本发明涉及天线工程技术领域，尤其涉及一种人工介质多层柱状透镜制造方法。
背景技术：
随着龙伯介质透镜天线在移动通信领域的应用，对龙伯介质透镜的制作方法提出了更高的要求。在保持原有介质透镜天线高增益，宽波束，超轻等性能的同时，还要求介质透镜的制作工艺更简单，可操作性更强，一次性成品率更高，更加适用于大批量生产。
传统的龙伯球天线主要通过打孔和发泡两种工艺来制作，过程耗时繁琐且产品质量太重。透镜天线的效率非常低；传统发泡方法得到的材料介电常数很难超过1.4，再想提升材料的密度必然会很大，增大重量。其介电常数难以精确控制。
matsine龙伯球采用高介电材料颗粒与轻介质材料混合发泡方式制成球状透镜，是迄今较轻的人造介质龙伯球，但制造工艺复杂、产品合格率低。而且，天线增益高的matsine龙伯球天线与传统移动通信基站天线一样，垂直面波束宽度窄，垂直覆盖难以扩大，即使配有复杂的垂直波束下倾机构也不能同时覆盖近远距离。
中国发明专利(200580038415.7：luneberg介电透镜及其制造方法)公开了一种半球形介电透镜，其实施例中提供的半球形透镜总表观密度在0.17-0.27g/cm3之间，仍然太重，难以大量应用。
中国发明专利(201710713195.8：一种人工介质多层圆柱透镜)公开了一种多层圆柱透镜，该发明主要采用递减各层介电常数，围绕中心圆柱层依次向外套叠排列的方式，实现多层圆柱介质透镜。各层介电常数虽然可以得到精确的控制，但在制作每一个同心圆环时，均需进行严格的设计，尤其是将制备好的同心圆环进行套叠时，工艺复杂，难度大，而且在套叠时还必须保证各层之间紧密无缝隙，最终制备得到的圆柱透镜合格率低，在实现批量化大规模生产时生产效率将会有所受限。
技术实现要素：
为解决现有技术中存在的技术问题，针对现有球形、半球形龙伯或圆柱透镜存在的加工复杂，重量较大的问题提供了一种制备极其简单、质量超轻、频率超宽的人工介质多层柱状透镜制造方法。
本发明提供了一种人工介质多层柱状透镜制造方法，具体技术方案如下：一方面，一种人工介质多层柱状透镜制造方法，包括如下步骤：
s1：选取单面胶泡棉作为基材；
s2：将步骤s1中所述的基材平铺在工作台上，胶面朝上，沿长度方向展开；
s3：将设计的高介电常数颗粒材料粘连在步骤s2中胶面朝上的基材上；
s4：将步骤s3中粘连高介电常数颗粒材料的基材沿垂直宽度方向，按设计卷或压制成n(1≤n≤1000)层圆柱体，作为初制的圆柱体透镜；
s5：将初制的圆柱体透镜与天线结合，在测量天线性能的微波暗室检验，测试天线的增益、方向图、各项电指标和重量，并与预定值比较，调整各层的介电常数值或圆柱体透镜尺寸，直至符合设计要求。
另一方面，本发明还提供了另一种人工介质多层柱状透镜制造方法，还包括初制椭圆柱体透镜，制备椭圆柱体透镜时包括以下步骤：
s11：选取单面胶泡棉作为基材；
s12：将步骤s11中所述的基材平铺在工作台上，胶面朝上，沿长度方向展开；
s13：将设计的高介电常数颗粒材料粘连在步骤s12中胶面朝上的基材上；
s14：将步骤s13中粘连高介电常数颗粒材料的基材沿垂直宽度方向，按设计卷或压制成模具圆柱体，将模具圆柱体修正为椭圆柱体，作为椭圆柱体模芯；
s15：再重复步骤s11-s13，获得另一个胶面朝上的基材，将另一个胶面朝上的基材在椭圆柱体的模芯外层进行卷或压制，形成初制的椭圆柱体；
所述模具圆柱体的直径为初制的椭圆柱体的短轴的1/3-2/3；
s16：将初制的椭圆柱体透镜与天线结合，在测量天线性能的微波暗室检验，测试天线的增益、方向图、各项电指标和重量，并与预定值比较，调整各层的介电常数值椭圆柱体透镜尺寸，直至符合设计要求。
