1.本实用新型涉及测试针床技术领域，特别涉及一种高精度测试针床。
背景技术：2.针床也叫ict测试治具，就是在线检测、测试治具。是利用电性能对在线元器件进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种非标准测试辅助夹具。它主要用于检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路、焊接等情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点，ict测试治具可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高。
3.申请号cn201820385069.4公布了一种高精度可更换的测试针床，由针床上框、针床下框、针床测试针固定框、弹簧测试针、针床外接端子固定框、外接端子、外接端子固定块、测试针床固定螺钉、测试针床上下固定导轨组成。采用本实用新型后，使得在进行调试相应的电力二次设备时，可根据具体电力二次设备端口特点调用对应的测试针床模块，而不更换电力二次设备调试平台，从而达到减少电力二次设备调试平台数量的目的。
4.现有的测试针床在对元器件检测时，由于元器件的触角高度不同，因此需要在测试前更换对应长度的测试针，导致元器件的测试效率较低，为此，我们提出一种高精度测试针床。
技术实现要素：5.本实用新型的主要目的在于提供一种高精度测试针床，探测顶针能适应不同高度位置的触点，无需更换不同长度的探测针，避免刺破元器件电路板，提高元器件的检测效率，可以有效解决背景技术中的问题。
6.为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：
7.一种高精度测试针床，包括针床底框，还包括竖板和针床顶框，所述针床底框的顶部可拆卸安装有竖板，所述竖板的侧壁可拆卸安装有支撑块，所述支撑块的顶部可拆卸安装有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的底部可拆卸安装有绝缘板，所述绝缘板的底部可拆卸安装有针床顶框，所述针床顶框的顶部构造有等间距分布的螺纹槽，且螺纹槽内螺纹连接有贯穿针床顶框的测试针，所述针床底框的顶部可拆卸安装有放置台；
8.所述针床顶框的侧壁可拆卸安装有顶框接线盒。
9.进一步地，所述测试针包括限位筒、铜制限位杆、铜环、缓冲弹簧、螺纹圈、压缩弹簧、铜制内滑板和探测顶针，所述螺纹圈螺纹连接在针床顶框的顶部，且螺纹圈的顶部固定安装有限位筒，所述限位筒的内部设置有缓冲弹簧，且缓冲弹簧的底部抵接有滑动连接在限位筒内周的铜环，所述铜环的内周安装有贯穿限位筒顶部和底部的铜制限位杆，所述铜制限位杆的底部构造有圆槽，且圆槽内设置有压缩弹簧，且压缩弹簧的底部抵接有滑动连接有圆槽内的铜制内滑板，所述铜制内滑板的底部一体成型连接有探测顶针。
10.进一步地，所述放置台的侧壁可拆卸安装有底框接线盒，且放置台的顶部构造有
等间距分布的定位槽。
11.进一步地，所述竖板的侧壁构造有竖向滑槽，且竖向滑槽内滑动连接有限位块，所述限位块固定安装在针床顶框的侧壁。
12.进一步地，所述针床底框的顶部可拆卸安装有限位柱，所述针床顶框的顶部构造有与限位柱适配的圆孔。
13.进一步地，所述支撑块的顶部与竖板的顶部齐平。
14.与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：通过设置的测试针，在对元器件进行逻辑检测时，铜制限位杆和探测顶针均能够向上移动收缩，从而使得探测顶针能够适应不同高度位置的触点，无需更换不同长度的探测针，且能够避免探测针刺破元器件的电路板，利于提高元器件的检测效率；通过设置的竖向滑槽、限位块和限位柱，能够限制针床顶框的移动，辅助提高针床顶框随电动伸缩杆升降时的稳定性。
附图说明
15.图1为本实用新型一种高精度测试针床的整体结构示意图。
16.图2为本实用新型一种高精度测试针床的测试针的剖视图。
17.图3为本实用新型一种高精度测试针床的图1中a处结构的放大图。
18.图中：1、针床底框；2、竖板；3、支撑块；4、电动伸缩杆；5、绝缘板；6、针床顶框；7、测试针；71、限位筒；72、铜制限位杆；73、铜环；74、缓冲弹簧；75、螺纹圈；76、压缩弹簧；77、铜制内滑板；78、探测顶针；8、顶框接线盒；9、放置台；10、定位槽；11、底框接线盒；12、限位柱；13、限位块。
具体实施方式
19.为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。
