本申请涉及实验仪器设备领域，特别是涉及一种基于传感器矩阵的样品检测板和样品检测方法。
背景技术：
实验室样品的代表性、有效性和完整性直接影响检验结果的准确性，对样品的管理要保证样品在整个检测过程中质量不变和保管期间不损坏、不丢失、不混淆、不变质。
其中，为了实现对样品取用状态的管理，在相关技术中提供了一种条形码样品管理系统及其管理方法。该系统及管理方法包括：条形码、系统计算机，还配以条形码打印机，条形码扫描枪，移动条形码扫描枪，该管系统由系统计算机分别与条形码打印机，条形码扫描枪连接起来。采用上述系统，通过在产品检测站或者试验室采用条形码样品管理，软硬件结合，扩充样品信息、提高工作效率、快速查询样品信息，有利于样品的科学、高效管理。
但是研究发现，相关技术提供的上述系统需要配备扫码枪、条码打印机等设备，不仅建设成本高，在样品管理中还需要对样品条形码频繁扫码来进行样品取用登记，导致样品的取用登记过程繁琐。并且，相关技术提供的上述系统仅仅只是在系统上规划和虚拟的管理，无法与实物有直接的联系，对于用户实际操作过程中出现多取、少取、错取等情况无法及时反馈，造成后续补救调整措施的繁琐。
技术实现要素：
基于此，有必要至少针对相关技术中采用的条形码样品管理系统无法及时反馈样品的取用状态的问题，提供一种基于传感器矩阵的样品检测板和样品检测方法。
第一方面，本申请实施例提供了一种基于传感器矩阵的样品检测板，应用于样品架，所述样品架具有多个供样品容器插入的孔位，所述基于传感器矩阵的样品检测板被设置于样品架的底部，所述基于传感器矩阵的样品检测板包括：传感器，所述传感器设置于所述基于传感器矩阵的样品检测板的表面，且与所述孔位对齐，用于检测所述孔位中是否插入有样品容器。
在其中一些实施例中，所述传感器的数量为多个，所述多个传感器以矩阵方式排列，且所述多个传感器与所述样品架的孔位一一对齐。
在其中一些实施例中，所述传感器包括：接近传感器或者接触传感器；其中，所述接近传感器包括以下之一：射频识别阅读器、光电式接近传感器、磁电传感器、电容式传感器、电感式传感器；所述接触传感器包括：压力式电阻开关。
在其中一些实施例中，所述基于传感器矩阵的样品检测板还包括：检测处理单元，所述检测处理单元包括供电端和检测端，其中，所述传感器的输入端电连接于所述供电端、所述传感器的输出端电连接于接地端，且所述检测端电连接于所述传感器的输入端；所述传感器用于根据是否检测到所述孔位中插入有样品容器而接通或断开；所述检测处理单元用于通过所述供电端为所述传感器供电，以及通过所述检测端检测所述传感器的输入端的电平状态。
在其中一些实施例中，所述传感器的数量为多个，所述多个传感器以矩阵方式排列，其中，相同行号的所述传感器的输入端并联在与该相同行号对应的供电端上；相同列号的所述传感器的输入端与该相同列号对应的检测端电连接。
在其中一些实施例中，所述传感器为反射式光电耦合器，所述反射式光电耦合器包括发光部和光电转换部；其中，所述发光部的输入端和所述光电转换部的输入端电连接，并作为所述反射式光电耦合器的输入端；所述发光部的输出端和所述光电转换部的输出端电连接，并作为所述反射式光电耦合器的输出端。
在其中一些实施例中，所述基于传感器矩阵的样品检测板还包括：检测触发单元，所述检测触发单元电连接于所述检测处理单元，用于检测所述样品架是否被使用，以及在样品架被使用后生成检测触发信号给所述检测处理单元，其中，所述检测触发信号用于指示所述检测处理单元获取所述多个传感器中每个传感器的输入端的电平状态。
第二方面，本申请实施例提供了一种样品检测方法，应用于第一方面所述的基于传感器矩阵的样品检测板，所述基于传感器矩阵的样品检测板被放置于所述样品架的底部，所述方法包括：在所述传感器上电后，获取所述传感器的检测结果；根据所述检测结果，确定所述样品架上的样品的取用状态。
在其中一些实施例中，在获取所述传感器的检测结果之前，所述方法还包括：接收检测触发信号；根据所述检测触发信号，为所述传感器上电。
在其中一些实施例中，在所述传感器上电后，获取所述传感器的检测结果包括：通过所述供电端为所述多个传感器中具有相同行号的一行传感器上电；通过所述检测端检测这一行传感器中具有不同列号的传感器的输入端的电平状态，并将所述电平状态作为行列交叉点对应的传感器的检测结果；其中，所述电平状态中的高电平表示与该传感器对应的孔位中未插入有样品容器，所述电平状态中的低电平表示与该传感器对应的孔位中插入有样品容器。
