1.本实用新型涉及电子技术领域，尤其涉及一种传感器的性能测试电路。
背景技术：2.在汽车领域中，需要通过胎压传感器去检测轮胎内的气压，用户根据气压数值直观查看气压是否在合理范围内，用户根据气压值进行判断确保能够安全使用汽车。胎压传感器在完成生产之后，需要对胎压传感器的性能进行测试，降低胎压传感器在后续使用过程中出现故障的风险，避免胎压传感器在使用过程中因胎压传感器出现故障给用户带来不便。现有技术中，通常手动对胎压传感器的各性能进行测试，测试结果需要对各性能进行统计后才能确定该胎压传感器是否合格。
3.可见，现有技术中存在胎压传感器的结果无法直接指示的问题。
技术实现要素：4.针对现有技术中所存在的不足，本实用新型提供了一种传感器的性能测试电路，其解决了现有技术中存在的胎压传感器的结果无法直接指示的问题，通过测试结果指示单元发出测试结果信号，提高了传感器性能的检测效率。
5.一种传感器的性能测试电路，所述电路包括：can通信单元、mcu、测试结果指示单元和腔门控制单元；所述can通信单元分别与目标被测传感器和mcu相连，用于接收目标被测传感器发出的性能测试数据并将所述性能测试数据发送给所述mcu；所述mcu与所述测试结果指示单元相连，用于判断接收到的所述性能测试数据得到测试性能结果数据，还用于根据测试性能结果数据向所述测试结果指示单元发出第一控制信号；所述测试结果指示单元用于根据所述第一控制信号发出测试结果信号；所述腔门控制单元分别与所述mcu和腔门的控制端相连，用于根据所述mcu发出的第二控制信号向所述腔门的控制端发出腔门打开信号，使所述腔门打开。
6.可选地，所述测试结果指示单元包括：第一电阻、第二电阻、第一三极管、第三电阻、第四电阻、第二三极管、第五电阻和第六电阻；所述第一电阻的两端分别与所述mcu和第一三极管的基极相连；所述第二电阻的两端分别与所述第一三极管的基极和发射极相连；所述第一三极管的集电极通过第三电阻与所述第二三极管的基极相连，所述第一三极管的发射极接地；所述第四电阻的两端分别与第一电源端和第一三极管的集电极相连；所述第二三极管的发射极与所述第一电源端相连，所述第二三极管的集电极通过第五电阻接地；所述第六电阻的两端分别与指示灯和第二三极管的集电极相连。
7.可选地，所述电路还包括外部触发单元；所述外部触发单元与所述mcu相连，用于根据外部触发向所述mcu发出外部触发信号，使所述mcu根据外部触发信号生成腔门关闭信号并向所述腔门控制单元发出所述腔门关闭信号。
8.可选地，所述外部触发单元包括：第七电阻、按键开关、第八电阻、第一电容、第二电容、第九电阻、第三三极管和第十电阻；所述第七电阻的两端分别与第二电源端和按键开
关的第一端相连；所述按键开关的第二端通过第八电阻与所述第三三极管的基极相连；所述第一电容的两端分别与所述第二电源端相连和接地；所述第九电阻的两端分别与所述第三三极管的基极和发射极相连；所述第二电容与所述第九电阻并联；所述第三三极管的集电极通过第十电阻与第三电源端相连，所述第三三极管的集电极还与所述mcu相连，所述第三三极管的发射极接地。
9.可选地，所述腔门控制单元包括：第十一电阻、第十二电阻、第四三极管、第十三电阻、第十四电阻、第五三极管和第十五电阻；所述第十一电阻的两端分别与所述mcu和所述第四三极管的基极相连；所述第十二电阻的两端分别与所述第四三极管的基极和发射极相连；所述第四三极管的集电极通过第十三电阻与第一电源端相连，所述第四三极管的集电极还通过第十四电阻与所述第五三极管的基极相连，所述第四三极管的发射极接地；所述第五三极管的发射极与所述第一电源端相连，所述第五三极管的集电极通过第十五电阻与所述腔门的控制端相连。
10.可选地，所述电路还包括腔门到位指示单元；所述腔门到位指示单元分别与所述腔门到位指示灯和所述mcu相连，用于检测腔门到位灯发出的腔门到位信号并将所述腔门到位信号发送给所述mcu，使所述mcu根据所述腔门到位信号产生第三控制信号并通过can通信单元向目标被测传感器发出第三控制信号使所述目标被测传感器产生性能测试数据。