优选地，步骤s3和s13中的高介电常数颗粒材料相同或不同。
优选地，当步骤s3中的高介电常数颗粒材料的介电常数不同时，将步骤s2中胶面朝上的基材分为n个区域，将步骤s3中m种不同的高介电常数颗粒材料按照介电常数从大到小依次均匀撒在对应的n个区域内，按步骤s4中将粘连高介电常数颗粒材料的基材从介电常数大的一端开始沿垂直宽度方向进行卷或压制，其中，m＝n，m、n均为大于1的整数；
当步骤s13中的高介电常数颗粒材料的介电常数不同时，将步骤s12中胶面朝上的基材分为n个区域，将步骤s13中m种不同的高介电常数颗粒材料按照介电常数从大到小依次均匀撒在对应的n个区域内，按步骤s14中将粘连高介电常数颗粒材料的基材从介电常数大的一端开始沿垂直宽度方向进行卷或压制，其中，m＝n，m、n均为大于1的整数。
优选地，当步骤s3中的高介电常数颗粒材料的介电常数相同时，将步骤s3中高介电常数颗粒材料均匀撒在胶面朝上的基材上，按步骤s4中将粘连相同的高介电常数颗粒材料的基材进行卷或压制；
当步骤s13中的高介电常数颗粒材料的介电常数相同时，将步骤s13中高介电常数颗粒材料均匀撒在胶面朝上的基材上，按步骤s14中将粘连相同的高介电常数颗粒材料的基材进行卷或压制。
优选地，所述高介电常数颗粒材料为金属粉、陶瓷粉、印刷导电线或绝缘扁金属线中的一种或几种。
优选地，所述基材的介电常数范围为1.0<ε<2.0，所述高介电常数颗粒材料的介电常数的范围为1.0<ε<3.0。
优选地，在卷或压制的过程中，保证n层圆柱体或椭圆柱体中的相邻层之间紧密无缝隙。
优选地，所述基材宽度h范围为10mm<h<10000mm，厚度t范围为0<t<10mm。
优选地，所述基材为轻型发泡介质材料，所述轻型发泡介质材料为聚乙烯、聚苯乙烯、聚四氟乙烯、聚丙烯、聚氨酯或聚氯乙烯中的一种或几种，所述轻型发泡介质材料密度为0.01-0.1g/cm3。更优选地，所述轻型发泡介质材料为聚苯乙烯、聚氯乙烯或聚乙烯。
优选地，所述高介电常数颗粒材料为金属粉、陶瓷粉、印刷导电线或绝缘扁金属线中的一种或几种。
优选地，高介电常数颗粒材料为粉末状、块状、针状或球状。
优选地，各层介电常数由各层中包含所述添加颗粒材料的电磁响应和密度决定。
优选地，所述圆柱或椭圆柱透镜中各层的介电常数值通过介电常数测试仪测试确定。
优选地，所述圆柱或椭圆柱透镜的结构参数和性能参数根据天线的实际工作需要确定，所述结构参数包括所述柱状透镜的直径d、高度h、层数n，所述性能参数包括各同心层的介电常数值ε。
优选地，所述圆柱或椭圆柱透镜的直径为10-9000mm，高度为6-90cm。
优选地，所述圆柱或椭圆柱透镜的总表观密度为0.07-0.1g/cm3o
作为优选实施例，本发明提供了一种将多层柱状透镜，应用于天线系统中构造成超轻、超宽频、多层、柱状多波束天线，所述超宽频的频率为0.1ghz-28ghz。
与现有技术相对比，本发明的有益效果如下：
(1)本发明提供的人工介质多层柱状透镜制造方法是通过将高介电常数颗粒材料材料粘连在低介电常数的单面胶泡棉基材上，卷或压制成圆柱或椭圆柱多层介质透镜，该方法制作工艺简单，方便快捷，不用模具，制造精准，生产成本低廉。
(2)本发明提供的人工介质椭圆柱多层介质透镜，构造水平双波束天线比传统劈裂双波束天线具有更宽的覆盖，吸收用户更多。而且，本发明中提供的椭圆柱透镜双波束天线高度/体积比传统劈裂天线小一倍。
(3)本发明提供的制造方法当制造介电常数相同的颗粒材料时，仅仅通过将颗粒材料均匀撒在基材上，然后进行卷或压制形成圆柱或椭圆柱体透镜，该透镜在保证各个基本性能的同时，较传统方法，制备工艺更简单，能够快速的大批量生产，且节约生产成本。