与现有技术相比，通过本申请实施例提供的基于传感器矩阵的样品检测板以及样品检测方法，采用应用于样品架的基于传感器矩阵的样品检测板，样品架具有多个供样品容器插入的孔位，基于传感器矩阵的样品检测板被设置于样品架的底部，基于传感器矩阵的样品检测板包括：传感器，传感器设置于基于传感器矩阵的样品检测板的表面，且与孔位对齐，用于检测孔位中是否插入有样品容器。本申请实施例通过上述方式实现了对样品取用状态的及时反馈，解决了相关技术中采用的条形码样品管理系统无法及时反馈样品的取用状态的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据相关技术的样品架的结构示意图；
图2是根据本申请实施例的基于传感器矩阵的样品检测板的结构示意图；
图3是根据本申请实施例的基于传感器矩阵的样品检测板的电路结构框图；
图4是根据本申请实施例的基于传感器矩阵的样品检测板中的一个传感器的电路拓扑图；
图5是根据本申请实施例的基于传感器矩阵的样品检测板的优选电路拓扑图；
图6是根据本申请实施例的样品检测方法的优选流程图；
图7是根据本申请实施例的样品检测方法的流程图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本申请应用于其他类似情景。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本申请公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本申请揭露的技术内容的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不应当理解为本申请公开的内容不充分。
除非另作定义，本申请中使用的技术术语或者科学术语应当为本申请所属技术领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本申请专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“一”、“一个”、“一种”、“该”等类似词语并不表示数量限制，可表示单数或复数。
“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同元件，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电气的连接，不管是直接的还是间接的。
通常样品保存在诸如样品试管、样品塑料瓶之类的样品容器中，并使用相应的样品架来固定样品容器。样品架通常具有多个供样品容器插入的孔位，样品容器插入到孔位中实现固定。样品架通常放置在样品柜中以长时保存。
图1是根据相关技术的样品架的示意图，如图1所示，样品架通常具有多个按照矩阵方式，即按照行列的方式，排列的孔位。孔位的大小根据需要插入的样品容器的外径大小确定。样品架至少具有一层隔板(隔板通常水平设置，也可以倾斜于水平面设置)，为了避免样品容器倾斜，样品架通常具有至少两层隔板。如图1所示的样品架具有三层隔板，其中，最下层隔板可以开孔，也可以不开孔。
在本实施例提供了一种基于传感器矩阵的样品检测板，该基于传感器矩阵的样品检测板应用于样品架。该样品架至少具有多个供样品容器插入的孔位，基于传感器矩阵的样品检测板被设置在样品架的底部。
需要说明的是，在本实施例中，样品架的底部是指样品容器插入样品架的孔位后，样品容器底部所能够接触或者接近的底部的位置。例如，在图1所示的三层隔板的样品架中，在最下层隔板开有通孔的情况下，样品容器插入孔位后，样品容器底部直接接触或者靠近样品架所放置的平面，那么在本实施例中样品架的底部就是指该平面至样品架最下层隔板的底面之间的位置。在最下层隔板未开有通孔的情况下，样品容器插入孔位后，样品容器底部直接接触或者靠近最下层隔板的表面，那么在本实施例中样品架的底部就是指最下层隔板的顶面至中间层隔板的底面之间的位置。
