本实用新型涉及编码器技术领域，具体涉及一种编码器测试仪。
背景技术：
编码器是将信号或数据进行编制、转换为可用以通讯、传输和存储的信号形式的设备。编码器在oem市场的应用比例较高，主要应用于机床、电梯、伺服电机配套、纺织机械、包装机械、印刷机械、起重机械等行业。但是编码器在使用前很难甄别确定其性能的好坏，往往会对后续的编码器使用生产带了不变，因此为了方便测试单个编码器性能的好坏，以及对比两个编码器性能的好坏，特为此设计一个编码器测试仪。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种编码器测试仪，以解决上述背景技术中提出的问题。为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种编码器测试仪，包括输入模块和两路ac/dc转换模块，所述输入模块通过六路光耦合隔离器模块后与编码器连接，所述编码器将四路差分信号转换后连接信号采集器，所述信号采集器连接从机arm芯片和从机dsp芯片，所述从机arm芯片和从机dsp芯片连接主机arm芯片，所述主机arm芯片连接flash存储芯片、spi绝对值型编码器信号输入端口、电平转换芯片、显示屏外接连接器、pwm输出和通信芯片模块、主机电平转换芯片，所述主机arm芯片将测量数据保存在flash存储芯片中。
优选地，所述六路光耦合隔离器模块设有12个，分别为u1、u2、u5、u3、u4、u16、u10、u11、u14、u12、u13和u15；
所述六路光耦合隔离器模块包括输入ⅰ和输入ⅱ，所述输入ⅰ串联电阻r后连接光耦合隔离器引脚1，所述输入ⅱ连接电容一端和光耦合隔离器引脚2，所述光耦合隔离器引脚1和引脚2之间连接2kω电阻，所述电容另一端接地，所述光耦合隔离器引脚6串联4.7kω电阻后连接引脚4，最后连接输出端口，所述引脚5接地；
所述u1、u2、u5、u3、u4、u16、u10、u11、u14、u12、u13和u15的输入ⅰ连接输入模块的引脚1，所述u1和u10的输入ⅱ连接输入模块的引脚3，所述u2和u11的输入ⅱ连接输入模块的引脚4，所述u5和u14的输入ⅱ连接输入模块的引脚5，所述u3和u12的输入ⅱ连接输入模块的引脚6，所述u4和u13的输入ⅱ连接输入模块的引脚7，所述u16和u15的输入ⅱ连接输入模块的引脚8，所述u1、u2、u5、u3、u4、u16、u10、u11、u14、u12、u13和u15的输出端口连接编码器。
优选地，所述编码器设有2个，分别为u6和u17，所述u1、u2、u5、u3、u4、u16的输出端口分别连接u6的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述的输出端口分别连接u6的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述u10、u11、u14、u12、u13和u15的输出端口分别连接u17的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述u6的引脚2。
