1.本实用新型涉及制冷片技术领域，具体为一种半导体制冷片温差测试装置。
背景技术：2.半导体制冷片是一种由半导体所组成的一种冷却装置，利用半导体材料的特性，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端分别吸收热量和放出热量实现制冷的目的，半导体制冷片的体积通常比较小巧，可靠性比较高，可以应用在空间受到限制的场所。
3.现有的技术中，在半导体制冷片生产出厂前需要对其进行温差测试，将半导体制冷片连接直线电流，通过直流电流的极性使半导体制冷片上实现冷面和热面，而半导体制冷片的热面温度越高就会影响冷面的温度，不便根据热面不同温度下的冷面温度情况进行温差测试。
技术实现要素：4.本部分的目的在于概述本实用新型的实施方式的一些方面以及简要介绍一些较佳实施方式。在本部分以及本技术的说明书摘要和实用新型名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和实用新型名称的目的模糊，而这种简化或省略不能用于限制本实用新型的范围。
5.鉴于上述和/或现有制冷片中存在的问题，提出了本实用新型。
6.因此，本实用新型的目的是提供一种半导体制冷片温差测试装置，能够便于在半导体制冷片温差测试时，根据半导体制冷片热面散热后不同温度下的温度值检测冷面的温度，从而对不同温度下的热面和冷面进行温差测试，适用范围广。
7.为解决上述技术问题，根据本实用新型的一个方面，本实用新型提供了如下技术方案：
8.一种半导体制冷片温差测试装置，包括底座和放置架，所述底座的顶部设置有供电设备和安装架，所述安装架的顶部设置有顶板，所述顶板的底部设置有气缸，所述气缸的底部设置有推杆，所述推杆的底部设置有压板，所述压板的底部嵌入安装有第一温度传感器，所述放置架设置在底座的顶部，所述放置架的内壁设置有放置板，所述放置板的顶部嵌入安装有第二温度传感器，所述放置架内腔的底部设置有散热座，所述散热座上设置有导热片，所述放置架的两侧均设置有风机，所述风机的输出端设置有风管，所述风管贯穿放置架的侧壁，所述底座的侧壁设置有控制器，所述第一温度传感器(、气缸、风机和第二温度传感器与控制器电性连接。
9.作为本实用新型所述的一种半导体制冷片温差测试装置的一种优选方案，其中：所述推杆的底部设置有缓冲板，所述缓冲板的底部设置有弹簧，所述压板设置在弹簧的一端。
10.作为本实用新型所述的一种半导体制冷片温差测试装置的一种优选方案，其中：
所述放置架上设置有散热孔。
11.作为本实用新型所述的一种半导体制冷片温差测试装置的一种优选方案，其中：所述底座的侧壁设置有显示屏，所述显示屏与控制器电性连接。
12.作为本实用新型所述的一种半导体制冷片温差测试装置的一种优选方案，其中：所述放置板上设置有半导体制冷片，所述导热片与半导体制冷片的侧壁连接。
13.作为本实用新型所述的一种半导体制冷片温差测试装置的一种优选方案，其中：所述底座的底部设置有支撑架，所述支撑架与底座的底部通过螺栓螺纹连接。
14.与现有技术相比：本技术文件中，1.通过供电设备便于给半导体制冷片提供电量，供电设备与半导体制冷片通过导线连接，通过气缸便于操作推杆，通过推杆推动压板，使压板上的第一温度传感器与半导体制冷片的冷面接触，通过第一温度传感器便于对冷面温度进行检测，通过放置板便于安装半导体制冷片，半导体制冷片的冷面朝上热面朝下，通过第二温度传感器对热面温度进行检测，通过散热座便于安装导热片，通过导热片与热面连接，便于将热面的热量传输到散热座，通过散热座进行排出热量，通过多组导热片形成流通腔体，便于风机产出的风体流通，从而便于对散热座上的热量进行散热，通过风管输送到安装架内，在温差测试时，便于检测热面散热后不同温度情况下的冷面温度情况，从而测试热面散热后制冷片冷面的制冷效果，因此，便于在半导体制冷片温差测试时，根据半导体制冷片热面散热后不同温度下的温度值检测冷面的温度，从而对不同温度下的热面和冷面进行温差测试，适用范围广，2.通过缓冲板和弹簧便于在压板下压时进行压力缓冲，防止压板下压时压力过大对半导体制冷片造成损坏，减少损失。
附图说明
15.为了更清楚地说明本实用新型实施方式的技术方案，下面将结合附图和详细实施方式对本实用新型进行详细说明，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。其中：
16.图1为本实用新型一种半导体制冷片温差测试装置的结构示意图；
17.图2为本实用新型一种半导体制冷片温差测试装置的结构爆炸图；
18.图3为本实用新型一种半导体制冷片温差测试装置的第一温度传感器示意图；
19.图4为本实用新型一种半导体制冷片温差测试装置的导热片示意图；
