本申请涉及显示技术领域，具体涉及一显示面板的检测方法及检测装置。
背景技术：
显示面板在制作过程中，需要利用量测机台对包括显示面板的半成品及成品在内的待量测产品进行量测以获取显示面板的检测信息，然后根据检测信息对显示面板进行修复。在显示面板的阵列制程、成盒制程、模组制程等多道制程中，包含了众多的检测站点以及修补站点，由于针对修补后的产品未进行单独管控，而是混合在无异常产品中集中后流，因此，在后制程的检测站点进行检测时，前制程中存在不良或经过修补的显示面板存在较高的漏放风险。
技术实现要素：
本申请实施例提供一显示面板的检测方法及检测装置，以解决现有技术中，在后制程的检测站点进行检测时，前制程中存在不良的显示面板存在较高漏放率的技术问题。
本申请提供了一种显示面板的检测方法，其包括：
提供一待检测显示面板；
存储所述待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据；
对所述第一检测数据和所述第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合；
基于所述第一数据集合对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
在本申请提供的显示面板的检测方法中，所述存储所述待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据的步骤之前还包括：
通过多个量测机台对所述待检测显示面板进行第一制程检测，若所述待检测显示面板存在缺陷，则所述量测机台生成相应的第一检测数据；
修补机台基于每一所述第一检测数据对所述待检测显示面板进行修补，并生成相应的第一修补数据。
在本申请提供的显示面板的检测方法中，所述第一数据集合包括待检测显示面板标识、检测机台站点、修补机台站点、缺陷类型以及相应的缺陷坐标。
在本申请提供的显示面板的检测方法中，所述基于所述第一数据集合对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测的步骤包括：
获取至少一缺陷类型；
基于所述第一数据集合中对应所述缺陷类型的信息，对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
在本申请提供的显示面板的检测方法中，所述基于所述第一数据集合对所述待检测显示面板进行第二制程检测的步骤包括：
获取至少一检测机台站点或修补机台站点；
基于所述第一数据集合中对应所述检测机台站点或修补机台站点的信息，对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
在本申请提供的显示面板的检测方法中，每一所述缺陷类型、所述检测机台站点以及所述修补机台站点均对应一检测配方。
在本申请提供的显示面板的检测方法中，所述对所述第一检测数据和所述第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合的步骤之前，还包括对所述第一检测数据和相应所述第一修补数据进行冗余处理，所述冗余处理的步骤包括：
对每一所述第一检测数据和相应所述第一修补数据进行比对；
若所述第一检测数据与相应所述第一修补数据的缺陷信息一致，则保留所述第一检测数据或相应所述第一修补数据。
相应的，本申请提供一种显示面板的检测装置，所述检测装置包括：
存储模块，所述存储模块用于存储所述待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据；
数据处理模块，所述数据处理模块用于对所述第一检测数据和所述第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合；
第二制程检测模块，所述第二制程检测模块用于基于所述第一数据集合对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
在本申请提供的显示面板的检测装置中，所述检测装置还包括：
第一制程检测模块，所述第一制程检测模块用于对待检测显示面板进行第一制程检测，以获得所述待检测显示面板相应的第一检测数据；
第一制程修补模块，所述第一制程修补模块用于基于所述第一检测数据对所述待检测显示面板进行修补，并生成相应的第一修补数据。
在本申请提供的检测装置中，所述检测装置还包括比对模块，所述比对模块用于对每一所述第一检测数据和相应所述第一修补数据进行比对；若所述第一检测数据与相应所述第一修补数据的缺陷信息一致，则保留所述第一检测数据或相应所述第一修补数据。
本申请提供一种显示面板的检测方法及检测装置，通过存储待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据，并对第一检测数据和第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合，然后基于该第一数据集合对第二制程后的待检测显示面板进行检测。该方案可以对第二制程后的待检测显示面板进行加强检测，降低了待检测显示面板在第二制程中的不良漏放率，提高了面板良率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的显示面板的检测方法的第一流程示意图；
