一种用于测量深孔位置的测头的制作方法

专利2022-06-28  109


本实用新型属于机械加工检验技术,具体涉及一种用于测高仪上测量大型结构件深孔位置的测头。



背景技术:

平台在测量大型结构件深孔孔位时,测高仪测量杆与孔壁发生干涉导致测量数据不准确。

现有方法是使用三坐标测量机测量深孔,计算出深孔的孔位。此方法虽精度较高,但检测水平要求高、检测资源有限,容易造成加工等待。



技术实现要素:

本实用新型的目的,提供一种用于测量深孔位置的测头,用于测高仪测量上以测量深孔位置。

本实用新型提供的用于测量深孔位置的测头,包括测杆1和测针6,测杆1的一端端面设置方槽2;测针6的一端设置连接头60,连接头60固定设置于方槽2内,测针6的另一端设置有测球5。

进一步地,测针6垂直轴线方向的截面面积从靠近连接头60一侧向靠近测球5一侧逐渐减小。

进一步地,测针6与测球5一体成型。

进一步地,测球5为球体结构,测球5的轮廓度在0.002-0.005mm。

进一步地,测针6和测球5的材料为硬质合金。

进一步地,测杆1上方槽两侧设置有螺纹孔3,连接头60对应设置螺钉孔7,设置螺钉4,螺钉4固定连接连接头60和测杆1。

进一步地,连接头60为半圆形结构,连接头60平行轴线方向的两个侧面与方槽2对应的两侧面之间的间隙距离为0.02-0.05mm。

本实用新型的技术效果:

在进行结构件深孔孔位测量时,将本实用新型提供的测头安装于测高仪上即可快速测量,操作简单、快捷。

测针和测球的材料为硬质合金,采用硬质合金减小测量过程中测针和测球的弹性变形,提高测量精度。

控制测球5的轮廓度,可以减少测量误差,提高测量精度。

解决了功能孔深孔无法在现场平台测量的问题,大幅度提升了检测、检验的可靠性及效率;该测头在测高仪上均可使用,具有一定的适用性和推广性。

附图说明

图1为本实用新型的用于测量深孔位置的测头的结构示意图;

图2为本实用新型的用于测量深孔位置的测头组装后结构示意图;

附图标记说明:1-测杆,2-方槽,3-螺纹孔,4-螺钉,5-测球,6-测针,7-螺钉孔,60-连接头。

具体实施方式

下面结合说明书附图对本实用新型进行说明。

图1为本实用新型的用于测量深孔位置的测头的结构示意图。如图1所示,本实用新型提供的用于测量深孔位置的测头,包括测杆1和测针6,测杆1的一端端面设置方槽2;测针6的一端设置连接头60,连接头60固定设置于方槽2内,测针6的另一端设置有测球5。

本实用新型提供的用于测量深孔位置的测头,用于测高仪上进行深孔位置测量,操作简单、快捷。

进一步地,测针6垂直轴线方向的截面面积从靠近连接头60一侧向靠近测球5一侧逐渐减小,采用该测针6结构减少深孔测量过程中的干扰。测针6与测球5一体成型。

测针6和测球5的材料为硬质合金,采用硬质合金减小测量过程中测针6和测球5的弹性变形,提高测量精度。

进一步地,测球5的轮廓度在0.002-0.005mm,具体地可以为0.002mm、0.003mm等。控制测球5的轮廓度,可以减少测量误差,提高测量精度。

进一步地,连接头60为半圆形结构,连接头60平行轴线方向的两个侧面与方槽(2)对应的两侧面之间的间隙距离为0.02-0.05mm,具体地可以为0.02mm、0.03mm等。合理设置间隙距离,可以防止连接头60松动。

在使用时,根据所测量孔的孔径大小选择测针的长短,将测针、测杆用螺钉连接;将连接好的测头装在测高仪,保证测针与测量平台平行;对测头进行校准后进行孔位测量。

本发明实用新型解决了对大型结构件深长功能孔测量、检验过程中,孔位无法在现场平台测量的问题。操作时,仅需将测头安装在测高仪上,按照指定步骤即可实现对深长孔全深度范围孔位的准确测量,操作简单,完全满足深长功能孔孔位的测量与检验要求。


技术特征:

1.一种用于测量深孔位置的测头,用于测高仪上进行深孔位置测量,其特征在于,包括测杆(1)和测针(6),所述测杆(1)的一端端面设置方槽(2);所述测针(6)的一端设置连接头(60),所述连接头(60)固定设置于所述方槽(2)内,所述测针(6)的另一端设置有测球(5)。

2.根据权利要求1所述的测头,其特征在于,所述测针(6)垂直轴线方向的截面面积从靠近所述连接头(60)一侧向靠近所述测球(5)一侧逐渐减小。

3.根据权利要求2所述的测头,其特征在于,所述测针(6)与所述测球(5)一体成型。

4.根据权利要求1所述的测头,其特征在于,所述测球(5)为球体结构,所述测球(5)的轮廓度在0.002-0.005mm。

5.根据权利要求1所述的测头,其特征在于,所述测针(6)和测球(5)的材料为硬质合金。

6.根据权利要求1所述的测头,其特征在于,所述测杆(1)上方槽(2)两侧设置有螺纹孔(3),所述连接头(60)对应设置有螺钉孔(7),设置螺钉(4),所述螺钉(4)穿过所述螺纹孔(3)和螺钉孔(7)以固定连接所述连接头(60)和所述测杆(1)。

7.根据权利要求1所述的测头,其特征在于,所述连接头(60)为半圆形结构,所述连接头(60)平行轴线方向的两个侧面与所述方槽(2)对应的两侧面之间的间隙距离为0.02-0.05mm。

技术总结
本实用新型提供一种用于测量深孔位置的测头,该测头结构包括测杆和测针,测杆的一端端面设置方槽;测针的一端设置连接头,连接头固定设置于方槽内,测针的另一端设置有测球。本实用新型提供一种用于测量深孔位置的测头,可以用于测高仪上进行深孔位置测量。

技术研发人员:王旭;谭延军
受保护的技术使用者:中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所
技术研发日:2019.08.16
技术公布日:2020.06.09

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