附图说明
图1是本发明提供的多层圆柱透镜的结构示意图；
图2是本发明提供的多层圆柱透镜的俯视图；
图3是本发明提供的多层椭圆柱体透镜的结构示意图；
图4是本发明提供的多层椭圆柱体透镜的俯视图；
图5是本发明提供的圆柱透镜与现有圆柱透镜的天线实测方向比较图；
图6是本发明提供的椭圆柱透镜与现有圆柱透镜的天线实测方向比较图；
图7是椭圆柱透镜天线双波束水平/垂直方向与传统劈裂天线双波束水平/垂直方向比较图。
附图标记：
1、椭圆柱体模芯；2、基材；3、现有圆柱透镜单波束；4、本实施例中提供的圆柱透镜单波束；5、现有圆柱透镜双波束的左波束；6、现有圆柱透镜双波束的右波束；7、本实施例中提供的椭圆柱透镜双波束天线的左波束；8、本实施例中提供的椭圆柱透镜双波束天线的右波束；9、传统劈裂天线的左波束；10、传统劈裂天线的右波束；11、本实施例中提供的椭圆柱透镜天线的垂直面方向图；12、传统劈裂天线的垂直面方向图。
具体实施方式
下面结合附图，对本发明的具体实施方式作详细的说明。
如图1-2所示，图1是本发明提供的多层圆柱透镜的结构示意图；图2是本发明提供的多层圆柱透镜的俯视图；一方面，本发明提供了一种人工介质多层圆柱透镜制造方法，包括如下步骤：
s1：选取单面胶泡棉作为基材2；
s2：将步骤s1中所述的基材2平铺在工作台上，胶面朝上，沿长度方向展开；
s3：将设计的高介电常数颗粒材料粘连在步骤s2中胶面朝上的基材2上；
s4：将步骤s3中粘连高介电常数颗粒材料的基材沿垂直宽度方向，按设计卷或压制成n(1≤n≤1000)层圆柱体，作为初制的圆柱体透镜；
s5：将初制的圆柱体透镜与天线结合，在测量天线性能的微波暗室检验，测试天线的增益、方向图、各项电指标和重量，并与预定值比较，调整各层的介电常数值或圆柱体透镜尺寸，直至符合设计要求。
其中，步骤s3中的高介电常数颗粒材料相同或不同；
作为优选实施方式，当步骤s3中的高介电常数颗粒材料的介电常数不同时，将步骤s2中胶面朝上的基材分为n个区域，将步骤s3中m种不同的高介电常数颗粒材料按照介电常数从大到小依次均匀撒在对应的n个区域内，按步骤s4中将粘连高介电常数颗粒材料的基材从介电常数大的一端开始沿垂直宽度方向进行卷或压制，其中，m＝n；m、n均为大于1的整数。
作为优选实施方式，当步骤s3中的高介电常数颗粒材料的介电常数相同时，将步骤s3中高介电常数颗粒材料均匀撒在胶面朝上的基材上，按步骤s4中将粘连相同的高介电常数材料的基材进行卷或压制；
如图3-4所示，图3是本发明提供的多层椭圆柱体透镜的结构示意图；图4是本发明提供的多层椭圆柱体透镜的俯视图；另一方面，本发明还提供了一种人工介质多层椭圆柱体透镜制造方法，包括以下步骤：
s11：选取单面胶泡棉作为基材2；
s12：将步骤s11中所述的基材2平铺在工作台上，胶面朝上，沿长度方向展开；
s13：将设计的高介电常数颗粒材料粘连在步骤s12中胶面朝上的基材2上；
s14：将步骤s13中粘连高介电常数颗粒材料的基材沿垂直宽度方向，按设计卷或压制成模具圆柱体，将模具圆柱体修正为椭圆柱体，作为椭圆柱体模芯1；
s15：再重复步骤s11-s13，获得另一个胶面朝上的基材，将另一个胶面朝上的基材在椭圆柱体的模芯外层进行卷或压制，形成初制的椭圆柱体；
所述模具圆柱体的直径为初制的椭圆柱体的短轴的1/3-2/3；
s16：将初制的椭圆柱体透镜与天线结合，在测量天线性能的微波暗室检验，测试天线的增益、方向图、各项电指标和重量，并与预定值比较，调整各层的介电常数值椭圆柱体透镜尺寸，直至符合设计要求。