图2是图1中步骤104的第一流程示意图；
图3是图1中步骤104的第二流程示意图；
图4是本申请实施例提供的显示面板的检测方法的第二流程示意图；
图5是本申请实施例提供的显示面板的检测方法的第三流程示意图；
图6是图5中步骤301的流程示意图；
图7是本申请实施例提供的显示面板的检测装置的第一结构示意图；
图8是图7中第二制程检测模块的第一结构示意图；
图9是图7中第二制程检测模块的第二结构示意图；
图10是本申请实施例提供的显示面板的检测装置的第二结构示意图；
图11是本申请实施例提供的显示面板的检测装置的第三结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”和“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”和“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征，因此不能理解为对本申请的限制。
本申请实施例提供的显示面板的检测方法通过存储待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据；并对第一检测数据和第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合；然后，基于该第一数据集合对第二制程后的待检测显示面板进行检测。本申请实施例可以基于第一数据集合对第二制程后的待检测显示面板进行加强检测，降低了待检测显示面板在第二制程中的不良漏放率，提高了面板良率。
以下进行详细介绍。
请参阅图1，图1是本申请实施例提供的显示面板的检测方法的第一流程示意图。如图1所示，该显示面板的检测方法包括以下步骤：
101、提供一待检测显示面板。
其中，该待检测显示面板可以是显示面板的半成品或显示面板成品，比如衬底基板、阵列基板、彩膜基板或者成盒后的显示面板等，本申请实施例对此不作限定。
102、存储所述待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据。
其中，第一制程可以是显示面板在生产过程中经历的阵列基板制程、彩膜基板制程或者成盒制程。第一检测数据包括但不限于待检测显示面板的标识、检测机台站点、检测时间、检测机台的标识、检出的缺陷类型以及缺陷的位置信息(如缺陷的坐标)等信息。第一修补数据包括但不限于待检测显示面板的标识、修补机台站点、修补时间、修补机台的标识、修补的缺陷类型以及缺陷的位置信息(如缺陷的坐标)等信息。其中，缺陷类型是实际生产中待检测显示面板可能存在的缺陷，比如电性不良、存在破损、亮点或暗点等。
需要说明的是，本申请实施例中提及的“标识”和“站点”可根据实际要求进行设置，本申请对此不做具体限定。其中，“站点”可以理解为，工厂对不同类型的检测机台或修补机台进行划分时产生的区域标识或型号标识，可根据实际情况进行设定。
此外，在一些实施例中，第一检测数据中的缺陷类型以及缺陷坐标与相应第一修补数据中的缺陷类型以及缺陷坐标相同。但是，在另一些实施例中，第一检测数据中的缺陷坐标与相应第一修补数据中的缺陷坐标相同；第一检测数据中的缺陷类型与相应第一修补数据中的缺陷类型不同。可以理解的是，待检测显示面板经过修补之后，由于发生了制程的变化，可能造成新的不良，因此，修补后的缺陷类型可能会进行相应的调整。比如，基于实际的生产统计，经过某一修补站点修补后的待检测显示面板淡线不良比例较高，则经过该修补站点修补的待检测显示面板的第一修补数据还包括修补后可能造成的缺陷类型及其缺陷位置信息。
103、对所述第一检测数据和所述第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合。
具体的，通过对多个第一检测数据和相应第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合。其中，第一数据集合包括但不限于待检测显示面板标识、检测机台站点及其对应的缺陷类型和缺陷坐标、修补机台站点及其对应的缺陷类型和缺陷坐标等信息。
104、基于所述第一数据集合对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
具体的，检测机台对经过第二制程后的待检测显示面板进行检测时，通过读取待检测显示面板相应的第一数据集合，并根据该第一数据集合中包括的缺陷类型及缺陷位置对待检测显示面板进行检测。其中，检测机台可以是自动画面检测机；第二制程可以是显示面板生产过程中经历的阵列基板制程、彩膜基板制程、成盒制程或者模组制程。
需要说明的是，由于在第一制程中存在缺陷并经过修补的待检测显示面板未被单独管控，而是混合在无异常产品中集中后流，因此，检测机台是在对所有待检测显示面板进行统一检测的基础上，基于第一数据集合对在第一制程中存在缺陷的待检测显示面板在相应缺陷位置处进行进一步的加强检测，进而降低了待检测显示面板在第二制程中的不良漏放率。
