本公开涉及光学散射技术领域，尤其涉及一种散射光信号强度获取方法和装置。
背景技术：
广角静态光散射是一种通过在多个散射角度处测量散射光信号强度来确定样品中相关参数的技术。例如，通过广角静态光散射，可以确定样品中微粒的平均分子量。
图1示出相关技术中广角静态光散射设备的结构示意图。如图1所示，激光器出射的激光被透镜(l1)会聚到样品池中央放置的被测样品，在透镜前后有各有一个小孔光阑(s1和s2)。以θ角出射的散射光依次通过偏振分析器(p)、小孔光阑(s3)、透镜(l2)、狭缝(slit)、可调小孔(aw)和可调滤光片(fw)，最终被光电倍增管(pmt)接收并转换为电信号，进而确定散射光信号强度。从偏振分析器开始，到光电倍增管为止的器件被统一地安装在旋转臂上。旋转臂可以围绕样品池的中心旋转。
在广角光散射测量过程中，散射光信号强度是影响测量结果的重要参数，而通过改变狭缝宽度可以调整散射光信号强度。但是，在现有的广角光散射设备中，狭缝的宽度是已经预先调节好的，无法实现在获取散射光信号强度时进行改变，导致无法获得最优的散射光信号强度。
技术实现要素：
有鉴于此，本公开提出了一种散射光信号强度获取方法和装置，能够确定设定狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度，从而实现最优的测量效果。
根据本公开的第一方面，提供了一种散射光信号强度获取方法，所述方法应用于广角光散射设备，所述广角光散射设备包括激光源、旋转臂、图像采集部件及样品仓，所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端，所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端，所述样品仓中放置有被测样品，其中，所述激光源发出的入射光束照射到所述被测样品上并被所述被测样品散射；所述方法包括：在所述旋转臂处于散射角度θ1下时，控制所述图像采集部件采集所述被测样品对应的散射光图像；确定所述散射光图像的初始光信号强度；根据所述初始光信号强度，确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度；根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度。
在一种可能的实现方式中，根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度，包括：根据所述有效光信号强度，判断是否存在干扰信号；当不存在干扰信号时，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度。
在一种可能的实现方式中，所述设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，其中，根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度，包括：根据所述有效光信号强度，在所述散射角度θ1和每个模拟狭缝宽度下，分别确定所述被测样品对应的散射光信号强度。
在一种可能的实现方式中，所述设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，其中，根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应散射光信号强度，包括：根据所述有效光信号强度，在散射角度θ2和每个模拟狭缝宽度下，分别确定所述被测样品对应的散射光信号强度，其中，所述散射角度θ2与所述散射角度θ1不同。
在一种可能的实现方式中，确定所述散射光图像的初始光信号强度，包括：在所述散射光图像中确定目标区域，其中，所述目标区域的中心为所述被测样品在所述散射光图像中的成像位置，所述目标区域在平行于所述旋转臂的旋转平面的方向上的宽度大于所述设定狭缝宽度，所述目标区域在垂直于所述旋转平面的方向上的高度为所述散射角度θ1对应的散射光在垂直于所述旋转平面的方向上的光束高度的第一预设倍数；分别确定所述目标区域中的多个像素点的初始光信号强度。
根据本公开的第二方面，提供了一种散射光信号强度获取装置，所述装置应用于广角光散射设备，所述广角光散射设备包括激光源、旋转臂、图像采集部件及样品仓，所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端，所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端，所述样品仓中放置有被测样品，其中，所述激光源发出的入射光束照射到所述被测样品上并被所述被测样品散射；所述装置包括：采集模块，用于在所述旋转臂处于散射角度θ1下时，控制所述图像采集部件采集所述被测样品对应的散射光图像；第一确定模块，用于确定所述散射光图像的初始光信号强度；杂散光消除模块，用于根据所述初始光信号强度，确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度；第二确定模块，用于根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度。
在一种可能的实现方式中，所述第二确定模块包括：干扰信号判断子模块，用于根据所述有效光信号强度，判断是否存在干扰信号；第一确定子模块，用于当不存在干扰信号时，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度。