20.如图1-3所示，一种高精度测试针床，包括针床底框1，还包括竖板2和针床顶框6，所述针床底框1的顶部可拆卸安装有竖板2，所述竖板2的侧壁可拆卸安装有支撑块3，所述支撑块3的顶部可拆卸安装有电动伸缩杆4，所述电动伸缩杆4的底部可拆卸安装有绝缘板5，所述绝缘板5的底部可拆卸安装有针床顶框6，所述针床顶框6的顶部构造有等间距分布的螺纹槽，且螺纹槽内螺纹连接有贯穿针床顶框6的测试针7，所述针床底框1的顶部可拆卸安装有放置台9；所述针床顶框6的侧壁可拆卸安装有顶框接线盒8；所述放置台9的侧壁可拆卸安装有底框接线盒11，且放置台9的顶部构造有等间距分布的定位槽10；所述竖板2的侧壁构造有竖向滑槽，且竖向滑槽内滑动连接有限位块13，所述限位块13固定安装在针床顶框6的侧壁；所述针床底框1的顶部可拆卸安装有限位柱12，所述针床顶框6的顶部构造有与限位柱12适配的圆孔；所述支撑块3的顶部与竖板2的顶部齐平。
21.为了适应不同高度的元器件触点，避免捅破元器件的电路板，如图1和图2所示，所述测试针7包括限位筒71、铜制限位杆72、铜环73、缓冲弹簧74、螺纹圈75、压缩弹簧76、铜制内滑板77和探测顶针78，所述螺纹圈75螺纹连接在针床顶框6的顶部，且螺纹圈75的顶部固定安装有限位筒71，所述限位筒71的内部设置有缓冲弹簧74，且缓冲弹簧74的底部抵接有滑动连接在限位筒71内周的铜环73，所述铜环73的内周安装有贯穿限位筒71顶部和底部的
铜制限位杆72，所述铜制限位杆72的底部构造有圆槽，且圆槽内设置有压缩弹簧76，且压缩弹簧76的底部抵接有滑动连接有圆槽内的铜制内滑板77，所述铜制内滑板77的底部一体成型连接有探测顶针78。
22.需要说明的是，本实用新型为一种高精度测试针7床，使用时，将待测试的元器件放置在放置台9上，随后启动电动伸缩杆4降下针床顶框6，测试针7随针床顶框6下移，同时限位块13在竖向滑槽内向下滑动，当一部分探测顶针78与较高位置触点接触时，其余还未与触点接触的探测顶针78继续随针床顶框6下移，已与触点接触的探测顶针78上移，通过铜制内滑板77挤压压缩弹簧76，同时铜制限位杆72向上移动，带动铜环73上移挤压缓冲弹簧74，直至所有的探测顶针78均与触点接触。
23.以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
技术特征：1.一种高精度测试针床，包括针床底框(1)，其特征在于，还包括竖板(2)和针床顶框(6)，所述针床底框(1)的顶部可拆卸安装有竖板(2)，所述竖板(2)的侧壁可拆卸安装有支撑块(3)，所述支撑块(3)的顶部可拆卸安装有电动伸缩杆(4)，所述电动伸缩杆(4)的底部可拆卸安装有绝缘板(5)，所述绝缘板(5)的底部可拆卸安装有针床顶框(6)，所述针床顶框(6)的顶部构造有等间距分布的螺纹槽，且螺纹槽内螺纹连接有贯穿针床顶框(6)的测试针(7)，所述针床底框(1)的顶部可拆卸安装有放置台(9)；所述针床顶框(6)的侧壁可拆卸安装有顶框接线盒(8)。2.根据权利要求1所述的一种高精度测试针床，其特征在于：所述测试针(7)包括限位筒(71)、铜制限位杆(72)、铜环(73)、缓冲弹簧(74)、螺纹圈(75)、压缩弹簧(76)、铜制内滑板(77)和探测顶针(78)，所述螺纹圈(75)螺纹连接在针床顶框(6)的顶部，且螺纹圈(75)的顶部固定安装有限位筒(71)，所述限位筒(71)的内部设置有缓冲弹簧(74)，且缓冲弹簧(74)的底部抵接有滑动连接在限位筒(71)内周的铜环(73)，所述铜环(73)的内周安装有贯穿限位筒(71)顶部和底部的铜制限位杆(72)，所述铜制限位杆(72)的底部构造有圆槽，且圆槽内设置有压缩弹簧(76)，且压缩弹簧(76)的底部抵接有滑动连接有圆槽内的铜制内滑板(77)，所述铜制内滑板(77)的底部一体成型连接有探测顶针(78)。3.根据权利要求1所述的一种高精度测试针床，其特征在于：所述放置台(9)的侧壁可拆卸安装有底框接线盒(11)，且放置台(9)的顶部构造有等间距分布的定位槽(10)。4.根据权利要求1所述的一种高精度测试针床，其特征在于：所述竖板(2)的侧壁构造有竖向滑槽，且竖向滑槽内滑动连接有限位块(13)，所述限位块(13)固定安装在针床顶框(6)的侧壁。5.根据权利要求1所述的一种高精度测试针床，其特征在于：所述针床底框(1)的顶部可拆卸安装有限位柱(12)，所述针床顶框(6)的顶部构造有与限位柱(12)适配的圆孔。6.根据权利要求1所述的一种高精度测试针床，其特征在于：所述支撑块(3)的顶部与竖板(2)的顶部齐平。
技术总结本实用新型公开了一种高精度测试针床，包括针床底框，还包括竖板和针床顶框，所述针床底框的顶部可拆卸安装有竖板，所述竖板的侧壁可拆卸安装有支撑块，所述支撑块的顶部可拆卸安装有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的底部可拆卸安装有绝缘板，所述绝缘板的底部可拆卸安装有针床顶框，所述针床顶框的顶部构造有等间距分布的螺纹槽，且螺纹槽内螺纹连接有贯穿针床顶框的测试针，所述针床底框的顶部可拆卸安装有放置台，所述针床顶框的侧壁可拆卸安装有顶框接线盒。探测顶针能适应不同高度位置的触点，无需更换不同长度的探测针，避免刺破元器件电路板，提高元器件的检测效率。提高元器件的检测效率。提高元器件的检测效率。
技术研发人员：黄健
受保护的技术使用者：上海同恩电子科技有限公司
技术研发日：2022.07.07
技术公布日：2022/12/1