进一步的，在一些实施例中，若第一数据集合中关于待检测显示面板的信息较多，而检测机台能够读取的信息有限，则可以设定优先检测顺序，即在检测机台中选择相应的检测机台站点、修补机台站点或缺陷类型，对第一数据集合中包含对应检测机台站点、修补机台站点或缺陷类型的待检测显示面板进行加强检测。
具体的，在一些实施例中，请参阅图2，步骤104包括：
1041、获取至少一缺陷类型。
具体的，检测机台基于第一数据集合，将第一制程中收集的所有缺陷类型分别呈现在界面，以供操作人员选取。其中，该缺陷类型可以是线性不良、电性不良、存在破损、亮点或暗点等，且可以通过编号或者编码在界面进行显示，本申请对此不作限定。
可以理解的是，根据实际生产中的统计数据，在第一制程中出现某种缺陷类型的待检测显示面板，在经过修补并完成第二制程后，该缺陷类型再次出现的风险较高。则可以在检测机台端勾选相应的缺陷类型，使得检测机台获取该缺陷类型。
1042、基于所述第一数据集合中对应所述缺陷类型的信息，对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
检测机台获取该缺陷类型后，对第一数据集合中包含该缺陷类型的待检测显示面板在相应缺陷坐标处进行加强检测，该方案可以防止单一待检测显示面板在第一数据集合中的信息过多造成过检，在降低漏放率的同时提高检测效率。
在一些实施例中，具体的，请参阅图3，步骤104包括：
1043、获取至少一检测机台站点或修补机台站点。
具体的，检测机台基于第一数据集合，将第一制程中收集的所有检测机台站点、修补机台站点分别呈现在界面，以供操作人员选取。
可以理解的是，待检测显示面板在经过修补工之后，由于发生了制程的变化，可能造成新的不良产生。比如，根据实际生产中的统计数据，经过某一修补站点修补后的待检测显示面板淡线不良比例较高。因此，操作人员可以在检测机台端勾选相应的检测机台站点或修补机台站点，检测机台获取该检测机台站点或修补机台站点。
1044、读取所述第一数据集合中对应所述获取检测机台站点或修补机台站点的数据，对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
具体的，检测机台获取该检测机台站点或修补机台站点后，对第一数据集合中包含该检测机台站点或修补机台站点的待检测显示面板在相应缺陷坐标处进行加强检测。该方案可以防止单一待检测显示面板在第一数据集合中的信息过多造成过检，在降低漏放率的同时提高检测效率。
需要说明的是，检测机台的机台系统中针对每一获取的缺陷类型、检测机台站点或者修补机台站点均对应设置有一检测配方。该检测配方的具体内容包括相应待检测显示面板的机台参数、机构位置参数，机台检测参数等和待检测显示面板相关的基本参数，不同型号的待检测显示面板的检测配方不同。通过在不同的检测配方中设定相应的拦捡参数或检测参数，在检测过程中，检测机台根据相应检测配方和实际检测的值进行比对，以判定待检测显示面板是否存在相应的缺陷类型。
本申请实施例提供一种显示面板的检测方法，通过存储待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据，并对第一检测数据和第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合，然后基于该第一数据集合对第二制程后的待检测显示面板进行检测。该方案可以对第二制程后的待检测显示面板进行加强检测，降低了待检测显示面板在第二制程中的不良漏放率，提高了面板良率。
请参阅图4，图4是本申请实施例提供的显示面板的检测方法的第二流程示意图。如图4所示，本申请实施例提供的显示面板的检测方法与图1中显示面板的检测方法的区别在于，在步骤102之前，还包括步骤201和步骤202，具体如下：
201、通过多个量测机台对所述待检测显示面板进行第一制程检测，若所述待检测显示面板存在缺陷，则所述量测机台生成相应的第一检测数据；
具体的，在第一制程后，每一量测机台针对一面板缺陷类型对待检测显示面板进行检测。当多个量测机台分别对同一待检测显示面板进行相关缺陷检测时，若待检测显示面板存在相应的缺陷，则量测机台生成相应的第一检测数据。该第一检测数据包括待检测显示面板标识、检测机台站点、检测时间以及相应的缺陷信息。该缺陷信息可以包括缺陷类型、产生缺陷的位置坐标和缺陷等级等。其中，缺陷类型是实际生产中待检测显示面板可能存在的缺陷，比如电性不良、存在破损、亮点或暗点等。此外，第一检测数据的生成采用现有技术即可，在此不再赘述。
202、修补机台基于每一所述第一检测数据对所述待检测显示面板进行修补，并生成相应的第一修补数据。
具体的，修补机台读取对应的第一检测数据，并根据该第一检测数据中包括的各缺陷信息对待检测显示面板进行修补，同时生成第一修补数据。第一修补数据包括但不限于待检测显示面板的标识、修补机台站点、修补时间、修补机台的标识、修补的缺陷类型以及缺陷的位置信息(如缺陷的坐标)等信息。
请参阅图5，图5是本申请实施例提供的显示面板的检测方法的第三流程示意图。如图5所示，本申请实施例提供的显示面板的检测方法与图1中显示面板的检测方法的区别在于，在步骤103之前，还包括步骤301，即对第一检测数据和相应第一修补数据进行冗余处理。
具体的，请参阅图6，步骤301包括：
3011、对每一所述第一检测数据和相应所述第一修补数据进行比对。
