本发明涉及硬件测试技术领域，尤其涉及一种i2c总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质。
背景技术：
集成电路总线(interintegratedcircuitbus，i2c)是一种两线式串行总线，主要应用于集成电路设计中，i2c总线包括串行数据线(serialdata，sda)与串行时钟线(serialclock，scl)两根数据传输线，并通过sda与scl在器件之间传输信息。
现有技术中，在对具有i2c协议的主板进行i2c总线测试时，需要测试人员手动输入测试参数，并根据测试得到的波形进行判断获得测试数据，这要求测试人员不仅对i2c协议具有一定的了解，还需要测试人员能够熟练的掌握测试数据的确定方式，在i2c总线测试中，由于需要设置的测试参数较多，在测试人员进行设置时，需要多次对测试参数进行确认，从而影响i2c总线的测试效率。
技术实现要素：
本发明提供一种i2c总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中i2c总线测试需要测试人员手动设置测试参数，测试效率低的问题。
为实现上述目的，本发明提出了一种i2c总线测试方法，应用于i2c总线测试装置，所述i2c总线测试装置与示波器通信连接，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括i2c总线，所述i2c总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；所述i2c总线测试包括：
获取用户输入的测试路径；
根据所述测试路径，获取测试配置文件；
将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；
向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。
可选的，所述将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数的步骤，包括：
根据所述配置文件，确定所述示波器的第一配置参数与所述i2c测试通道；
根据所述i2c测试通道，确定所述i2c测试测试通道关联的第二配置参数；
将所述第一配置参数与所述第二配置参数发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数。
可选的，所述向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果的步骤包括：
向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试波形；
根据所述测试波形，获取所述测试波形的特征参数；
根据所述特征参数，确定所述测试数据；
根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。
可选的，所述测试波形包括第一测试波形与第二测试波形，所述向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果的步骤，包括：
向所述示波器发送测试指令，并同时接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的所述第一测试波形与所述第二测试波形；
根据所述第一测试波形获取第一测试参数，以及根据所述第二测试波形获取第二测试参数；
根据所述第一特征参数与所述第二测试参数，确定所述测试数据；
根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。
可选的，所述根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果的步骤，包括：
当所述测试数据位于所述预设合格范围内时，输出测试合格的所述测试结果；
当所述测试数据位于所述预设合格范围外时，输出测试不合格的所述测试结果。
可选的，所述测试参数包括串行时钟信号的数据建立时间，串行时钟信号的数据保持时间，串行时钟信号的低电平时间，串行时钟信号的高电平时间，串行数据信号的低输入电压、串行数据信号的高输入电压。
为实现上述目的，本申请提出一种i2c总线测试装置，所述i2c总线测试装置包括上位机与示波器，所述上位机与所述示波器通信连接，所述示波器通过探针与待测设备的i2c总线连接，所述上位机包括处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现如上述任一项实施方式所述的i2c总线测试方法的步骤。
可选的，所述探针包括第一探针与第二探针，所述i2c总线包括串行数据线和串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与串行时钟线连接。
为实现上述目的，本申请提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有i2c总线测试程序，所述i2c总线测试程序被处理器执行时实现如上述任一项实施方式所述的i2c总线测试方法的步骤。
本申请提出的技术方案中，所述i2c总线测试方法应用于i2c总线测试装置，所述i2c总线测试装置与示波器通信连接，所述i2c总线测试装置包括上位机与示波器，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括i2c总线，所述i2c总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；在对待测设备进行i2c总线测试时，首先获取用户输入的测试路径，并在所述测试路径中获取关联的测试配置文件，并在获取所述配置文件后，将所述配置文件发送至示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果，通过调用所述测试配置文件，能够使测试人员在对i2c总线测试时，自动获取与待测设备关联的测试参数，并自动执行对应的测试程序，从而解决了现有技术中i2c总线测试需要测试人员手动设置测试参数，测试效率低的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图；
