本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及显示面板裂纹的检测方法。
背景技术：
在有机发光二极管(organiclightemittingdiode,oled)显示面板复杂的生产过程中，尤其是在对oled显示面板进行切割、曲面生成和弯折造型时，极易造成显示面板内线路损伤或者裂纹，并且不易被发现。如何提前检测出显示面板是否已经有线路损伤，存在碎屏的风险，还亟需解决。
如图1所示，图1为现有技术的显示面板的结构示意图，显示面板包括显示区a1和非显示区a2，非显示区a2设有用于检测显示面板是否存在裂纹的检测线l1和l2，检测线l1和l2关于显示面板的中心线l3对称，仅限用于检测如细节部分a1所示的位于显示面板中心线l3两侧存在的裂纹，而对于位于如细节部分a2所示的位于显示面板中心线l3部分的裂纹，由于此处并未设置有检测线l1或检测线l2，因此不能检测此处是否存在裂纹。此外，检测线l1和l2也只能检测出裂纹位于中心线的哪一侧，但并不能判断裂纹发生的强度，使得显示面板还是存在无法检测出的碎屏的风险。
综上所述，现有显示面板存在无法检测到是否存在裂纹的区域的问题。故，有必要提供一种显示面板及显示面板裂纹的检测方法来改善这一缺陷。
技术实现要素：
本揭示实施例提供一种显示面板及显示面板裂纹的检测方法，用于解决现有显示面板存在无法检测到是否存在裂纹的区域的问题。
本揭示实施例提供一种显示面板，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，以及一虚设的中心线，所述中心线将所述显示面板划分为相对设置的两部分；
所述非显示区设有驱动集成电路单元、检测控制单元以及两条相互绝缘并间隔设置的裂纹检测线，所述驱动集成电路单元提供检测信号，所述检测控制单元连接所述显示区；
其中，两条所述裂纹检测线各自的第一端分别连接所述驱动集成电路单元，两条所述裂纹检测线各自的第二端分别由所述显示区的相对两侧沿所述显示区的外围延伸至与所述检测控制单元连接并包围所述显示区，两条所述裂纹检测线在所述显示面板的中心线处交叠，位于交叠处的两条所述裂纹检测线之间形成一电容。
根据本揭示一实施例，所述检测信号包括第一检测信号和第二检测信号，所述第一检测信号为直流信号，所述第二检测信号为交流信号，两条所述裂纹检测线分别接收所述第一检测信号和所述第二检测信号。
根据本揭示一实施例，所述显示区设有阵列排布的多个子像素单元，以及多条沿所述中心线方向延伸的数据线，每一条所述数据线连接一列所述像素单元，所述检测控制单元分别连接位于所述中心线两侧的所述数据线。
根据本揭示一实施例，所述检测控制单元包括两个薄膜晶体管和检测控制信号线，两个薄膜晶体管的栅极均连接所述检测控制信号线，所述薄膜晶体管的源极分别连接两条所述裂纹检测线，所述薄膜晶体管的漏极分别连接位于所述中心线两侧的两条所述数据线。
根据本揭示一实施例，所述子像素单元包括子像素驱动电路，所述子像素驱动电路包括多个薄膜晶体管，所述子像素驱动电路的薄膜晶体管与所述检测控制单元的薄膜晶体管均为正沟道金属氧化物半导体薄膜晶体管。
根据本揭示一实施例，位于所述交叠处的两条所述裂纹检测线设置于不同膜层，位于非交叠处的两条所述裂纹检测线设置于同一膜层。
根据本揭示一实施例，两条所述裂纹检测线设置于不同膜层。
根据本揭示一实施例，所述电容的取值介于0.5μf至2μf之间。
本揭示实施例还提供一种显示面板裂纹的检测方法，用于检测上述的显示面板，所述检测方法方法包括：
驱动集成电路单元向其中一条裂纹检测线输入第一检测信号，检测控制单元接收检测控制信号；
检查所述显示面板，若显示区未出现亮线，则判定所述显示面板无裂纹产生；若所述显示区出现亮线，则判定所述显示面板有裂纹产生，并继续后续检测；
驱动集成电路单元向其中另一条裂纹检测线输入第二检测信号，检测控制单元接收所述检测控制信号；以及
检查所述显示面板，若显示区出现固定亮线，则判定存在所述固定亮线一侧的显示面板有裂纹产生；若显示区出现闪烁亮线，则判定与所述闪烁亮线相对一侧的显示面板有裂纹产生。
根据本揭示一实施例，所述第一检测信号为直流信号，所述第二检测信号为交流信号。
本揭示实施例的有益效果：本揭示实施例提供的显示面板通过在非显示区设置两条相互绝缘并间隔设置的裂纹检测线，将两条裂纹检测线各自的第一端分别连接驱动集成电路单元，两条所述裂纹检测线各自的第二端分别由显示区的相对两侧沿显示区的外围延伸至与检测控制单元连接并包围显示区，两条裂纹检测线在显示面板的中心线处交叠，位于交叠处的两条裂纹检测线之间形成一电容，不仅可以使得显示面板的各个区域均能够被检测到是否有裂纹发生，还可以检测显示面板内裂纹发生的程度，以此防止不良品流入至客户端，提高显示面板的品质。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是揭示的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本揭示实施例提供的现有技术的显示面板的结构示意图；