在一种可能的实现方式中，所述设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，所述第二确定模块包括：第二确定子模块，用于根据所述有效光信号强度，在所述散射角度θ1和每个模拟狭缝宽度下，分别确定所述被测样品对应的散射光信号强度。
在一种可能的实现方式中，所述设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，所述第二确定模块包括：第三确定子模块，用于根据所述有效光信号强度，在散射角度θ2和每个模拟狭缝宽度下，分别确定所述被测样品对应的散射光信号强度，其中，所述散射角度θ2与所述散射角度θ1不同。
在一种可能的实现方式中，所述第一确定模块包括：第四确定子模块，用于在所述散射光图像中确定目标区域，其中，所述目标区域的中心为所述被测样品在所述散射光图像中的成像位置，所述目标区域在平行于所述旋转臂的旋转平面的方向上的宽度大于所述设定狭缝宽度，所述目标区域在垂直于所述旋转平面的方向上的高度为所述散射角度θ1对应的散射光在垂直于所述旋转平面的方向上的光束高度的第一预设倍数；第五确定子模块，用于分别确定所述目标区域中的多个像素点的初始光信号强度。
根据本公开实施例的散射光信号强度获取方法和装置，在旋转臂处于散射角度θ1下时，控制图像采集部件采集被测样品对应的散射光图像，确定散射光图像的初始光信号强度，以及消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度，进而根据有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度，从而可以得到设定狭缝宽度满足测量需求时的最优测量效果。
根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明，本公开的其它特征及方面将变得清楚。
附图说明
包含在说明书中并且构成说明书的一部分的附图与说明书一起示出了本公开的示例性实施例、特征和方面，并且用于解释本公开的原理。
图1示出相关技术中广角静态光散射设备的结构示意图；
图2示出本公开一实施例的散射光信号强度获取方法的流程示意图；
图3示出本公开一实施例的广角光散射设备的示意图；
图4示出本公开一实施例的散射光信号强度获取方法的步骤s22的流程示意图；
图5示出本公开一实施例的散射光信号强度获取方法的步骤s24的流程示意图；
图6示出本公开一实施例的散射光信号强度获取装置的框图。
具体实施方式
以下将参考附图详细说明本公开的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面，但是除非特别指出，不必按比例绘制附图。
在这里专用的词“示例性”意为“用作例子、实施例或说明性”。这里作为“示例性”所说明的任何实施例不必解释为优于或好于其它实施例。
另外，为了更好的说明本公开，在下文的具体实施方式中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解，没有某些具体细节，本公开同样可以实施。在一些实例中，对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件和电路未作详细描述，以便于凸显本公开的主旨。
图2示出本公开一实施例的散射光信号强度获取方法的流程示意图。该方法可以应用于广角光散射设备。
图3示出本公开一实施例的广角光散射设备的示意图。如图3所示，广角光散射设备包括激光源、旋转臂、图像采集部件及样品仓，样品仓处于靠近旋转臂的旋转中心的一端，图像采集部件安装在旋转臂上远离旋转中心的一端，样品仓中放置有被测样品，其中，激光源发出的入射光束照射到被测样品上并被被测样品散射。
如图3所示，激光源发出的入射光束经会聚透镜所聚焦之后照射到被测样品上并被被测样品散射。旋转臂上设置透镜组，透镜组放置的位置可以使得被测样品与图像采集部件的成像敏感面满足成像关系，因此，被测样品的散射光经透镜组可以成像于图像采集部件上。
如图2所示，该方法可以包括：
步骤s21，在旋转臂处于散射角度θ1下时，控制图像采集部件采集被测样品对应的散射光图像。
步骤s22，确定散射光图像的初始光信号强度。
步骤s23，根据初始光信号强度，确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度。
步骤s24，根据有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度。
仍以上述图3所示广角光散射设备为例，旋转臂的零旋转角度与照射到被测样品上的入射光束方向一致，从而可以使得旋转臂的旋转角度即为被测样品对应的散射角度。
调节旋转臂至散射角度θ1，并在散射角度θ1下控制图像采集部件采集被测样品对应的散射光图像，进而确定散射光图像的初始光信号强度。
为表述清楚，下文使用(x,y)表示散射光图像中的任意一个像素点，该像素点位于散射光图像的像素阵列中的第x行，第y列，被测样品在散射光图像中的成像位置对应的像素点为(x0,y0)，使用a(x,y)表示散射光图像中像素点(x,y)对应的初始光信号强度，其中，x方向平行于旋转臂的旋转平面，y方向垂直于旋转臂的旋转平面。
在一种可能的实现方式中，确定散射光图像的初始光信号强度，包括：
分别确定散射光图像中多个像素点的初始光信号强度。
例如，确定散射光图像中每个像素点的初始光信号强度a(x,y)。
图4示出本公开一实施例的散射光信号强度获取方法的步骤s22的流程示意图。如图4所示，步骤s22可以包括：
