1.本新型涉及射频器件测试领域，特别涉及一种射频器件高温反偏老化试验装置。
背景技术：2.在射频器件的生产过程中，由于原材料、半导体射频器件芯片、工艺过程等环节不可避免会存在各种各样的缺陷，在产品进入应用之前，必须剔除有明显缺陷、隐含缺陷的早期失效产品。
3.现有剔除缺陷产品的有效方法为射频器件的高温反偏老化试验，现有的高温反偏老化实验为将射频器件焊接在老化板上，并对老化板加载反偏电源，随后放入高温烘箱中进行老化试验，试验结束后筛选出无异常的射频器件。
4.虽能通过最终的结果筛选出无异常的射频器件，但是无法实时监控射频器件的整个老化过程，无法知晓射频器件在老化过程中的反偏漏电流、温度以及电压等因素的变化，不仅不能得知射频器件的老化原因、老化时间，更不利于射频器件的老化数据分析，从而造成大量不必要的经济损失。
5.同时，因高温反偏老化试验中不同的种类的射频器件在同一老化板上会产生偏差，造成不必要的经济损失，为提高射频器件在高温反偏老化试验的精确度，现有技术开发了与不同种类射频器件相匹配的老化板。但由于老化板的拆卸过于繁琐，在面对不同种类的射频器件进行高温反偏老化试验时，会浪费大量时间，同时影响工作效率。
6.为此，如何提供一种不用拆卸，就能对不同种类的射频器件进行对应匹配老化板的高温反偏老化试验，且能实时监控高温反偏老化试验过程中射频器件的反偏漏电流、温度以及电压变化的射频器件高温反偏老化试验装置是本领域技术人员亟需解决的问题。
技术实现要素：7.有鉴于此，本新型公开了一种射频器件高温反偏老化试验装置。根据待测射频器件类型，单工位高温反偏试验电路通过跳线模块另外的独立接线端与测试夹具上的待测射频器件的引脚进行对应连接，形成与射频器件种类对应匹配的老化板，克服了在进行不同种类射频器件的高温反偏老化试验时需要频繁拆卸更换对应老化板，过于繁琐，浪费大量时间，影响工作效率的问题；通过由hc-63c1漏电监控仪、温度传感器、电压表组成的测试监测模块实时向终端发送射频器件的高温反偏老化试验过程中的反偏漏电流、温度以及电压变化，实现了对高温反偏老化试验过程中射频器件的反偏漏电流、温度以及电压等因素的变化的实时监控，便于对射频器件的老化数据进行分析，从而避免大量不必要的经济损失。同时，本新型可同时进行多个不同种类射频器件高温反偏老化试验，满足射频器件生产厂家对大量射频器件进行老化试验以及老化试验分析的需求。
8.为了实现上述目的，本新型采用如下技术方案：
9.一种射频器件高温反偏老化试验装置，包括：主控中心、数控高压电路模块、测试电路模块、跳线模块、测试夹具以及测试监控模块；
10.主控中心的输出端依次通过数控高压电路、测试电路模块、跳线模块与测试夹具连接，主控中心的输出端与测试电路模块连接，构成试验回路。
11.测试夹具通过测试监控模块与主控中心的输入端连接，构成监控回路。
12.可选的，主控中心为终端。
13.可选的，数控高压电路模块为数控直流高压电源电路。
14.可选的，测试电路模块为单工位高温反偏试验电路。
15.可选的，数控直流高压电源电路的正端与单工位高温反偏试验电路的直流高压电源正端接口连接，数控直流高压电源电路的负端与单工位高温反偏试验电路的直流高压电源负端接口连接。
16.可选的，跳线模块的正端与单工位高温反偏试验电路的正端连接，跳线模块的负端与单工位高温反偏试验电路的负端连接，跳线模块另外的独立接线端与测试夹具上的待测射频器件的引脚连接。
17.可选的，测试夹具包括测试板以及射频器件插座。
18.可选的，测试监控模块为hc-63c1漏电监控仪、温度传感器、电压表。
19.可选的，试验回路的条数与监控回路的条数数量相同。