具体的，对多个第一检测数据及对应第一修补数据中的缺陷信息进行比对。该缺陷信息包括待检测显示面板的缺陷类型以及产生缺陷的位置等。
3012、若所述第一检测数据与相应所述第一修补数据的缺陷信息一致，则保留所述第一检测数据或相应所述第一修补数据。
可以理解的是，待检测显示面板经过修补之后，由于发生了制程的变化，可能造成新的不良产生。因此，修补后的缺陷类型会进行相应的调整。比如，基于实际的生产数据统计，经过某一修补站点修补后的待检测显示面板淡线不良比例较高，则经过该修补站点修补的显示面板的第一修补数据还包括修补后可能造成的缺陷类型及其缺陷位置。但是，在一些实施例中，第一检测数据中的缺陷类型以及缺陷位置与相应第一修补数据中的缺陷类型以及缺陷位置一致。则在对第一检测数据和第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合的过程中，虽然第一检测数据中包含的缺陷类型及缺陷位置与相应第一修补数据中的缺陷类型及缺陷位置一致，但由于检测机台站点和修补机台站点不同，相同的缺陷信息会重复合并于第一数据集合中。因此，对每一第一检测数据和相应第一修补数据进行比对，若第一检测数据与相应第一修补数据的缺陷信息一致，则保留第一检测数据或相应第一修补数据。
本申请实施例通过在对第一检测数据和第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合的步骤之前，对第一检测数据和相应第一修补数据进行冗余处理，去除检测和修补过程中产生的冗余数据，能够有效避免第二制程后检测机台对待检测显示面板的同一缺陷进行重复检测，节约了产能，提高了检测效率。
为了更好地实施以上方法，本申请实施例还提供一种显示面板的检测装置。
请参阅图7，图7是本申请实施例提供的显示面板的检测装置的第一结构示意图。该检测装置100包括：存储模块40、数据处理模块50和第二制程检测模块60，具体如下：
(1)存储模块40；
存储模块40用于存储待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据。
其中，第一检测数据包括但不限于待检测显示面板的标识、检测机台站点、检测时间、检测机台的标识、检出的缺陷类型以及缺陷的位置信息(如缺陷的坐标)等信息。第一修补数据包括但不限于待检测显示面板的标识、修补机台站点、修补时间、修补机台的标识、修补的缺陷类型以及缺陷的位置信息(如缺陷的坐标)等信息。
此外，第一检测数据和第一修补数据可以存储在对应的存储文件夹中，本申请对此不做具体限定。
(2)数据处理模块50；
数据处理模块50用于对第一检测数据和第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合。
其中，第一数据集合包括但不限于待检测显示面板标识、检测机台站点及其对应的缺陷类型和缺陷位置、修补机台站点及其对应的缺陷类型和缺陷位置等信息。缺陷类型可以是实际生产中待检测显示面板可能存在的缺陷，比如线性不良、电性不良、存在破损、亮点或暗点等。
(3)第二制程检测模块60；
第二制程检测模块60用于基于第一数据集合对第二制程后的待检测显示面板进行检测。
具体的，在一些实施例中，请参阅图8，检测模块60包括第一获取单元601和第一检测单元602。第一获取单元601获取至少一缺陷类型，第一检测单元602读取第一数据集合中关于该缺陷类型的信息，并对包含该缺陷类型的待检测显示面板在相应缺陷坐标处进行加强检测，该方案可以防止单一待检测显示面板在第一数据集合中的信息过多造成过检，在降低漏放率的同时提高检测效率。
在一些实施例中，请参阅图9，检测模块60包括第二获取单元603和第二检测单元604。第二获取单元603获取至少一检测机台站点或修补机台站点。第二检测单元604读取第一数据集合中关于该检测机台站点或修补机台站点的信息，并对包含该检测机台站点或修补机台站点的待检测显示面板在相应缺陷坐标处进行加强检测。该方案可以防止单一待检测显示面板在第一数据集合中的信息过多造成过检，在降低漏放率的同时提高检测效率。
由上可知，本申请实施例提供一种显示面板的检测装置100，该显示面板的检测装置100通过数据处理模块50对存储模块40存储的待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据进行合并处理，生成第一数据集合；第二制程检测模块60通过读取该第一数据集合，对第二制程后的待检测显示面板进行检测。该方案可以对第二制程后的待检测显示面板进行加强检测，降低待检测显示面板在第二制程中的不良漏放率，提高了面板良率。
请参阅图10，与图7中的显示面板的检测装置100的不同之处在于，本申请实施例中的检测装置200还包括：
第一制程检测模块70，第一制程检测模块70用于对待检测显示面板进行第一制程检测，以获得待检测显示面板相应的第一检测数据。
第一制程修补模块80，第一制程修补模块80用于基于第一检测数据对待检测显示面板进行修补，并生成相应的第一修补数据。