11.可选地，所述腔门到位单元包括：第一二极管、第十六电阻、第三电容、第十七电阻、第十八电阻和第六三极管；所述第一二极管的正极与所述腔门到位指示灯相连，所述第一二极管的负极通过第十六电阻与所述第六三极管的基极相连；所述第十七电阻的第一端与所述第六三极管的基极相连，所述第十七电阻的第二端接地；所述第三电容与所述第十七电阻并联；所述第六三极管的集电极通过第十八电阻与第三电源端相连，所述第六三极管的集电极还与所述mcu相连。
12.可选地，所述电路还包括腔室加压控制单元；所述腔室加压控制单元分别与所述mcu和加压控制端相连，用于当所述腔门关闭后根据所述mcu发出的第四控制信号向所述加压控制端输出加压信号。
13.可选地，所述电路还包括rs232数据收发器；所述rs232数据收发器分别与所述mcu和打标机相连，用于将所述mcu发出的测试性能结果数据转发给所述打标机，使所述打标机根据所述测试性能结果数据进行打标。
14.可选地，所述电路还包括rs422数据收发器；所述rs422数据收发器分别与所述mcu和显示器相连，用于将所述mcu发出的测试性能结果数据转发给所述显示器，使所述显示器对所述测试性能结果数据进行显示。
15.相比于现有技术，本实用新型具有如下有益效果：
16.目标被测传感器将性能测试数据发送给mcu，mcu对性能测试数据进行判断，得到测试性能结果数据，mcu根据测试性能结果数据向测试结果指示单元发出第一控制信号，测试结果指示单元根据第一控制信号发出测试结果信号，用户可直接根据测试结果信号判断传感器是否合格，提高了传感器性能的检测效率。传感器性能检测完之后，腔门控制单元向腔门的控制端发出腔门打开信号，使腔门打开，便于用于取出被测传感器，满足了用户需求。
附图说明
17.图1为本实用新型提供的一种传感器的性能测试电路的结构图；
18.图2为本实用新型实施例提供的一种测试结果指示单元的电路图；
19.图3为本实用新型实施例提供的一种外部触发单元的电路图；
20.图4为本实用新型实施例提供的一种腔门控制单元的电路图；
21.图5为本实用新型实施例提供的一种腔门到位指示单元的电路图。
具体实施方式
22.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本实用新型实例中相同标号的功能单元具有相同和相似的结构和功能。
23.图1为本实用新型提供的一种传感器的性能测试电路的结构图，如图1所示，所述电路包括：can通信单元100、mcu200、测试结果指示单元300和腔门控制单元400；
24.所述can通信单元100分别与目标被测传感器和mcu200相连，用于接收目标被测传感器发出的性能测试数据并将所述性能测试数据发送给所述mcu200；
25.所述mcu200与所述测试结果指示单元300相连，用于判断接收到的所述性能测试数据得到测试性能结果数据，还用于根据测试性能结果数据向所述测试结果指示单元300发出第一控制信号；
26.所述测试结果指示单元300用于根据所述第一控制信号发出测试结果信号；
27.所述腔门控制单元400分别与所述mcu200和腔门的控制端相连，用于根据所述mcu200发出的第二控制信号向所述腔门的控制端发出腔门打开信号，使所述腔门打开。
28.在本实施例中，目标被测控制器放置在密封的腔体内进行测试，测试装置对目标被测传感器发出测试信号之后，目标被测传感器生成形成测试数据并将形成测试数据通过can通信单元100发送给mcu200，目标被测传感器发出的数据类型与mcu200可以接收的数据类型不一致，通过can通信单元100将目标被测传感器发出的数据类型转换为mcu200可以接收的数据类型，mcu200对接收到的性能测试数据进行判断，判断目标传感器的各个性能指标是否合格并生成测试性能结果数据，mcu200根据测试性能结果数据向测试结果指示单元300发出第一控制信号，测试结果指示单元300根据第一控制信号发出测试结果信号，即指示目标被测传感器的结果合格或不合格。当目标被测传感器测试完之后，mcu200向腔门控制单元发出第二控制信号，即腔门控制信号，具体可以延时10s后，腔门控制单元向腔门的控制端发出腔门打开信号，腔门的控制端接收到腔门信号之后打开腔门，取出目标被测传感器。