图2为本揭示实施例提供的显示面板的结构示意图；
图3为本揭示实施例图2提供的显示面板存在裂纹的结构示意图；
图4为本揭示实施例提供的显示面板裂纹的检测方法的流程示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本揭示可用以实施的特定实施例。本揭示所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本揭示，而非用以限制本揭示。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。
下面结合附图和具体实施例对本揭示做进一步的说明。
本揭示实施例提供一种显示面板，下面结合图2和图3进行详细说明。
如图2和图3所示，图2为本揭示实施例提供的显示面板的结构示意图，图3为本揭示实施例图2提供的显示面板存在裂纹的结构示意图。所述显示面板包括显示区b1和围绕所述显示区b1的非显示区b2，以及一条虚设的中心线11，中心线11将显示面板划分成相对设置的两部分。
非显示区b2设有驱动集成电路单元12、检测控制单元16以及两条相互绝缘并相对间隔设置的第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15，驱动集成电路单元12用于提供检测信号，检测控制单元16与检测控制信号线13连接，接入一检测控制信号。
如图2所示，第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15各自的第一端分别连接驱动集成电路单元12，以接收各自的检测信号。第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15各自的第二端分别由显示区b1的相对两侧沿显示区b1的外围延伸至与检测控制单元16连接，检测控制单元16则通过走线与显示区b1连接，以向显示区b1传输所述检测信号。两条两端分别连接检测控制单元16和驱动集成电路单元12的检测线则对显示区b1形成全包围的结构，与中心线11重叠的部分同样覆盖有第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15。如图3中细节部分b2所示的，若中心线11处存在有裂纹，同样可以被上述裂纹检测线所检测到，以此消除背景技术中所述的显示面板中无法检测到裂纹是否存在的区域，防止不良品流入至后续工序。
进一步的，如图2所示，第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15在所述显示面板的中心线11处交叠，即第一裂纹检测线14在显示面板的衬底基板上的正投影区域与第二裂纹检测线15在显示面板的衬底基板上的正投影区域在中心线11处重叠，位于交叠处的第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15之间形成一正对平板电容c。
在本揭示实施例中所述电容c的大小为1μf。在一些实施例中，所述电容c的大小也可以为0.5μf或者是2μf，亦或是介于0.5μf至2μf之间即可，此处不做限制。
显示区b1设有阵列排布的多个子像素单元17以及多条沿中心线11方向延伸的数据线18和多条沿垂直于中心线11方向延伸的扫描线19，每一条扫描线19对应连接一行子像素单元17，每一条数据线18对应连接一列子像素单元17，检测控制单元16分别连接位于中心线11两侧的第一数据线181和第二数据线182。
具体地，检测控制单元16包括第一薄膜晶体管t1和第二薄膜晶体管t2,第一薄膜晶体管t1和第二薄膜晶体管t2的栅极均连接检测控制信号线13，第一薄膜晶体管t1的源极连接第二裂纹检测线15，第一薄膜晶体管t1的漏极连接第一数据线181，第二薄膜晶体管t2的源极连接第一裂纹检测线14，第二薄膜晶体管t2的漏极连接第二数据线182。
进一步的，子像素单元17包括子像素驱动电路(图中未示出)，在本揭示实施例中，所述子像素驱动电路为7t1c驱动电路，包括7个薄膜晶体管以及一侧存储电容。所述7个薄膜晶体管和第一薄膜晶体管t1以及第二薄膜晶体管t2均为正沟道金属氧化物半导体(positivechannelmetaloxidesemiconductor,pmos)薄膜晶体管，并且第一薄膜晶体管t1、第二薄膜晶体管t2以及子像素驱动电路内的薄膜晶体管均同层设置。
在对显示面板进行裂纹检测时，由驱动集成电路单元12提供第一检测信号vgh并输入至第一裂纹检测线14，第一裂纹检测线14包围显示面板的显示区b1，检测控制信号线13接收控制信号，控制信号为低电平信号，第一检测信号vgh为直流高电平信号，第二薄膜晶体管t2导通，形成直流驱动回路，第一检测信号vgh经由第二数据线182传递至显示区b1与其连接的一列子像素单元中。