步骤s221，在散射光图像中确定目标区域，其中，目标区域的中心为被测样品在散射光图像中的成像位置，目标区域在平行于旋转臂的旋转平面的方向上的宽度大于设定狭缝宽度，目标区域在垂直于旋转平面的方向上的高度为散射角度θ1对应的散射光在垂直于旋转平面的方向上的光束高度的第一预设倍数。
步骤s222，分别确定目标区域中的多个像素点的初始光信号强度。
由于广角光散射设备中不存在狭缝，而是在对散射光图像进行数据处理过程中，通过设定狭缝宽度来实现对狭缝的模拟(以下简称模拟狭缝)，因此，为了简化数据处理过程，可以根据设定狭缝宽度，在散射光图像中确定目标区域。
其中，目标区域的中心为被测样品在散射光图像中的成像位置，即像素点(x0,y0)。
目标区域在平行于旋转臂的旋转平面的方向(x方向)上的宽度大于模拟狭缝对应的设定狭缝宽度。例如，设定狭缝宽度为k，目标区域在x方向上的宽度为p，其中，p＞k，也即目标区域在x方向上坐标范围为x0-p/2到x0 p/2。
目标区域在垂直于旋转平面的方向(y方向)上的高度为散射角度θ1对应的散射光在y方向上的光束高度的第一预设倍数。例如，散射角度θ1对应的散射光在y方向上的光束高度为q，目标区域在y方向上的宽度为jq，其中，j为第一预设倍数，也即目标区域在y方向上坐标范围为y0-jq/2到y0 jq/2。
第一预设倍数使得目标区域在y方向上的高度远远大于散射角度θ1对应的散射光在y方向上的光束高度，例如，第一预设倍数大于9，本公开对第一预设倍数的具体取值不作限制。
在确定目标区域之后，可以分别确定目标区域中的多个像素点的初始光信号强度。
例如，确定目标区域中每个像素点的初始光信号强度a(x',y')，其中，(x',y')为目标区域中的像素点，该像素点位于散射光图像的像素阵列中的第x'行，第y'列。
在确定的初始光信号强度中，除了包括被测样品对应的散射光信号强度，还包括其它杂散光对应的杂散光信号强度，因此，为了准确确定在设定狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度，可以根据初始光信号强度，确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度。
仍以上述确定目标区域中每个像素点的初始光信号强度为例，确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度的方式包括但不限于下述两种方式。
第一种：
当照射到被测样品上的入射光束为质量不好的光束，例如，未经过整形的半导体激光，或者未知光束质量的激光时，可以通过下述公式确定：
其中，h为散射角度θ1对应的散射光在y方向上的光束高度的第二预设倍数，第二预设倍数小于第一预设倍数且第二预设倍数大于3。第二预设倍数的具体取值本公开不作具体限制。
r1(x')为目标区域中y方向取值在y0 0.5h到y0 1.5h范围内时每列像素的光信号强度，r2(x')为目标区域中y方向取值在y0-0.5h到y0-1.5h范围内时每列像素的光信号强度，s(x')为目标区域中y方向取值在y0-0.5h到y0 0.5h范围内时每列像素的光信号强度。
进而可以通过下述公式确定消除杂散光信号强度之后每列像素的有效光信号强度s有效(x')：
第二种：
当照射到被测样品上的入射光束为质量较好的光束时，例如，经过整形的激光，可以根据下述高斯函数公式，使用最小二乘法拟合消除杂散光信号强度之后每列像素的有效光信号强度s有效(x')：
s有效(x')＝a(x')。
其中，a(x')、b、c和d是拟合得到的参数。
图5示出本公开一实施例的散射光信号强度获取方法的步骤s24的流程示意图。如图5所示，步骤s24可以包括：
步骤s241，根据有效光信号强度，判断是否存在干扰信号。
步骤s242，当不存在干扰信号时，确定在设定狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度。
被测样品一般放置在样品池中，进而将装有被测样品的样品池放置在样品仓中。实际应用中，样品池表面可能会存在划痕，或被测样品中存在灰尘，这都会对散射光产生干扰，影响测量结果，因此，可以根据上述确定的有效光信号强度，判断是否存在干扰信号，进而在确定不存在干扰信号时，再进一步确定在设定狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度，以提高测量结果准确性。
举例来说，对上述确定的消除杂散光信号强度之后的每列像素的有效光信号强度s有效(x')进行多项式拟合，得到每列像素的拟合光信号强度sa(x')，进而确定方差σ：
其中，p为目标区域在x方向上的宽度。
当样品池表面存在划痕时，会导致散射光信号强度变小，因此，当s有效(x')-sa(x')＜m·σ时，可以确定在散射角度θ1下，样品池表面存在划痕。此时，可以调节旋转臂至其它散射角度，并在该其它散射角度下重新采集被测样品对应的散射光图像，进而执行上述确定初始光信号强度、确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度，以及判断是否存在干扰信号的操作，直至确定不存在干扰信号。
当被测样品中存在灰尘时，会导致散射光信号强度变大，因此，当s有效(x')-sa(x')＞m·σ时，可以确定在采集散射光图像时被测样品中存在灰尘。此时，可以使用在散射角度θ1下采集到的被测样品对应的其它散射光图像，执行上述确定初始光信号强度、确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度，以及判断是否存在干扰信号的操作，直至确定不存在干扰信号。