29.需要说明的是，mcu200采用的具体型号可以为ac78013mdqa，can通信单元100具体包括can接发器，can接发器的具体型号可以为sit82c251t/sop8。
30.图2为本实用新型实施例提供的一种测试结果指示单元300的电路图，如图2所示，所述测试结果指示单元300包括：第一电阻r1、第二电阻r2、第一三极管q1、第三电阻r3、第四电阻r4、第二三极管q2、第五电阻r5和第六电阻r6；所述第一电阻r1的两端分别与所述
mcu200和第一三极管q1的基极相连；所述第二电阻r2的两端分别与所述第一三极管q1的基极和发射极相连；所述第一三极管q1的集电极通过第三电阻r3与所述第二三极管q2的基极相连，所述第一三极管q1的发射极接地；所述第四电阻r4的两端分别与所述第一电源端vcc1和第一三极管q1的集电极相连；所述第二三极管q2的发射极与所述第一电源端vcc1相连，所述第二三极管q2的集电极通过第五电阻r5接地；所述第六电阻r6的两端分别与指示灯和第二三极管q2的集电极相连。
31.在本实施例中，当测试结果指示单元300接收到mcu200发出的第一控制信号，即第一三极管q1的基极通过第一电阻r1接收到mcu200发出的高电平信号，第一三极管q1导通，第二三极管q2的基极经第三电阻r3和第一三极管q1接地，即第二三极管q2的基极接收到低电平信号，第二三极管q2导通，从而信号指示灯经过第四电阻r4经和第二三极管q2与第一电源端vcc1相连而得电，指示灯发出光信号，用户根据不同颜色的指示灯判断目标被测传感器是否通过检验。
32.需要说明的是，可以通过两个测试结果单元分别控制红色和绿色的信号指示灯，当红色信号指示灯被点亮时，表示目标被测控制器测试未通过；当绿色信号指示灯被点亮时，表示目标被测控制器测试通过。
33.在本实用新型的另一实施例中，所述电路还包括外部触发单元；所述外部触发单元与所述mcu200相连，用于根据外部触发向所述mcu200发出外部触发信号，使所述mcu200根据外部触发信号生成腔门关闭信号并向所述腔门控制单元400发出腔门关闭信号。
34.图3为本实用新型实施例提供的一种外部触发单元的电路图，如图3所示，所述外部触发单元包括：第七电阻r7、按键开关s1、第八电阻r8、第一电容c1、第二电容c2、第九电阻r9、第三三极管q3和第十电阻r10；所述第七电阻r7的两端分别与第二电源端vcc2和按键开关s1的第一端相连；所述按键开关s1的第二端通过第八电阻r8与所述第三三极管q3的基极相连；所述第一电容c1的两端分别与所述第二电源端vcc2相连和接地；所述第九电阻r9的两端分别与所述第三三极管q3的基极和发射极相连；所述第二电容c2与所述第九电阻r9并联；所述第三三极管q3的集电极通过第十电阻r10与第三电源端vcc3相连，所述第三三极管q3的集电极还与所述mcu200相连，所述第三三极管q3的发射极接地。
35.在本实施例中，当需要对目标传感器进行检测时，按下按键开关s1，产生外部触发信号，当按键被触发之后，第三三极管q3的基极接收到高电平信号，第三三极管q3导通，mcu200经过第三三极管q3的基极接收到低电平信号，并产生腔门关闭信号，腔门的控制端根据腔门关闭信号关闭腔门，准备对目标被测传感器进行测量。具体地，测试完成后，mcu200通过控制指示灯进行测试通过与否显示，显示2s后，mcu控制气阀进行排气，排气10s后，mcu控制门信号，使得门自动弹出。