优选地，所述信号采集器设有4个，分别为u7、u1、1u18和u19，所述u7的引脚3和引脚4与u6的引脚3连接，所述所述u7的引脚5和引脚6与u6的引脚5连接，所述u7的引脚7和引脚8与u6的引脚11连接；所述u8的引脚3和引脚4与u6的引脚1连接，所述所述u8的引脚5和引脚6与u6的引脚7连接，所述u8的引脚7和引脚8与u6的引脚9连接；所述u18的引脚3和引脚4与u17的引脚3连接，所述所述u18的引脚5和引脚6与u17的引脚5连接，所述u17的引脚7和引脚8与u17的引脚11连接；所述u19的引脚3和引脚4与u17的引脚3连接，所述u19的引脚5和引脚6与u17的引脚5连接，所述u19的引脚7和引脚8与u17的引脚11连接；所述u7、u1、1u18和u19通过引脚与从机arm芯片和从机dsp芯片连接。
优选地，所述u7和u8的引脚20，引脚18和引脚16分别与从机arm芯片的引脚101、引脚102和引脚100连接，所述u18和u19的引脚20，引脚18和引脚16分别与从机arm芯片的引脚98、引脚99和引脚97连接；所述述u7和u8的引脚21，引脚19和引脚17分别与从机dsp芯片的引脚6、引脚7和引脚2连接，所述述u18和u19的引脚21，引脚19和引脚17分别与从机dsp芯片的引脚69、引脚75和引脚85连接，所述从机arm芯片的引脚13～引脚16分别连接主机arm芯片的引脚13、引脚14、引脚16和引脚15，所述从机arm芯片的引脚50和引脚51分别连接主机arm芯片的引脚49和引脚48；所述从机dsp芯片的引脚43和引脚50分别连接主机arm芯片的引脚51和引脚50。
优选地，所述从机arm芯片的引脚31和引脚32之间连接32.768khz的晶振x1后，分别串联10pf的电容c9和c10后共同接地，所述引脚37和引脚38之间并联1mω的电阻r1和10mhz的晶振x1后分别串联22pf的电容c7和c8后共同接地，所述引脚122连接电感器l1后与引脚112、引脚103、引脚75、引脚75、引脚52、引脚39和引脚11连接后接地，所述引脚61和引脚120分别连接电感l3和l2后连接高电位，引脚120上连接电容c6与电感l2实现并联后接地，所述引脚54、引脚113和引脚121分别连接2.2uf的电容c22、c20和c18后共同接地，所述引脚64～66分别连接编程口的引脚5、引脚3和引脚4，所述从机arm芯片的引脚65与高电位之间连接10kω的电阻r39，所述引脚64连接ic集成块的引脚2，所述引脚2和引脚3之间连接1kω电阻r40，引脚1和引脚2之间并联1uf的电容c19和c21后接地，所述从机dsp芯片的引脚5、引脚13、引脚38、引脚61、引脚79、引脚93、引脚3、引脚14、引脚37、引脚63、引脚81和引脚91连接2.2uf电容后接地，所述引脚12、引脚67、引脚70～72连接外接连接器引脚，所述引脚46连接0.1uf的电容后连接引脚90。
优选地，所述pi绝对值型编码器信号输入端口设有2个，所述pi绝对值型编码器信号输入端口包括输入端，所述输入端的引脚2～5分别连接集成电路引脚9和引脚11～13，所述集成电路引脚4～6分别连接编码器ⅱ的引脚2、引脚16和引脚14，所述2个pi绝对值型编码器信号输入端口分别连接u6和u17。
优选地，所述两路ac/dc转换模块为两路220vac转5vdc模块，为为编码器供电，一路为从机arm芯片、从机dsp芯片和主机arm芯片转变为3.3v电压供电。
优选地，所述电平转换芯片将3.3v数字信号转换为5v数字信号。
优选地，所述pwm输出和通信芯片模块设有2个通信端口和2路pwm波输出端口，2个通信端口分别通信端口ⅰ和通信端口ⅱ，并与主机arm芯片的引脚46和引脚47连接，所述pwm波输出端口分别为pwm波输出端口ⅰ和pwm波输出端口ⅱ，并与主机arm芯片的引脚引脚86和引脚87连接.