图2是根据本申请实施例的基于传感器矩阵的样品检测板的结构示意图，如图2所示，基于传感器矩阵的样品检测板10包括：传感器20，传感器20设置于基于传感器矩阵的样品检测板10的表面，且在使用该基于传感器矩阵的样品检测板10时，基于传感器矩阵的样品检测板10与样品架的孔位对齐，用于检测样品架的孔位中是否插入有样品容器。
采用上述的基于传感器矩阵的样品检测板，当样品容器插入到检测孔位中，或者将样品容器从检测孔位中取出时，传感器20能够检测到检测孔位中是否插入有样品容器，从而检测样品架上相应孔位的样品取用状态。
相对于相关技术中采用条形码和扫码枪的方式而言，采用上述的基于传感器矩阵的样品检测板在进行样品取用状态检测时，无需进行扫码操作，为简化样品的取用登记提供了便利条件。采用上述基于传感器矩阵的样品检测板检测样品取用状态，不再需要为每个样品容器打印和张贴条形码，减少了人工成本。基于传感器矩阵的样品检测板在使用过程中，设置在样品架的底部，不会额外占用空间。此外，通过上述的基于传感器矩阵的样品检测板，可以将样品管理系统与实物(即样品容器)建立联系，实现对实物的监控，相比于相关技术中采用的条形码和扫码枪的方式而言，可以及时发现用户实际操作过程中出现多取、少取、错取样品等情况。
在其中一些实施例中，可以对于每个样品架的孔位的底部都对应设置至少一个传感器，也可以只对一个或者多个用户感兴趣的每个孔位的底部对应设置至少一个传感器，例如这一个或者多个用户感兴趣的孔位可以是用于安放贵重样品的孔位。
当样品架的孔位以矩阵方式排列时，基于传感器矩阵的样品检测板上设置的多个传感器也以矩阵方式排列，且基于传感器矩阵的样品检测板上设置的多个传感器与样品架的孔位一一对齐。需要说明的是，样品架的孔位还可以以其他的方式排列，基于传感器矩阵的样品检测板上设置的多个传感器以与样品架的孔位采取相同的排列方式和排列间距，以使得基于传感器矩阵的样品检测板上设置的多个传感器与样品架的孔位一一对齐。通过上述方式，可以实现对样品架的每个孔位中是否插入有样品容器进行检测。
在本实施例中采用的传感器可以是任意能够实现物体存在状况的检测的传感器，包括但不限于接近传感器或者接触传感器。其中，接近传感器是指非接触式传感器，例如包括但不限于以下之一：射频识别阅读器、光电式接近传感器、磁电传感器、电容式传感器、电感式传感器；接触传感器包括但不限于：压力式电阻开关。
其中，压力式电阻开关、电容传感器和光电式接近传感器通常可以无需对样品容器进行特别的标识就能够实现其检测功能。例如，当采用压力式电阻开关作为上述的传感器时，插入孔位中的样品容器底部挤压压力式电阻开关，压力式电阻开关输出一个电信号表示孔位中插入了样品容器；当从孔位中取出样品容器后，样品容器底部与压力式电阻开关脱离，压力式电阻开关输出另一个电信号表示孔位中的样品容器被取出。
其中，射频识别阅读器、磁电传感器通常需要在样品容器上进行特别的标识。例如，采用磁电传感器作为上述的传感器时，通常要在样品容器的底部粘贴磁介质标签；采用射频识别阅读器作为上述的传感器时，通常要在样品容器的底部粘贴射频识别标签。但是，采用射频识别阅读器、磁电传感器作为上述的传感器的优势在于在磁介质标签或者射频识别标签里面可以写入与样品容器中保存的样品相关的信息，从而可以确认是否有相应的样品是否被归还以及是否取用了正确的样品，以实现更加精细地实现样品取用状态的管理。
在本申请的一些优选的实施例中的传感器采用光电式接近传感器，优选为反射式光电耦合器。反射式光电耦合器的基本结构包括红外发射管和接收管，其中接收管通常由光敏材料制成。在一些实施例中，反射式光电耦合器的红外发射管发射出红外光，红外光在近距离内受到被检测物的阻挡而发生反射，接收管根据反射回来的红外光强度大小来判断其上方是否存在被检测物。在本实施例中采用5v供电单元，采用的反射式光电耦合器在检测到物体时，输出电压为0.3v至0.6v，未检测到物体时输出电压为4.5v以上。由于0.3v至0.6v可以被绝大部分的转换芯片或单片机识别为低电平信号(即信号0)，4.5v可以被绝大部分的转换芯片或单片机识别为高电平信号(即信号1)，所以反射式光电耦合器上方是否存在物体可以转化为0或1的开关信号传递给其他转换芯片或单片机进行数字化识别。