其中，步骤s13中的高介电常数颗粒材料相同或不同；
作为优选实施方式，当步骤s13中的高介电常数颗粒材料的介电常数不同时，将步骤s12中胶面朝上的基材分为n个区域，将步骤s13中m种不同的高介电常数颗粒材料按照介电常数从大到小依次均匀撒在对应的n个区域内，按步骤s14中将粘连高介电常数颗粒材料的基材从介电常数大的一端开始沿垂直宽度方向进行卷或压制，其中，m＝n，m、n均为大于1的整数。
作为优选实施方式，当步骤s13中的高介电常数颗粒材料的介电常数相同时，将步骤s13中高介电常数颗粒材料均匀撒在胶面朝上的基材上，按步骤s14中将粘连相同的高介电常数颗粒材料的基材进行卷或压制。
作为优选实施方式，本发明提供的高介电常数颗粒材料为金属粉、陶瓷粉、印刷导电线或绝缘扁金属线中的一种或几种。
作为优选实施方式，所述基材的介电常数范围为1.0<ε<2.0，所述高介电常数颗粒材料的介电常数的范围为1.0<ε<3.0。
作为优选实施方式，在卷或压制的过程中，保证n层圆柱体或椭圆柱体中的相邻层之间紧密无缝隙。
作为优选实施方式，本发明提供的基材基材宽度h范围为10mm<h<10000mm，厚度t范围为0<t<10mm。
作为优选实施方式，本发明提供的基材为轻型发泡介质材料，所述轻型发泡介质材料为聚乙烯、聚苯乙烯、聚四氟乙烯、聚丙烯、聚氨酯或聚氯乙烯中的一种或几种，所述轻型发泡介质材料密度为0.01-0.1g/cm3。更优选地，所述轻型发泡介质材料为聚苯乙烯、聚氯乙烯或聚乙烯。
作为优选实施方式，本发明提供的基材高介电常数颗粒材料为金属粉、陶瓷粉、印刷导电线或绝缘扁金属线中的一种或几种。本发明提供的基材高介电常数颗粒材料为、粉末状、块状、针状或球状。
作为优选实施方式，本发明提供的圆柱或椭圆柱透镜的直径为10-9000mm，高度为6-90cm。
作为优选实施方式，本发明提供的圆柱或椭圆柱透镜的总表观密度为0.07-0.1g/cm3o
其中，本发明提供的各层介电常数由各层中包含所述添加颗粒材料的电磁响应和密度决定。本发明圆柱或椭圆柱透镜中各层的介电常数值通过介电常数测试仪测试确定。根据测试仪器测量确定各层等效介电常数ε值误差为≤ /-0.05；本发明提供的基材圆柱或椭圆柱透镜的结构参数和性能参数根据天线的实际工作需要确定，所述结构参数包括所述柱状透镜的直径d、高度h、层数n，所述性能参数包括各同心层的介电常数值ε。
实施例1：圆柱透镜的制备方法
s1：选取厚度t为2mm的单面胶泡棉作为基材2；
s2：将步骤s1中所述的基材平铺在工作台上，胶面朝上，并胶面朝上的基材分为n个区域，沿长度方向展开；
s3：将设计的m种高介电常数颗粒材料按照介电常数从大到小依次均匀撒在步骤s2胶棉朝上的n个区域内，其中，m＝n，m、n均为大于1的整数；
其中，本实施例中设计的高介电常数颗粒材料的介电常数不同；其中，该实施例中高介电常数颗粒材料的介电常数不同的种类与基材分割的区域相同；
s4：将步骤s3中粘连高介电常数颗粒材料的基材从介电常数大的一端开始沿垂直宽度方向，按设计卷并压制成圆柱体，作为初制的圆柱体透镜；
s5：将初制的圆柱体透镜与天线结合，在测量天线性能的微波暗室检验，测试天线的增益、方向图、各项电指标和重量，并与预定值比较，调整各层的介电常数值或圆柱体透镜尺寸，直至符合设计要求。
其中，按照本实施例制备方法制备得到的圆柱透镜从内到外层的介电常数依次变小；
如图5所示，图5为本实施例中提供的圆柱透镜与现有圆柱透镜的天线实测方向比较图；具体为本实施例中提供的圆柱透镜单波束天线与现有圆柱透镜单波束天线方向图60°扇区覆盖比较：现有圆柱透镜为专利cn107959122b中的圆柱透镜；