20.图5为本实用新型一种半导体制冷片温差测试装置的弹簧示意图。
21.图中：100底座、110供电设备、120安装架、130顶板、140气缸、150 推杆、160压板、170第一温度传感器、200放置架、210放置板、220第二温度传感器、230散热座、240导热片、250风机、260风管、270控制器、300 缓冲板、310弹簧、400散热孔、500显示屏。
具体实施方式
22.为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。
23.在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实
用新型内涵的情况下做类似推广，因此本实用新型不受下面公开的具体实施方式的限制。
24.其次，本实用新型结合示意图进行详细描述，在详述本实用新型实施方式时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本实用新型保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。
25.为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型的实施方式作进一步地详细描述。
26.本实用新型提供一种半导体制冷片温差测试装置，请参阅图1-图5，包括底座100和放置架200，底座100的顶部设置有供电设备110和安装架120，安装架120的顶部设置有顶板130，顶板130的底部设置有气缸140，气缸140 的底部设置有推杆150，推杆150的底部设置有压板160，压板160的底部嵌入安装有第一温度传感器170，放置架200设置在底座100的顶部，放置架 200的内壁设置有放置板210，放置板210的顶部嵌入安装有第二温度传感器 220，放置架200内腔的底部设置有散热座230，散热座230上设置有导热片 240，放置架200的两侧均设置有风机250，风机250的输出端设置有风管260，风管260贯穿放置架200的侧壁，底座100的侧壁设置有控制器270，第一温度传感器170、气缸140、风机250和第二温度传感器220与控制器270电性连接，具体的，通过供电设备110便于给半导体制冷片提供电量，供电设备110与半导体制冷片通过导线连接，通过气缸140便于操作推杆150，通过推杆150推动压板160，使压板160上的第一温度传感器170与半导体制冷片的冷面接触，通过第一温度传感器170便于对冷面温度进行检测，通过放置板 210便于安装半导体制冷片，半导体制冷片的冷面朝上热面朝下，通过第二温度传感器220对热面温度进行检测，通过散热座230便于安装导热片240，通过导热片240与热面连接，便于将热面的热量传输到散热座230，通过散热座 230进行排出热量，通过多组导热片240形成流通腔体，便于风机250产出的风体流通，从而便于对散热座230上的热量进行散热，通过风管260输送到安装架120内，在温差测试时，便于检测热面散热后不同温度情况下的冷面温度情况，从而测试热面散热后制冷片冷面的制冷效果，通过控制器270操控装置。
27.放置架200上设置有散热孔400，具体的，通过散热孔400便于排出放置架200内的热量，方便操作。
28.底座100的侧壁设置有显示屏500，显示屏500与控制器270电性连接，具体的，第一温度传感器170和第二温度传感器220检测到的温度值传达到控制器270，通过控制器270传达到显示屏500，通过显示屏500便于观察半导体制冷片热面和冷面的温度值，方便观察测试。
29.放置板210上设置有半导体制冷片，导热片240与半导体制冷片的侧壁连接，具体的，通过放置板210安装半导体制冷片，便于使半导体制冷片的底部悬空与导热片240连接，方便散热。
30.底座100的底部设置有支撑架，支撑架与底座100的底部通过螺栓螺纹连接，具体的，通过支撑架便于固定装置，提高了装置的稳定性。
31.结合图1-图5，本实施方式的一种半导体制冷片温差测试装置，具体使用过程如下：将半导体制冷片置入在放置板210的顶部，半导体制冷片的冷面朝上热面朝下，使用供电设备110便于给半导体制冷片提供电量，供电设备110与半导体制冷片通过导线连接，使