请参阅图11，与图7中的显示面板的检测装置100的不同之处在于，本申请实施例中的检测装置300还包括比对模块90。比对模块90用于对每一第一检测数据和相应第一修补数据进行比对。若第一检测数据与相应第一修补数据的信息一致，则保留第一检测数据或相应所述第一修补数据。其中，该信息包括待检测显示面板的缺陷类型、产生缺陷的位置坐标等。
本申请实施例通过对第一检测数据和相应第一修补数据进行冗余处理，去除检测和修补待检测显示面板产生的冗余数据，能够有效避免第二制程后检测机台对待检测显示面板的同一缺陷进行重复检测，节约了产能，提高了检测效率。
此外，需要说明的是，本申请实施例中的“第一制程”和“第二制程”仅用于表示显示面板在生产过程中需要经历的制程工艺的前后顺序，便于理解本申请的技术方案，不能理解为显示面板仅经过两道制程。若待检测显示面板需要经过第三制程，则可以将待检测显示面板在第一制程以及第二制程中的检测数据和相应修补数据一起进行合并处理，并基于该合并信息对待检测显示面板进行第三制程检测处理。以此类推，本申请对此不做具体限定。
以上对本申请实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：
提供一待检测显示面板；
存储所述待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据；
对所述第一检测数据和所述第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合；
基于所述第一数据集合对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述存储所述待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据的步骤之前还包括：
通过多个量测机台对所述待检测显示面板进行第一制程检测，若所述待检测显示面板存在缺陷，则所述量测机台生成相应的第一检测数据；
修补机台基于每一所述第一检测数据对所述待检测显示面板进行修补，并生成相应的第一修补数据。
3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述第一数据集合包括待检测显示面板标识、检测机台站点、修补机台站点、缺陷类型以及相应的缺陷坐标。
4.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述基于所述第一数据集合对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测的步骤包括：
获取至少一缺陷类型；
基于所述第一数据集合中对应所述缺陷类型的信息，对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
5.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述基于所述第一数据集合对所述待检测显示面板进行第二制程检测的步骤包括：
获取至少一检测机台站点或修补机台站点；
基于所述第一数据集合中对应所述检测机台站点或修补机台站点的信息，对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
6.根据权利要求4或5所述的显示面板的检测方法，其特征在于，每一所述缺陷类型、所述检测机台站点以及所述修补机台站点均对应一检测配方。
7.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述对所述第一检测数据和所述第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合的步骤之前，还包括对所述第一检测数据和相应所述第一修补数据进行冗余处理，所述冗余处理的步骤包括：
对每一所述第一检测数据和相应所述第一修补数据进行比对；
若所述第一检测数据与相应所述第一修补数据的缺陷信息一致，则保留所述第一检测数据或相应所述第一修补数据。
8.一种显示面板的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：
存储模块，所述存储模块用于存储所述待检测显示面板在第一制程后的第一检测数据和第一修补数据；
数据处理模块，所述数据处理模块用于对所述第一检测数据和所述第一修补数据进行合并处理，以生成第一数据集合；
第二制程检测模块，所述第二制程检测模块用于基于所述第一数据集合对第二制程后的所述待检测显示面板进行检测。
9.根据权利要求8所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：
第一制程检测模块，所述第一制程检测模块用于对待检测显示面板进行第一制程检测，以获得所述待检测显示面板相应的第一检测数据；
第一制程修补模块，所述第一制程修补模块用于基于所述第一检测数据对所述待检测显示面板进行修补，并生成相应的第一修补数据。
10.根据权利要求8所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括比对模块，所述比对模块用于对每一所述第一检测数据和相应所述第一修补数据进行比对；若所述第一检测数据与相应所述第一修补数据的缺陷信息一致，则保留所述第一检测数据或相应所述第一修补数据。
技术总结