如图5所示，本实施例中提供的圆柱透镜4(即为线4)与现有圆柱透镜3(即为线3)的天线实测方向比较图；具体为本实施例中提供的圆柱透镜天线与现有圆柱透镜天线方向图比较，说明本实施例中提供的圆柱透镜天线的与现有圆柱透镜天线方向图具有一致性，但本实施例中提供的圆柱透镜天线4(线4)的旁瓣小于-15db，后瓣更小。现有圆柱透镜为专利cn107959122b中的圆柱透镜。
实施例2：椭圆柱透镜的制备方法
本实施例中提供了一种人工介质多层椭圆柱透镜制造方法，包括以下步骤：
s11：选取厚度t为2mm的单面胶泡棉作为基材2；
s12：将步骤s11中所述的基材平铺在工作台上，胶面朝上，并胶面朝上的基材分为n个区域，沿长度方向展开；
s13：将设计的m种高介电常数颗粒材料按照介电常数从大到小依次均匀撒在在步骤s12中胶面朝上的基材的n个区域内；其中，本实施例中设计的高介电常数颗粒材料的介电常数不同；其中，m＝n，m、n均为大于1的整数。
s14：将步骤s13中粘连高介电常数颗粒材料的基材从介电常数大的一端开始沿垂直宽度方向，按设计卷并压制成模具圆柱体，将模具圆柱体修正为椭圆柱体，作为椭圆柱体模芯1；
s15：再重复步骤s11-s13，获得另一个胶面朝上的宽度为h(10mm<h<10000mm)厚度为t(0<t<10mm)基材，将另一个胶面朝上的基材在椭圆柱体模芯外层进行卷或压制，形成初制的椭圆柱体；
所述模具圆柱体的直径为初制的椭圆柱体的短轴的1/3-2/3；
s16：将初制的椭圆柱体透镜与天线结合，在测量天线性能的微波暗室检验，测试天线的增益、方向图、各项电指标和重量，并与预定值比较，调整各层的介电常数值椭圆柱体透镜尺寸，直至符合设计要求。
如图6所示，图6为本实施例中提供的椭圆柱透镜与现有圆柱透镜的天线实测方向比较图；具体为本实施例中提供的椭圆柱透镜双波束天线与现有圆柱透镜双波束天线方向图120°扇区覆盖比较：现有圆柱透镜为专利cn107959122b中的圆柱透镜；
如图6所示，线5为现有圆柱透镜双波束的左波束5；线6为现有圆柱透镜双波束的右波束6；线7为本实施例中提供的椭圆柱透镜双波束天线的左波束7；线8为本实施例中提供的椭圆柱透镜双波束天线的右波束8。由图可知，显然本实施例中提供的椭圆柱双波束天线的波瓣宽度比现有圆柱双波束天线的波瓣宽度要宽。因此，本实施例中提供的椭圆柱透镜双波束天线信号覆盖范围比现有圆柱透镜双波束天线信号覆盖范围更广，能吸收更多用户，使基站吞吐量(容量)更大。
如图7所示，图7是椭圆柱透镜天线双波束水平/垂直方向与传统劈裂天线双波束水平/垂直方向比较图。其中，线9为传统劈裂天线的左波束9，线10为传统劈裂天线的右波束，线11为本实施例中提供的椭圆柱透镜天线的垂直面方向图，如图7中的标记11；线12为传统劈裂天线的垂直面方向图，如图7中的标记12；由图可知，本实施例中椭圆柱透镜天线水平/垂直波瓣宽度要比传统劈裂天线水平/垂直波瓣宽度要宽，因此信号覆盖范围更广，能吸收用户更多，系统容量更大。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围之内。
1.一种人工介质多层柱状透镜制造方法，其特征在于，包括如下步骤：
s1：选取单面胶泡棉作为基材；
s2：将步骤s1中所述的基材平铺在工作台上，胶面朝上，沿长度方向展开；
s3：将设计的高介电常数颗粒材料粘连在步骤s2中胶面朝上的基材上；
s4：将步骤s3中粘连高介电常数颗粒材料的基材沿垂直宽度方向，按设计卷或压制成n(1≤n≤1000)层圆柱体，作为初制的圆柱体透镜；