根据反射式光电耦合器的上述工作原理，在大多数情况下，即使在样品容器的底部即使不设置任何反射材料，样品容器材料本身引起的光的反射就能够使得接收管导通。为了提高反射式光电耦合器的响应灵敏度，也可以在样品容器的底部粘贴或涂覆由反射性能优良的材料制成的反射贴纸或涂层，从而增加样品容器底部的反射率，提高反射到反射式光电耦合器的接收管的红外光强度，从而减小反射式光电耦合器检测失误的可能性。
在其中一些实施例中，上述的反射式光电耦合器为贴片形式封装的反射式光电耦合器，可以方便制造。该贴片形式封装的反射式光电耦合器例如可以为型号为itr20001的贴片开关。该贴片开关响应时间快、灵敏度高、产品轻薄紧凑且可屏蔽可见波长的影响。
图3是根据本申请实施例的基于传感器矩阵的样品检测板的电路结构框图，如图3所示，在其中一些实施例中，基于传感器矩阵的样品检测板还可以包括检测处理单元30，检测处理单元30包括供电端31和检测端32，其中，传感器20的输入端电连接于供电端31、传感器20的输出端电连接于接地端gnd，且检测端32电连接于传感器20的输入端；传感器20用于根据是否检测到孔位中插入有样品容器而接通或断开；检测处理单元30用于通过供电端31为传感器20供电，以及通过检测端32检测传感器20的输入端的电平状态。
在图3所示的电路结构中，当检测处理单元30的供电端31输出高电平为传感器20供电后，传感器20在检测到孔位中插入有样品容器后接通，则检测处理单元30的检测端32的电平被拉低为低电平；当检测处理单元30的供电端31输出高电平为传感器20供电后，传感器20在检测到孔位中未插入有样品容器而断开，则检测处理单元30的检测端32检测到的电平相当于供电端31的电平，即为高电平。因此，在图3所示的电路结构中，检测端32检测到低电平表示对应的孔位中插入有样品容器；检测端32检测到高电平表示对应的孔位中未插入有样品容器，从而实现了对应孔位中样品取用状态的检测。
图4是根据本申请实施例的基于传感器矩阵的样品检测板中的一个传感器的电路拓扑图，如图4所示，以作为检测样品取用状态的传感器为反射式光电耦合器为例进行说明。反射式光电耦合器共有四个引脚，分别为发光部(即红外发射管)的输入端1和输出端2，光电转换部(即接收管)的输入端4和输出端3。其中，发光部的输入端1和光电转换部的输入端4分别电连接供电端31，发光部的输出端2和光电转换部的输出端3分别电连接接地端gnd，而检测端32电连接于光电转换部的输入端4。在图4中，电阻r1和电阻r2的作用是限流，以避免发光部或光电转换部电流过大而烧坏。
通过本申请实施例提供的上述的基于传感器矩阵的样品检测板能够检测多个孔位中样品的取用状态，能够检测的孔位的最大数量取决于基于传感器矩阵的样品检测板上对应设置的传感器的数量。在一些样品架中，孔位的数量可能较多，例如10×10个孔位的样品架，如果需要对每个孔位中样品取用状态都进行检测，则需要100个传感器。在基于传感器矩阵的样品检测板上设置100个传感器是可能的，然而，如果每一个传感器都单独占用检测处理单元的一个供电端和检测端，则至少需要具有200个引脚的检测处理单元才能够满足要求，可见，在基于传感器矩阵的样品检测板上的传感器数量较多时，可能会面临检测处理单元选型困难的问题。
为了解决基于传感器矩阵的样品检测板上传感器数量较多需要占用大量的引脚而导致的检测处理单元选型困难的问题，在一些实施例中，在基于传感器矩阵的样品检测板上设置的传感器的数量为多个，且这多个传感器以类似矩阵的方式排列时，为每行传感器复用一个供电端，为每列传感器复用一个检测端，从而可以将相同行号的传感器的输入端并联在与该相同行号对应的供电端上，将相同列号的传感器的输入端与该相同列号对应的检测端电连接。
图5是根据本申请实施例的基于传感器矩阵的样品检测板的优选电路拓扑图，如图5所示，仍然以作为检测样品取用状态的传感器为反射式光电耦合器为例进行说明，在这些多个反射式光电耦合器中，相同行号的反射式光电耦合器的发光部的输入端和光电转换部的输入端分别与该相同行号对应的供电端电连接，相同列号的反射式光电耦合器的光电转换部的输入端与该相同列号对应的检测端电连接。此外，所有反射式光电耦合器的发光部的输出端和光电转换部的输出端均电连接于接地端gnd(在图5中未示出)。在图5中还省略了检测处理单元的外围电路，例如供电电路等。
