本发明涉及norflash样品测试领域，尤其涉及一种多颗norflash样品同时测试的方法。
背景技术：
现有norflash测试程序一次只能验证一个样品，对于新研发的产品，验证效率太低，花费时间太长，不能尽早、及时发现问题。
技术实现要素：
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述单颗样品测试效率低的缺陷，提供一种多颗norflash样品同时测试的方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种多颗norflash样品同时测试的方法，基于测试平台实现，所述方法包括：
将多颗样品连接到测试平台，进行布线分配正确性测试；
在布线分配正确性测试通过后，基于测试平台的内部语言代码对同时进行擦除的所述多颗样品进行循环判断获取擦除信息；
在所述多颗样品进行擦除完毕后，基于嵌入测试平台的外部语言代码获取每颗样品的擦除时间和失效的存储单元的地址以及执行错误样品的停测。
在本发明所述的方法中，所述的对同时进行擦除的所述多颗样品进行循环判断获取擦除信息，包括：
在对所述多颗样品进行擦除的同时，启动循环计数器以及擦除循环；
在擦除循环的每一个循环周期内，顺次判断所述多颗样品的擦除结果，其中：如果判断出某颗样品擦除成功，则按照顺序判断下一颗样品的擦除结果；如果判断出某颗样品擦除失败,则跳转到所述某颗样品对应的子程序标签处，把所述某颗样品对应的擦除计数器进行一次计数后的值存储到用户存储器中，再返回来，按照顺序判断下一颗样品的擦除结果；
在擦除循环的每一个循环周期结束后，如果未发现擦除失败的样品或者循环计数器耗尽，则调用存储器驱动指令退出擦除循环，否则将循环计数器进行一次计数后进入擦除循环的下一个循环周期。
在本发明所述的方法中，每颗样品的擦除时间的获取，包括：从用户存储器中调出各颗样品对应的擦除计数器的值，根据各个擦除计数器的值确定各颗样品的擦除次数，根据一个循环周期的时长以及各颗样品的擦除次数计算各颗样品的擦除时间。
在本发明所述的方法中，失效的存储单元的地址的获取，包括：
利用行列扫描函数扫描每颗样品的失效单元，把每一行失效的存储单元地址合并在同一个列，确定每一行失效的存储单元的数量和x地址，存储所有失效的存储单元x地址，再将所有失效行的存储单元的数量求和计算出每颗样品总共失效的存储单元数量；
利用主要扫描函数扫描每颗样品的失效单元，记录每颗样品的每个失效单元的x地址和y地址对应的信息。
在本发明所述的方法中，所述的执行错误样品的停测，包括：在扫描每颗样品的失效单元时，当某颗样品出现错误时利用样品激活函数停止对所述某颗样品的扫描。
在本发明所述的方法中，所述多颗样品具体为m颗样品，m为大于0且小于等于8的偶数，测试平台包括两组通道，每一组通道包括1至64号引脚，所述的多颗样品连接到测试平台，包括：
将m颗样品分为两组，第一组样品连接测试平台的第一组通道，第二组样品连接测试平台的第二组通道，第一组样品在第一组通道中的引脚分配与第二组样品在第二组通道中的引脚分配完全一致，且每一颗样品的引脚分配为1至32号引脚中的几个或者是33-64号引脚中的几个。
本发明的多颗norflash样品同时测试的方法，具有以下有益效果：本发明可以对多颗样品同时测试，提高芯片的验证效率，能及早根据多个样品的测试结果得出正确的结论，效率是现有程序的多倍，能及早发现问题解决问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图：
图1是本发明多颗norflash样品同时测试的方法的流程图；
图2是引脚分配的表格的示意图；
图3是触发错误跳转需要的周期的表格示意图。
具体实施方式
为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的典型实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容更加透彻全面。应当理解本发明实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术方案的详细的说明，而不是对本申请技术方案的限定，在不冲突的情况下，本发明实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。
本说明书中使用的“第一”、“第二”等包含序数的术语可用于说明各种构成要素，但是这些构成要素不受这些术语的限定。使用这些术语的目的仅在于将一个构成要素区别于其他构成要素。例如，在不脱离本发明的权利范围的前提下，第一构成要素可被命名为第二构成要素，类似地，第二构成要素也可以被命名为第一构成要素。
本发明的多颗norflash样品同时测试的方法，基于测试平台（具体为m2平台）实现，m2平台是泰瑞达的magnum2测试平台。
参考图1，本发明的方法包括：
s101：将多颗样品连接到m2平台，进行布线分配正确性测试；