图2是本发明i2c总线测试方法实施例1的流程示意图；
图3是本发明i2c总线测试方法实施例2的流程示意图；
图4是本发明i2c总线测试方法实施例3的流程示意图；
图5是本发明i2c总线测试方法实施例4的流程示意图；
图6是本发明i2c总线测试方法实施例5的流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
另外，本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
如图1所示，图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的装置结构示意图。
如图1所示，该装置可以包括：控制器1001，例如cpu，网络接口1004，用户接口1003，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(display)、输入单元比如键盘(keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如wi-fi接口)。存储器1005可以是高速ram存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述控制器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的装置结构并不构成对装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及应用程序。
在图1所示的服务器中，用户接口1003主要用于显示装置结构的内容，而控制器1001可以用于调用存储器1005中存储的应用程序，并执行以下操作：
获取用户输入的测试路径；
根据所述测试路径，获取测试配置文件；
将所述配置文件发送至示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；
向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。
进一步地，控制器1001可以调用存储器1005中存储的应用程序，还执行以下操作：
根据所述配置文件，确定所述示波器的第一配置参数与所述i2c测试通道；
根据所述i2c测试通道，确定所述i2c测试测试通道关联的第二配置参数；
将所述第一配置参数与所述第二配置参数发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数。
进一步地，控制器1001可以调用存储器1005中存储的应用程序，还执行以下操作：
向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试波形；
根据所述测试波形，获取所述测试波形的特征参数；
根据所述特征参数，确定所述测试数据；
根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。
进一步地，控制器1001可以调用存储器1005中存储的应用程序，还执行以下操作：
向所述示波器发送测试指令，并同时接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的所述第一测试波形与所述第二测试波形；
根据所述第一测试波形获取第一测试参数，以及根据所述第二测试波形获取第二测试参数；
根据所述第一特征参数与所述第二测试参数，确定所述测试数据；
根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。
进一步地，控制器1001可以调用存储器1005中存储的应用程序，还执行以下操作：
当所述测试数据位于所述预设合格范围内时，输出测试合格的所述测试结果；
当所述测试数据位于所述预设合格范围外时，输出测试不合格的所述测试结果。
本发明提供一种i2c总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质。
实施例1
请参照图2，应用于i2c总线测试装置，所述i2c总线测试装置与示波器通信连接，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括i2c总线，所述i2c总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；所述i2c总线测试包括：
s100，获取用户输入的测试路径；
s200，根据所述测试路径，获取测试配置文件；
其中，所述测试路径是指所述上位机中用于保存测试配置文件的文件路径。具体的，在获取所述测试路径时，可以通过用户手动输入路径地址的方式进行获取，还可以通过文件夹浏览的方式点选所述测试配置文件。
其中，所述测试配置文件包括在i2c总线测试中用于对所述示波器进行参数设置的配置参数，当不同的所述待测设备需要对不同的参数进行测试时，为了方便所述上位机对所述配置参数进行设置，可以根据不同的所述待测设备配置不同的所述测试配置文件，从而当选择所述待测设备后，用户可以通过手动方式或自动识别的方式对所述待测设备的型号或测试方式进行识别，从而确定所述测试配置文件。
s300，将所述配置文件发送至示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；
s400，向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。
其中，在根据所述配置文件对所述示波器完成参数配置后，所述示波器通过所述探针对所述待测设备的i2c总线进行测试，具体的，所述示波器通过所述探针与所述待测设备连接，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括i2c总线，所述i2c总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接，所述第一探针与所述第二探针分别胡获取串行数据线与串行时钟线的测试波形。