优选地，所述从机arm芯片和主机arm芯片的型号为m483kidae，所述从机dsp芯片的型号为tms320f28069。
本实用新型的技术效果和优点：本发明可以同时采集两路编码器信号，进行速度波动、脉冲数等对比测试；采集信号源可以选择是差分信号，也可以选择是单端信号；测试cpu可选，支持dsp和arm两种主流的mcu；支持将采集数据结果发送到pc端，并保存到excel进一步分析数据；信号采集采用的是光耦隔离方案，不会影响伺服控制器工作。
附图说明
图1为本实用新型的spi绝对值型编码器信号输入端口电路原理图；
图2为本实用新型的输入模块引脚接线图；
图3为本实用新型的ac/dc转换模块电路原理图；
图4为本实用新型的六路光耦合隔离器模块引脚接线图；
图5为本实用新型的编码器引脚接线图；
图6本实用新型的信号采集器引脚接线图；
图7为本实用新型的从机arm芯片引脚接线图；
图8为本实用新型的从机dsp芯片引脚接线图；
图9为本实用新型的主机arm芯片引脚接线图；
图10为本实用新型的spi绝对值型编码器信号输入端口接线图；
图11为本实用新型的电平转换芯片引脚接线图；
图12本实用新型的pwm输出和通信芯片模块电路原理图；
图13为图9中a处放大图；
图14为图9中b处放大图；
图15为图9中c处放大图；
图16为图9中d处放大图；
图17为图8中e处放大图；
图18为图8中f处放大图；
图19为图8中g处放大图；
图20为本实用新型的六路光耦合隔离器模块输入端电路原理图；
图中：1-输入模块，2-ac/dc转换模块，3-六路光耦合隔离器模块，4-编码器，5-信号采集器，6-从机arm芯片，7-从机dsp芯片，8-主机arm芯片，9-flash存储芯片，10-spi绝对值型编码器信号输入端口，11-电平转换芯片，12-显示屏外接连接器，13-pwm输出和通信芯片模块，14-编程口，15-ic集成块，16-集成电路，17-编码器ⅱ，31-输入ⅰ，32-输入ⅱ，131-通信端口ⅰ，132-通信端口ⅱ，133-pwm波输出端口ⅰ，134-pwm波输出端口ⅱ。
具体实施方式
为了使本实用新型的实现技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型，在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接或是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以两个元件内部的连通。
实施例1
如图2～图19所示的一种编码器测试仪，包括输入模块1和两路ac/dc转换模块2，所述输入模块1通过六路光耦合隔离器模块3后与编码器4连接，所述编码器4将四路差分信号转换后连接信号采集器5，所述信号采集器5连接从机arm芯片6和从机dsp芯片7，所述从机arm芯片6和从机dsp芯片7连接主机arm芯片8，所述主机arm芯片8连接flash存储芯片9、spi绝对值型编码器信号输入端口10、电平转换芯片11、显示屏外接连接器12、pwm输出和通信芯片模块13，所述主机arm芯片8将测量数据保存在flash存储芯片9中。
实施例2
如图1～图20所示的一种编码器测试仪，包括输入模块1和两路ac/dc转换模块2，所述输入模块1通过六路光耦合隔离器模块3后与编码器4连接，所述编码器4将四路差分信号转换后连接信号采集器5，所述信号采集器5连接从机arm芯片6和从机dsp芯片7，所述从机arm芯片6和从机dsp芯片7连接主机arm芯片8，所述主机arm芯片8连接flash存储芯片9、spi绝对值型编码器信号输入端口10、电平转换芯片11、显示屏外接连接器12、pwm输出和通信芯片模块13，所述主机arm芯片8将测量数据保存在flash存储芯片9中。
优选地，所述六路光耦合隔离器模块3设有12个，分别为u1、u2、u5、u3、u4、u16、u10、u11、u14、u12、u13和u15；
所述六路光耦合隔离器模块3包括输入ⅰ31和输入ⅱ32，所述输入ⅰ31串联电阻r后连接光耦合隔离器引脚1，所述输入ⅱ32连接电容一端和光耦合隔离器引脚2，所述光耦合隔离器引脚1和引脚2之间连接2kω电阻，所述电容另一端接地，所述光耦合隔离器引脚6串联4.7kω电阻后连接引脚4，最后连接输出端口，所述引脚5接地；