20.经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本新型公开了一种射频器件高温反偏老化试验装置。根据待测射频器件类型，单工位高温反偏试验电路通过跳线模块另外的独立接线端与测试夹具上的待测射频器件的引脚进行对应连接，形成与射频器件种类对应匹配的老化板，克服了在进行不同种类射频器件的高温反偏老化试验时需要频繁拆卸更换对应老化板，过于繁琐，浪费大量时间，影响工作效率的问题；通过由hc-63c1漏电监控仪、温度传感器、电压表组成的测试监测模块实时向终端发送射频器件的高温反偏老化试验过程中的反偏漏电流、温度以及电压变化，实现了对高温反偏老化试验过程中射频器件的反偏漏电流、温度以及电压等因素的变化的实时监控，便于对射频器件的老化数据进行分析，从而避免大量不必要的经济损失。同时，本新型可同时进行多个不同种类射频器件高温反偏老化试验，满足射频器件生产厂家对大量射频器件进行老化试验以及老化试验分析的需求。
附图说明
21.为了更清楚地说明本新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
22.图1为本新型的结构示意图。
具体实施方式
23.下面将结合本新型实施例中的附图，对本新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本新型保护的范围。
24.本新型实施例公开了一种射频器件高温反偏老化试验装置，包括：主控中心、数控高压电路模块、测试电路模块、跳线模块、测试夹具以及测试监控模块；
25.主控中心为终端，终端的输出端依次通过数控高压电路、测试电路模块、跳线模块与测试夹具连接，终端的输出端与测试电路模块连接，构成试验回路。
26.测试夹具通过测试监控模块与终端的输入端连接，构成监控回路。
27.测试电路模块为单工位高温反偏试验电路，数控直流高压电源电路的正端与单工位高温反偏试验电路的直流高压电源正端接口连接，数控直流高压电源电路的负端与单工位高温反偏试验电路的直流高压电源负端接口连接。
28.跳线模块的正端与单工位高温反偏试验电路的正端连接，跳线模块的负端与单工位高温反偏试验电路的负端连接，跳线模块另外的独立接线端与测试夹具上的待测射频器件的引脚连接。
29.测试夹具包括测试板以及射频器件插座，待测射频器件置于射频器件插座上
30.测试监控模块为hc-63c1漏电监控仪、温度传感器、电压表，hc-63c1 漏电监控仪、温度传感器、电压表与测试夹具的测试板连接。
31.hc-63c1漏电监控仪、温度传感器、电压表与终端的输入端连接。
32.本新型实施例的工作原理：根据待测射频器件类型，终端向单工位高温反偏试验电路发出对应连接指令，单工位高温反偏试验电路通过跳线模块另外的独立接线端与测试夹具上的待测射频器件的引脚进行对应连接，形成与射频器件类型对应匹配的老化板。将带有待测射频器件的测试夹具置于烘烤箱高温加热，终端向数控直流高压电源电路发送反偏电压指令，数控直流高压电源电路为单工位高温反偏试验电路提供对应反偏电压，实现不用拆卸老化板，即可进行对应种类射频器件的高温反偏老化试验。hc-63c1漏电监控仪、温度传感器、电压表实时监测射频器件的高温反偏老化试验过程中的反偏漏电流、温度以及电压变化，实现了对高温反偏老化试验过程中射频器件的反偏漏电流、温度以及电压等因素的变化的实时监控，便于对射频器件的老化数据进行分析，从而避免大量不必要的经济损失。
