电脑、笔记本电脑、电视机、显示器等具有显示屏的电子设备。
本发明通过电连接元件实现驱动芯片与像素驱动电路的连接，在进行显示屏电学测试时只需拆除电连接元件，即可使驱动芯片与像素驱动电路的电性连接断开，测试信号不会通过驱动芯片，因而无需拆除驱动芯片，从而能够简化测试过程，快速准确地检测出异常部分并分析失效原因，提高检测效率。
以上所述仅是本发明的较佳实施方式而已，并非对本发明做任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施方式揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案的范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施方式，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施方式所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
1.一种oled显示屏，其特征在于，所述oled显示屏包括显示面板及用于控制所述显示面板的工作状态的控制电路，所述控制电路包括像素驱动电路、驱动芯片及电连接元件；
所述显示面板包括测试衬垫，所述驱动芯片设置于所述显示面板；
所述测试衬垫与所述像素驱动电路电性连接，所述驱动芯片通过所述电连接元件与所述像素驱动电路电性连接。
2.根据权利要求1所述的oled显示屏，其特征在于，所述驱动芯片包括信号输入端和信号输出端，所述显示面板包括与所述信号输出端电性连接的第一信号衬垫，所述电连接元件为柔性电路板且包括导电线路，所述导电线路电性连接所述测试衬垫和所述第一信号衬垫，所述驱动芯片通过所述第一信号衬垫、导电线路及测试衬垫与所述像素驱动电路电性连接。
3.根据权利要求2所述的oled显示屏，其特征在于，所述导电线路包括第一衬垫、第二衬垫及电性连接所述第一衬垫和第二衬垫的金属引线，所述第一衬垫与所述测试衬垫电性接触，所述第二衬垫与所述第一信号衬垫电性接触。
4.根据权利要求2所述的oled显示屏，其特征在于，所述信号输入端和所述信号输出端位于所述驱动芯片靠近所述第一信号衬垫的一侧；
或所述信号输入端位于所述驱动芯片靠近所述第一信号衬垫的一侧，所述信号输出端位于所述驱动芯片远离所述第一信号衬垫的一侧。
5.根据权利要求1所述的oled显示屏，其特征在于，所述驱动芯片包括信号输入端和信号输出端，所述显示面板包括与所述驱动芯片的信号输出端电性连接的第一信号衬垫及电性连接于所述像素驱动电路和所述测试衬垫之间的电路的第二信号衬垫，所述电连接元件为柔性电路板且包括导电线路，所述导电线路电性连接所述第一信号衬垫和所述第二信号衬垫。
6.根据权利要求5所述的oled显示屏，其特征在于，所述导电线路包括第一衬垫、第二衬垫及电性连接所述第一衬垫和第二衬垫的金属引线，所述第一衬垫与所述测试衬垫电性接触，所述第二衬垫与所述第一信号衬垫电性接触。
7.根据权利要求5所述的oled显示屏，其特征在于，所述显示面板包括两个第一信号衬垫及两个第二信号衬垫，两个第一信号衬垫位于两个第二信号衬垫之间。
8.根据权利要求2至7中任一项所述的oled显示屏，其特征在于，所述显示面板包括与所述信号输入端电性连接的第三信号衬垫，所述柔性电路板包括第四衬垫，所述第四衬垫与所述第三信号衬垫电性接触。
9.根据权利要求8所述的oled显示屏，其特征在于，所述显示面板包括两个第一信号衬垫、多个第三信号衬垫及两个测试衬垫，所述第三信号衬垫位于两个第一信号衬垫之间，所述第一信号衬垫位于两个测试衬垫之间。
10.一种oled显示装置，其特征在于，所述oled显示装置包括如权利要求1至9中任一项所述oled显示屏。
技术总结