继续参考图5，图5中示例性地示出了以3×3矩阵形式排列的9个反射式光电耦合器u70至u78，以及作为检测处理单元的单片机u79。其中，单片机u79的p0.0、p0.1和p0.2引脚为供电端，用于提供行信息；p2.5、p2.6和p2.7引脚为检测端，用于接收列信息。
图6是根据本申请实施例的样品检测方法的优选流程图，如图6所示，采用具有图5所示电路拓扑结构的基于传感器矩阵的样品检测板，每当单片机u79进行反射式光电耦合器的检测结果获取时，单片机可以把全1信号(即高电平)送到p0.0口，在行线上得到ttl高电平，同时记录行号x＝1。然后读取p2.5、p2.6和p2.7上是否出现低电平，如果是低电平则记录列号。例如当p2.6检测到低电平，则记录列号y＝2，最后记录或输出位置信息xy＝12，即表示与位置信息xy＝12对应的孔位，即第一行第二个孔位中插入了样品容器。随后，断开p0.0，接入p1.0，记录下一行的行号x＝2，开始检测第二行。以此类推，最终完成3×3的反射式光电耦合器矩阵中每个光电耦合器矩阵的检测结果收集，确定与各个位置对应的每个孔位的样品容器的取用状态。
仍然以10×10个传感器的基于传感器矩阵的样品检测板为例，原本需要200个引脚的检测处理单元；在通过上述实施例将供电端和检测端按照行列复用后，只需要20个引脚就能够满足10×10个传感器的检测结果的采集需求，大大降低了对检测处理单元的引脚的占用，从而降低了检测处理单元选型难度。
在一些实施例中，单片机还可以把最终收集到的所有的检测结果传给上位机进行比较，从而确认取用样品的状态是否与预设状态一致。通过上述方式，还起到了监控样品实时状态的有益效果。并且，单片机与上位机直接通讯，降低了通讯延时，使得上位机的反应更快速。
在一些实施例中，上位机在判断到样品的实际取用状态与预设状态不一致的情况下，还可以发出警报，以提醒管理员人工处理。
在一些实施例中，检测处理单元由5v供电，供电端输出的高电平也为4.5v至5v。
在一些实施例中，检测处理单元可以定期启动每个传感器检测结果的收集，也可以由特定的事件触发检测结果的收集。例如，基于传感器矩阵的样品检测板还可以包括：检测触发单元，检测触发单元电连接于检测处理单元，用于检测样品架是否被使用，以及在样品架被使用后生成检测触发信号给检测处理单元，其中，检测触发信号用于指示检测处理单元获取多个传感器中每个传感器的检测结果。
其中，检测触发单元例如可以是一个光电传感器，该光电传感器可以设置在样品抽屉柜中，每当样品抽屉柜打开并合上一次，光电传感器通过检测一次光照的明暗变化来确定样品架被使用，在此之后光电传感器生成检测触发信号给检测处理单元，以指示检测处理单元获取每个传感器的检测结果。
需要说明的是，检测触发单元还可以是能够达到相同目的的其他传感器，例如设置在样品架的底座下的压力传感器通过检测样品架对桌面压力的变化来确定样品架是否被使用，或者设置在样品抽屉柜的柜门上的接触传感器通过检测样品抽屉柜的柜门开合状态来确定样品架是否被使用等。
本实施例还提供了一种样品检测方法，应用于上述实施例提供的基于传感器矩阵的样品检测板，基于传感器矩阵的样品检测板在使用时，被放置于样品架的底部。图7是根据本申请实施例的样品检测方法的流程图，如图7所示，该流程包括如下步骤：
步骤s701，在传感器上电后，获取传感器的检测结果；
步骤s702，根据检测结果，确定样品架上的样品的取用状态。
在其中一些实施例中，在步骤s701之前，方法还包括：接收检测触发信号；根据检测触发信号，为传感器上电。其中，该检测触发信号可以是定时产生的，也可以是根据样品架的使用状态生成的。
在其中一些实施例中，步骤s701包括：通过供电端为多个传感器中具有相同行号的一行传感器上电；通过检测端检测这一行传感器中具有不同列号的传感器的输入端的电平状态，并将电平状态作为行列交叉点对应的传感器的检测结果；其中，电平状态中的高电平表示与该传感器对应的孔位中未插入有样品容器，电平状态中的低电平表示与该传感器对应的孔位中插入有样品容器。