本申请提出的技术方案中，所述i2c总线测试方法应用于i2c总线测试装置，所述i2c总线测试装置与示波器通信连接，所述i2c总线测试装置包括上位机与示波器，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括i2c总线，所述i2c总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；在对待测设备进行i2c总线测试时，首先获取用户输入的测试路径，并在所述测试路径中获取关联的测试配置文件，并在获取所述配置文件后，将所述配置文件发送至示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果，通过调用所述测试配置文件，能够使测试人员在对i2c总线测试时，自动获取与待测设备关联的测试参数，并自动执行对应的测试程序，从而解决了现有技术中i2c总线测试需要测试人员手动设置测试参数，测试效率低的问题。
实施例2
请参照图3，在实施例1中，上述步骤s300，包括：
s310，根据所述配置文件，确定所述示波器的第一配置参数与所述i2c测试通道；
其中，所述第一配置参数为所述探针的相关参数，具体的，所述第一配置参数包括但不限于所述探针的带宽、衰减系数、上升时间、采样率、存储深度、波形捕获率。所述测试通道用于连接所述待测设备的i2c总线。
s320，根据所述i2c测试通道，确定所述i2c测试测试通道关联的第二配置参数。
其中，在确定所述i2c测试通道后，还需要对所述第二配置参数进行确定，其中，所述第二配置参数为所述i2c测试通道中的水平触发位置，垂直触发位置以及时间基准。
s330，将所述第一配置参数与所述第二配置参数发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数。
其中，在确定所述第一配置参数与所述第二配置参数后，根据所述第一配置参数与所述第二配置参数对所述示波器进行参数设置，从而使示波器能够适用于当前所述待测设备的i2c总线测试过程，通过直接调用所述第一配置参数与所述第二配置参数，方便测试人员在所述上位机上通过简单的操作后直接对所述待测设备进行测试。
实施例3
请参照图4，在实施例1中，上述步骤s400，包括：
s410，向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试波形；
具体的，所述测试波形是指所述示波器在对所述待测设备进行测试后，从所述i2c测试通道获取的波形数据，所述测试波形可以为正弦波、梯形波、三角波、方波。
s420，根据所述测试波形，获取所述测试波形的特征参数；
具体的，所述测试波形的特征参数是指所述测试波形在不同的变化趋势下的参数或参数范围，具体的，当所述测试波形为正弦波时，所述测试波形的特征参数可以为所述正弦波的周期、振幅等参数，当所述测试波形为梯形波，所述测试波形的特征桉树可以为所述梯形波的斜率。
s430，根据所述特征参数，确定所述测试数据；
s440，根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。
其中，在确定所述特征参数后，可以根据所述特征参数确定所述测试数据，具体的，所述测试数据的获取方式参考所述预设合格范围的参数，并根据确定后的所述测试数据与所述预设合格范围进行对比，具体的，所述预设合格范围为测试前所述上位机读取的用于对所述待测设备进行测试评价的参数范围，所述预设合格范围可以由测试人员预先进行设定，或是通过读取所述配置文件进行确定。
实施例4
请参照图5，在实施例1中，所述测试波形包括第一测试波形与第二测试波形，上述步骤s400，包括：
s411，向所述示波器发送测试指令，并同时接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的所述第一测试波形与所述第二测试波形；
s421，根据所述第一测试波形获取第一测试参数，以及根据所述第二测试波形获取第二测试参数；
s431，根据所述第一特征参数与所述第二测试参数，确定所述测试数据；
s440，根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。
具体的，所述第一测试波形为所述串行数据线通过所述第一探针发送至所述示波器的数据，所述第二测试波形为所述串行时钟线通过所述第二探针发送至所述示波器的数据，在对所述待测设备的i2c总线进行测试时，可以使用所述示波器，通过所述第一探针与所述第二探针进行检测，所述第一探针通过所述串行数据线获取所述第一测试波形，所述第二探针通过所述串行时钟线获取所述第二测试波形，通过同时获取所述第一测试波形与所述第二测试波形，能够有效提高测试效率，减少对所述待测设备的i2c总线测试时间。
实施例5
请参照图6在实施例3中，上述步骤s440，还包括：
s450，当所述测试数据位于所述预设合格范围内时，输出测试合格的所述测试结果；
s460，当所述测试数据位于所述预设合格范围外时，输出测试不合格的所述测试结果。
具体的，在通过所述示波器获得所述测试数据后，将所述测试数据与所述预设合格范围进行对比，其中，所述预设合格范围包括不同子测试参数的合格范围，在对每个所述子测试参数进行对比后，当发现所述测试数据中存在所述子测试参数不符合所述预设合格范围时，通过所述上位机的输出单元输出测试不合格的提示信息，当所述测试数中的全部所述子测试参数符合所述预设合格范围时，通过所述上位机的输出单元输出测试合格的提示信息，从而方便测试人员直观的对测试结果进行确定。
在可选的实施方式中，所述测试参数包括串行时钟信号的数据建立时间，串行时钟信号的数据保持时间，串行时钟信号的低电平时间，串行时钟信号的高电平时间，串行数据信号的低输入电压、串行数据信号的高输入电压。
为实现上述目的，本申请提出一种i2c总线测试装置，所述i2c总线测试装置包括上位机与示波器，所述上位机与所述示波器通信连接，所述示波器通过探针与待测设备的i2c总线连接，所述上位机包括处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现如上述任一项实施方式所述的i2c总线测试方法的步骤。