其中，m为阈值参数。本公开对阈值参数m的具体取值不作限制。
当不存在干扰信号时，根据有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度。
在一种可能的实现方式中，设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度。
通过设定狭缝宽度来实现对狭缝的模拟，当设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度时，可以通过对散射光图像进行数据处理，分别确定不同模拟狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度，从而得到最优测量结果。
在一种可能的实现方式中，根据有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度，包括：
根据有效光信号强度，在散射角度θ1和每个模拟狭缝宽度下，分别确定被测样品对应的散射光信号强度。
举例来说，可以根据下述公式确定在散射角度θ1和每个模拟狭缝宽度k下被测样品对应的散射光信号强度l(k)：
其中，w是图像采集部件中像素点之间的间隔，f是透镜组的焦距，n是被测样品的折射率。
当模拟狭缝宽度k增大时，散射光信号强度会增大，散射角度θ1的分辨率降低；当模拟狭缝宽度k减小时，散射光信号强度会减小，散射角度θ1的分辨率提高。通过确定不同模拟狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度，从而在散射光信号强度和散射角度θ1的分辨率两个指标之间进行折中考虑，从而可以得到最优测量结果。
在一种可能的实现方式中，根据有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下被测样品对应散射光信号强度，包括：
根据有效光信号强度，在散射角度θ2和每个模拟狭缝宽度下，分别确定被测样品对应的散射光信号强度，其中，散射角度θ2与散射角度θ1不同。
举例来说，可以根据下述公式确定在散射角度θ2和每个模拟狭缝宽度k下被测样品对应的散射光信号强度l(θ2,k)：
对散射角度θ1下采集到的被测样品对应的散射光图像进行数据处理，对模拟狭缝宽度k取一固定值，改变散射角度θ2的取值，通过上述公式可以在同一模拟狭缝宽度下，确定不同散射角度θ2下被测样品对应的散射光信号强度，而无需调节旋转臂至不同散射角度θ2重新采集图像，从而实现调节一次旋转臂得到多个不同散射角度下被测样品对应的散射光信号强度，有效提高了测量速度。
为了提高不同散射角度θ2下被测样品对应的散射光信号强度的准确性，散射角度θ2与散射角度θ1之间的角度差可以在预设角度范围内，例如，预设角度范围为-2度到 2度。本公开对预设角度范围的具体取值不作限制。
图6示出本公开一实施例的散射光信号强度获取装置的框图。该装置应用于广角光散射设备，广角光散射设备包括激光源、旋转臂、图像采集部件及样品仓，样品仓处于靠近旋转臂的旋转中心的一端，图像采集部件安装在旋转臂上远离旋转中心的一端，样品仓中放置有被测样品，其中，激光源发出的入射光束照射到被测样品上并被被测样品散射。如图6所示，该装置60包括：
采集模块61，用于在旋转臂处于散射角度θ1下时，控制图像采集部件采集被测样品对应的散射光图像；
第一确定模块62，用于确定散射光图像的初始光信号强度；
杂散光消除模块63，用于根据初始光信号强度，确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度；
第二确定模块64，用于根据有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度。
在一种可能的实现方式中，第二确定模块64包括：
干扰信号判断子模块，用于根据有效光信号强度，判断是否存在干扰信号；
第一确定子模块，用于当不存在干扰信号时，确定在设定狭缝宽度下被测样品对应的散射光信号强度。
在一种可能的实现方式中，设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，第二确定模块64包括：
第二确定子模块，用于根据有效光信号强度，在散射角度θ1和每个模拟狭缝宽度下，分别确定被测样品对应的散射光信号强度。
在一种可能的实现方式中，设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，第二确定模块64包括：
第三确定子模块，用于根据有效光信号强度，在散射角度θ2和每个模拟狭缝宽度下，分别确定被测样品对应的散射光信号强度，其中，散射角度θ2与散射角度θ1不同。
在一种可能的实现方式中，第一确定模块62包括：
第四确定子模块，用于在散射光图像中确定目标区域，其中，目标区域的中心为被测样品在散射光图像中的成像位置，目标区域在平行于旋转臂的旋转平面的方向上的宽度大于设定狭缝宽度，目标区域在垂直于旋转平面的方向上的高度为散射角度θ1对应的散射光在垂直于旋转平面的方向上的光束高度的第一预设倍数；
第五确定子模块，用于分别确定目标区域中的多个像素点的初始光信号强度。
以上已经描述了本公开的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择，旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术改进，或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。