其中，所述多颗样品具体为m颗样品，m为大于0且小于等于8的偶数，要实现样品与m2进行信息交换，必须保证每个测试样品的引脚与m2布线正确地连接，m2的一块电路板对应128个引脚，这128个引脚又被分为a组（a1～a64）和b组(b1～b64)，各占64个引脚。
所述的多颗样品连接到m2平台，包括：将m颗样品分为两组（a组和b组），a组样品连接m2平台的a组通道，b组样品连接m2平台的b组通道，而且需按照以下两方面分配引脚：
一方面，a组样品在a组通道中的引脚分配与b组样品在b组通道中的引脚分配完全一致。因为m2的a/b组引脚共享相同的数据和时钟，为了实现多颗样品同侧，a/b组的通道在分配时也必须完全一致，以8颗样品dut1~dut8为例，在程序中做通道分配时，dut1分配的a组通道的引脚资源，dut2就必须分配b组通道对应的引脚资源，如分配dut1分配a1，那么dut2的就一定是b1，也即b1必须分配给dut2，不能是dut3或者dut4；
另一方面，每一颗样品的引脚分配为1至32号引脚中的几个或者是33-64号引脚中的几个。因为m2有两个错误捕捉存储器（ecr），第一个错误捕捉存储器对应a组的1～32号引脚和b组的1～32号引脚，第二个错误捕捉存储器对应a组的33～64号引脚和b组的33～64号引脚。在通道分配时，不可以把一个样品的io(数据输入/输出)引脚跨两个错误捕捉存储器，即一个样品的引脚分配必须是在1～32或者33～64中一个，不能同时分配两个区域内的通道。一个样品有多根引脚,一个样品的引脚要不全部分配在1～32中，要不分配在33～64，不可跨越。比如，对于8颗样品，可以按照如图2的表格进行引脚分配：
s102：在布线分配正确性测试通过后，基于pattern代码（其是m2的内部语言代码）对同时进行擦除的所述多颗样品进行循环判断获取擦除信息；
布线分配正确性测试采用m2的既有测试方法即可。m2上的apg（算法模型产生器）是一个并行的处理器，8个dut可以同时运行进行擦除。
所述的对同时进行擦除的所述多颗样品进行循环判断获取擦除信息，包括：在对所述多颗样品进行擦除的同时，主程序启动循环计数器以及擦除循环，在擦除循环的每一个循环周期内，顺次判断所述多颗样品的擦除结果。其中，在每一次判断时，如果判断出某颗样品擦除成功，则擦除计数器的计数维持不变，按照顺序判断下一颗样品的擦除结果；如果判断出某颗样品擦除失败(擦除未完成),则跳转到所述某颗样品对应的子程序标签处，子程序把所述某颗样品对应的擦除计数器进行一次计数后的值存储到用户存储器userram中，再调用返回指令return返回来，按照顺序判断下一颗样品的擦除结果。其中，在擦除循环的每一个循环周期结束后，如果未发现擦除失败的样品或者循环计数器耗尽，则调用存储器驱动指令cjmpne（无错误发生时的pattern跳转指令）退出擦除循环，否则将循环计数器进行一次计数（计数器减一）后进入擦除循环的下一个循环周期。此处，循环计数器耗尽是为了避免在8颗样品没有全部擦除成功时进入死循环，循环计数器耗尽则强制退出循环。
本发明为每个样品设立自己的擦除计数器。擦除计数器的起始值可以是从0开始，擦除计数器每加一就是进行一次计数。擦除计数器也可以是从某个数倒计时开始，擦除计数器每减一就是进行一次计数。
需要说明的是，8个dut同时运行时存储器驱动指令主要有下面6种，可自行选择合适的跳转类型：
(1)csubne_err1、…、csubne_err8（在对应的io引脚没有错误被捕捉到时，则子程序就会被调用）；
(2)cjmpne_err1、…、cjmpne_err8（在对应的io引脚没有错误被捕捉到时，则主程序发生跳转）；
(3)cretne_err1、…、cretne_err8（在对应的io引脚没有错误被捕捉到时，则子程序返回到被调用处）；
(4)csube_err1、…、csube_err8（在对应的io引脚有错误被捕捉到时，则子程序就会被调用）；
(5)cjmpe_err1、…、cjmpe_err8（在对应的io引脚有错误被捕捉到时，则主程序发生跳转）；
(6)crete_err、…、crete_err8（在对应的io引脚有错误被捕捉到时，则子程序返回到被调用处）。
举个例子，假定选择第一种存储器驱动指令，则如果dut2的擦除结果是擦除失败,则可以使用存储器驱动指令csube_err2跳转至设定的标签label_subrdut2处。然后在label_subrdut2那里可以把dut2的擦除计数器的值存在用户存储器里面，然后存储器驱动指令return（返回指令）返回到主程序对所述某颗样品进行一次擦除后按照顺序判断下一颗样品的擦除结果。
另外，8颗样品同测时需要注意，branch-on-errorpipelinerequirements(触发错误跳转需要的周期，如果少于这个周期数不能成功触发错误跳转）如图3的表格，表格的第一行为周期的时长，单位ns，第二行需要的周期数量。
s103：在所述多颗样品进行擦除完毕后，基于嵌入测试平台的外部语言代码获取每颗样品的擦除时间和失效的存储单元的地址以及执行错误样品的停测。