33.本实用新型实施例公开了一种射频器件高温反偏老化试验装置。根据待测射频器件类型，单工位高温反偏试验电路通过跳线模块另外的独立接线端与测试夹具上的待测射频器件的引脚进行对应连接，形成与射频器件种类对应匹配的老化板，克服了在进行不同种类射频器件的高温反偏老化试验时需要频繁拆卸更换对应老化板，过于繁琐，浪费大量时间，影响工作效率的问题；通过由hc-63c1漏电监控仪、温度传感器、电压表组成的测试监测模块实时向终端发送射频器件的高温反偏老化试验过程中的反偏漏电流、温度以及电压变化，实现了对高温反偏老化试验过程中射频器件的反偏漏电流、温度以及电压等因素的变化的实时监控，便于对射频器件的老化数据进行分析，从而避免大量不必要的经济损失。同时，本新型可同时进行多个不同种类射频器件高温反偏老化试验，满足射频器件生产厂家对大量射频器件进行老化试验以及老化试验分析的需求。
34.本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
35.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
技术特征：1.一种射频器件高温反偏老化试验装置，其特征在于，包括：主控中心、数控高压电路模块、测试电路模块、跳线模块、测试夹具以及测试监控模块；所述主控中心的输出端依次通过所述数控高压电路、所述测试电路模块、所述跳线模块与所述测试夹具连接，所述主控中心的输出端与所述测试电路模块连接，构成试验回路；所述测试夹具通过所述测试监控模块与所述主控中心的输入端连接，构成监控回路。2.根据权利要求1所述的一种射频器件高温反偏老化试验装置，其特征在于，所述主控中心为终端。3.根据权利要求1所述的一种射频器件高温反偏老化试验装置，其特征在于，所述数控高压电路模块为数控直流高压电源电路。4.根据权利要求3所述的一种射频器件高温反偏老化试验装置，其特征在于，所述测试电路模块为单工位高温反偏试验电路。5.根据权利要求4所述的一种射频器件高温反偏老化试验装置，其特征在于，所述数控直流高压电源电路的正端与所述单工位高温反偏试验电路的直流高压电源正端接口连接，所述数控直流高压电源电路的负端与所述单工位高温反偏试验电路的直流高压电源负端接口连接。6.根据权利要求4所述的一种射频器件高温反偏老化试验装置，其特征在于，所述跳线模块的正端与所述单工位高温反偏试验电路的正端连接，所述跳线模块的负端与所述单工位高温反偏试验电路的负端连接，所述跳线模块另外的独立接线端与所述测试夹具上的待测射频器件的引脚连接。7.根据权利要求1所述的一种射频器件高温反偏老化试验装置，其特征在于，所述测试夹具包括测试板以及射频器件插座。8.根据权利要求1所述的一种射频器件高温反偏老化试验装置，其特征在于，所述测试监控模块包括：hc-63c1漏电监控仪、温度传感器、电压表。9.根据权利要求1所述的一种射频器件高温反偏老化试验装置，其特征在于，所述试验回路的条数与所述监控回路的条数数量相同。
技术总结本新型公开了一种射频器件高温反偏老化试验装置，应用于射频器件测试领域，包括：主控中心、数控高压电路模块、测试电路模块、跳线模块、测试夹具以及测试监控模块；主控中心的输出端依次通过数控高压电路、测试电路模块、跳线模块与测试夹具连接，主控中心的输出端与测试电路模块连接，构成试验回路；测试夹具通过测试监控模块与主控中心的输入端连接，构成监控回路。本新型根据射频器件类型，将跳线模块另外的独立接线端与射频器件的引脚进行对应连接，形成与射频器件类型对应匹配的老化板，克服了不同类型射频器件老化试验需要拆卸老化板的问题；通过测试监控模块，实现了对试验过程中射频器件反偏漏电流、温度以及电压等因素变化的实时监控。素变化的实时监控。素变化的实时监控。
技术研发人员：吴志刚 刘年富 陈益敏
受保护的技术使用者：杭州高裕电子科技有限公司
技术研发日：2022.08.12
技术公布日：2022/12/1