1.一种散射光信号强度获取方法，其特征在于，所述方法应用于广角光散射设备，所述广角光散射设备包括激光源、旋转臂、图像采集部件及样品仓，所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端，所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端，所述样品仓中放置有被测样品，其中，所述激光源发出的入射光束照射到所述被测样品上并被所述被测样品散射；
所述方法包括：
在所述旋转臂处于散射角度θ1下时，控制所述图像采集部件采集所述被测样品对应的散射光图像；
确定所述散射光图像的初始光信号强度；
根据所述初始光信号强度，确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度；
根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度，包括：
根据所述有效光信号强度，判断是否存在干扰信号；
当不存在干扰信号时，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，
其中，根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度，包括：
根据所述有效光信号强度，在所述散射角度θ1和每个模拟狭缝宽度下，分别确定所述被测样品对应的散射光信号强度。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，
其中，根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应散射光信号强度，包括：
根据所述有效光信号强度，在散射角度θ2和每个模拟狭缝宽度下，分别确定所述被测样品对应的散射光信号强度，其中，所述散射角度θ2与所述散射角度θ1不同。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述散射光图像的初始光信号强度，包括：
在所述散射光图像中确定目标区域，其中，所述目标区域的中心为所述被测样品在所述散射光图像中的成像位置，所述目标区域在平行于所述旋转臂的旋转平面的方向上的宽度大于所述设定狭缝宽度，所述目标区域在垂直于所述旋转平面的方向上的高度为所述散射角度θ1对应的散射光在垂直于所述旋转平面的方向上的光束高度的第一预设倍数；
分别确定所述目标区域中的多个像素点的初始光信号强度。
6.一种散射光信号强度获取装置，其特征在于，所述装置应用于广角光散射设备，所述广角光散射设备包括激光源、旋转臂、图像采集部件及样品仓，所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端，所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端，所述样品仓中放置有被测样品，其中，所述激光源发出的入射光束照射到所述被测样品上并被所述被测样品散射；
所述装置包括：
采集模块，用于在所述旋转臂处于散射角度θ1下时，控制所述图像采集部件采集所述被测样品对应的散射光图像；
第一确定模块，用于确定所述散射光图像的初始光信号强度；
杂散光消除模块，用于根据所述初始光信号强度，确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度；
第二确定模块，用于根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度。
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第二确定模块包括：
干扰信号判断子模块，用于根据所述有效光信号强度，判断是否存在干扰信号；
第一确定子模块，用于当不存在干扰信号时，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度。
8.根据权利6所述的装置，其特征在于，所述设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，所述第二确定模块包括：
第二确定子模块，用于根据所述有效光信号强度，在所述散射角度θ1和每个模拟狭缝宽度下，分别确定所述被测样品对应的散射光信号强度。
9.根据权利6所述的装置，其特；征在于，所述设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，所述第二确定模块包括：
第三确定子模块，用于根据所述有效光信号强度，在散射角度θ2和每个模拟狭缝宽度下，分别确定所述被测样品对应的散射光信号强度，其中，所述散射角度θ2与所述散射角度θ1不同。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块包括：
第四确定子模块，用于在所述散射光图像中确定目标区域，其中，所述目标区域的中心为所述被测样品在所述散射光图像中的成像位置，所述目标区域在平行于所述旋转臂的旋转平面的方向上的宽度大于所述设定狭缝宽度，所述目标区域在垂直于所述旋转平面的方向上的高度为所述散射角度θ1对应的散射光在垂直于所述旋转平面的方向上的光束高度的第一预设倍数；
第五确定子模块，用于分别确定所述目标区域中的多个像素点的初始光信号强度。
技术总结