其中，每颗样品的擦除时间的获取，包括：从用户存储器中调出各颗样品对应的擦除计数器的值，根据各个擦除计数器的值确定各颗样品的擦除次数，根据一个循环周期的时长以及各颗样品的擦除次数计算各颗样品的擦除时间。比如说，假如擦除计数器是递减方式计数，假定pattern中的开始值是1000，对于dut1，本步骤中从用户存储器中调取出来的值是600，则dut1擦除次数是1000-600=400。每颗样品的擦除时间等于该颗样品的擦除次数乘以一个循环周期的时长。比如说继续假定8颗样品的擦除次数之和3500，一个循环周期的时长是500us，则dut1的擦除时间是400*500us=200ms。
其中，失效的存储单元的地址的获取，包括：
1）利用行列扫描函数函数ecr_rcm_ram_scan()扫描每颗样品的失效单元，把每一行失效的存储单元地址合并在同一个列，确定每一行失效的存储单元的数量和x地址，存储所有失效的存储单元x地址，再将所有失效行的存储单元的数量求和计算出每颗样品总共失效的存储单元数量；
2）利用主要扫描函数ecr_main_ram_scan()扫描每颗样品的失效单元，记录每颗样品的每个失效单元的x地址和y地址对应的信息。
前面m2有两个错误捕捉存储器（ecr），在ecr_rcm_ram_scan()、ecr_main_ram_scan()扫描时，一旦发现错误，错误捕捉存储器就会保存失效的存储单元x地址和y地址。
其中，所述的执行错误样品的停测，包括：在扫描每颗样品的失效单元时，当某颗样品出现错误时利用样品激活函数active_duts_enable()停止对所述某颗样品的扫描。
综上所述，本发明的多颗norflash样品同时测试的方法，具有以下有益效果：本发明可以对多颗样品同时测试，提高芯片的验证效率，能及早根据多个样品的测试结果得出正确的结论，效率是现有程序的多倍，能及早发现问题解决问题。
上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本发明的保护之内。
1.一种多颗norflash样品同时测试的方法，基于测试平台实现，其特征在于，所述方法包括：
将多颗样品连接到测试平台，进行布线分配正确性测试；
在布线分配正确性测试通过后，基于测试平台的内部语言代码对同时进行擦除的所述多颗样品进行循环判断获取擦除信息；
在所述多颗样品进行擦除完毕后，基于嵌入测试平台的外部语言代码获取每颗样品的擦除时间和失效的存储单元的地址以及执行错误样品的停测。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的对同时进行擦除的所述多颗样品进行循环判断获取擦除信息，包括：
在对所述多颗样品进行擦除的同时，启动循环计数器以及擦除循环；
在擦除循环的每一个循环周期内，顺次判断所述多颗样品的擦除结果，其中：如果判断出某颗样品擦除成功，则按照顺序判断下一颗样品的擦除结果；如果判断出某颗样品擦除失败,则跳转到所述某颗样品对应的子程序标签处，把所述某颗样品对应的擦除计数器进行一次计数后的值存储到用户存储器中，再返回来，按照顺序判断下一颗样品的擦除结果；
在擦除循环的每一个循环周期结束后，如果未发现擦除失败的样品或者循环计数器耗尽，则调用存储器驱动指令退出擦除循环，否则将循环计数器进行一次计数后进入擦除循环的下一个循环周期。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，每颗样品的擦除时间的获取，包括：从用户存储器中调出各颗样品对应的擦除计数器的值，根据各个擦除计数器的值确定各颗样品的擦除次数，根据一个循环周期的时长以及各颗样品的擦除次数计算各颗样品的擦除时间。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，失效的存储单元的地址的获取，包括：
利用行列扫描函数扫描每颗样品的失效单元，把每一行失效的存储单元地址合并在同一个列，确定每一行失效的存储单元的数量和x地址，存储所有失效的存储单元x地址，再将所有失效行的存储单元的数量求和计算出每颗样品总共失效的存储单元数量；
利用主要扫描函数扫描每颗样品的失效单元，记录每颗样品的每个失效单元的x地址和y地址对应的信息。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述的执行错误样品的停测，包括：在扫描每颗样品的失效单元时，当某颗样品出现错误时利用样品激活函数停止对所述某颗样品的扫描。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多颗样品具体为m颗样品，m为大于0且小于等于8的偶数，测试平台包括两组通道，每一组通道包括1至64号引脚，所述的多颗样品连接到测试平台，包括：
将m颗样品分为两组，第一组样品连接测试平台的第一组通道，第二组样品连接测试平台的第二组通道，第一组样品在第一组通道中的引脚分配与第二组样品在第二组通道中的引脚分配完全一致，且每一颗样品的引脚分配为1至32号引脚中的几个或者是33-64号引脚中的几个。
技术总结