可选的，所述探针包括第一探针与第二探针，所述i2c总线包括串行数据线和串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与串行时钟线连接。
为实现上述目的，本申请提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有i2c总线测试程序，所述i2c总线测试程序被处理器执行时实现如上述任一项实施方式所述的i2c总线测试方法的步骤。
在一些可选的实施方式中，所述处理器可以是中央处理单元(centralprocessingunit，cpu)，还可以是其它通用处理器、数字信号处理器(digitalsignalprocessor，dsp)、专用集成电路(applicationspecificintegratedcircuit，asic)、现场可编程门阵列(field-programmablegatearray，fpga)或者其它可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器可以是设备的内部存储单元，例如设备的硬盘或内存。所述存储器也可以是设备的外部存储设备，例如设备上配备的插接式硬盘，智能存储卡(smartmediacard,smc)，安全数字(securedigital,sd)卡，闪存卡(flashcard)等。进一步地，所述存储器还可以既包括设备的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器用于存储所述计算机程序以及设备所需的其它程序和数据。所述存储器还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
1.一种i2c总线测试方法，其特征在于，应用于i2c总线测试装置，所述i2c总线测试装置与示波器通信连接，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括i2c总线，所述i2c总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；所述i2c总线测试包括：
获取用户输入的测试路径；
根据所述测试路径，获取测试配置文件；
将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；
向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。
2.如权利要求1所述的i2c总线测试方法，其特征在于，所述将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数的步骤，包括：
根据所述配置文件，确定所述示波器的第一配置参数与所述i2c测试通道；
根据所述i2c测试通道，确定所述i2c测试测试通道关联的第二配置参数；
将所述第一配置参数与所述第二配置参数发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数。
3.如权利要求1所述的i2c总线测试方法，其特征在于，所述向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果的步骤包括：
向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试波形；
根据所述测试波形，获取所述测试波形的特征参数；
根据所述特征参数，确定所述测试数据；
根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。
4.如权利要求2所述的i2c总线测试方法，其特征在于，所述测试波形包括第一测试波形与第二测试波形，所述向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果的步骤，包括：
向所述示波器发送测试指令，并同时接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的所述第一测试波形与所述第二测试波形；
根据所述第一测试波形获取第一测试参数，以及根据所述第二测试波形获取第二测试参数；
根据所述第一特征参数与所述第二测试参数，确定所述测试数据；
根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。
5.如权利要求1所述的i2c总线测试方法，其特征在于，所述根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果的步骤，包括：
当所述测试数据位于所述预设合格范围内时，输出测试合格的所述测试结果；
当所述测试数据位于所述预设合格范围外时，输出测试不合格的所述测试结果。
6.如权利要求1所述的i2c总线测试方法，其特征在于，所述测试参数包括串行时钟信号的数据建立时间，串行时钟信号的数据保持时间，串行时钟信号的低电平时间，串行时钟信号的高电平时间，串行数据信号的低输入电压、串行数据信号的高输入电压。
7.一种i2c总线测试装置，其特征在于，所述i2c总线测试装置包括上位机与示波器，所述上位机与所述示波器通信连接，所述示波器通过探针与待测设备的i2c总线连接，所述上位机包括处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现如权利要求1-6任一项所述的i2c总线测试方法的步骤。
8.如权利要求6所述的i2c总线测试装置，其特征在于，所述探针包括第一探针与第二探针，所述i2c总线包括串行数据线和串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与串行时钟线连接。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有i2c总线测试程序，所述i2c总线测试程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述的i2c总线测试方法的步骤。
技术总结