若显示面板不存在裂纹，由于第一检测信号vgh为直流高电平信号，而子像素驱动电路内的薄膜晶体管均为pmos薄膜晶体管，子像素驱动电路内的薄膜晶体管不导通，则与第二数据线182连接的一列子像素单元不发光，显示区b1内无亮线存在；若显示面板存在裂纹，第一裂纹检测线14同样也会存在如图3中细节部分b1所示的裂纹，检测线路不会形成直流驱动回路，此时子像素驱动电路内的驱动薄膜晶体管导通，与第二数据线182连接的一列子像素单元17发光，并在显示区b1内形成一条亮线。
当判定显示面板存在裂纹时，则需要进行第二阶段的检测。由驱动集成电路单元12为第二裂纹检测线15提供第二检测信号pwm，第二检测信号pwm为交流信号。若显示面板位于中心线11右侧部分发生裂纹，第二裂纹检测线15的右侧同样也会发生断裂，不能形成交流驱动回路，此时位于中心线11右侧的与第二数据线182连接的一列子像素单元17发光，形成一条固定的亮线；若显示面板位于中心线11左侧部分有裂纹产生，第二检测信号pwm流经电容c，第一裂纹检测线14在电容c的作用下有第二检测信号pwm输入，因此会使与第二数据线182连接的一列子像素单元17间隔性的发光，在显示区b1形成一条闪烁的亮线，以此可以明确区分显示面板位于中心线11的哪一侧有裂纹产生。此外，还可以根据亮线的亮度大小，判断显示面板的裂纹发生的程度，当亮线的亮度越大，表明裂纹发生的程度越大，隐患也就越大；当亮线的亮度越小，则表明裂纹发生的程度越小，隐患也就越小。
在本揭示实施例中，位于中心线11交叠处的第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15设置于不同膜层，而第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15未交叠的部分则设置于同一膜层。
具体地，未交叠处的第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15可以设置于与第一薄膜晶体管t1中源极和漏极同一膜层，那么对应的交叠处的第一裂纹检测线14的膜层不变，第二裂纹检测线15可以设置于与第一薄膜晶体管t1的栅极线层同一层，第二裂纹检测线15的两部分之间可以通过过孔连接。同样，第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15的未交叠部分也可以设置于栅极线层或者显示面板的膜层结构中的其他设置有金属走线的膜层中，以此不会增加显示面板的制程，同时可以提高对显示面板产生裂纹的不良品的检出率，此处不做限制。
优选的，第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15设置于不同膜层。具体地，第一裂纹检测线14设置于与第一薄膜晶体管t1的源极和漏极同一膜层，第二裂纹检测线15设置于与第一薄膜晶体管t1的栅极同一膜层，两者仅在中心线11的交叠部分的正投影区域交叠以形成电容c，在其他部分并不交叠。以此，无需将同一条裂纹检测线分层设置，也无需在中心线11的交叠部分进行打孔将不同膜层的裂纹检测线连接，从而降低制程的复杂程度。在一些实施例中，第一裂纹检测线14和第二裂纹检测线15设置的膜层也可以互换，或者设置于显示面板的其他具有金属走线的膜层中，此处不做限制。
本揭示实施例的有益效果：本揭示实施例提供的显示面板通过在非显示区设置两条相互绝缘并间隔设置的裂纹检测线，将两条裂纹检测线各自的第一端分别连接驱动集成电路单元，两条所述裂纹检测线各自的第二端分别由显示区的相对两侧沿显示区的外围延伸至与检测控制单元16连接并包围显示区，两条裂纹检测线在显示面板的中心线处交叠，位于交叠处的两条裂纹检测线之间形成一电容，不仅可以使得显示面板的各个区域均能够被检测到是否有裂纹发生，还可以检测显示面板内裂纹发生的程度，以此防止不良品流入至客户端，提高显示面板的品质。
本揭示实施例还提供一种显示面板裂纹的检测方法，下面结合图3和图4进行详细说明。
本揭示实施例提供的显示面板裂纹的检测方法适用于上述实施例所提供的显示面板，如图4所示，图4为本揭示实施例提供的显示面板裂纹的检测方法的流程示意图，所述显示面案裂纹的检测方法包括：
步骤s10：驱动集成电路单元12向第一裂纹检测线14输入第一检测信号vgh，检测控制单元16接收检测控制信号；
步骤s20：检查显示面板，若显示区b1未出现亮线，则判定显示面板无裂纹产生；若显示区b1出现亮线，则判定所述显示面板有裂纹产生，并继续后续检测；
步骤s30：驱动集成电路单元12向第二裂纹检测线15输入第二检测信号pwm；
步骤s40：检查显示面板，若显示区b1出现固定亮线，则判定存在所述固定亮线一侧的显示面板有裂纹产生；若显示区b1出现闪烁亮线，则判定与所述闪烁亮线相对一侧的显示面板有裂纹产生。
在本揭示实施例中，所述步骤s10和所述步骤s20为第一检测阶段，第一检测信号vgh为直流高压信号，若显示面板内的子像素单元17接收到第一检测信号vgh则不进行发光，并且说明第一检测线14并未发生裂纹，显示面板同样也未发生裂纹，无需进行后续检测；若未接收到第一检测检测信号vgh则进行发光，并且说明第一检测线14发生裂纹，表明显示面板同样也存在裂纹，需要进行第二检测检测。