综上所述，通过本申请提供的上述实施例或者实施方式，通过在样品架的下方放置传感器，并与上位机实时通讯，监测样品取用情况，可以精确到每一个样品的取出和归还，从而严格杜绝样品被错拿、多拿而造成的浪费。在本申请中将传感器排列成矩阵形式从而实现对多个孔位的样品取用状态进行检测，该电路结构简单，成本低廉，大幅度地增加了样品取用状态检测的便捷性还降低了成本。在本申请实施例中通过按照行列对检测处理单元的引脚进行复用，降低了检测处理单元的选型难度。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
1.一种基于传感器矩阵的样品检测板，应用于样品架，所述样品架具有多个供样品容器插入的孔位，其特征在于，所述基于传感器矩阵的样品检测板被设置于样品架的底部，所述基于传感器矩阵的样品检测板包括：传感器，所述传感器设置于所述基于传感器矩阵的样品检测板的表面，且与所述孔位对齐，用于检测所述孔位中是否插入有样品容器。
2.根据权利要求1所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述传感器的数量为多个，所述多个传感器以矩阵方式排列，且所述多个传感器与所述样品架的孔位一一对齐。
3.根据权利要求1所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述传感器包括：接近传感器或者接触传感器；其中，所述接近传感器包括以下之一：射频识别阅读器、光电式接近传感器、磁电传感器、电容式传感器、电感式传感器；所述接触传感器包括：压力式电阻开关。
4.根据权利要求1所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述基于传感器矩阵的样品检测板还包括：检测处理单元，所述检测处理单元包括供电端和检测端，其中，所述传感器的输入端电连接于所述供电端、所述传感器的输出端电连接于接地端，且所述检测端电连接于所述传感器的输入端；所述传感器用于根据是否检测到所述孔位中插入有样品容器而接通或断开；所述检测处理单元用于通过所述供电端为所述传感器供电，以及通过所述检测端检测所述传感器的输入端的电平状态。
5.根据权利要求4所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述传感器的数量为多个，所述多个传感器以矩阵方式排列，其中，相同行号的所述传感器的输入端并联在与该相同行号对应的供电端上；相同列号的所述传感器的输入端与该相同列号对应的检测端电连接。
6.根据权利要求5所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述传感器为反射式光电耦合器，所述反射式光电耦合器包括发光部和光电转换部；其中，所述发光部的输入端和所述光电转换部的输入端电连接，并作为所述反射式光电耦合器的输入端；所述发光部的输出端和所述光电转换部的输出端电连接，并作为所述反射式光电耦合器的输出端。
7.根据权利要求5所述的基于传感器矩阵的样品检测板，其特征在于，所述基于传感器矩阵的样品检测板还包括：检测触发单元，所述检测触发单元电连接于所述检测处理单元，用于检测所述样品架是否被使用，以及在样品架被使用后生成检测触发信号给所述检测处理单元，其中，所述检测触发信号用于指示所述检测处理单元获取所述多个传感器中每个传感器的输入端的电平状态。
8.一种样品检测方法，应用于权利要求1至7中任一项所述的基于传感器矩阵的样品检测板，所述基于传感器矩阵的样品检测板被放置于所述样品架的底部，其特征在于，所述方法包括：
在所述传感器上电后，获取所述传感器的检测结果；
根据所述检测结果，确定所述样品架上的样品的取用状态。
9.根据权利要求8所述的样品检测方法，其特征在于，在获取所述传感器的检测结果之前，所述方法还包括：
接收检测触发信号；
根据所述检测触发信号，为所述传感器上电。
10.根据权利要求8所述的样品检测方法，其特征在于，在所述基于传感器矩阵的样品检测板为权利要求5所述的基于传感器矩阵的样品检测板的情况下，在所述传感器上电后，获取所述传感器的检测结果包括：
通过所述供电端为所述多个传感器中具有相同行号的一行传感器上电；
通过所述检测端检测这一行传感器中具有不同列号的传感器的输入端的电平状态，并将所述电平状态作为行列交叉点对应的传感器的检测结果；其中，所述电平状态中的高电平表示与该传感器对应的孔位中未插入有样品容器，所述电平状态中的低电平表示与该传感器对应的孔位中插入有样品容器。
技术总结