所述u1、u2、u5、u3、u4、u16、u10、u11、u14、u12、u13和u15的输入ⅰ连接输入模块的引脚1，所述u1和u10的输入ⅱ连接输入模块的引脚3，所述u2和u11的输入ⅱ连接输入模块的引脚4，所述u5和u14的输入ⅱ连接输入模块的引脚5，所述u3和u12的输入ⅱ连接输入模块的引脚6，所述u4和u13的输入ⅱ连接输入模块的引脚7，所述u16和u15的输入ⅱ连接输入模块的引脚8，所述u1、u2、u5、u3、u4、u16、u10、u11、u14、u12、u13和u15的输出端口连接编码器。
优选地，所述编码器4设有2个，分别为u6和u17，所述u1、u2、u5、u3、u4、u16的输出端口分别连接u6的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述的输出端口分别连接u6的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述u10、u11、u14、u12、u13和u15的输出端口分别连接u17的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述u6的引脚2。
优选地，所述信号采集器5设有4个，分别为u7、u1、1u18和u19，所述u7的引脚3和引脚4与u6的引脚3连接，所述所述u7的引脚5和引脚6与u6的引脚5连接，所述u7的引脚7和引脚8与u6的引脚11连接；所述u8的引脚3和引脚4与u6的引脚1连接，所述所述u8的引脚5和引脚6与u6的引脚7连接，所述u8的引脚7和引脚8与u6的引脚9连接；所述u18的引脚3和引脚4与u17的引脚3连接，所述所述u18的引脚5和引脚6与u17的引脚5连接，所述u17的引脚7和引脚8与u17的引脚11连接；所述u19的引脚3和引脚4与u17的引脚3连接，所述u19的引脚5和引脚6与u17的引脚5连接，所述u19的引脚7和引脚8与u17的引脚11连接；所述u7、u1、1u18和u19通过引脚与从机arm芯片6和从机dsp芯片7连接。
优选地，所述u7和u8的引脚20，引脚18和引脚16分别与从机arm芯片6的引脚101、引脚102和引脚100连接，所述u18和u19的引脚20，引脚18和引脚16分别与从机arm芯片6的引脚98、引脚99和引脚97连接；所述述u7和u8的引脚21，引脚19和引脚17分别与从机dsp芯片7的引脚6、引脚7和引脚2连接，所述述u18和u19的引脚21，引脚19和引脚17分别与从机dsp芯片7的引脚69、引脚75和引脚85连接，所述从机arm芯片6的引脚13～引脚16分别连接主机arm芯片8的引脚13、引脚14、引脚16和引脚15，所述从机arm芯片6的引脚50和引脚51分别连接主机arm芯片8的引脚49和引脚48；所述从机dsp芯片7的引脚43和引脚50分别连接主机arm芯片8的引脚51和引脚50。
优选地，所述从机arm芯片6的引脚31和引脚32之间连接32.768khz的晶振x1后，分别串联10pf的电容c9和c10后共同接地，所述引脚37和引脚38之间并联1mω的电阻r1和10mhz的晶振x1后分别串联22pf的电容c7和c8后共同接地，所述引脚122连接电感器l1后与引脚112、引脚103、引脚75、引脚75、引脚52、引脚39和引脚11连接后接地，所述引脚61和引脚120分别连接电感l3和l2后连接高电位，引脚120上连接电容c6与电感l2实现并联后接地，所述引脚54、引脚113和引脚121分别连接2.2uf的电容c22、c20和c18后共同接地，所述引脚64～66分别连接编程口14的引脚5、引脚3和引脚4，所述从机arm芯片6的引脚65与高电位之间连接10kω的电阻r39，所述引脚64连接ic集成块15的引脚2，所述引脚2和引脚3之间连接1kω电阻r40，引脚1和引脚2之间并联1uf的电容c19和c21后接地，所述从机dsp芯片的引脚5、引脚13、引脚38、引脚61、引脚79、引脚93、引脚3、引脚14、引脚37、引脚63、引脚81和引脚91连接2.2uf电容后接地，所述引脚12、引脚67、引脚70～72连接外接连接器引脚，所述引脚46连接0.1uf的电容后连接引脚90。
优选地，所述spi绝对值型编码器信号输入端口10设有2个，所述spi绝对值型编码器信号输入端口10包括输入端101，所述输入端101的引脚2～5分别连接集成电路16引脚9和引脚11～13，所述集成电路16引脚4～6分别连接编码器ⅱ17的引脚2、引脚16和引脚14，所述2个spi绝对值型编码器信号输入端口10分别连接u6和u17。
优选地，所述两路ac/dc转换模块2为两路220vac转5vdc模块，一路为编码器4供电，一路为从机arm芯片6、从机dsp芯片7和主机arm芯片8转变为3.3v电压供电。