在本揭示实施例中，所述步骤s30和步骤s40为第二检测阶段，所述第二检测信号pwm为交流信号，若显示面板的中心线11的右侧有固定亮线，则表面显示面板中心线11的右侧存在裂纹；若显示面板中心线11右侧有闪烁亮线，则表明显示面板中心线11的左侧存在裂纹。
在本揭示实施例中，还包括步骤s50：检测显示面板中亮线的亮度，并依据所述亮度判定显示面板中裂纹发生的程度。其中，亮线的亮度越大，表明显示面板裂纹发生的程度越大，亮线的亮度越小，则表明显示面板裂纹发生的程度越小。
本揭示实施例的有益效果：本揭示实施例提供的显示面板裂纹的检测方法通过第一检测信号对显示面板进行第一检测阶段，判断显示面板是否存在裂纹，再通过第二检测阶段的第二检测信号判断裂纹发生的具体位置以及发生的程度，从而提高存在裂纹的显示面板的检出率，防止不良品流入后续工艺或者客户端。
综上所述，虽然本揭示以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本揭示，本领域的普通技术人员，在不脱离本揭示的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本揭示的保护范围以权利要求界定的范围为基准。
1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，以及一虚设的中心线，所述中心线将所述显示面板划分为相对设置的两部分；
所述非显示区设有驱动集成电路单元、检测控制单元以及两条相互绝缘并间隔设置的裂纹检测线，所述驱动集成电路单元提供检测信号，所述检测控制单元连接所述显示区；
其中，两条所述裂纹检测线各自的第一端分别连接所述驱动集成电路单元，两条所述裂纹检测线各自的第二端分别由所述显示区的相对两侧沿所述显示区的外围延伸至与所述检测控制单元连接并包围所述显示区，两条所述裂纹检测线在所述显示面板的中心线处交叠，位于交叠处的两条所述裂纹检测线之间形成一电容。
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测信号包括第一检测信号和第二检测信号，所述第一检测信号为直流信号，所述第二检测信号为交流信号，两条所述裂纹检测线分别接收所述第一检测信号和所述第二检测信号。
3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示区设有阵列排布的多个子像素单元，以及多条沿所述中心线方向延伸的数据线，每一条所述数据线连接一列所述像素单元，所述检测控制单元分别连接位于所述中心线两侧的所述数据线。
4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述检测控制单元包括两个薄膜晶体管和检测控制信号线，两个薄膜晶体管的栅极均连接所述检测控制信号线，所述薄膜晶体管的源极分别连接两条所述裂纹检测线，所述薄膜晶体管的漏极分别连接位于所述中心线两侧的两条所述数据线。
5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述子像素单元包括子像素驱动电路，所述子像素驱动电路包括多个薄膜晶体管，所述子像素驱动电路的薄膜晶体管与所述检测控制单元的薄膜晶体管均为正沟道金属氧化物半导体薄膜晶体管。
6.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，位于所述交叠处的两条所述裂纹检测线设置于不同膜层，位于非交叠处的两条所述裂纹检测线设置于同一膜层。
7.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，两条所述裂纹检测线设置于不同膜层。
8.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述电容的取值介于0.5μf至2μf之间。
9.一种显示面板裂纹的检测方法，其特征在于，用于检测如权利要求1至8中任一项所述的显示面板，所述检测方法方法包括：
驱动集成电路单元向其中一条裂纹检测线输入第一检测信号，检测控制单元接收检测控制信号；
检查所述显示面板，若显示区未出现亮线，则判定所述显示面板无裂纹产生；若所述显示区出现亮线，则判定所述显示面板有裂纹产生，并继续后续检测；
驱动集成电路单元向其中另一条裂纹检测线输入第二检测信号，检测控制单元接收所述检测控制信号；以及
检查所述显示面板，若所述显示区出现固定亮线，则判定存在所述固定亮线一侧的所述显示面板有裂纹产生；若所述显示区出现闪烁亮线，则判定与所述闪烁亮线相对一侧的所述显示面板有裂纹产生。
10.如权利要求9所述的显示面板裂纹的检测方法，其特征在于，所述第一检测信号为直流信号，所述第二检测信号为交流信号。
技术总结