s5：将初制的圆柱体透镜与天线结合，在测量天线性能的微波暗室检验，测试天线的增益、方向图、各项电指标和重量，并与预定值比较，调整各层的介电常数值或圆柱体透镜尺寸，直至符合设计要求。
2.如权利要求1所述的一种人工介质多层柱状透镜制造方法，其特征在于，还包括初制椭圆柱体透镜，制备椭圆柱体透镜时包括以下步骤：
s11：选取单面胶泡棉作为基材；
s12：将步骤s11中所述的基材平铺在工作台上，胶面朝上，沿长度方向展开；
s13：将设计的高介电常数颗粒材料粘连在步骤s12中胶面朝上的基材上；
s14：将步骤s13中粘连高介电常数颗粒材料的基材沿垂直宽度方向，按设计卷或压制成模具圆柱体，将模具圆柱体修正为椭圆柱体，作为椭圆柱体模芯；
s15：再重复步骤s11-s13，获得另一个胶面朝上的基材，将另一个胶面朝上的基材在椭圆柱体的模芯外层进行卷或压制，形成初制的椭圆柱体；
所述模具圆柱体的直径为初制的椭圆柱体的短轴的1/3-2/3；
s16：将初制的椭圆柱体透镜与天线结合，在测量天线性能的微波暗室检验，测试天线的增益、方向图、各项电指标和重量，并与预定值比较，调整各层的介电常数值椭圆柱体透镜尺寸，直至符合设计要求。
3.如权利要求1或2所述的一种人工介质多层柱状透镜制造方法，其特征在于，步骤s3和s13中的高介电常数颗粒材料相同或不同。
4.如权利要求3所述的一种人工介质多层柱状透镜制造方法，其特征在于，当步骤s3中的高介电常数颗粒材料的介电常数不同时，将步骤s2中胶面朝上的基材分为n个区域，将步骤s3中m种不同的高介电常数颗粒材料按照介电常数从大到小依次均匀撒在对应的n个区域内，按步骤s4中将粘连高介电常数颗粒材料的基材从介电常数大的一端开始沿垂直宽度方向进行卷或压制，其中，m＝n，m、n均为大于1的整数；
当步骤s13中的高介电常数颗粒材料的介电常数不同时，将步骤s12中胶面朝上的基材分为n个区域，将步骤s13中m种不同的高介电常数颗粒材料按照介电常数从大到小依次均匀撒在对应的n个区域内，按步骤s14中将粘连高介电常数颗粒材料的基材从介电常数大的一端开始沿垂直宽度方向进行卷或压制，其中，m＝n，m、n均为大于1的整数。
5.如权利要求3所述的一种人工介质多层柱状透镜制造方法，其特征在于，当步骤s3中的高介电常数颗粒材料的介电常数相同时，将步骤s3中高介电常数颗粒材料均匀撒在胶面朝上的基材上，按步骤s4中将粘连相同的高介电常数颗粒材料的基材进行卷或压制；
当步骤s13中的高介电常数颗粒材料的介电常数相同时，将步骤s13中高介电常数颗粒材料均匀撒在胶面朝上的基材上，按步骤s14中将粘连相同的高介电常数颗粒材料的基材进行卷或压制。
6.如权利要求1或2所述的一种人工介质多层柱状透镜制造方法，其特征在于，所述高介电常数颗粒材料为金属粉、陶瓷粉、印刷导电线或绝缘扁金属线中的一种或几种。
7.如权利要求1或2所述的一种人工介质多层柱状透镜制造方法，其特征在于，所述基材的介电常数范围为1.0<ε<2.0，所述高介电常数颗粒材料的介电常数的范围为1.0<ε<3.0。
8.如权利要求1或2所述的一种人工介质多层柱状透镜制造方法，其特征在于，在卷或压制的过程中，保证n层圆柱体或椭圆柱体中的相邻层之间紧密无缝隙。
9.如权利要求1或2所述的一种人工介质多层柱状透镜制造方法，其特征在于，所述基材宽度h范围为10mm<h<10000mm，厚度t范围为0<t<10mm。
10.如权利要求1或2所述的一种人工介质多层柱状透镜制造方法，其特征在于，所述基材为轻型发泡介质材料，所述轻型发泡介质材料为聚乙烯、聚苯乙烯、聚四氟乙烯、聚丙烯、聚氨酯或聚氯乙烯中的一种或几种，所述轻型发泡介质材料密度为0.01-0.1g/cm3。
技术总结