优选地，所述电平转换芯片11将3.3v数字信号转换为5v数字信号，进行电压转换。
优选地，所述pwm输出和通信芯片模块13设有2个通信端口和2路pwm波输出端口，2个通信端口分别通信端口ⅰ131和通信端口ⅱ132，并与主机arm芯片8的引脚46和引脚47连接，所述pwm波输出端口分别为pwm波输出端口ⅰ133和pwm波输出端口ⅱ134，并与主机arm芯片8的引脚引脚86和引脚87连接，所述pwm输出和通信芯片模块13使用通信芯片u26将发送到电脑，并光耦隔离输出两路pwm波。
优选地，所述从机arm芯片6和主机arm芯片8的型号为m483kidae，所述从机dsp芯片7的型号为tms320f28069。
本实用新型工艺流程和工作原理为：编码器4信号输入端口采用六路光耦合隔离器模块3进行六路光耦隔离，隔离后将数据传递到编码器4中，将四路信号转换输入信号采集器5内，进行差分信号采集或是单端信号采集，将采集到的数据传送到从机arm芯片6和从机dsp芯片7中进行数据分析和处理，将处理好的数据传递到主机arm芯片8中，将从机arm芯片6和从机dsp芯片7采集好的数据存储flash存储芯片9中，并进行对比分析，最后将分析结果通过显示屏外接连接器12显示到7寸lcd显示屏上。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
1.一种编码器测试仪，包括输入模块和两路ac/dc转换模块，其特征在于：所述输入模块通过六路光耦合隔离器模块后与编码器连接，所述编码器将四路差分信号转换后连接信号采集器，所述信号采集器连接从机arm芯片和从机dsp芯片，所述从机arm芯片和从机dsp芯片连接主机arm芯片，所述主机arm芯片连接flash存储芯片、spi绝对值型编码器信号输入端口、电平转换芯片、显示屏外接连接器、pwm输出和通信芯片模块、主机电平转换芯片，所述主机arm芯片将测量数据保存在flash存储芯片中。
2.根据权利要求1所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述六路光耦合隔离器模块设有12个，分别为u1、u2、u5、u3、u4、u16、u10、u11、u14、u12、u13和u15；
所述六路光耦合隔离器模块包括输入ⅰ和输入ⅱ，所述输入ⅰ串联电阻r后连接光耦合隔离器引脚1，所述输入ⅱ连接电容一端和光耦合隔离器引脚2，所述光耦合隔离器引脚1和引脚2之间连接2kω电阻，所述电容另一端接地，所述光耦合隔离器引脚6串联4.7kω电阻后连接引脚4，最后连接输出端口，所述引脚5接地；
所述u1、u2、u5、u3、u4、u16、u10、u11、u14、u12、u13和u15的输入ⅰ连接输入模块的引脚1，所述u1和u10的输入ⅱ连接输入模块的引脚3，所述u2和u11的输入ⅱ连接输入模块的引脚4，所述u5和u14的输入ⅱ连接输入模块的引脚5，所述u3和u12的输入ⅱ连接输入模块的引脚6，所述u4和u13的输入ⅱ连接输入模块的引脚7，所述u16和u15的输入ⅱ连接输入模块的引脚8，所述u1、u2、u5、u3、u4、u16、u10、u11、u14、u12、u13和u15的输出端口连接编码器。
3.根据权利要求2所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述编码器设有2个，分别为u6和u17，所述u1、u2、u5、u3、u4、u16的输出端口分别连接u6的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述的输出端口分别连接u6的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述u10、u11、u14、u12、u13和u15的输出端口分别连接u17的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述u6的引脚2。