36.图4为本实用新型实施例提供的一种腔门控制单元400的电路图，如图4所示，所述腔门控制单元400包括：第十一电阻r11、第十二电阻r12、第四三极管q4、第十三电阻r13、第十四电阻r14、第五三极管q5和第十五电阻r15；所述第十一电阻r11的两端分别与所述mcu200和所述第四三极管q4的基极相连；所述第十二电阻r12的两端分别与所述第四三极管q4的基极和发射极相连；所述第四三极管q4的集电极通过第十三电阻r13与所述第一电源端vcc1相连，所述第四三极管q4的集电极还通过第十四电阻r14与所述第五三极管q5的基极相连，所述第四三极管q4的发射极接地；所述第五三极管q5的发射极与所述第一电源
端vcc1相连，所述第五三极管q5的集电极通过第十五电阻r15与所述腔门的控制端相连。
37.在本实施例中，当第四三极管q4的基极经过第十一电阻r11接收到mcu200发出的第二控制信号，即高电平信号，第四三极管q4导通，第五三极管q5的基极经过第十四电阻r14和第四三极管q4接地并接收到低电平信号，第五三极管q5导通，腔门的控制端经过第十五电阻r15经第四三极管q4与第一电源端vcc1相连并接收到高电平信号，从而腔门的控制端根据高电平信号控制腔门打开。需要说明的是，腔门的控制端可以为电磁阀，电磁阀分别与气缸和气源相连，气缸与腔门相连，通过控制电磁阀打开或关闭，气源对气缸进行放气或充气，气缸收缩带动腔门打开或关闭。
38.在本实用新型的另一实施例中，所述电路还包括腔门到位指示单元；所述腔门到位指示单元分别与所述腔门到位指示灯和所述mcu200相连，用于检测腔门到位灯发出的腔门到位信号并将所述腔门到位信号发送给所述mcu200，使所述mcu200根据所述腔门到位信号产生第三控制信号并通过can通信单元100向目标被测传感器发出第三控制信号使所述目标被测传感器产生性能测试数据。
39.图5为本实用新型实施例提供的一种腔门到位指示单元的电路图，如图5所示，所述腔门到位单元包括：第一二极管d1、第十六电阻r16、第三电容c3、第十七电阻r17、第十八电阻r18和第六三极管q6；所述第一二极管d1的正极与所述腔门到位指示灯相连，所述第一二极管d1的负极通过第十六电阻r16与所述第六三极管q6的基极相连；所述第十七电阻r17的第一端与所述第六三极管q6的基极相连，所述第十七电阻r17的第二端接地；所述第三电容c3与所述第十七电阻r17并联；所述第六三极管q6的集电极通过第十八电阻r18与第三电源端vcc3相连，所述第六三极管q6的集电极还与所述mcu200相连。
40.在本实施例中，在确保腔门已经关闭好之后，才会对目标被测传感器进行检测，当腔门关闭好之后，腔门到位指示单元会检测到腔门到位指示灯发出的腔门到位信号，即高电平信号，第六三极管q6的基极接收到高电平信号后导通，mcu200经过第六三极管q6接地，mcu200接收到低电平信号，从而产生第三控制信号并通过can通信单元100向目标被测传感器发出第三控制信号使所述目标被测传感器产生性能测试数据。
41.在本实用新型的另一实施例中，所述电路还包括腔室加压控制单元；所述电路还包括腔室加压控制单元；
42.所述腔室加压控制单元分别与所述mcu和加压控制端相连，用于当所述腔门关闭后根据所述mcu发出的第四控制信号向所述加压控制端输出加压信号。
43.在本实施例中，对传感器进行检测时，需要对传感器检测胎压的性能进行测试，因此需要对腔室内的传感器进行加压以模拟传感器在轮胎内的环境，腔室加压控制单元根据mcu200发出第四控制信号向加压控制端输出加压信号，加压控制端可以为电磁阀，电磁阀分别与气源和腔室相连，电磁阀根据加压或减压信号打开或关闭，使气源对腔室充气或放气进而加压或减压。需要说明的是，腔室加压控制单元与腔门控制单元400的电路结构相同，此处不再赘述。
44.在本实用新型的另一实施例中，所述电路还包括rs232数据收发器；所述rs232数据收发器分别与所述mcu200和打标机相连，用于将所述mcu200发出的测试性能结果数据转发给所述打标机，使所述打标机根据所述测试性能结果数据进行打标。需要说明的是，rs232数据收发器采用的具体型号可以为sp3232een-l.
