SiCMOSFET模块全生命周期结温在线预测方法与流程

专利2022-06-29  146


本发明属于电子技术领域,涉及一种sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法。



背景技术:

sicmosfet模块集合了耐高温、耐高压、开关速度快、低开关损耗等优点。随着科技的发展,航天、通讯、核能等众多领域,迫切需要一种在高温、高频等环境下仍然能够正常工作的功率电子器件。sic高温特性很明显,芯片最大承受温度可达600℃,模块热击穿结温可以达到250℃。但是由于器件运行环境的特殊性,在运行状态下会产生大量热量,从而导致温升和热应力形变。由于长久运行不断承受功率循环或热循环,从而加速了模块的老化速度,形成长期的失效累积,从而降低器件乃至整个系统的可靠性。通常功率器件的结温监测都是按照器件在健康状态下进行的。但是忽略了模块在工作中随着慢慢老化,模块内部参数发生变化,预测结果不准确。



技术实现要素:

本发明的目的是提供一种sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法,解决了现有技术中存在的sicmosfet模块结温预测结果不准确的问题。

本发明所采用的技术方案是,

sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法,具体按照以下步骤实施:

步骤1,采用一个全新的sicmosfet模块做功率循环直到模块完全老化失效;在功率循环期间采样该sicmosfet模块的电气参数作为数据集,电气参数分别为vds、id和r,其中vds为饱和压降,id为电流值,r为电阻值;

步骤2,建立sicmosfet模块结温预测模型,sicmosfet模块结温预测模型包括依次连接的第一bp神经网络模型和第二bp神经网络模型,第一bp神经网络模型的输入对应vds、id和r,第一bp神经网络模型的输出对应实时的功率循环次数nc,第一bp神经网络模型的输出与第二bp神经网络模型的一个输入相对应;

步骤3,采用数据集对sicmosfet模块结温预测模型进行训练;

步骤4,将训练好的sicmosfet模块结温预测模型移植到fpga的ram中,fpga与被测的sicmosfet模块连接,在被测的sicmosfet模块实际运行中,输入电流id,实时输出对应的结温tc。

本发明的特点还在于,

步骤1中采样的具体步骤为:直流电源设定好电流数值id,电流数值id随机取[1,150]范围内的数值,结温从30℃起,采用间隔采样的方法获取电气参数,采样频率在老化初期为2000次功率循环,在老化后期为1000次功率循环。

第一bp神经网络模型的输入层神经元个数为3个,分别对应vds、id和r,输出层神经元个数为1个,对应nc。

第一bp神经网络模型的隐含层神经元个数为7个。

第二bp神经网络模型的输入层神经元个数为4个,分别对应vds、id、r和第一bp神经网络模型的输出。

第二bp神经网络模型的隐含层神经元个数为9个。

本发明的有益效果是

本发明通过功率循环采样,对sicmosfet模块加入老化参数,补偿、修正结温预测。通过用bp网络算法对实验数据进行分析,利用bp神经网络有很强的非线性映射能力,能以任意精度逼近任何非线性函数,并且具有很强的自学习和自适应能力,对sicmosfet的结温进行预测。然后将算法移植到fpga的ram中,实现了sicmosfet模块结温的在线提取。克服了传统sicmosfet模块过温保护的缺陷,准确得到sicmosfet模块的结温。确保带sicmosfet模块的设备能安全稳定运行。

附图说明

图1是本发明sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法中步骤流程图;

图2是本发明sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法中第一bp神经网络模型的网络结构图;

图3是本发明sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法中第二bp神经网络模型的网络结构图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本发明进行详细说明。

本发明sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法,其特征在于,具体按照以下步骤实施:

步骤1,采用一个全新的sicmosfet模块做功率循环直到模块完全老化失效;在功率循环期间采样该sicmosfet模块的电气参数作为数据集,电气参数分别为vds、id和r;步骤1中采样的具体步骤为:直流电源设定好电流数值id,电流数值id随机取[1,150]范围内的数值,结温从30℃起,采用间隔采样的方法获取电气参数,采样频率在老化初期为2000次功率循环,在老化后期为1000次功率循环;

步骤2,建立sicmosfet模块结温预测模型,sicmosfet模块结温预测模型包括依次连接的第一bp神经网络模型(如图2)和第二bp神经网络模型(如图3),第一bp神经网络模型的输入对应vds、id和r,第一bp神经网络模型的输出对应实时的功率循环次数nc,第一bp神经网络模型的输出与第二bp神经网络模型的一个输入相对应;

步骤3,采用数据集对sicmosfet模块结温预测模型进行训练;

步骤4,将训练好的sicmosfet模块结温预测模型移植到fpga的ram中,fpga与被测的sicmosfet模块连接,在被测的sicmosfet模块实际运行中,输入电流id,实时输出对应的结温tc。

步骤2中的第一bp神经网络模型的输入层神经元个数为3个,分别对应vds、id和r,输出层神经元个数为1个对应nc;第一bp神经网络模型的隐含层神经元个数为7个。

第二bp神经网络模型的输入层神经元个数为4个,分别对应vds、id、r和第一bp神经网络模型的输出;第二bp神经网络模型的隐含层神经元个数为9个。

在对sicmosfet模块结温预测模型进行训练时,第一bp神经网络模型根据预测输出值和期望值的误差调整权值和阈值,直到输出值nc逼近期望值nf,第二bp神经网络模型根据预测输出值和期望值的误差调整权值和阈值,直到输出值tj逼近期望值tc;