4.根据权利要求3所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述信号采集器设有4个，分别为u7、u1、1u18和u19，所述u7的引脚3和引脚4与u6的引脚3连接，所述u7的引脚5和引脚6与u6的引脚5连接，所述u7的引脚7和引脚8与u6的引脚11连接；所述u8的引脚3和引脚4与u6的引脚1连接，所述u8的引脚5和引脚6与u6的引脚7连接，所述u8的引脚7和引脚8与u6的引脚9连接；所述u18的引脚3和引脚4与u17的引脚3连接，所述u18的引脚5和引脚6与u17的引脚5连接，所述u17的引脚7和引脚8与u17的引脚11连接；所述u19的引脚3和引脚4与u17的引脚3连接，所述u19的引脚5和引脚6与u17的引脚5连接，所述u19的引脚7和引脚8与u17的引脚11连接；所述u7、u1、1u18和u19通过引脚与从机arm芯片和从机dsp芯片连接。
5.根据权利要求4所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述u7和u8的引脚20，引脚18和引脚16分别与从机arm芯片的引脚101、引脚102和引脚100连接，所述u18和u19的引脚20，引脚18和引脚16分别与从机arm芯片的引脚98、引脚99和引脚97连接；所述述u7和u8的引脚21，引脚19和引脚17分别与从机dsp芯片的引脚6、引脚7和引脚2连接，所述述u18和u19的引脚21，引脚19和引脚17分别与从机dsp芯片的引脚69、引脚75和引脚85连接，所述从机arm芯片的引脚13～引脚16分别连接主机arm芯片的引脚13、引脚14、引脚16和引脚15，所述从机arm芯片的引脚50和引脚51分别连接主机arm芯片的引脚49和引脚48；所述从机dsp芯片的引脚43和引脚50分别连接主机arm芯片的引脚51和引脚50。
6.根据权利要求5所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述从机arm芯片的引脚31和引脚32之间连接32.768khz的晶振x1后，分别串联10pf的电容c9和c10后共同接地，所述引脚37和引脚38之间并联1mω的电阻r1和10mhz的晶振x1后分别串联22pf的电容c7和c8后共同接地，所述引脚122连接电感器l1后与引脚112、引脚103、引脚75、引脚75、引脚52、引脚39和引脚11连接后接地，所述引脚61和引脚120分别连接电感l3和l2后连接高电位，引脚120上连接电容c6与电感l2实现并联后接地，所述引脚54、引脚113和引脚121分别连接2.2uf的电容c22、c20和c18后共同接地，所述引脚64～66分别连接编程口的引脚5、引脚3和引脚4，所述从机arm芯片的引脚65与高电位之间连接10kω的电阻r39，所述引脚64连接ic集成块的引脚2，所述引脚2和引脚3之间连接1kω电阻r40，引脚1和引脚2之间并联1uf的电容c19和c21后接地，所述从机dsp芯片的引脚5、引脚13、引脚38、引脚61、引脚79、引脚93、引脚3、引脚14、引脚37、引脚63、引脚81和引脚91连接2.2uf电容后接地，所述引脚12、引脚67、引脚70～72连接外接连接器引脚，所述引脚46连接0.1uf的电容后连接引脚90。
7.根据权利要求6所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述spi绝对值型编码器信号输入端口设有2个，所述spi绝对值型编码器信号输入端口包括输入端，所述输入端的引脚2～5分别连接集成电路引脚9和引脚11～13，所述集成电路引脚4～6分别连接编码器ⅱ的引脚2、引脚16和引脚14，所述2个spi绝对值型编码器信号输入端口分别连接u6和u17。
8.根据权利要求7所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述两路ac/dc转换模块为两路220vac转5vdc模块，一路为编码器供电，一路为从机arm芯片、从机dsp芯片和主机arm芯片转变为3.3v电压供电；
u3为电压为5vdc模块供电，所述电平转换芯片将3.3v数字信号转换为5v数字信号。
9.根据权利要求8所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述pwm输出和通信芯片模块设有2个通信端口和2路pwm波输出端口，2个通信端口分别通信端口ⅰ和通信端口ⅱ，并与主机arm芯片的引脚46和引脚47连接，所述pwm波输出端口分别为pwm波输出端口ⅰ和pwm波输出端口ⅱ，并与主机arm芯片的引脚引脚86和引脚87连接。
10.根据权利要求1所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述从机arm芯片和主机arm芯片的型号为m483kidae，所述从机dsp芯片的型号为tms320f28069。
技术总结