45.在本实用新型的而另一实施例中，所述电路还包括rs422数据收发器；所述rs422数据收发器分别与所述mcu和显示器相连，用于将所述mcu发出的测试性能结果数据转发给所述显示器，使所述显示器对所述测试性能结果数据进行显示，便于用户直观查看传感器的测试性能结果数据。需要说明的是rs422数据收发器的具体型号可以为max490esa+.
46.需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
47.以上所述仅是本实用新型的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
技术特征：1.一种传感器的性能测试电路，其特征在于，所述电路包括：can通信单元、mcu、测试结果指示单元和腔门控制单元；所述can通信单元分别与目标被测传感器和mcu相连，用于接收目标被测传感器发出的性能测试数据并将所述性能测试数据发送给所述mcu；所述mcu与所述测试结果指示单元相连，用于判断接收到的所述性能测试数据得到测试性能结果数据，还用于根据测试性能结果数据向所述测试结果指示单元发出第一控制信号；所述测试结果指示单元用于根据所述第一控制信号发出测试结果信号；所述腔门控制单元分别与所述mcu和腔门的控制端相连，用于根据所述mcu发出的第二控制信号向所述腔门的控制端发出腔门打开信号，使所述腔门打开。2.如权利要求1所述的一种传感器的性能测试电路，其特征在于，所述测试结果指示单元包括：第一电阻、第二电阻、第一三极管、第三电阻、第四电阻、第二三极管、第五电阻和第六电阻；所述第一电阻的两端分别与所述mcu和第一三极管的基极相连；所述第二电阻的两端分别与所述第一三极管的基极和发射极相连；所述第一三极管的集电极通过第三电阻与所述第二三极管的基极相连，所述第一三极管的发射极接地；所述第四电阻的两端分别与第一电源端和第一三极管的集电极相连；所述第二三极管的发射极与所述第一电源端相连，所述第二三极管的集电极通过第五电阻接地；所述第六电阻的两端分别与指示灯和第二三极管的集电极相连。3.如权利要求1所述的一种传感器的性能测试电路，其特征在于，所述电路还包括外部触发单元；所述外部触发单元与所述mcu相连，用于根据外部触发向所述mcu发出外部触发信号，使所述mcu根据外部触发信号生成腔门关闭信号并向所述腔门控制单元发出所述腔门关闭信号。4.如权利要求3所述的一种传感器的性能测试电路，其特征在于，所述外部触发单元包括：第七电阻、按键开关、第八电阻、第一电容、第二电容、第九电阻、第三三极管和第十电阻；所述第七电阻的两端分别与第二电源端和按键开关的第一端相连；所述按键开关的第二端通过第八电阻与所述第三三极管的基极相连；所述第一电容的两端分别与所述第二电源端相连和接地；所述第九电阻的两端分别与所述第三三极管的基极和发射极相连；所述第二电容与所述第九电阻并联；所述第三三极管的集电极通过第十电阻与第三电源端相连，所述第三三极管的集电极还与所述mcu相连，所述第三三极管的发射极接地。5.如权利要求1所述的一种传感器的性能测试电路，其特征在于，所述腔门控制单元包括：第十一电阻、第十二电阻、第四三极管、第十三电阻、第十四电阻、第五三极管和第十五电阻；