用气缸140便于操作推杆150，使用推杆150推动压板160，使压板160上的第一温度传感器170与半导体制冷片的冷面接触，使用第一温度传感器170便于对冷面温度进行检测，使用第二温度传感器220对热面温度进行检测，使用导热片240与热面连接，便于将热面的热量传输到散热座230，使用散热座230进行排出热量，多组导热片 240形成流通腔体，便于风机250产出的风体流通，从而便于对散热座230上的热量进行散热，第一温度传感器170和第二温度传感器220检测到的温度值传达到控制器270，通过控制器270传达到显示屏500，通过显示屏500便于观察半导体制冷片热面和冷面的温度值，方便观察，在温差测试时，便于检测热面散热后不同温度情况下的冷面温度情况，从而测试热面散热后制冷片冷面的制冷效果，从而对不同温度下的热面和冷面进行温差测试，适用范围广。
32.图5示出的是本实用新型一种半导体制冷片温差测试装置第二种实施方式的结构示意图，请参阅图5，与上述实施方式不同的是，推杆150的底部设置有缓冲板300，缓冲板300的底部设置有弹簧310，压板160设置在弹簧310 的一端，具体的，通过缓冲板300和弹簧310便于在压板160下压时进行压力缓冲，防止压板160下压时压力过大对半导体制冷片造成损坏，减少损失。
33.虽然在上文中已经参考实施方式对本实用新型进行了描述，然而在不脱离本实用新型的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，本实用新型所披露的实施方式中的各项特征均可通过任意方式相互结合起来使用，在本说明书中未对这些组合的情况进行穷举性的描述仅仅是出于省略篇幅和节约资源的考虑。因此，本实用新型并不局限于文中公开的特定实施方式，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。
技术特征：1.一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于：包括底座(100)和放置架(200)，所述底座(100)的顶部设置有供电设备(110)和安装架(120)，所述安装架(120)的顶部设置有顶板(130)，所述顶板(130)的底部设置有气缸(140)，所述气缸(140)的底部设置有推杆(150)，所述推杆(150)的底部设置有压板(160)，所述压板(160)的底部嵌入安装有第一温度传感器(170)，所述放置架(200)设置在底座(100)的顶部，所述放置架(200)的内壁设置有放置板(210)，所述放置板(210)的顶部嵌入安装有第二温度传感器(220)，所述放置架(200)内腔的底部设置有散热座(230)，所述散热座(230)上设置有导热片(240)，所述放置架(200)的两侧均设置有风机(250)，所述风机(250)的输出端设置有风管(260)，所述风管(260)贯穿放置架(200)的侧壁，所述底座(100)的侧壁设置有控制器(270)，所述第一温度传感器(170)、气缸(140)、风机(250)和第二温度传感器(220)与控制器(270)电性连接。2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于：所述推杆(150)的底部设置有缓冲板(300)，所述缓冲板(300)的底部设置有弹簧(310)，所述压板(160)设置在弹簧(310)的一端。3.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于：所述放置架(200)上设置有散热孔(400)。4.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于：所述底座(100)的侧壁设置有显示屏(500)，所述显示屏(500)与控制器(270)电性连接。5.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于：所述放置板(210)上设置有半导体制冷片，所述导热片(240)与半导体制冷片的侧壁连接。6.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于：所述底座(100)的底部设置有支撑架，所述支撑架与底座(100)的底部通过螺栓螺纹连接。
技术总结本实用新型公开的属于制冷片技术领域，具体为一种半导体制冷片温差测试装置，其包括底座和放置架，所述底座的顶部设置有供电设备和安装架，所述安装架的顶部设置有顶板，所述顶板的底部设置有气缸，所述气缸的底部设置有推杆，所述推杆的底部设置有压板，本申请文件中，便于在半导体制冷片温差测试时，根据半导体制冷片热面散热后不同温度下的温度值检测冷面的温度，从而对不同温度下的热面和冷面进行温差测试，适用范围广。适用范围广。适用范围广。
技术研发人员：秦国玉 杨平
受保护的技术使用者：惠州瑞捷科技有限公司
技术研发日：2022.08.11
技术公布日：2022/12/1
