一种光纤宏弯损耗测试装置的制作方法

专利2022-06-28  178


本实用新型涉及光纤制造技术领域,特别是一种光纤宏弯损耗测试装置。



背景技术:

光纤通信是指利用光纤为载体,通过光信号传播来传输信息通信方式,虽然它的出现和发展历史不过三四十年,但是已经给世界通信界带来了巨大的变化。目前现代通信网络主要的传输方式就是光纤通信。要实现光纤通信,就是要尽量地降低光纤的损耗,光纤损耗的大小直接影响到光纤通信系统中继距离的长短,因此宏弯损耗测试是光纤制造及研发过程中一个重要环节,通过对比不同弯曲度的光学特性来检测光纤的宏弯损耗。同一条光纤在绕设之后若要更改不同直径的绕线柱需将光纤解开之后重新绕设,过程较为繁琐,并且频繁的重复绕设有可能对光纤造成损坏。



技术实现要素:

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种光纤宏弯损耗测试装置,减少光纤在不同弯曲直径下的调整步骤。

为解决上述技术问题,本实用新型所采用的技术方案是:一种光纤宏弯损耗测试装置,包括绕线柱,在绕线柱的一侧设有光源发生装置及光检测装置,光纤与光源发生装置连接,然后绕设于绕线柱上,再与光检测装置连接;所述绕线柱的直径由下至上逐渐变窄。

优选的,所述绕线柱包括由下至上依次包括一级绕线柱、二级绕线柱、三级绕线柱、四级绕线柱及五级绕线柱。

优选的,所述一级绕线柱的直径为25mm,二级绕线柱的直径为20mm,三级绕线柱的直径为15mm,四级绕线柱的直径为10mm,五级绕线柱的直径为7.5mm。

优选的,所述光源发生装置及光检测装置设于承载板上,承载板设于升降杆的上端。

优选的,所述光纤通过紧线装置之后与光检测装置连接;在紧线装置内设有用于供光纤通过的通道,在通道的中部设有缺口;在缺口的上部设有滚轮,在缺口的下部设有从动轮,滚轮及从动轮将光纤夹持于其间。

优选的,所述滚轮及从动轮的外表面设有橡胶涂层。

本实用新型提供一种光纤宏弯损耗测试装置,光纤绕设完成后可直接将绕好的线向上移动,移动至直径较小的上一级绕线柱上然后将光纤拉紧,便可进行另一弯曲直径的光纤宏弯损耗测试。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明:

图1为本实用新型的结构示意图;

图2为本实用新型紧线装置的结构示意图;

图3为本实用新型紧线装置的内部结构示意图。

具体实施方式

如图1所示,一种光纤宏弯损耗测试装置,包括绕线柱1,在绕线柱1的一侧设有光源发生装置2及光检测装置3,光纤与光源发生装置2连接,然后绕设于绕线柱1上,再与光检测装置3连接;所述绕线柱1的直径由下至上逐渐变窄。提供多种弯曲直径,能够方便的测量光纤在不同弯曲直径下的损耗。

优选的,所述绕线柱1包括由下至上依次包括一级绕线柱101、二级绕线柱102、三级绕线柱103、四级绕线柱104及五级绕线柱105。

优选的,所述一级绕线柱101的直径为25mm,二级绕线柱102的直径为20mm,三级绕线柱103的直径为15mm,四级绕线柱104的直径为10mm,五级绕线柱105的直径为7.5mm。

优选的,所述光源发生装置2及光检测装置3设于承载板4上,承载板4设于升降杆5的上端。

优选的,所述光纤通过紧线装置6之后与光检测装置3连接;在紧线装置6内设有用于供光纤通过的通道7,在通道7的中部设有缺口8;在缺口8的上部设有滚轮9,在缺口8的下部设有从动轮10,滚轮9及从动轮10将光纤夹持于其间。

优选的,所述滚轮9及从动轮10的外表面设有橡胶涂层11。

优选的,所述光源发生装置2采用红外线光源,光检测装置3采用光功率计。

使用时,先将红外线光源进行预热,然后将所测光纤在正常情况下连接红外光源和光功率计,这时光纤没有弯曲,所以没有弯曲损耗。再将功率计调零,并将光纤绕设在一级绕线柱101上,测量25mm弯曲直径下的损耗;测量完毕后,无需拆除绕线,直接将绕线整体向上移动,移动至第二绕线柱102上并将绕设的光纤在第二绕线柱102上拉紧,然后测量20mm弯曲直径下的宏弯损耗;依次调整绕线位置,使光纤分别在一级绕线柱至五级绕线柱上分别测量25mm、20mm、15mm、10mm及7.5mm弯曲直径下的宏弯损耗,无需将绕线拆除,仅需向上移动绕线,并拉紧即可完成调整。在绕线不断上移的过程中,可调整升降杆5,使承载板4与绕线处于同一水平高度。绕线位置上移后,由于绕线柱的直径变小,绕线会变得松弛,通过转动滚轮9,将绕线拉紧,减小实验误差。

上述的实施例仅为本实用新型的优选技术方案,而不应视为对于本实用新型的限制,本实用新型的保护范围应以权利要求记载的技术方案,包括权利要求记载的技术方案中技术特征的等同替换方案为保护范围。即在此范围内的等同替换改进,也在本实用新型的保护范围之内。


技术特征:

1.一种光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:包括绕线柱(1),在绕线柱(1)的一侧设有光源发生装置(2)及光检测装置(3),光纤与光源发生装置(2)连接,然后绕设于绕线柱(1)上,再与光检测装置(3)连接;所述绕线柱(1)的直径由下至上逐渐变窄。

2.根据权利要求1所述一种光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:所述绕线柱(1)包括由下至上依次包括一级绕线柱(101)、二级绕线柱(102)、三级绕线柱(103)、四级绕线柱(104)及五级绕线柱(105)。

3.根据权利要求2所述一种光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:所述一级绕线柱(101)的直径为25mm,二级绕线柱(102)的直径为20mm,三级绕线柱(103)的直径为15mm,四级绕线柱(104)的直径为10mm,五级绕线柱(105)的直径为7.5mm。

4.根据权利要求1所述一种光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:所述光源发生装置(2)及光检测装置(3)设于承载板(4)上,承载板(4)设于升降杆(5)的上端。

5.根据权利要求1所述一种光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:所述光纤通过紧线装置(6)之后与光检测装置(3)连接;在紧线装置(6)内设有用于供光纤通过的通道(7),在通道(7)的中部设有缺口(8);在缺口(8)的上部设有滚轮(9),在缺口(8)的下部设有从动轮(10),滚轮(9)及从动轮(10)将光纤夹持于其间。

6.根据权利要求5所述一种光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于:所述滚轮(9)及从动轮(10)的外表面设有橡胶涂层(11)。

技术总结
一种光纤宏弯损耗测试装置,包括绕线柱,在绕线柱的一侧设有光源发生装置及光检测装置,光纤与光源发生装置连接,然后绕设于绕线柱上,再与光检测装置连接;所述绕线柱的直径由下至上逐渐变窄。本实用新型提供一种光纤宏弯损耗测试装置,光纤绕设完成后可直接将绕好的线向上移动,移动至直径较小的上一级绕线柱上然后将光纤拉紧,便可进行另一弯曲直径的光纤宏弯损耗测试。

技术研发人员:杨欣;覃家乐
受保护的技术使用者:宜昌市源度科技有限公司
技术研发日:2019.11.26
技术公布日:2020.06.09

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