实施例1

步骤1,对罗姆公司生产的1200v/300a的型号为bsm300d12p2e001,全新的sicmosfet模块,做功率循环直到模块完全老化失效;在功率循环期间采样该sicmosfet模块的电气参数作为数据集,电气参数分别为vds、id和r,其中vds为饱和压降,id为电流值,r为电阻值;

具体采样方法为:

直流电源设定好电流数值id,此直流数值随机取[1,150]范围内的数值,结温从30℃起,采用间隔采样的方法获取电气参数,采样频率在老化初期为2000次功率循环,在老化后期为1000次功率循环,将采样数据按照3:1分为训练组数据测试组数据;训练组作为数据集,测试组数据用于验证本方法预测结果的正确性;

步骤2,建立sicmosfet模块结温预测模型,sicmosfet模块结温预测模型包括依次连接的第一bp神经网络模型(如图2)和第二bp神经网络模型(如图3),第一bp神经网络模型的输入对应vds、id和r,第一bp神经网络模型的输出对应实时的功率循环次数nc,第一bp神经网络模型的输出与第二bp神经网络模型的一个输入相对应;

第一bp神经网络模型的输入层神经元个数为3个,分别对应vds、id和输出层神经元个数为1个对应nc;隐含层神经元个数为7个。

第二bp神经网络模型的输入层神经元个数为4个,分别对应vds、id、r和第一bp神经网络模型的输出;隐含层神经元个数为9个。

步骤3,采用数据集对sicmosfet模块结温预测模型进行训练;

步骤4,将训练好的sicmosfet模块结温预测模型到fpga的ram中,fpga与被测的sicmosfet模块连接,在被测的sicmosfet模块实际运行中,输入电流id=65a,通过sicmosfet模块输出vds=1.7008,实时输出对应的结温tc=67.5℃。


技术特征:

1.sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法,其特征在于,具体按照以下步骤实施:

步骤1,采用一个全新的sicmosfet模块做功率循环直到模块完全老化失效;在功率循环期间采样该sicmosfet模块的电气参数作为数据集,所述电气参数为vds、id和r,其中vds为饱和压降,id为电流值,r为电阻值;

步骤2,建立sicmosfet模块结温预测模型,所述sicmosfet模块结温预测模型包括依次连接的第一bp神经网络模型和第二bp神经网络模型,所述第一bp神经网络模型的输入对应vds、id和r,所述第一bp神经网络模型的输出对应实时的功率循环次数nc,所述第一bp神经网络模型的输出与第二bp神经网络模型的一个输入相对应;

步骤3,采用所述数据集对sicmosfet模块结温预测模型进行训练;

步骤4,将训练好的sicmosfet模块结温预测模型移植到fpga的ram中,所述fpga与被测的sicmosfet模块连接,在被测的sicmosfet模块实际运行中,输入电流id,实时输出对应的结温tc。

2.如权利要求1所述的sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法,其特征在于,所述步骤1中采样的具体步骤为:在直流电源设定好电流数值id,所述电流数值id随机取[1,150]范围内的数值,结温从30℃起,采用间隔采样的方法获取电气参数,采样频率在老化初期为2000次功率循环,在老化后期为1000次功率循环。

3.如权利要求1所述的sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法,其特征在于,所述第一bp神经网络模型的输入层神经元个数为3个,分别对应vds、id和r,输出层神经元个数为1个,对应nc。

4.如权利要求3所述的sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法,其特征在于,所述第一bp神经网络模型的隐含层神经元个数为7个。

5.如权利要求1所述的sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法,其特征在于,所述第二bp神经网络模型的输入层神经元个数为4个,分别对应vds、id、r和第一bp神经网络模型的输出。

6.如权利要求1所述的sicmosfet模块全生命周期结温在线预测方法,其特征在于,所述第二bp神经网络模型的隐含层神经元个数为9个。

技术总结
本发明公开一种SiC MOSFET模块全生命周期结温在线预测方法,具体按照以下步骤实施:步骤1,采用全新的SiC MOSFET模块做功率循环直到模块完全老化失效;在功率循环期间采样该SiC MOSFET模块的电气参数作为数据集;步骤2,建立SiC MOSFET模块结温预测模型,包括依次连接的第一BP神经网络模型和第二BP神经网络模型;步骤3,采用数据集对进行模型训练;步骤4,将训练好的SiC MOSFET模块结温预测模型移植到FPGA中,在被测的SiC MOSFET模块实际运行中,输入电流Id,实时输出对应的结温Tc。本发明能够准确得到SiC MOSFET模块的结温,确保带模块安全稳定运行。

技术研发人员:孟昭亮;吕亚茹;李静宇;高勇;杨媛;艾胜胜;方正鹏;卢志鹏;王好贞
受保护的技术使用者:西安工程大学
技术研发日:2020.01.08
技术公布日:2020.06.09

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