所述第十一电阻的两端分别与所述mcu和所述第四三极管的基极相连；所述第十二电阻的两端分别与所述第四三极管的基极和发射极相连；所述第四三极管的集电极通过第十三电阻与第一电源端相连，所述第四三极管的集电极还通过第十四电阻与所述第五三极管的基极相连，所述第四三极管的发射极接地；所述第五三极管的发射极与所述第一电源端相连，所述第五三极管的集电极通过第十五电阻与所述腔门的控制端相连。6.如权利要求1所述的一种传感器的性能测试电路，其特征在于，所述电路还包括腔门到位指示单元；所述腔门到位指示单元分别与所述腔门到位指示灯和所述mcu相连，用于检测腔门到位灯发出的腔门到位信号并将所述腔门到位信号发送给所述mcu，使所述mcu根据所述腔门到位信号产生第三控制信号并通过can通信单元向目标被测传感器发出第三控制信号使所述目标被测传感器产生性能测试数据。7.如权利要求6所述的一种传感器的性能测试电路，其特征在于，所述腔门到位单元包括：第一二极管、第十六电阻、第三电容、第十七电阻、第十八电阻和第六三极管；所述第一二极管的正极与所述腔门到位指示灯相连，所述第一二极管的负极通过第十六电阻与所述第六三极管的基极相连；所述第十七电阻的第一端与所述第六三极管的基极相连，所述第十七电阻的第二端接地；所述第三电容与所述第十七电阻并联；所述第六三极管的集电极通过第十八电阻与第三电源端相连，所述第六三极管的集电极还与所述mcu相连。8.如权利要求3或4所述的一种传感器的性能测试电路，其特征在于，所述电路还包括腔室加压控制单元；所述腔室加压控制单元分别与所述mcu和加压控制端相连，用于当所述腔门关闭后根据所述mcu发出的第四控制信号向所述加压控制端输出加压信号。9.如权利要求1所述的一种传感器的性能测试电路，其特征在于，所述电路还包括rs232数据收发器；所述rs232数据收发器分别与所述mcu和打标机相连，用于将所述mcu发出的测试性能结果数据转发给所述打标机，使所述打标机根据所述测试性能结果数据进行打标。10.如权利要求1所述的一种传感器的性能测试电路，其特征在于，所述电路还包括rs422数据收发器；所述rs422数据收发器分别与所述mcu和显示器相连，用于将所述mcu发出的测试性能结果数据转发给所述显示器，使所述显示器对所述测试性能结果数据进行显示。
技术总结本实用新型提供了一种传感器的性能测试电路，所述电路包括：CAN通信单元、MCU、测试结果指示单元和腔门控制单元；CAN通信单元用于接收目标被测传感器发出的性能测试数据并将所述性能测试数据发送给所述MCU；所述MCU用于判断接收到的所述性能测试数据得到测试性能结果数据，还用于根据测试性能结果数据向所述测试结果指示单元发出第一控制信号；所述测试结果指示单元用于根据所述第一控制信号发出测试结果信号；所述腔门控制单元用于根据所述MCU发出的第二控制信号向所述腔门的控制端发出腔门打开信号，使所述腔门打开。解决了现有技术中存在的胎压传感器的结果无法直接指示的问题，通过测试结果指示单元发出测试结果信号，提高了传感器性能的检测效率。提高了传感器性能的检测效率。提高了传感器性能的检测效率。
技术研发人员：伍艳丽 王科发 兰启洪 刘超 白立 袁宇
受保护的技术使用者：成都肯保捷芯辰传感器有限公司
技术研发日：2022.05.07
技术公布日：2022/12/1
